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ICT33C+ ICT33C+ 集成電路測(cè)試儀|美達(dá)

 

ICT33C+ 集成電路測(cè)試儀

 

ICT33C+ 集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)： 

 

 1．工作原理：    ICT33C+集成電路測(cè)試儀是以器件預(yù)期響應(yīng)法為指導(dǎo)思想，以單片機(jī)智能化為結(jié)構(gòu)的多功能測(cè)試儀器。它以MCS51單片機(jī)為核心，配合大規(guī)模軟件和擴(kuò)展系統(tǒng)來(lái)模擬被測(cè)器件的綜合功能。儀器的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)立足于這樣的原則：在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中，邏輯功能是最重要，最根本，最能說(shuō)明問(wèn)題的參數(shù)。

 

2．系統(tǒng)主要構(gòu)成：（1） CPU：MCS51系列產(chǎn)品89C52；主頻：11.059M。（2） 程序存儲(chǔ)器：128K  EPROM。（3） RAM緩沖區(qū)：128K靜態(tài)RAM。（4） 顯示器：8位液晶顯示器。（5） 操作鍵盤：20位輕觸式按鍵鍵盤。（6） 輸出：七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。（7） 機(jī)箱：全塑結(jié)構(gòu)機(jī)箱。 

 

ICT33C+ 集成電路測(cè)試儀技術(shù)規(guī)格：

 

（1）       電源電壓：AC220V±15%，50HZ。（2）       整機(jī)功耗：15VA。（3）       測(cè)試電壓：3.3V，5.0V，9.0，15V。（4）       編程電壓：12.5V，21V。（5）       最大測(cè)試腳數(shù)：DIP封裝40腳；SOP封裝20腳（須另購(gòu)適配器）。（6）       型號(hào)輸入位數(shù)：3——6位。（7）       適用溫度：0——40℃。（8）       測(cè)試規(guī)范：輸入短路測(cè)試；輸出短路測(cè)試；100%功能測(cè)試。（9）       輸出高電平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。（10）   輸出低電平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。（11）   輸入高電平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。（12）   輸入低電平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。ICT33C+具有以下主要用途：（1）       維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。（2）       破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。（3）       燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。（4）       開(kāi)發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。（5）       檢驗(yàn)新購(gòu)器件的質(zhì)量。

 

 

AT192AT192全品種集成電路測(cè)試儀

 最大測(cè)試管腳:192腳

 

測(cè)試適用范圍：

 

元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾）

 

測(cè)試原理（v-i曲線測(cè)試）：

 

對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。

 

集成電路測(cè)試儀操作如此簡(jiǎn)單:

 

 

1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).2.將集成電路插入測(cè)試座.3.執(zhí)行測(cè)試4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.

 

商品輸入檢驗(yàn)

 

不需要電子專業(yè)知識(shí).適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板靈活、好安裝、宜操作.測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告.集成電路測(cè)試儀 適合不同封裝形式的元件:

 

-雙列插腳（DIL）-小型封裝集成集成電路（SOIC）-小型封裝（SSOP, TSOP）-塑料無(wú)引線芯片載體封裝（PLCC）-四方扁平封裝（TQFP, PQFP, LQFP）-球門陣列封裝（BGA）注意: SENTRY不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊。測(cè)試通道

 

標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。升級(jí)模塊：64通道 可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。

用兩種模式掃瞄:

 

一般模式: 掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上。矩陣模式: 掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上。

 

 

通用型PLCC轉(zhuǎn)接器（用于測(cè)試有20～84腳的PLCC封裝）

 

 

數(shù)據(jù)庫(kù)

 

用戶可根據(jù)自己的需要，用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)，以備日后測(cè)試使用。創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試庫(kù)僅需要數(shù)秒的操作時(shí)間，操作十分簡(jiǎn)單容易。結(jié)果比較型式:將數(shù)據(jù)庫(kù)中的IC與待測(cè)ic的V-I曲線相比較, 即可判定被測(cè)IC的好壞,提供兩種比較型式:與數(shù)據(jù)庫(kù)中元件比較: 被測(cè)IC的V-I曲線與數(shù)據(jù)庫(kù)中的相同型號(hào)的IC比較被測(cè)IC之間比較比較: 多個(gè)集成電路的之間的V-I曲線相比較。軟件- 靈活性

 

1）軟件提供測(cè)試庫(kù)圖形化修改功能，以方便用戶制作不同新封裝形式器件的測(cè)試庫(kù), 2）軟件可以自定義各個(gè)通道的使用，一臺(tái)機(jī)器可以同時(shí)檢測(cè)多個(gè)器件報(bào)告

 

1）軟件可產(chǎn)生一詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告, 包含集成電路相片。這份報(bào)告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。2）用戶可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動(dòng)態(tài)阻抗圖可儲(chǔ)存在pc中，并可隨時(shí)讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。3）為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。

針。≒inPrint）動(dòng)態(tài)阻抗詳細(xì)分析元件的管腳.

 

定制化的報(bào)告（PinPrint）.

 

轉(zhuǎn)接器

 

1）標(biāo)準(zhǔn)型:

 

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。

 

標(biāo)準(zhǔn)SOIC轉(zhuǎn)接器

 

 

通用型:

 

用于SOIC及PLCC封裝; 一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測(cè)試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。

 

 

 

一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于測(cè)試寬0.15”～0.6”達(dá)44腳的集成電路。

 

客制型:

 

可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請(qǐng)進(jìn)一步洽詢, 以設(shè)計(jì)符合您需求的轉(zhuǎn)接器。

 

BGA插座轉(zhuǎn)接器

 

技術(shù)規(guī)格

 

掃描測(cè)試波形 正弦波,鋸齒波，三角波
掃描測(cè)試頻率 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz
掃描電壓（Vs） 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進(jìn)0.1V
掃描源電阻（Rs） 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ
掃描通道 AT128通道數(shù)量:128通道（已停產(chǎn)）  AT192通道數(shù)量:192通道 AT256通道數(shù)量:256通道 顯示模式:VI曲線圖  掃描模式:手動(dòng)或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù)
掃瞄模式 一般模式:掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上. 矩陣模式:掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上.
電腦連接 USB 連接電腦使用,標(biāo)準(zhǔn)配置含上位機(jī)軟件
適合不同封裝形式元件: 適合不同封裝形式的元件:  -雙列插腳（DIL） -小型封裝集成集成電路（SOIC） -小型封裝（SSOP, TSOP） -塑料無(wú)引線芯片載體封裝（PLCC） -四方扁平封裝（TQFP, PQFP, LQFP） -球門陣列封裝（BGA） 注意: SENTRY不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊及電路板。
測(cè)試報(bào)告

可自行編輯測(cè)試報(bào)告
功率需求 線路電壓:85～264VAC  頻率:47～63Hz 功率:最大150W
尺寸/重量 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg
操作溫度.濕度 溫度:10°C～30°C濕度: 20～80% RH。
保修期 一年
認(rèn)證 CE認(rèn)證& RoHS合格。
計(jì)算機(jī)規(guī)格需求 Microsoft Windows XP或Vista Pentium 4或更高 最小的RAM:512 MB 硬盤空間:200MB USB2.0高速傳輸 鼠標(biāo),鍵盤與屏幕
標(biāo)準(zhǔn)配件: 用戶手冊(cè)。 USB導(dǎo)線。 軟件CD（含驅(qū)動(dòng)程序與操作手冊(cè)）。
選購(gòu)配件: 校正工具組。 各種轉(zhuǎn)接器。

 

儀器用途一

翻新及二手器件檢測(cè)

 

可由倉(cāng)庫(kù)部門在收到集成電路時(shí)進(jìn)行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門的員工不需要電子知識(shí)即可操作這個(gè)系統(tǒng)。檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測(cè)試數(shù)據(jù)。用戶可應(yīng)用完整的報(bào)告, 確定問(wèn)題的來(lái)源。翻新及二手器件檢測(cè)儀

 

能快速簡(jiǎn)單檢測(cè)出翻新IC及集成電路測(cè)試的解決方案。透過(guò)精密的PinPrint（針。y(cè)試算法則,能夠辨識(shí)出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒(méi)有結(jié)構(gòu), 甚至是由不同廠家所制造的集成電路。他就像您的電子守衛(wèi), 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設(shè)備之入口, 不受偽造元器件之滲透?jìng)。何謂偽造翻新集成電路Counterfeit [koun-ter-fit]（形容詞）: 意思是仿造, 以便虛偽不實(shí)地假裝是真品。制造膺品（仿冒品）集成電路是非法的, 會(huì)出現(xiàn)（仿冒品）是因?yàn)殡娮恿慵目赊D(zhuǎn)讓。全球任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔(dān)這個(gè)風(fēng)險(xiǎn), 也或許曾經(jīng)收到過(guò)大批的”不良”元器件。仿冒可透過(guò)各種過(guò)程達(dá)成: 在極不可靠的過(guò)程里, 把集成電路從報(bào)廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上, 包括制造廠商標(biāo), 然后拿來(lái)當(dāng)作真品賣給粗心的買家。另一個(gè)方法則是真的憑正規(guī)的制造能力, 在標(biāo)準(zhǔn)工時(shí)以外的大夜班（ghost shift）生產(chǎn)集成電路, 然而, 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒(méi)有硅片（silicon die）。很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)對(duì)完整的組裝進(jìn)行第一次測(cè)試時(shí), 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導(dǎo)致昂貴的過(guò)程－辨識(shí)問(wèn)題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠。5年來(lái), 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占全球貿(mào)易總額的8%以上, 相當(dāng)于損失60億的銷售額。

 

了解詳細(xì)資料請(qǐng)點(diǎn)擊:http://www.ic168.com

該公司產(chǎn)品分類： 電路板故障檢測(cè)儀 電路板反求系統(tǒng) 集成電路測(cè)試儀 諧波測(cè)試儀 諧波測(cè)試儀 電能質(zhì)量分析儀 電能質(zhì)量分析儀

DT307-8221多功能電路檢測(cè)儀 多功能電路測(cè)試儀 數(shù)顯式電路測(cè)試儀

 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： DT307-8221 是專門用來(lái)檢測(cè)12V – 24V汽車電子系統(tǒng)，方法簡(jiǎn)便快速，節(jié)約時(shí)間。無(wú)需反復(fù)連接汽車電瓶，即可獲得搭鐵信號(hào)和電源信號(hào)，高亮度的LED燈便于在儀表板下的黑暗處對(duì)電路進(jìn)行檢測(cè). 主要功能： 自我過(guò)載保護(hù)功能。  為汽車電路提供搭鐵信號(hào)和12V電源信號(hào)。  檢測(cè)電瓶電壓和啟動(dòng)電壓，檢查短路和斷路線路。  檢測(cè)室內(nèi)和外部車燈及其線路。提供12v電源，測(cè)試?yán)^電器性能。  探測(cè)電路極性。  無(wú)需跳線通過(guò)正極或負(fù)極電流觸發(fā)執(zhí)行原件，如燈泡、馬達(dá)、噴油嘴電磁閥、油泵等 。  測(cè)試電路的連續(xù)性。  測(cè)試高頻率的點(diǎn)火信號(hào)，根據(jù)頻率可以計(jì)算發(fā)動(dòng)機(jī)轉(zhuǎn)速。  通過(guò)LCD顯示屏可以測(cè)試和顯示電路電壓。 
該公司產(chǎn)品分類： 測(cè)氡儀 氧氣檢測(cè)儀 氫氣氣體檢測(cè)報(bào)警儀 氣體檢測(cè)報(bào)警儀 熏蒸氣體檢測(cè)儀 空氣質(zhì)量檢測(cè)儀 垃圾場(chǎng)有毒有害氣體測(cè)試儀 酒精測(cè)試儀 有毒氣體檢測(cè)儀 甲烷檢測(cè)儀 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀/探測(cè)儀 復(fù)合氣體檢測(cè)儀 顯微鏡 苯檢測(cè)儀 揮發(fā)性有機(jī)氣體測(cè)試儀 臭氧檢測(cè)分析儀 甲醛檢測(cè)分析儀 二氧化硫檢測(cè)儀 檢測(cè)儀 氨氣檢測(cè)儀

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