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本公司開發(fā)研制的，是用來檢測各種插接件;如IC芯片等的針腳距離及連接器端子等電子元器件的水平直線度、平面度、傾斜度等，質(zhì)量檢測問題的專門儀器，操作人員能在流水在線簡易快速的進(jìn)行操作，并可任意設(shè)置檢測區(qū)域，檢測變量，合格判定，嬌正偏差，該產(chǎn)品整機(jī)一體化、體積小、圖像清晰直觀，可以很方便快速的檢驗?zāi)漠a(chǎn)品的水平直線度，大大的提高工作效率和的產(chǎn)品質(zhì)量！

■ 主要特點： 1. 廉價的CCD調(diào)針機(jī)臺，替換水平式精密投影機(jī)功能。 2. 針對CF CARD 或SODIM等多針、高密度針的平面度調(diào)整。 3. 針對耳扣平面度的調(diào)整。 4. 肉眼直接看放大后的屏幕，不需看顯微鏡，避免眼睛疲勞。 5. 光源仿投影機(jī)有順向光源，也可切為背光光源兩種切換。 6. 不同產(chǎn)品可在治具上挖不同孔閃塑膠POST。 7. 、快速的連接器在線檢測。 8. 專門測量BGA，Connector，QFP等零件腳之平整度。 9. 檢測參數(shù) 管腳距離、平面度、傾斜度、高度等 10. 適用范圍 各種形狀和尺寸的插接件如IC 芯片。 11 檢測精度: 可外加測量軟件用亞像素測量。 12 檢測種類 間距、邊緣位置、任意距離，有、無毛刺區(qū)域內(nèi)任意設(shè)定。 13. 圓形治具轉(zhuǎn)盤，將工件物放置在夾具上，功能性加大。 14. 雙鏡頭、雙CCD、雙顯示器，可同時檢測正反兩面工件。 15. 0-90度『多視角平面度檢測儀』可自由設(shè)定及觀察不同需求角度。

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用途：機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。

平面平晶規(guī)格60x20mm 80x20mm 100x25mm150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做

平面平晶產(chǎn)品特點x平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。x平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7324.html平面光帶檢測儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-76940-pid-7324.html平面光帶檢測儀型號:RL076949平面平晶燈箱

用途：機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。功率：20W 電源：220V/50Hz 專用燈源照射

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技術(shù)參數(shù):

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用途：機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。

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產(chǎn)品簡介:用途：機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 1、臨夏紅外線平面度測試儀大石橋ccd平面度檢測儀大石橋包郵正品熱門搜索:平面光帶檢測儀     200mm平面光帶檢測儀     平面度檢測儀     【河北慧采科技開發(fā)有限公司】全稱售后服務(wù)保證★★全線低價★★15天無理由退換貨★★河北最具社會責(zé)任感品牌★★行業(yè)引領(lǐng)品牌★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號2、臨夏紅外線平面度測試儀大石橋ccd平面度檢測儀大石橋包郵正品多種型號圖片

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用途：機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。功率：20W 電源：220V/50Hz 專用燈源照射

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平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

技術(shù)參數(shù):

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用途：機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。

平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mmφ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做

平面平晶產(chǎn)品特點*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

 

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