本機(jī)器可模擬NOTE-BOOK（手機(jī)PDA）各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)電腦可同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器！ ⊥庥^尺寸 760×490×650mm
重 量 90Kg
電 源 AC 110V或220VPDA測(cè)試規(guī)格：
·CF卡插拔耐久試驗(yàn) ·BATTERY 蓋插、拔耐久試驗(yàn)
·DC插頭耐久試驗(yàn) ·連接器插、拔耐久試驗(yàn)
·筆插拔耐久試驗(yàn) ·觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?yàn)
·ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)
手機(jī)測(cè)試規(guī)格：
·天線上、下抽取試驗(yàn) ·天線彎曲試驗(yàn)
·電池插入、拔出試驗(yàn) ·連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)
·ON、OFF開(kāi)關(guān)壽命試驗(yàn) ·上蓋打開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)
·短距離落下壽命試驗(yàn) ·SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)
NOTEBOOK測(cè)試規(guī)格：
·磁碟片播入、退出試驗(yàn) ·電池插入、退出試驗(yàn)
·PCMCIA插入、退出試驗(yàn) ·光碟機(jī)插入、退出試驗(yàn)
·各種接頭插入、退出試驗(yàn) （PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等）
·桌面放落試驗(yàn)
本機(jī)器可模擬NOTE-BOOK（手機(jī)PDA）各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)電腦可同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。 外觀尺寸 760×490×650mm
重 量 90Kg
電 源 AC 110V或220VPDA測(cè)試規(guī)格：
·CF卡插拔耐久試驗(yàn) ·BATTERY 蓋插、拔耐久試驗(yàn)
·DC插頭耐久試驗(yàn) ·連接器插、拔耐久試驗(yàn)
·筆插拔耐久試驗(yàn) ·觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?yàn)
·ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)
手機(jī)測(cè)試規(guī)格：
·天線上、下抽取試驗(yàn) ·天線彎曲試驗(yàn)
·電池插入、拔出試驗(yàn) ·連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)
·ON、OFF開(kāi)關(guān)壽命試驗(yàn) ·上蓋打開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)
·短距離落下壽命試驗(yàn) ·SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)
NOTEBOOK測(cè)試規(guī)格：
·磁碟片播入、退出試驗(yàn) ·電池插入、退出試驗(yàn)
·PCMCIA插入、退出試驗(yàn) ·光碟機(jī)插入、退出試驗(yàn)
·各種接頭插入、退出試驗(yàn) （PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等）
·桌面放落試驗(yàn)
專業(yè)生產(chǎn)：恒溫恒濕試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊機(jī)、冷熱沖擊箱、高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)、高恒溫恒濕室、恒溫恒濕箱、恒溫恒濕機(jī)、插拔力試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)跌落試驗(yàn)機(jī)、模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)翻蓋試驗(yàn)機(jī)、轉(zhuǎn)軸壽命試驗(yàn)機(jī)、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、紙箱容壓試驗(yàn)機(jī)、按鍵荷重曲線試驗(yàn)機(jī)、LCD耐壓試驗(yàn)機(jī)、耐磨擦試驗(yàn)機(jī)、操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)、手機(jī)耐磨擦試驗(yàn)機(jī)、紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)等。
TEL:0769-87190208 87191748 87191758www.baoyt.com
產(chǎn)品簡(jiǎn)介 本機(jī)器可模擬 Notebook 、手機(jī)、PDA 各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用後，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，並可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)電腦同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。 Notebook 測(cè)試規(guī)格: 磁碟片插入、退出試驗(yàn)。光碟機(jī)插入、退出試驗(yàn)。PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。 電池插入、退出試驗(yàn)。 各種接頭插入、退出試驗(yàn)。 ( PRINT 埠、COM埠、USB、 PS2 等等 ) 桌面放落試驗(yàn) 。 手機(jī)測(cè)試規(guī)格： 天線上、下抽取試驗(yàn)。天線彎曲試驗(yàn)。電池插入、拔出試驗(yàn)。連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。ON 、OFF 開(kāi)關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。上蓋打開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。短距離落下壽命試驗(yàn)。 SIM 卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。PDA 測(cè)試規(guī)格： CF卡插拔耐久試驗(yàn)。 Battery 蓋插、拔耐久試驗(yàn)。DC插頭耐久試驗(yàn)。連接器插、拔耐久試驗(yàn)。筆插拔耐久試驗(yàn)。觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?yàn)。 ON 、 OFF 開(kāi)關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在經(jīng)多次使用后，各種零件的耐久狀況。由計(jì)算機(jī)設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)計(jì)算機(jī)可同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。
產(chǎn)品參數(shù)：Notebook測(cè)試規(guī)格: 磁盤片插入、退出試驗(yàn)。 光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。 PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。 電池插入、退出試驗(yàn)。 各種接頭插入、退出試驗(yàn)（PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等）。 桌面放落試驗(yàn) 。
手機(jī)測(cè)試規(guī)格： 天線彎曲試驗(yàn)。 天線上、下抽取試驗(yàn)。 電池插入、拔出試驗(yàn)。連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。 ON、OFF開(kāi)關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。 上蓋打開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。短距離落下壽命試驗(yàn)。 SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。
PDA測(cè)試規(guī)格： CF卡插拔耐久試驗(yàn)。 Battery蓋插、拔耐久試驗(yàn)。 DC插頭耐久試驗(yàn)。
連接器插、拔耐久試驗(yàn)。 筆插拔耐久試驗(yàn)。 觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。