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匯能CFTsysIII便攜式一體機是一款 集電腦、電路在線維修測試儀、數(shù)字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現(xiàn)綜合作業(yè)，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內(nèi)在線維修測試儀設(shè)計水平的最高體現(xiàn)。 一、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)說明：

    采用標(biāo)準(zhǔn)的便攜式一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計方案，集電腦、電路在線維修測試儀、數(shù)字存儲示波器、頻譜分析儀于一體，可以實現(xiàn)綜合作業(yè)，也可各自獨立使用，用戶無需外接電腦，極大提高了用戶使用的方便性，尤其深受部隊用戶的喜愛。匯能便攜式一體機的問世，是國內(nèi)在線維修測試儀設(shè)計水平的最高體現(xiàn)。

二、產(chǎn)品規(guī)格：

尺寸 420（L）* 230 （w）*280 （H）mm 凈重 15kg 

三、基本配置參數(shù)：

筆記本電腦： CPU主頻：1000MHZ 內(nèi)存：128M 硬盤：40G 光驅(qū)：CD-R 48X 顯示屏：15LCD 存儲示波器： 并行雙通道+ 外觸發(fā) 模擬帶寬：20MHZ 最大采樣速率：60MHZ/CH 存儲深度：4000點/CH 預(yù)觸發(fā)長度：256、512、1024點 四、環(huán)境要求：

溫度：0℃——40℃ 相對濕度：20%——80% 電源：單相220V ±10%，50HZ 五、主要技術(shù)指標(biāo)：

   1、 測試儀內(nèi)置高性能CPU控制電路:

        a．單片機：16位（XA系列）

        b．RAM：64KB

        c．EPROM：16KB

        d．并口：CENTRONICS標(biāo)準(zhǔn)

  避免了WINDOWS的分時特性給測試帶來的影響,保證了測試儀的動態(tài)測試指標(biāo),測試信號更穩(wěn)定更可靠；

1、 數(shù)字測試通道：48通道，支持驅(qū)動閾值電平5V；2、 集成運放測試支持電源電壓：≤±28V；3、 總線隔離專用數(shù)字通道：8通道，用來隔離掛在總線上的三態(tài)器件，避免產(chǎn)生總線競爭，干擾測試；4、 程控外供電源：+5V（自動控制、自保護功能）；5、 電源電壓及最大輸出電流：5V/4A；6、 后驅(qū)動電流：>200 mA;7、 測試器件庫:TTL54/74、CMOS40/45、RAM、EPROM、集成運放、模擬開關(guān)、電壓比較器、光電耦合器、俄羅斯庫、  門 子庫；8、 數(shù)字器件功能施加測試時間：<26 mS9、 數(shù)字器件最大測試速度: 45KTV / S;

10、數(shù)字器件在線測試提取器件管腳狀態(tài):11種;

11、模擬測試通道：40通道，探棒2通道；

12、模擬信號掃描電壓幅度：±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào);

13、VI分辨率：8~128點/周期（用示波器可測）；

14、輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選;

15、SA模擬特征分析測試坐標(biāo): 3種可選（VI /VT /VR）;

16、模擬通道最大測試頻率: 16KHZ;

17、ASA（VI）測試頻率匹配:1HZ~16KHZ,共30檔可選;

18、脈沖發(fā)生器脈沖幅度：±1V~±28V;

19、脈沖發(fā)生器發(fā)生方式: 8種

    ① P1方式：正的直流電平；

    ② P2方式：負(fù)的直流電平；

    ③ P1+方式：正脈沖，由0度開始，寬度為N×1/64π；

    ④ P1-方式：負(fù)脈沖，由π開始，寬度為N×1/64π；

    ⑤ P2+方式：正脈沖，結(jié)束于π，寬度為N×1/64π；

    ⑥ P2-方式：負(fù)脈沖，結(jié)束于2π，寬度為N×1/64π；

    ⑦ P1+與P1-方式：P1+與P1-方式的組合；

    ⑧ P2+與P2-方式：P2+與P2-方式的組合。

    注：寬度中的N≤64，可設(shè)置

20、ASA（VI）曲線分析測試全過程測試時間（以128點/周期40管腳器件單端口掃描為例）: <１S；

21、電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值：25Ω±5Ω

22、雙通道數(shù)字存儲示波器：模擬帶寬20MHZ；

23、最大采樣速率：60MHZ/CH；存儲深度4000點/CH；

六、主要測試功能：

1、 程控電源輸出：

提供+5V測試電源，程控加電，擁有自動保護功能，安全可靠，不用外接測試電源，使用方便；|2、 機電式繼電器輸出控制：

采用安全可靠的機電式繼電器，與光電式比較，接觸電阻更小，約0.01~0.02Ω，其百萬次量級的使用壽命，幾百毫秒的動作時間足以滿足實際應(yīng)用要求。

3. 數(shù)字邏輯器件在線功能測試：

能夠?qū)?V數(shù)字邏輯器件進行在線功能測試；測試器件庫龐大（僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種）；測試范圍廣：TTL54/74、CMOS40/45、俄羅斯器件庫、西門子器件庫.

4．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測試：

能夠提取復(fù)雜的電路在線狀態(tài)：11種，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號、非法電平、總線競爭等等狀態(tài)，所以，對測試器件外電路的識別能力強，低檔測試儀一般只能識別2-3種 。此功能采用學(xué)習(xí)、比較的測試方式；

5． 動態(tài)總線競爭信號隔離功能：

用于解除總線競爭，確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線競爭隔離信號；

6． IC型號識別：

針對標(biāo)識不清或被擦除型號的器件，可“在線”或“離線”進行型號識別測試，測試結(jié)果打印出器件型號；對識別后的器件還可直接進行功能測試加以驗證；

7． 器件“離線”功能測試；

所有庫器件都可進行“離線”功能測試，如：5V數(shù)字邏輯器件、存儲器、集成運放、光電耦合器等器件；

8． LSI大規(guī)模集成電路在線功能測試：

可對：Z80、8255、等器件進行功能測試；

9． LSI大規(guī)模集成電路在線狀態(tài)分析測試；

可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進行狀態(tài)分析測試；

10．SRAM / DRAM讀寫存儲器在線測試；

直接檢測存儲器芯片的好壞，該測試無需事先學(xué)習(xí)，有獨立的測試器件庫，可采用在線、離線測試方式

11．EPROM在線直接讀取/比較測試：

可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計算機上，再和壞板上的相同器件中的程序進行比較測試；測試結(jié)果定位到存儲單元地址上，并打印出該地址正確和錯誤的代碼。

12．器件循環(huán)測試功能：

該功能可對數(shù)字邏輯器件、存儲器、集成運放、光耦等器件進行重復(fù)測試，直到出現(xiàn)錯誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）；

13．測試夾自動定位功能：

該功能可以將測試夾以正、反方向，對齊或不對齊第一腳的方式夾在被測器件上而不影響測試結(jié)果，利于提高測試速度；

14．?dāng)?shù)字邏輯器件在線測試速度可選：

為了保證器件測試的準(zhǔn)確性、降低誤判率，滿足不同器件對測試速度指標(biāo)的不同要求，而設(shè)置了速度可選項；如：對負(fù)載能力弱的CMOS器件應(yīng)選較低速度測試，一些集成度高、編程復(fù)雜的器件必須選擇較高速度測試。

15．?dāng)?shù)字邏輯器件測試閾值可調(diào)功能：

閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。 閾值電平的選取要與被測器件的類型相一致；在邏輯器件測試時，有時會遇到用閾值電平緊測試不通過，而用閾值電平松就能通過的現(xiàn)象，一般是器件的部分參數(shù)發(fā)生了變化，如驅(qū)動能力下降；

16．加電延遲可選功能：

被測電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大，充電時間越長。該選擇是確定在測試儀接通外供電源以后，需要等待多長時間后才開始進行測試。缺省為0.5秒；

17．測試夾接觸檢查功能：

該項功能主要解決當(dāng)測試夾與被測器件接觸不良時，造成的測試誤判，如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等；

18．瞬時復(fù)位電路控制功能：

當(dāng)測試儀突然掉電，又突然上電的情況下，不會造成測試儀內(nèi)部狀態(tài)混亂而帶來安全性問題；

19．集成運放在線功能測試（運放測試技術(shù)獲國家發(fā)明專利）：

使用模擬信號測試運放在線性放大區(qū)的工作特性，有獨立的測試器件庫，包含LM324、LM348等共計3000多種，支持多種封裝形式：如雙列直插、圓形、表面貼等。與把運放作為數(shù)字器件測試相比較，此方法更科學(xué)，結(jié)果更準(zhǔn)確。

20．集成運放在線狀態(tài)測試：

采用學(xué)習(xí)、存儲、比較的測試方式；

21．光電耦合器在線功能測試：

由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵信號測試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，測試結(jié)果準(zhǔn)確；低檔測試儀采用電壓激勵信號測試，會導(dǎo)致測試結(jié)果的準(zhǔn)確性不高。

22、有獨立的光耦測試器件庫，達(dá)500多種；

23．光電耦合器離線直流參數(shù)測試：

可在離線情況下對光耦的主要直流參數(shù)進行測試（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)、輸入開啟電壓、等），解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率；

24．匯能自定義功能測試平臺：

把測試儀的測試通道開放給用戶，由用戶對被測器件自行定義測試代碼，可以進行功能測試，前提是用戶需要對器件工作原理有一定的了解，或有被測器件的使用資料，適合有圖紙資料情況下的開發(fā)工作；

25．電路板網(wǎng)絡(luò)提取/比較測試；

使用模擬信號提取器件之間的連線關(guān)系，測試時無須加電，通/斷閾值設(shè)置明確，測試完成后可以Protel網(wǎng)絡(luò)表形式顯示，適合反演電路圖；

26．填表方式擴充集成運放測試器件庫：

以填表的方式定義運放的各個管腳狀態(tài)：如：同向輸入、反向輸入、輸出、正電源、負(fù)電源、接地腳，以及其他狀態(tài)等

27．以編程方式擴充數(shù)字器件庫：

采用HNDDL語言（天惠電子自主開發(fā)的用于描述邏輯過程的專用語言，擁有自己的版權(quán)），自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測試器件庫；

28．ASA（VI）模擬特征分析測試：

通過對器件端口進行模擬特征分析測試方式（VI曲線學(xué)習(xí)/比較測試），可以發(fā)現(xiàn)器件端口型的故障（一般能占到維修當(dāng)中的80%左右）適用于數(shù)字器件、模擬器件、模擬數(shù)字混合器件（如AD、DA等），對器件的封裝形式也不受限制，可適應(yīng)于對任何器件的測試；

29．ASA多種觀察坐標(biāo)顯示：

有三種顯示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐標(biāo)觀察曲線，有人習(xí)慣上把ASA也叫成VI測試；

30．單端口、多端口（交叉）VI曲線分析測試：

對器件采取單端口或多端口的測試方式；單端口測試方式是指每個管腳對地提取一遍阻抗特性曲線，而多端口是以任一腳做參考提取一遍阻抗特性曲線；

31．ASA 曲線雙探棒動態(tài)比較測試：

使用雙路探棒對兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點時時的進行動態(tài)比較測試；當(dāng)被測板上的器件不能使用測試夾測試時，此種方法最有效；

32、ASA 曲線測試智能提醒功能：

當(dāng)使用雙探棒進行比較測試時，如果不超差，儀器會出現(xiàn)報警聲音，如果超差，則無報警提示，引起使用者注意，該測試方法利用微機喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測效率，也大大降低了勞動強度；

33、ASA 測試曲線靈敏度可調(diào)：

當(dāng)ASA曲線走勢趨向于45度時，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測試方法能夠自動搜索出對故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率；

34、ASA 曲線掃描電壓可調(diào)：（示波器可測）

VI掃描電壓±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。低檔測試儀一般設(shè)定幾檔可選但不可調(diào)；

35、ASA 曲線測試頻率可調(diào)：（示波器可測）

VI測試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測試儀一般為設(shè)定不可調(diào)，或給不出頻率指標(biāo);

36、ASA 曲線測試輸出阻抗可選：

輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四檔可選：

37、ASA 曲線快速診斷分析測試：

以40管腳VI曲線單端口測試為例，全過程測試時間< 1秒；如果進行40管腳多端口（交叉）掃描測試，128點/周期，全程程測試時間也在10秒之內(nèi)；

38、可按管腳設(shè)置ASA 曲線測試參數(shù)：

可根據(jù)具體器件的測試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測試的靈活性；

39、ASA 曲線故障快速定位/查找功能：

當(dāng)VI測試出現(xiàn)故障曲線時，測試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項，使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀，測試效率更高；

40、三端器件測試功能：

完成對三端（含輸入/輸出）分立元件的動態(tài)測試功能，如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等器件測試：

41、三端器件測試時8種觸發(fā)信號可選，以滿足不同器件的控制觸發(fā)要求：

具有一個與掃描信號同步的脈沖發(fā)生器，用于產(chǎn)生觸發(fā)信號。觸發(fā)信號的極性、相位、寬度均可調(diào)，滿足正向、雙向，交、直流等多種觸發(fā)要求；

42、ASA 曲線多種排列/顯示方式：

可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點”或“畫線”來顯示曲線，單個管腳的曲線可以單獨放大或縮小；

43、分立元件測試：

可單獨對電路板上的分立元件直接進行VI曲線分析測試：如電阻、電容、電感等，也可以通過學(xué)習(xí)/比較的方式進行測試；

44、可測器件檢索功能：

內(nèi)置強大的搜索引擎，可以對器件庫進行檢索；檢索后可列出器件型號、所在器件庫、管腳數(shù)、封裝和功能描述。

45、雙通道數(shù)字存儲示波器：

46、頻譜分析功能：

47、元器件速查手冊（電子詞典）：

目前容量已達(dá)近四萬種，并在不斷地擴充中，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息；

48、元器件手冊整理：

可以快速把身邊的一些器件的資料整理到手冊當(dāng)中，使用起來會更方便；

49、數(shù)據(jù)庫整理功能：

對IC狀態(tài)庫、LSI在線學(xué)習(xí)庫、EPROM離線完全學(xué)習(xí)庫、EPROM在線快速學(xué)習(xí)庫、EPROM在線完全學(xué)習(xí)庫、網(wǎng)絡(luò)測試庫進行整理、刪除、更名等操作；

50、維修日記：

供記錄日常維修的經(jīng)驗體會，發(fā)生的重要事情等，長期保存這些資料并積累經(jīng)驗，會大大提高維修水平和技能；

51、測試信息打印輸出功能：

支持對各種測試界面下的打印；

52、后臺操作記錄管理：

測試儀會自動記錄測試過程及測試結(jié)果等信息；

53、操作幫助指南：

給使用者提供正確的操作方法、步驟；

七、隨機附件清單：