CST-50夏比投影儀(沖擊試樣缺口投影儀)
CST-50型夏比沖擊試驗(yàn)試樣缺口投影儀是為檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的用光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上,與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板(符合國(guó)標(biāo)GB、美標(biāo)ASTM)進(jìn)行比對(duì),即可快速判斷檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格。該儀器操作簡(jiǎn)單,對(duì)比直觀,效率高,能消除人為誤差,是理化試驗(yàn)室的必備用儀器。★適用標(biāo)準(zhǔn) GB/T 229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》 ASTM E23-02a 《材料缺口試樣標(biāo)準(zhǔn)沖擊試驗(yàn)方法》★技術(shù)參數(shù)1、放大倍數(shù):50倍。2、投影屏直徑:200mm。3、工作臺(tái)尺寸 方工作臺(tái):110mm×125mm 圓工作臺(tái):Ø90mm 工作臺(tái)玻璃直徑:Ø70mm。4、工作臺(tái)行程:縱向:10mm, 橫向:10mm, 升降:12mm。5、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍:0~360°。6、儀器放大倍率:50× 物鏡放大倍率:2.5× 投影物鏡放大倍率:20×。7、光源(鹵鎢燈):12V 100W。8、電源:AC 220V 50Hz。9、外形尺寸:515mm(L)×224mm(W)×603mm(H)。10、重量:約20kg。
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產(chǎn)品名稱(chēng):CST-50沖擊試樣缺口投影儀 產(chǎn)品編號(hào):CST-50 產(chǎn)品說(shuō)明: 該投影儀是為檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的專(zhuān)用光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上,與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板進(jìn)行比對(duì),即可快速判定檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格;對(duì)比直觀,操作簡(jiǎn)單,效率高。是理化試驗(yàn)室的必備專(zhuān)用設(shè)備。 主要技術(shù)指標(biāo):
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CST-50沖擊試樣缺口投影儀
該投影儀是為檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的專(zhuān)用光學(xué)儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上,與刻在觀察屏上的標(biāo)準(zhǔn)圖板進(jìn)行比對(duì),即可快速判定檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格;對(duì)比直觀,操作簡(jiǎn)單,效率高。是理化試驗(yàn)室的必備專(zhuān)用設(shè)備。
一.簡(jiǎn)介:
ST-50型沖擊試樣缺口投影儀,是根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94«金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法»中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種檢察夏比V 型和U 型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專(zhuān)用光學(xué)儀器。該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投影到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V 或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比真觀,效率高。
該儀器還可用于機(jī)械零件的外形輪廓,防治物纖維,生物切片分析,工量刀具檢驗(yàn),儀表元件和半導(dǎo)體器件的投影檢測(cè),操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀、效率高;
二.主要參數(shù)
1. 投影屏直徑:180mm
2. 工作臺(tái)尺寸: 方工作臺(tái)尺寸:110*125mm
園工作臺(tái)直徑:90mm
工作臺(tái)玻璃直徑:70mm
3. 工作臺(tái)行程:
縱向:±10mm
橫向:±10mm
升降: ±12mm
4. 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍:0~360º
5. 儀器放大倍率:50X
物鏡放大倍率:2.5X
投影物鏡放大倍率:20X
6. 光源(鹵鎢燈):12V
7. 電源:220V 50HZ
8. 外形尺寸:515*224*603mm
9. 重量:18kg
一、概述 XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是濟(jì)南時(shí)光試驗(yàn)儀器有限公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,對(duì)比直觀。 二、工作原理: XT-50沖擊試樣缺口投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物體,再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。 根據(jù)需要,本儀器為單一投射照明,光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上,再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。 三、濟(jì)南沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù): 投影屏直徑: 180mm 方工作臺(tái)尺寸: 110×125mm 圓工作臺(tái)直徑: 90mm 工作臺(tái)玻璃直徑: 70mm 縱向: ±10mm 橫向: ±10mm 升降: ±12mm(無(wú)刻度) 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍: 0-360°(無(wú)刻度) 儀器放大倍率: 50X 物鏡放大倍率: 2.5X 投影物鏡放大倍率: 20X 光源(鹵鎢燈): 12V 100W 外形尺寸: 515×224×603mm(長(zhǎng)×寬×高) 重量: 約18Kg
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
CTS-50型沖擊試樣缺口投影儀是根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和國(guó)標(biāo)中對(duì)沖擊試樣的要求而設(shè)
計(jì),開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢查夏比V型或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和型
缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì),一確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,對(duì)比直觀,操作簡(jiǎn)單,效率高,
是理化試驗(yàn)室的必備專(zhuān)用設(shè)備。該產(chǎn)品滿足GB/T229-2007《金屬材料夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》的要
求,可同時(shí)滿足ASTM E23-02a等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
二、主要技術(shù)參數(shù):
1、投影屏直徑: 180mm
2、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍:0-360°
3、工作臺(tái)尺寸:方工作臺(tái)尺寸:110×125mm,
方工作臺(tái)直徑:90mm,工作臺(tái)玻璃直徑:70mm
4、工作臺(tái)行程:縱向:±10mm,橫向:±10mm,升降:±12mm
5、放大倍數(shù): 50X
6、光源:12V 100W(鹵鎢燈)
7、電源:220V 50Hz 150W
8、外型尺寸: 515×224×603mm
9、重量:18Kg