HG2515B 多路電阻掃描測(cè)試儀價(jià)格直銷(xiāo)爆款
| 型號(hào) | HG2515B 多路電阻掃描測(cè)試儀價(jià)格直銷(xiāo)爆款 | |||
| 基本精度 | 0.05% | |||
| 顯示范圍 | 0.01mΩ-20.000MΩ | 清零功能 | 短路 | |
| 分辨率 | 10μΩ | 測(cè)試端 | 5端 | |
| 顯示方式 | 直讀、Δ% | 量程方式 | 手動(dòng)、自動(dòng)、量程保持 | |
| 量程 | 200 mΩ－2MΩ 共9個(gè)量程 | 分選功能 | 上超、下超、合格 | |
| 觸發(fā)方式 | 單次、連續(xù) | 觸發(fā)延時(shí)范圍 | 0－9999mS | |
| 單路速度 | 最快: 約30次/秒 快速: 約20次/秒 中速: 約13次/秒 慢速: 約7次/秒 精測(cè): 約4次/秒 | |||
| 接口 | 帶HANDLER接口，選配RS232接口 | |||
| 環(huán)境溫濕度 | 10～35℃、≤85%RH | 電源 | 220V±10 %、50Hz±5 % | |
HG2512C匯高HG2512C多路電阻掃描測(cè)試儀
JK2515B-8S多路電阻掃描測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)述：
JK2515B-16S多路電阻掃描測(cè)試儀(16路）采用240*128的點(diǎn)陣液晶屏顯示，能對(duì)變壓器、電機(jī)、開(kāi)關(guān)、繼電器等各類(lèi)多路電阻進(jìn)行同步測(cè)試，儀器測(cè)量范圍0.0001Ω~19.999kΩ，儀器產(chǎn)生高精度恒流經(jīng)被測(cè)件進(jìn)行四端點(diǎn)測(cè)量，有效地扣除了引線誤差，適合用戶作高精度測(cè)量；由于使用直流測(cè)試及最多十組的快速掃描測(cè)試，對(duì)各類(lèi)變壓器及電感的銅阻測(cè)量尤為適合；用戶可進(jìn)行兩種方式分選，即電阻直接顯示值的上/下限分選和Δ％分選。此外，單點(diǎn)或掃描兩種清零校準(zhǔn)方式；測(cè)試速度（快速、慢速）的改變；全狀態(tài)、全設(shè)置數(shù)值的斷電保護(hù)等功能也極大的方便了用戶對(duì)產(chǎn)品的測(cè)試。性能特點(diǎn): 人性化操作界面，操作及維護(hù)方便
單臺(tái)最多可掃描24路 每路均有一個(gè)分選設(shè)置 帶HANDLER接口、選配RS-232C接口 基本精度 0.05% 讀數(shù)1個(gè)字 測(cè)量范圍: 0.01 mΩ — 2 MΩ (定制） 0.01 mΩ — 2 kΩ 最高分辨率: 10uΩ 單路速度：6次/秒、12次/秒量程方式：手動(dòng)、自動(dòng)、量程保持 清零功能：短路測(cè)試端：5端 顯示方式：直讀、Δ%分選功能：上超、下超、合格接口（選配）：帶HANDLER接口、選配RS232接口分選方式（Sort）：1>．直讀分選（Dire）2>．相對(duì)偏差分選（Δ%）報(bào)警方式（Alarm）：1>．關(guān)閉報(bào)警（Clo）2>．相應(yīng)分選檔報(bào)警3>．合格報(bào)警（Pas） 4>．不合格報(bào)警（Fai）－注：上超或下超都為不合格 清零校準(zhǔn)模式選擇（Clear mode）：1>．單負(fù)載清零（Point）2>．掃描負(fù)載清零（Scan）－注：僅在掃描測(cè)試起作用量程選擇（Range）：1>．自動(dòng)（Auto）2>．保持（Hold）
多路掃描分信號(hào)選方式：A: 全部掃完出結(jié)果、以16通道為例：16通道全部只能在一樣的上限和一樣的下限，設(shè)定上下限數(shù)值范圍（只能在同一量程）超出范圍 判定合格或者不合格輸出信號(hào)（高電平、低電平） B: 依次掃描出結(jié)果、以16通道為例：每個(gè)通道設(shè)定上下限數(shù)值范圍（只能在同一量程）并且可以分檔判定合格或者不合格輸出信號(hào)（高電平、低電平） 后再進(jìn)入下個(gè)通道測(cè)試出結(jié)果。C: 全部掃完出結(jié)果、以16通道為例：設(shè)定每個(gè)通道不同的上下限數(shù)值范圍（只能在同一量程），16通道全部掃描后出結(jié)果，判定合格或者不合格信號(hào)（高電平、低電平） 多路掃描測(cè)試時(shí)根據(jù)不同測(cè)試范圍和測(cè)試精度切換板可以采樣如下圖：（測(cè)試范圍100u歐姆～2k歐姆，最大24路，繼電器開(kāi)關(guān)切換）(1)大電阻（200歐姆～2K歐姆）：?jiǎn)伍_(kāi)關(guān)切換，測(cè)試精度一般可以達(dá)到1歐姆左右；(2)小電阻（2歐姆～200歐姆）：雙開(kāi)關(guān)切換，測(cè)試精度一般可以達(dá)到0.2歐姆左右；(3)微電阻（100u歐姆～2歐姆）：四開(kāi)關(guān)切換，測(cè)試精度一般可以達(dá)到0.001歐姆左右； 名稱(chēng)：多路電阻測(cè)試儀詳細(xì)介紹 JK2515B 是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制內(nèi)部采用嵌入式的電阻測(cè)試儀。專(zhuān)為工業(yè)控制設(shè)計(jì)的電阻測(cè)試儀，定制量程，從10μΩ～200kΩ，受益于金艾聯(lián)尖端的電阻測(cè)量技術(shù)，使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。 JK2515B 是迄今最小型的電阻測(cè)試儀，內(nèi)部為獨(dú)立的6組電阻測(cè)試儀 ，上下極限設(shè)置，具備PLC觸發(fā)接口PASS/FAIL輸出。 特點(diǎn)：1：測(cè)試速度快 高達(dá)30次/秒。2：精度高，量程寬。特別適用于小電阻測(cè)試。3：抗干擾強(qiáng)，數(shù)據(jù)穩(wěn)定 。4：可以同時(shí)測(cè)試6個(gè)不同量程的電阻值 5：量程、電流直觀顯示、直接選擇。6: 6路內(nèi)部獨(dú)立 相當(dāng)于6臺(tái)低電阻測(cè)試儀 技術(shù)規(guī)格● 多路測(cè)試：任意路數(shù)組合● 外形尺寸：48mmx96mm，● 基本準(zhǔn)確度：0.1%● 量程，從10μΩ ～ 200kΩ！ 顯示：3999讀數(shù)！ 高速測(cè)試：20次/秒 性能特征● 校正功能：短路清零功能 ！ 比較器（分選）功能：內(nèi)置比較器，PASS/FAIL分選結(jié)果顯示和IO輸出。● 四端測(cè)試● 內(nèi)置Handler接口。 應(yīng)用● 測(cè)量各種高、中、低值電阻器● 各種開(kāi)關(guān)接觸電阻● 漆包線電阻● 接插件接觸電阻● 繼電器線包和觸點(diǎn)電阻● 變壓器、電感器、電機(jī)、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻● 焊點(diǎn)接觸電阻● 導(dǎo)線電阻● 車(chē)、船、飛機(jī)的金屬鉚接電阻● 印制版線條和孔化電阻● 表征機(jī)電元件的低阻特性● 金屬探傷等。
HG2515B匯高HG2515B多路電阻掃描測(cè)試儀
JK2515B-8D多路電阻掃描測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)述：
JK2515B-8D多路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制內(nèi)部采用嵌入式的電阻測(cè)試儀。專(zhuān)為工業(yè)控制設(shè)計(jì)的電阻測(cè)試儀，定制量程，從10μΩ～200kΩ，受益于金艾聯(lián)尖端的電阻測(cè)量技術(shù)，使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。 JK2515B 是迄今最小型的電阻測(cè)試儀，內(nèi)部為獨(dú)立的8組電阻測(cè)試儀 ，上下極限設(shè)置，具備PLC觸發(fā)接口PASS/FAIL輸出。 特點(diǎn)：1：測(cè)試速度快 高達(dá)20次/秒。2：精度高，量程寬。特別適用于小電阻測(cè)試。3：抗干擾強(qiáng)，數(shù)據(jù)穩(wěn)定 。4：可以同時(shí)測(cè)試8個(gè)不同量程的電阻值 5：量程、電流直觀顯示、直接選擇。6: 8路內(nèi)部獨(dú)立 相當(dāng)于8臺(tái)低電阻測(cè)試儀
技術(shù)規(guī)格● 多路測(cè)試：任意路數(shù)組合● 外形尺寸：48mmx96mm，● 基本準(zhǔn)確度：0.1%● 量程，從10μΩ ～ 200kΩ。● 顯示：3999讀數(shù)！ 高速測(cè)試：20次/秒性能特征
● 校正功能：短路清零功能 。● 比較器（分選）功能：內(nèi)置比較器，PASS/FAIL分選結(jié)果顯示和IO輸出！ 四端測(cè)試● 內(nèi)置Handler接口。
應(yīng)用：
● 測(cè)量各種高、中、低值電阻器● 各種開(kāi)關(guān)接觸電阻● 漆包線電阻● 接插件接觸電阻● 繼電器線包和觸點(diǎn)電阻● 變壓器、電感器、電機(jī)、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻● 焊點(diǎn)接觸電阻● 導(dǎo)線電阻● 車(chē)、船、飛機(jī)的金屬鉚接電阻● 印制版線條和孔化電阻● 表征機(jī)電元件的低阻特性● 金屬探傷等。
匯高儀器 HG2515B 多路電阻掃描測(cè)試儀 HG2515 QQ 2821290738
- 品牌: 匯高儀器
- 型號(hào): HG2515B
- 品牌: 匯高
- 型號(hào): HG2515B
- 貨號(hào): HG2515B
- 裝修及施工內(nèi)容: 水電工程
匯高儀器
銷(xiāo)售熱線:15219521196 13066199520 QQ聯(lián)系:2821290738
專(zhuān)業(yè)銷(xiāo)售、計(jì)量、維修各種檢測(cè)儀器儀表
HG2515B多路電阻掃描測(cè)試儀
性能特點(diǎn): 240*128大屏幕LCD點(diǎn)陣圖形顯示
人性化操作界面，操作及維護(hù)方便
單臺(tái)最多可掃描24路，可多臺(tái)級(jí)聯(lián)掃描
每路均有一個(gè)分選設(shè)置
帶HANDLER接口、選配RS-232C接口
基本精度 0.05% 讀數(shù)1個(gè)字
測(cè)量范圍 0.01 mΩ — 200 KΩ
最高分辨率: 10uΩ
單路速度：4次/秒 8次/秒 12次/秒 20次/秒
量程方式：手動(dòng)、自動(dòng)、量程保持
清零功能：短路
測(cè)試端：5端
顯示方式：直讀、Δ%
分選功能：上超、下超、合格
接口（選配）：HANDLER接口、RS232接口
鐘先生 電話 13728666139 13066199520 QQ 2821290738
日本日置IM3533 LCR測(cè)試儀 IM3533-01分析掃描測(cè)試儀
| 日本日置IM3533 LCR測(cè)試儀 IM3533-01分析掃描測(cè)試儀 | ||
| IM3533 | IM3533-01 | |
| 測(cè)量模式 | LCR，變壓器測(cè)試(N,M,△L)， 連續(xù)測(cè)試(LCR模式) | LCR，變壓器測(cè)試(N,M,△L)， 分析儀(掃描測(cè)試)，連續(xù)測(cè)試(LCR/分析模式) |
| 測(cè)量參數(shù) | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T | |
| 測(cè)量量程 | 100mΩ～100MΩ,10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) | |
| 可顯示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位] ～9.999999G [單位]) 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999) Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%) | |
| 基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° | |
| 測(cè)量頻率 | 1mHz ～200kHz (1mHz ～10Hz步進(jìn)) | |
| 測(cè)量信號(hào)電平 | [輸出阻抗] V模式，CV模式：5mV～5Vrms,1mVrms CC模式：10μA～50mArms,10μArms [低阻抗高精度模式] V模式，CV模式：5mV～2.5Vrms,1mVrms CC模式：10μA～100mArms,10μArms | |
| 輸出阻抗 | 正常模式：100Ω,低阻抗高精度模式：25Ω | |
| 顯示 | 5.7英寸觸摸屏，彩色TFT，顯示可設(shè)置ON/OFF | |
| 測(cè)量時(shí)間 | 2ms(1kHz,FAST,顯示OFF，代表值) | |
| 功能 | DC偏壓測(cè)量、直流電阻溫度補(bǔ)償 （標(biāo)準(zhǔn)溫度換算顯示）,比較器、BIN測(cè)量（分類(lèi)功能）,面板讀取/保存、存儲(chǔ)功能 | |
| 接口 | EXT I/O(處理器)，USB通信(高速)，USB存儲(chǔ) 選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一 | |
| 電源 | 100～240V AC，50/60Hz，最大50VA | |
| 尺寸及重量 | 330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg | |
| 附件 | 電源線×1，使用說(shuō)明書(shū)×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 | |
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀（價(jià)格優(yōu)惠）
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀針對(duì)電路板的這四個(gè)階段，或者說(shuō)這四個(gè)不同的部門(mén)，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺(tái)。ENG平臺(tái) 針對(duì)電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門(mén)的應(yīng)用；IND平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門(mén)的應(yīng)用；PRO平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門(mén)的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；（需要IND的編程支持）REP 平臺(tái) 針對(duì)維修階段或部門(mén)的故障診斷修理應(yīng)用；（需要IND的編程支持）這四個(gè)系列的產(chǎn)品每個(gè)都分為三個(gè)級(jí)別：C級(jí)是基本級(jí)，支持1-3個(gè)TAP端口；E級(jí)是擴(kuò)展級(jí)，支持1-6個(gè)TAP端口；P級(jí)是完整級(jí)，支持1-無(wú)限個(gè)TAP端口IND-P 是功能最全，級(jí)別最高的產(chǎn)品。法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀必選的選件：TEM1 JTAG 控制器，具備1個(gè)TAP 接口，帶一條電纜TEM4 JTAG 控制器，具備4個(gè)TAP 接口，帶一條電纜（以上兩個(gè)要選一項(xiàng)）CAB 電纜法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀其他選件：ISP Flash 板上編程軟件PCB PCB 圖像軟件IO320 320點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展IO60 60點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展
法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀使工程師可以利用JTAG標(biāo)準(zhǔn)下的邊界掃描全部功能，確認(rèn)調(diào)試和測(cè)試電路板。這個(gè)平臺(tái)包含了所有的功能：定義測(cè)試對(duì)象，檢查BSDL，檢查掃描鏈路，執(zhí)行互連測(cè)試，用TCL生成功能測(cè)試，對(duì)信號(hào)和網(wǎng)點(diǎn)做診斷，所有工作不超過(guò)2天就可以完成。一個(gè)重要的好處是，可以在設(shè)計(jì)調(diào)試階段分析測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性，利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以方便的調(diào)整設(shè)計(jì)以提高可測(cè)試性和測(cè)試覆蓋率，使DFT進(jìn)一步優(yōu)化。使您的工作很靈活，多功能，易擴(kuò)展，更快速！法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析BSDL器件檢查基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器交互性調(diào)試支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式使用TCL語(yǔ)言開(kāi)發(fā)用戶測(cè)試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)對(duì)FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)包括軟件模塊系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致ATPG2互連 ：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域 ：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程網(wǎng)表合并（option） ：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，可以按名字，引腳，單元搜索Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫(kù)到其他的相關(guān)平臺(tái)API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀IND編程測(cè)試平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門(mén)的應(yīng)用；本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡(jiǎn)便完整的運(yùn)行測(cè)試。法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀編程測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析BSDL器件檢查基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器交互性調(diào)試支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式使用TCL語(yǔ)言開(kāi)發(fā)用戶測(cè)試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)對(duì)FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器組織管理測(cè)試數(shù)據(jù)根據(jù)實(shí)際需要運(yùn)行完整的測(cè)試程序調(diào)整或簡(jiǎn)化測(cè)試方案輸出測(cè)試程序給生產(chǎn)平臺(tái)法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀編程測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致ATPG2互連 ：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域 ：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程網(wǎng)表合并（option） ：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，可以按名字，引腳，單元搜索Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫(kù)到其他的相關(guān)平臺(tái)API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化測(cè)試管理 ：根據(jù)需要選擇調(diào)整測(cè)試方案策略測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式生產(chǎn)測(cè)試準(zhǔn)備 ：本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡(jiǎn)便完整的運(yùn)行測(cè)試。法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀PRO生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門(mén)的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀使測(cè)試成為很簡(jiǎn)便的一鍵式操作，只需選擇測(cè)試編程平臺(tái)傳遞下來(lái)的測(cè)試程序。管理員可以選擇測(cè)試順序和測(cè)試程序。生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)調(diào)入測(cè)試編程平臺(tái)的程序執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試和板上編程管理員和操作員分級(jí)打印測(cè)試報(bào)告生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊程序裝載 ：可以在測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試 ：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過(guò)來(lái)的測(cè)試任務(wù)。測(cè)試掃描鏈路；確認(rèn)器件的ID碼ATPG1，2，3的測(cè)試擴(kuò)展的功能測(cè)試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程條碼讀出 ：對(duì)UUT識(shí)別方便操作員面板 ：操作員只需根據(jù)板子類(lèi)型選擇測(cè)試程序，運(yùn)行測(cè)試，讀測(cè)試報(bào)告，無(wú)需專(zhuān)門(mén)培訓(xùn)。管理員面板 ：管理員在生產(chǎn)測(cè)試之前可以調(diào)整測(cè)試順序，確定JTAK連接電纜，信號(hào)確認(rèn)
REP 診斷維修平臺(tái) 針對(duì)維修階段或部門(mén)的故障診斷修理應(yīng)用針對(duì)返修的板子，使用本平臺(tái)可以方便快速的診斷故障進(jìn)行修理。利用生產(chǎn)平臺(tái)傳遞的信息和圖形化的電路圖可以方便的看到故障位置。利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以把故障定位在網(wǎng)點(diǎn)上。結(jié)合探針可以很快的確定和排除故障。診斷維修平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)觀看電路圖圖形 圖形上標(biāo)識(shí)出故障點(diǎn)故障點(diǎn)定位執(zhí)行測(cè)試程序輸出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)針對(duì)故障診斷需求編寫(xiě)特殊測(cè)試法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀故障平臺(tái)包括軟件模塊工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，可以按名字，引腳，單元搜索PCB 視圖（option） ：利用圖形化顯示的電路圖可以方便的看到測(cè)試顯示的故障位置執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試 ：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過(guò)來(lái)的測(cè)試任務(wù)。測(cè)試掃描鏈路；確認(rèn)器件的ID碼ATPG1，2，3的測(cè)試擴(kuò)展的功能測(cè)試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程
HG-2515B多路電阻掃描測(cè)試儀 HG2515B
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