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法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀針對(duì)電路板的這四個(gè)階段，或者說(shuō)這四個(gè)不同的部門(mén)，提供了適應(yīng)其各自特點(diǎn)的工作平臺(tái)。ENG平臺(tái) 針對(duì)電路板的實(shí)驗(yàn)調(diào)試階段或部門(mén)的應(yīng)用；IND平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門(mén)的應(yīng)用；PRO平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門(mén)的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；（需要IND的編程支持）REP 平臺(tái) 針對(duì)維修階段或部門(mén)的故障診斷修理應(yīng)用；（需要IND的編程支持）這四個(gè)系列的產(chǎn)品每個(gè)都分為三個(gè)級(jí)別：C級(jí)是基本級(jí)，支持1-3個(gè)TAP端口；E級(jí)是擴(kuò)展級(jí)，支持1-6個(gè)TAP端口；P級(jí)是完整級(jí)，支持1-無(wú)限個(gè)TAP端口IND-P 是功能最全，級(jí)別最高的產(chǎn)品。法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀必選的選件：TEM1 JTAG 控制器，具備1個(gè)TAP 接口，帶一條電纜TEM4 JTAG 控制器，具備4個(gè)TAP 接口，帶一條電纜（以上兩個(gè)要選一項(xiàng)）CAB 電纜法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀其他選件：ISP Flash 板上編程軟件PCB PCB 圖像軟件IO320 320點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展IO60 60點(diǎn)I/O接插件擴(kuò)展法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀使工程師可以利用JTAG標(biāo)準(zhǔn)下的邊界掃描全部功能，確認(rèn)調(diào)試和測(cè)試電路板。這個(gè)平臺(tái)包含了所有的功能：定義測(cè)試對(duì)象，檢查BSDL，檢查掃描鏈路，執(zhí)行互連測(cè)試，用TCL生成功能測(cè)試，對(duì)信號(hào)和網(wǎng)點(diǎn)做診斷，所有工作不超過(guò)2天就可以完成。一個(gè)重要的好處是，可以在設(shè)計(jì)調(diào)試階段分析測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性，利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以方便的調(diào)整設(shè)計(jì)以提高可測(cè)試性和測(cè)試覆蓋率，使DFT進(jìn)一步優(yōu)化。使您的工作很靈活，多功能，易擴(kuò)展，更快速！法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析BSDL器件檢查基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器交互性調(diào)試支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式使用TCL語(yǔ)言開(kāi)發(fā)用戶測(cè)試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)對(duì)FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀設(shè)計(jì)調(diào)試平臺(tái)包括軟件模塊系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致ATPG2互連 ：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域 ：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程網(wǎng)表合并（option） ：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，可以按名字，引腳，單元搜索Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫(kù)到其他的相關(guān)平臺(tái)API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀IND編程測(cè)試平臺(tái) 針對(duì)制定測(cè)試工藝和編制測(cè)試程序階段或部門(mén)的應(yīng)用；本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡(jiǎn)便完整的運(yùn)行測(cè)試。法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀編程測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)測(cè)試覆蓋率和可測(cè)試性分析BSDL器件檢查基本結(jié)構(gòu)檢查（掃描鏈路完整性檢查）面向互連，區(qū)間，存儲(chǔ)器的ATPG自動(dòng)測(cè)試程序發(fā)生器交互性調(diào)試支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式使用TCL語(yǔ)言開(kāi)發(fā)用戶測(cè)試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器，總線，引腳上的數(shù)字信號(hào)對(duì)FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器組織管理測(cè)試數(shù)據(jù)根據(jù)實(shí)際需要運(yùn)行完整的測(cè)試程序調(diào)整或簡(jiǎn)化測(cè)試方案輸出測(cè)試程序給生產(chǎn)平臺(tái)法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀編程測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊系統(tǒng)構(gòu)建 ：定義元器件，區(qū)域，板，系統(tǒng)，網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)BSDL檢查 ：檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷ATPG1基礎(chǔ) ：檢查掃描鏈路，與設(shè)計(jì)性能保持一致ATPG2互連 ：自動(dòng)測(cè)試可測(cè)試引腳之間的互連ATPG3存儲(chǔ)區(qū)域 ：自動(dòng)測(cè)試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程網(wǎng)表合并（option） ：自動(dòng)生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表，針對(duì)拼板測(cè)試生成網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，可以按名字，引腳，單元搜索Run time生成 ：輸出所有的數(shù)據(jù)庫(kù)到其他的相關(guān)平臺(tái)API 服務(wù)器（option） ：可以提供應(yīng)用程序接口，以和用戶使用的通用軟件平臺(tái)例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測(cè)試一體化測(cè)試管理 ：根據(jù)需要選擇調(diào)整測(cè)試方案策略測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式生產(chǎn)測(cè)試準(zhǔn)備 ：本平臺(tái)自己可以執(zhí)行完整的測(cè)試，還將測(cè)試準(zhǔn)備好，完整的提交給下一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)，使得生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可以簡(jiǎn)便完整的運(yùn)行測(cè)試。法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀PRO生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái) 針對(duì)生產(chǎn)制造階段或部門(mén)的實(shí)際測(cè)試應(yīng)用；法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀使測(cè)試成為很簡(jiǎn)便的一鍵式操作，只需選擇測(cè)試編程平臺(tái)傳遞下來(lái)的測(cè)試程序。管理員可以選擇測(cè)試順序和測(cè)試程序。生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)調(diào)入測(cè)試編程平臺(tái)的程序執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試和板上編程管理員和操作員分級(jí)打印測(cè)試報(bào)告生產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)包括軟件模塊程序裝載 ：可以在測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試 ：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過(guò)來(lái)的測(cè)試任務(wù)。測(cè)試掃描鏈路；確認(rèn)器件的ID碼ATPG1，2，3的測(cè)試擴(kuò)展的功能測(cè)試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程條碼讀出 ：對(duì)UUT識(shí)別方便操作員面板 ：操作員只需根據(jù)板子類(lèi)型選擇測(cè)試程序，運(yùn)行測(cè)試，讀測(cè)試報(bào)告，無(wú)需專(zhuān)門(mén)培訓(xùn)。管理員面板 ：管理員在生產(chǎn)測(cè)試之前可以調(diào)整測(cè)試順序，確定JTAK連接電纜，信號(hào)確認(rèn)

REP 診斷維修平臺(tái) 針對(duì)維修階段或部門(mén)的故障診斷修理應(yīng)用針對(duì)返修的板子，使用本平臺(tái)可以方便快速的診斷故障進(jìn)行修理。利用生產(chǎn)平臺(tái)傳遞的信息和圖形化的電路圖可以方便的看到故障位置。利用網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航可以把故障定位在網(wǎng)點(diǎn)上。結(jié)合探針可以很快的確定和排除故障。診斷維修平臺(tái)技術(shù)要點(diǎn)觀看電路圖圖形 圖形上標(biāo)識(shí)出故障點(diǎn)故障點(diǎn)定位執(zhí)行測(cè)試程序輸出統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)針對(duì)故障診斷需求編寫(xiě)特殊測(cè)試法國(guó)Tem邊界掃描測(cè)試儀故障平臺(tái)包括軟件模塊工具箱 ：先進(jìn)的調(diào)試功能，獨(dú)立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號(hào)交互式調(diào)試 ：隔離故障，便于調(diào)試診斷測(cè)試擴(kuò)展 ：TCL測(cè)試擴(kuò)展用于測(cè)試用戶自定義的其他進(jìn)一步測(cè)試程序裝載 ：可以在調(diào)試和測(cè)試同時(shí)對(duì)FPGA和CPLD裝載程序Flash編程（option） ：可以對(duì)任何形式的Flash存儲(chǔ)器編程測(cè)試報(bào)告編輯 ：根據(jù)使用要求編輯任何形式的報(bào)告格式網(wǎng)點(diǎn)導(dǎo)航 ：生成交互式參考表，顯示網(wǎng)點(diǎn)，引腳，JTAG單元，可以按名字，引腳，單元搜索PCB 視圖（option） ：利用圖形化顯示的電路圖可以方便的看到測(cè)試顯示的故障位置執(zhí)行生產(chǎn)測(cè)試 ：完整的執(zhí)行測(cè)試編程平臺(tái)傳遞過(guò)來(lái)的測(cè)試任務(wù)。測(cè)試掃描鏈路；確認(rèn)器件的ID碼ATPG1，2，3的測(cè)試擴(kuò)展的功能測(cè)試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程