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萬(wàn)濠rational 納米白光干涉儀AE-100M

 萬(wàn)濠rational 納米白光干涉儀AE-100M

產(chǎn)用途：結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測(cè)量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測(cè)。應(yīng)用域包含：玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機(jī)電元件、平面液晶顯示器、高密度線路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。

產(chǎn)特點(diǎn):● 納米深度3D檢測(cè)● 高速、無(wú)接觸量● 表面形狀、粗糙度分析● 非透明、透明材質(zhì)皆適用● 非電子束、非雷射的安全量測(cè)● 低維護(hù)成本

的3D圖形處理與分析軟體（Post Topo）：● 提供多功能又具友好界面的3D圖形處理與分析● 提供自動(dòng)表面平整化處理功能● 提供高階標(biāo)準(zhǔn)片的軟件自校功能● 深度、高度分析功能提供線性分析與區(qū)域分析等兩種方式● 線性分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度（Roughness）與起伏度● （waviness）的測(cè)量分析？商峁┒噙_(dá)17種的ISO量測(cè)參數(shù)與4種額外量測(cè)數(shù)據(jù)（Wafer）● 區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計(jì)分析● 具有平滑化、銳化與數(shù)字過(guò)濾波等多種二維快速利葉轉(zhuǎn)換（FFT）處理功能● 量測(cè)分析結(jié)果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出

高速精密的干涉解析軟件(ImgScan)：● 系統(tǒng)硬件搭配ImgScan處理軟件自動(dòng)解析白光干涉條紋● 垂直高度可達(dá)0.1nm● 高速的分析算法則，讓你不在苦候測(cè)量結(jié)果● 垂直掃描范圍的設(shè)定輕松又容易● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇● 平臺(tái)X、Y、Z位置數(shù)字式顯示，使檢測(cè)目標(biāo)尋找快速又便利● 具有手動(dòng)/自動(dòng)光強(qiáng)度調(diào)整功能以取得佳的干涉條紋對(duì)比● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測(cè)量模式供選擇● 具有的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌● 具有自動(dòng)補(bǔ)點(diǎn)功能● 可自行設(shè)定掃描方向

 萬(wàn)濠rational 納米白光干涉儀AE-100M

技術(shù)規(guī)格參數(shù)：  

型號(hào) AE-100M
移動(dòng)臺(tái)(mm) 平臺(tái)尺寸100*100 ，行程13*13
物鏡放大倍率 10X 20X 50X
觀察與量測(cè)范圍(mm) 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066
光學(xué)分辨力(μm) 0.92 0.69 0.5
收光角度(Degrees) 17 23 33
工作距離 7.4 4.7 3.4
傳感器分辨率 640*480像素
機(jī)臺(tái)重量(kg)/載重kg 20kg/小于1kg
Z軸移動(dòng)范圍 45mm , 手動(dòng)細(xì)調(diào);可訂制150mm
Z軸位置數(shù)字顯示器 分辨力1μm
傾斜調(diào)整平臺(tái) 雙軸/手動(dòng)調(diào)整
高度測(cè)量
測(cè)量范圍 100(μm)(400μm ,選配)
量測(cè)分辨力 0.1nm
重復(fù)精度 ≤ 0.1％ (量測(cè)高度:>10μm)
≤10nm(量測(cè)高度1μm 10μm)
≤ 5nm(量測(cè)高度:<1μm )
量測(cè)控制 自動(dòng)
掃描速度(μm/s) 12(高)
光源
光源類型 儀器用鹵素（冷）光源
平均使用壽命 1000小時(shí)100W 500小時(shí)（150W）
光強(qiáng)度調(diào)整 自動(dòng)/手動(dòng)
數(shù)據(jù)處理與顯示用計(jì)算機(jī)
中央處理運(yùn)算屏幕 雙核心以上CPU
影像與數(shù)據(jù)顯示屏幕 21" 雙晶屏幕
操作系統(tǒng) Win7
電源與環(huán)境要求 AC100 －－240 V 50-60Hz
環(huán)境振動(dòng) VC-C等以上
測(cè)量分析軟件
量測(cè)軟件ImgScan ImgScan測(cè)量軟件：具VSI/ PVSI/PSI 測(cè)量模式（PSI量測(cè)模式需另選配PSI模塊搭配）
分析軟件PosTopo ISO 粗燥度/階高分析，快速傳利葉轉(zhuǎn)換和濾波，多樣的2D和3D 觀測(cè)視角圖，外形/面積/體積分析，圖像縮放、標(biāo)準(zhǔn)影像文件格式轉(zhuǎn)換 報(bào)表輸出，程序教導(dǎo)測(cè)量等。

 

 

 萬(wàn)濠rational 納米白光干涉儀AE-100M
該公司產(chǎn)品分類： 干燥機(jī) 靜點(diǎn)測(cè)試儀 張力計(jì) 瑪芝哈克 韓國(guó)DONG-DO 亮度計(jì) 光澤度儀 大理石 扭力起子 插規(guī)，深度規(guī) 蔚儀試驗(yàn)儀器 寶禾密儀器系列 意大利GIVIMISURE 顯微鏡 瑞士杰恩爾 常州首豐影像儀 各式千/百分表測(cè)頭 其他儀器儀表 污點(diǎn)規(guī)，點(diǎn)卡，對(duì)比測(cè)量 推拉力測(cè)試儀器

sis智泰白光干涉儀

 

產(chǎn)品特點(diǎn)：
1 、非接觸式測(cè)量：避免對(duì)象受損。
2 、三維表面測(cè)量：表面高度測(cè)量范圍為  1nm －－-200μm。
3 、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
4 、納米級(jí)分辨率：垂直分辨率可以達(dá)到0.1nm。
5、高速數(shù)字訊號(hào)處理器：實(shí)現(xiàn)測(cè)量?jī)H需要幾秒鐘。
6 、掃描儀：采用死循環(huán)控制系統(tǒng)。
7、工作臺(tái)：氣動(dòng)裝置、抗震、抗壓。
8 、測(cè)量軟件：基于windows 操作系統(tǒng)的使用者接口，強(qiáng)大而快速的運(yùn)算。
　
應(yīng)用領(lǐng)域：
1、半導(dǎo)體芯片
2、液晶產(chǎn)品（CS,LGP,BIU）
3、微機(jī)電系統(tǒng)
4、光纖產(chǎn)品
5、資料存儲(chǔ)盤（HDD,DVD,CD）
6、材料研究
7、精密加工表面
8、生物醫(yī)學(xué)工程
    機(jī)型
      SIS 1200
      SIS 2000
工作臺(tái)
尺寸
  250 mm×174 mm
    350mm×350mm
傾斜度
                        ±3 °
測(cè)量行程
  X:150mm     Y:100mm
   X:200mm   Y:200mm
Z軸行程
      50mm
       100mm
運(yùn)動(dòng)方式
        手動(dòng)
    自動(dòng)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)
掃描速度
                    30μm/sec
垂直分辨率
                      0.1 nm
CCD
             黑白CCD， 640×480 像素
物鏡安裝架
手動(dòng)導(dǎo)引五孔式
手動(dòng) 5個(gè)位移的可定位夾具
鏡頭選配
           鏡頭：5×、10×、20×、50×
系統(tǒng)參數(shù)：
測(cè)量技術(shù)
增強(qiáng)相位掃描干涉    相位移動(dòng)干涉
放大率
2.5X
5X
10X
20X
50X
視場(chǎng) (mm)
3.62×2.72
1.81×1.36
0.90×0.68
0.45×0.34
0.18×0.13
橫向分辨率
4.72μm
2.72μm
1.18μm
0.88μm
0.64μm
控制器
計(jì)算機(jī)
軟件
i2000SNU Map
Windows 2000環(huán)境下運(yùn)行
掃描儀
死循環(huán)控制
抗震工作臺(tái)
氣動(dòng)裝置
　
 

SIS 2000自動(dòng)白光干涉儀

SIS 2000基本信息
品牌： SNU 型號(hào)： SIS 2000 操作方式： 自動(dòng)
功能： 檢測(cè)、觀察、分析 精度 ： 1nm    
其它型號(hào)：
SIS 1200  
 
SIS 2000產(chǎn)品特點(diǎn)
1、非接觸式測(cè)量：避免物件受損。2、三維表面測(cè)量：表面高度測(cè)量范圍為1nm-200μm。3、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。4、納米級(jí)分辨率：垂直分辨率可以達(dá)到0.1nm。5、高速數(shù)字信號(hào)處理器：實(shí)現(xiàn)測(cè)量?jī)H需要幾秒鐘。6、掃描儀：采用閉環(huán)控制系統(tǒng)。7、工作臺(tái)：氣動(dòng)裝置、抗震、抗壓。8、測(cè)量軟件：基于windows 操作系統(tǒng)的用戶界面，強(qiáng)大而快速的運(yùn)算。
SIS 2000技術(shù)參數(shù)
機(jī)型

 SIS 2000
工作臺(tái)

 尺寸

 350mm×350mm
傾斜度

 ±3 °
測(cè)量行程

 X:200mm   Y:200mm
Z軸行程

 100mm
運(yùn)動(dòng)方式

 自動(dòng)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)
掃描速度

 30μm/sec
垂直分辨率

 0.1nm
CCD

 黑白CCD， 640×480 像素
物鏡安裝架

 手動(dòng) 5個(gè)位移的可定位夾具
鏡頭選配

 鏡頭：5×、10×、20×、50×
SIS 2000應(yīng)用領(lǐng)域
1、TFT產(chǎn)業(yè)2、半導(dǎo)體3、MEMS4、高校科研5、精密加工

CCI6000英國(guó)原裝進(jìn)口Talysurf CCI系列白光干涉儀表面輪廓儀

Talysurf CCI 6000白光干涉儀 隨著科技潮流,非接觸式的量測(cè)至今已被廣泛的應(yīng)用在生產(chǎn)及研發(fā)上，而Taylor Hobson經(jīng)多年的研發(fā)于2003年初推出的Talysurf CCI 6000白光干涉儀可堪稱目前世界上精度最高功能最強(qiáng)的白光干涉儀，,其超高解析度的特性（0.1Å），可以運(yùn)用在量測(cè)晶圓 ，微機(jī)電及拋光元件等產(chǎn)品的粗糙度 平面度 及膜厚分析等，而非破壞性的特性更可以有效的量測(cè)軟性物質(zhì)，在邁入奈米紀(jì)元同時(shí)相信Talysurf CCI 6000絕對(duì)是各大企業(yè)不可少的量測(cè)系統(tǒng)。 Talysurf CCI 6000白光干涉儀： &解析度（Z軸） 0.01nm （0.1Å） &測(cè)量范圍（Z軸） 100um &測(cè)量范圍（X x Y） 0.36mm x 0.36mm ~ 7.2mm x 7.2mm（依物鏡倍率不同可自由選擇） &1024 x 1024 高解析量測(cè)點(diǎn)數(shù) &受測(cè)物的反射率 0.3% - 100% （透明物亦可量測(cè)） 硬件及軟件 &氣浮式防震系統(tǒng)已隔絕樓板震動(dòng)‧隔離罩以隔離外在環(huán)境避免影響量測(cè)精度 &相容于Windows 2000及 Windows XP 系統(tǒng) CCI干涉儀 Mirau 干涉 白光干涉儀3D分析軟件 &Talymap 3D & 2D 分析軟體。 &可分析項(xiàng)目: 粗度 平面度 波紋 膜厚 體積計(jì)算 承壓比值 等等。 &微機(jī)電尺寸計(jì)算（距離 高度 等計(jì)算）‧表面頻譜分析（FFT） MEMS Sensor Optics Diamond Turned& Wafer Step Talysurf CCI 6000白光干涉儀應(yīng)用： &MEMS 微小尺寸計(jì)算 &Silicon Wafer 表面粗度 平面度 &非球面鏡表面粗糙度 &硬碟 光碟表面組織形狀 &OLED PDP LCD 膜厚分析計(jì)算  

該公司產(chǎn)品分類： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測(cè)厚規(guī) 測(cè)長(zhǎng)儀 數(shù)碼工程打印機(jī) 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗(yàn)機(jī) 除銹油 美國(guó)施泰力 東京精密 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x 電子天平、水分測(cè)試儀 色差、光澤計(jì) 齒輪測(cè)量?jī)x 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

供應(yīng)張家港常熟靖江揚(yáng)州廠家二次元三次元白光干涉儀

供應(yīng)張家港常熟靖江揚(yáng)州廠家二次元三次元白光干涉儀智泰集團(tuán)南通辦事處主要從事光學(xué)影像量測(cè)儀、三維激光抄數(shù)機(jī)、光譜儀、無(wú)損探傷儀、白光干涉儀、三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x和投影儀在蘇北地區(qū)的銷售和售后服務(wù)。 同時(shí)也承接各種精密測(cè)量?jī)x器技術(shù)咨詢,測(cè)量?jī)x維修,改造服務(wù)。  公司生產(chǎn)的儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、汽配、摩配、制冷、家電、廚具、電機(jī)、電動(dòng)工具、軸承、精密五金、精密工具、刀具、模具、沖壓制品、光學(xué)元件、塑膠制品等行業(yè)？蓽y(cè)軸承套圈、滾針、滾子、鋼球、電機(jī)軸、電機(jī)換向器（整流子）、花鍵軸、齒輪軸、凸輪軸、曲軸、圓柱銷、活塞銷、活塞、缸套、氣門、閥門、齒輪、凸輪、油泵油嘴、液壓件、氣動(dòng)件、紡機(jī)配件等工件相關(guān)參數(shù)；適用于科研院所、大專院校、計(jì)量機(jī)構(gòu)和企業(yè)計(jì)量室、車間在線檢測(cè)等。我公司產(chǎn)品使用范圍廣,成立十年來(lái)一直暢銷于各行各業(yè). Super View超大行程系列基本信息品牌： 3DFAMILY  型號(hào)： SV1200  操作方式： 自動(dòng)功能： 三維測(cè)量 精度 ： 4.5μm  軟件： OVM Pro其它型號(hào)： SV1500   SV1000 

   產(chǎn)品介紹    Super View超大行程系列量測(cè)儀是3DFAMILY又一創(chuàng)新力作，產(chǎn)品擁有多項(xiàng)專利設(shè)計(jì)，彌補(bǔ)了目前市場(chǎng)上銷售各品牌大行程機(jī)型的多項(xiàng)缺陷。  產(chǎn)品特點(diǎn)1、采用流線型外觀，減少運(yùn)行時(shí)的阻力，提率。2、模塊化設(shè)計(jì)，超大行程移動(dòng)橋架式結(jié)構(gòu)，運(yùn)行性能穩(wěn)定，且機(jī)構(gòu)穩(wěn)定不變形。3、的低阿貝誤差，測(cè)量精度大幅度提升。4、日本三洋伺服馬達(dá)，X、Y軸加裝德國(guó)高減速比減速機(jī)減少馬達(dá)負(fù)載、提高運(yùn)行速度使運(yùn)行速度快、穩(wěn)定。5、Y軸同步傳動(dòng)X軸硬件閉環(huán)結(jié)構(gòu)，確保運(yùn)行時(shí)不會(huì)出現(xiàn)左右偏擺或甩尾的現(xiàn)象。技術(shù)參數(shù)　 具體型號(hào) SV-1200測(cè)量行程（X/Y/Z） 1000×1200×200（mm）機(jī)臺(tái)尺寸（長(zhǎng)/寬/高） 1800×2500×1500（mm）機(jī)臺(tái)承重 20KG機(jī)臺(tái) 底座、立柱和橫梁材料為高精度花崗石光源材質(zhì) LED冷光源精度 （4.5+L/200）?m放大倍率 光學(xué)放大率：0.7X-4.5X，影像放大率：28X-180X光學(xué)尺解析度 1?m重復(fù)性 4.5?m操作方式 自動(dòng)顯示器 17"液晶電源供給 220±10%適宜溫度 、濕度 溫度：20±2℃    濕度：55%-65%保修期 一年應(yīng)用領(lǐng)域大型鈑金件、PCB板及目前最熱門的TFT產(chǎn)業(yè)的刀模、背光板、絕緣材料、面版、邊框行業(yè)等 附件CCD、鏡頭、光學(xué)尺、LED冷光源、OVM  Pro軟件等

德國(guó)BMT WLI白光干涉儀

 

德國(guó)BMT WLI白光干涉儀
 
 
采用ACM 600 共焦顯微鏡可對(duì)物體的表面和結(jié)構(gòu)進(jìn)行非接觸式的測(cè)量，評(píng)估和顯示。裝配不同的顯微物鏡，測(cè)量視場(chǎng)大小和精度也不同。視場(chǎng)的擴(kuò)展可通過(guò)釘合的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。  ACM 600 使用特殊的微透鏡掃描盤，使采集的單個(gè)測(cè)量點(diǎn)相互平行。ACM 600目前是商業(yè)化的采用微透鏡掃描盤的儀器。與尼普科夫掃描盤相比，微透鏡掃描盤使光學(xué)系統(tǒng)反應(yīng)快速，所以即使暗淡的表面也能夠獲得良好的測(cè)量結(jié)果。它的另外的獨(dú)特之處在于采用了LED作為光源，避免了使測(cè)量頭發(fā)熱，因而它的壽命幾乎可以視為無(wú)限長(zhǎng)。儀器配備了物鏡切換盤，可以快速轉(zhuǎn)換物鏡。檢測(cè)物件的設(shè)定和測(cè)量全過(guò)程可以通過(guò)一個(gè)獨(dú)立的監(jiān)視器觀察。測(cè)量軟件基于Windows XP操作系統(tǒng)編制，并提供所有標(biāo)準(zhǔn)的評(píng)估程序。  儀器結(jié)構(gòu)緊湊，耐用，特別適用于工業(yè)用途。在微透鏡掃描盤自動(dòng)伸出后，儀器可作為普通的顯微物鏡使用。
 
主要用途：
粗糙和光滑表面的測(cè)量和顯示
亞微米范圍內(nèi)的微觀形貌測(cè)量
金相測(cè)量
非接觸式表面輪廓的計(jì)量主要特點(diǎn)0,1mm2到0,7mm2視場(chǎng) 采用釘合方式擴(kuò)大視場(chǎng)
配置物鏡切換盤
確定垂直分辨率來(lái)設(shè)定測(cè)量時(shí)間
橫向分辨率可達(dá)1祄，垂直分辨率可到5 nm  具有采用微透鏡掃描盤的快速光學(xué)系統(tǒng)
全自動(dòng)數(shù)據(jù)評(píng)估
實(shí)驗(yàn)室和在線兩用設(shè)計(jì) 主要優(yōu)點(diǎn)：
高保真輪廓復(fù)現(xiàn)，對(duì)物體三維結(jié)構(gòu)快速，非接觸式的定性和量化
測(cè)量結(jié)果與材料表面性能無(wú)關(guān)
根據(jù)用戶需求配置系統(tǒng)和軟件 無(wú)人干預(yù)全自動(dòng)測(cè)量過(guò)程
將微透鏡掃描盤自動(dòng)伸出后可作為普通的顯微物鏡使用
采用壓電驅(qū)動(dòng)或步進(jìn)電機(jī)進(jìn)行垂直掃描 軟件:Windows XP 操作系統(tǒng) 測(cè)量和評(píng)估軟件包括下列功能：  
水平調(diào)整，圖像縮放， 輪廓線的提取，毛刺的剔除, 過(guò)濾，數(shù)學(xué)計(jì)算，F(xiàn)FT，ACF，2D/3D 粗糙度參數(shù)，面積的測(cè)定，斜度和波度的分布狀態(tài)及其它。  用戶特定要求的計(jì)算方法
 
技術(shù)數(shù)據(jù)：
共焦顯微鏡頭標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格配置50x/0.8物鏡帶有微透鏡掃描盤的掃描共焦傳感器
 
光源: LED
壽命 h: > 50,000小時(shí)
采用步進(jìn)電機(jī)時(shí)的測(cè)量范圍mm：50mm
采用壓電執(zhí)行器件時(shí)的測(cè)量范圍µm: 100/150µm
垂直分辨率 nm: 5nm
橫向分辨率µm: 1µm
工作距離mm: 0.66mm
視場(chǎng)µm: 370 x 280µm
256個(gè)高度臺(tái)階的測(cè)量時(shí)間s: 約 30秒
重量kg：約12kg
 
測(cè)量工作臺(tái)
X、Y、Z每軸位移mm: 50mm
最小步距µm : 1µm
該公司產(chǎn)品分類： Pace金相加工設(shè)備 太陽(yáng)能電池測(cè)試儀器 無(wú)損檢測(cè)儀器 實(shí)驗(yàn)室耗材，配件等 德國(guó)BMT 汽車零部件檢測(cè)儀器 德國(guó)天頂天底儀 X射線熒光光譜儀 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x 原子力顯微鏡AFM探針 臺(tái)階儀探針 原子力顯微鏡 光學(xué)輪廓儀 臺(tái)階儀

白光干涉儀

白光干涉儀:非接觸式三維表面形狀測(cè)量?jī)x可以沿垂直軸方向?qū)Ρ粶y(cè)物體進(jìn)行掃描，它采用光學(xué)干涉技術(shù)，精密測(cè)量樣品的表面形狀分布。 與共聚焦顯微鏡、調(diào)焦顯微鏡等三維表面測(cè)量技術(shù)相比，該表面形狀測(cè)量?jī)x具有更高的垂直分辨率。

Sunny VSI三維表面形狀測(cè)量?jī)x可安裝在配套的三維數(shù)控平臺(tái)上，實(shí)現(xiàn)橫向掃描。

系統(tǒng)構(gòu)成1）光學(xué)照明系統(tǒng)2）光學(xué)成像系統(tǒng)3）垂直掃描控制系統(tǒng)：4）信號(hào)處理系統(tǒng)：5）應(yīng)用軟件：6）顯示器

應(yīng)用領(lǐng)域LED晶片基板測(cè)量表面粗糙度/平整度分析硬盤懸臂焊接點(diǎn)的直徑測(cè)量太陽(yáng)能電池紋理缺陷檢測(cè)

參數(shù) 白光干涉儀型 號(hào) Sunny VSI 垂直測(cè)量分辨率 0.05um 橫向測(cè)量分辨率 2.767um/plxels 圖像分辨率 768*576 plxels 掃描體積 2.125mm*1.593mm*100um 均方根值重復(fù)精度 <0.5nm

白光干涉儀網(wǎng)址 www.-china.com

該公司產(chǎn)品分類： UNION顯微鏡 元件表面溫度測(cè)試 滲透探傷 納米CT 芯片推拉力測(cè)試儀 激光測(cè)振儀

WLIRing德國(guó)BMT WLIRing 白光干涉儀

德國(guó)BMT WLIRing 干涉儀
 
德國(guó)BMT WLIRing 干涉儀 該測(cè)量系統(tǒng)用于快速準(zhǔn)確測(cè)量圓柱形工件的表面形貌，計(jì)算粗糙度參數(shù)，微型結(jié)構(gòu)，及內(nèi)外部表面特征。 

特點(diǎn)

l   對(duì)內(nèi)外層都可進(jìn)行測(cè)量

l   光滑粗糙表面都可進(jìn)行測(cè)量

l   測(cè)量結(jié)果不受工件的顏色和材料影響

l   數(shù)秒內(nèi)進(jìn)行快速測(cè)量

l   用于在線測(cè)量的OEM測(cè)量頭

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量頭

l   光源：LED

l   垂直分辨率（nm）：<1

l   水平分辨率（μm）：≥1  

l   焦距，大約（mm）：1

l   測(cè)量區(qū)域的尺寸：由物體決定

l   圖像尺寸（Pixel）：1000×1000 

移動(dòng)平臺(tái) 

l    Z軸（mm）：10～50

l    步進(jìn)速度（μm/min）：1

該公司產(chǎn)品分類： 白光干涉測(cè)厚儀 硬度計(jì) 拉力試驗(yàn)機(jī) 片劑硬度儀 反應(yīng)釜、反應(yīng)器 潤(rùn)滑油檢測(cè)儀 光學(xué)計(jì)量?jī)x器 在線流量計(jì) 火焰蔓延性能測(cè)定儀 熱防護(hù)（輻射）性能測(cè)定儀 抗融儀 熱傳導(dǎo)性能測(cè)定儀 燃燒試驗(yàn)箱 在線粘度計(jì) 導(dǎo)熱儀、熱導(dǎo)儀 粘度計(jì) 金屬檢測(cè)機(jī) 其它行業(yè)專用 介電常數(shù)測(cè)定儀 光學(xué)表面分析儀

白光干涉儀AE-100M/萬(wàn)濠白光干涉儀

白光干涉儀AE-100M/萬(wàn)濠白光干涉儀產(chǎn)用途：結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測(cè)量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測(cè)。應(yīng)用域包含：玻璃鏡片、鍍膜表面、晶圓、光碟/影碟、精密微機(jī)電元件、平面液晶顯示器、高密度線路印刷電路板、IC封裝、材料分析與微表面研究等。

產(chǎn)特點(diǎn):● 納米深度3D檢測(cè)● 高速、無(wú)接觸量● 表面形狀、粗糙度分析● 非透明、透明材質(zhì)皆適用● 非電子束、非雷射的安全量測(cè)● 低維護(hù)成本 

的3D圖形處理與分析軟體（Post Topo）：● 提供3D圖形處理與分析● 提供自動(dòng)表面平整化處理功能● 提供高階標(biāo)準(zhǔn)片的軟件自校功能● 深度、高度分析功能提供線性分析與區(qū)域分析等兩種方式● 線性分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度（Roughness）與起伏度● （waviness）的測(cè)量分析。可提供多達(dá)17種的ISO量測(cè)參數(shù)與4種額外量測(cè)數(shù)據(jù)（Wafer）● 區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計(jì)分析● 具有平滑化、銳化與數(shù)字過(guò)濾波等多種二維快速利葉轉(zhuǎn)換（FFT）處理功能● 量測(cè)分析結(jié)果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出 

高速精密的干涉解析軟件(ImgScan)：● 系統(tǒng)硬件搭配ImgScan處理軟件自動(dòng)解析白光干涉條紋● 垂直高度可達(dá)0.1nm● 高速的分析算法則，讓你不在苦候測(cè)量結(jié)果● 垂直掃描范圍的設(shè)定輕松又容易● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇● 平臺(tái)X、Y、Z位置數(shù)字式顯示，使檢測(cè)目標(biāo)尋找快速又便利● 具有手動(dòng)/自動(dòng)光強(qiáng)度調(diào)整功能以取得佳的干涉條紋對(duì)比● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測(cè)量模式供選擇● 具有的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌● 具有自動(dòng)補(bǔ)點(diǎn)功能● 可自行設(shè)定掃描方向技術(shù)規(guī)格參數(shù)：

型號(hào) AE-100M
移動(dòng)臺(tái)(mm) 平臺(tái)尺寸100*100 ，行程13*13
物鏡放大倍率 10X 20X 50X
觀察與量測(cè)范圍(mm) 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066
光學(xué)分辨力(μm) 0.92 0.69 0.5
收光角度(Degrees) 17 23 33
工作距離 7.4 4.7 3.4
傳感器分辨率 640*480像素
機(jī)臺(tái)重量(kg)/載重kg 20kg/小于1kg
Z軸移動(dòng)范圍 45mm , 手動(dòng)細(xì)調(diào)
Z軸位置數(shù)字顯示器 分辨力1μm
傾斜調(diào)整平臺(tái) 雙軸/手動(dòng)調(diào)整
高度測(cè)量
測(cè)量范圍 100(μm)(400μm ,選配)
量測(cè)分辨力 0.1nm
重復(fù)精度 ≤ 0.1％ (量測(cè)高度:>10μm)
≤10nm(量測(cè)高度1μm 10μm)
≤ 5nm(量測(cè)高度:<1μm )
量測(cè)控制 自動(dòng)
掃描速度(μm/s) 12(高)
光源
光源類型 儀器用鹵素（冷）光源
平均使用壽   1000小時(shí)100W 500小時(shí)（150W）
光強(qiáng)度調(diào)整 自動(dòng)/手動(dòng)
數(shù)據(jù)處理與顯示用計(jì)算機(jī)
中央處理運(yùn)算屏幕 雙核心以上CPU
影像與數(shù)據(jù)顯示屏幕 17 " 雙晶屏幕
操作系統(tǒng) Windows XP(2)
電源與環(huán)境要求 AC100 －－240 V 50-60Hz
環(huán)境振動(dòng) VC-C等以上
測(cè)量分析軟件
量測(cè)軟件ImgScan ImgScan測(cè)量軟件：具VSI/ PVSI/PSI 測(cè)量模式（PSI量測(cè)模式需另選配PSI模塊搭配）
分析軟件PosTopo ISO 粗燥度/階高分析，快速傳利葉轉(zhuǎn)換和濾波，多樣的2D和3D 觀測(cè)視角圖，外形/面積/體積分析，圖像縮放、標(biāo)準(zhǔn)影像文件格式轉(zhuǎn)換 報(bào)表輸出，程序教導(dǎo)測(cè)量等。

該公司產(chǎn)品分類： 干燥機(jī) 靜點(diǎn)測(cè)試儀 張力計(jì) 瑪芝哈克 韓國(guó)DONG-DO 亮度計(jì) 光澤度儀 大理石 扭力起子 插規(guī)，深度規(guī) 蔚儀試驗(yàn)儀器 寶禾密儀器系列 意大利GIVIMISURE 顯微鏡 瑞士杰恩爾 常州首豐影像儀 各式千/百分表測(cè)頭 其他儀器儀表 污點(diǎn)規(guī)，點(diǎn)卡，對(duì)比測(cè)量 推拉力測(cè)試儀器

SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀，白光干涉儀，非接觸式三維表面輪廓儀

 一、    產(chǎn)品描述

獲取報(bào)價(jià)請(qǐng)電議，或者訪問(wèn)中圖儀器與我們?nèi)〉寐?lián)系，http://www.chotest.com　　SuperView W1 1200光學(xué)3D表面輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行亞納米測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌的3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。

SuperView W1 1200光學(xué)3D表面輪廓儀只需操作者裝好被測(cè)器件，在軟件測(cè)量界面上設(shè)置好視場(chǎng)參數(shù)，調(diào)整鏡頭到接近器件表面，選擇自動(dòng)聚焦，儀器會(huì)對(duì)器件表面進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦并找到干涉條紋，調(diào)節(jié)好干涉條紋寬度后即可開(kāi)始進(jìn)行掃描測(cè)量；掃描結(jié)束后，軟件分析界面自動(dòng)生成器件3D圖像，操作者可通過(guò)軟件對(duì)生成的3D形貌進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，獲取表征器件表面線、面粗糙度和輪廓的2D、3D參數(shù)。

SuperView W1 1200 光學(xué)3D表面輪廓儀采用光學(xué)非接觸式測(cè)量方法，它具有測(cè)量精度高、使用方便、分析功能強(qiáng)大、測(cè)量參數(shù)齊全等優(yōu)點(diǎn)，其光源模式保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢測(cè)。

系統(tǒng)軟件為簡(jiǎn)體中文操作系統(tǒng)，操作方便。

二、    產(chǎn)品功能

1．行業(yè)域和應(yīng)用對(duì)象

對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

該公司產(chǎn)品分類： 粗糙度輪廓儀 晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng) 測(cè)長(zhǎng)機(jī) 臺(tái)階儀 圖像尺寸測(cè)量?jī)x 晶圓形貌測(cè)量系統(tǒng) 半導(dǎo)體業(yè)檢測(cè)設(shè)備 顯微尺寸測(cè)量?jī)x 測(cè)長(zhǎng)機(jī) 一鍵閃測(cè)儀 光學(xué)影像測(cè)量?jī)x 二次元影像測(cè)量?jī)x 機(jī)床測(cè)頭 在機(jī)測(cè)量系統(tǒng) 激光測(cè)長(zhǎng)機(jī) 光柵測(cè)長(zhǎng)機(jī) 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 激光干涉儀 激光跟蹤儀 激光測(cè)量?jī)x

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