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 適用測量范圍

    ·金屬、合金類薄膜；屏蔽膜等主要技術參數(shù)   ·測量范圍：電阻率（Ω.cm）： 10~1K               電導率（S.cm-1）： 0.001~0.1               方塊電阻（Ω/□）：10~50K               電阻（Ω）： 100~10K    · 測量顯示形式：0.00*****～*********；   · 測量結果誤差：≤±5%；（Y型為 ≤±10%）   · 開機啟動時間：≤ 1s；   · 單次測量時間：≤ 3s；   · 探頭形式：筆式直排四探針。探針間距：1.3mm；（用戶可自選）   · 儀器重量尺寸：重約230g；寬×深×高：91.5×24.0×135.6（mm）。   · 電壓檢測與保護：在使用過程監(jiān)測電源電壓。電壓過高、過低時均即時停止操作；   · 內(nèi)置電池與充電：內(nèi)置鋰離子充電電池。使用外接專用電源適配器時，自動檢測電池      電壓，對電池充電，保持電池荷電；（充電時需進入“測量”狀態(tài)）   · 外接市電適配器：保證定點執(zhí)行一次長時間的測量。推薦使用該方式供電。   · 監(jiān)測與提示：設置正/反測量偏差計算及顯示（僅Y型無）；監(jiān)測恒流狀況及顯示U（僅      Y型有）。（供研究分析之用）   ·軟件升級：可修改、升級內(nèi)置計算機的工作程序。

儀器特點    1.自動檢測和顯示電源電壓“過高”和“過低”，這時停止任何測量；     2.自動區(qū)分顯示“外部電源”和“電池”供電。采用外部電源時，自動對內(nèi)置鋰電池進行檢測、充電和補充充電，并可同時使用測量；     3.自動檢測測量筆是否與測量樣品接觸，并顯示是否“完好”；     4.自動在測量筆與測量樣品接觸“完好”后，對樣品輸出電流（電壓）；     5.自動檢測測量是否超量程，是則轉(zhuǎn)換量程再次測量；     6.自動提示測量是否有效。

SDY-5型雙電測四探針測試儀 SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測量結果的度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所生產(chǎn)的儀器是無法實現(xiàn)的。 使用本儀器進行測量時，由于不需要進行幾何邊界條件和探針間距的修正，因而對各種形狀的薄膜材料及片狀材料有廣泛的適用性。儀器特別適用于測量片狀半導體材料電阻率以及硅擴散層、離子注入層、異型外延層等半導體器件和液晶片導電膜、電熱膜等薄層(膜)的方塊電阻. 儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,特別采用了平面輕觸式開關設計和各種工作狀態(tài)LED指示.并應用了微計算機技術,利用HQ-710F型微計算機作為專用測量控制及數(shù)據(jù)處理器,使得測量、計算、讀數(shù)更加直觀、快速，并能打印全部預置和測量數(shù)據(jù)。技術指標：1、測量范圍：電阻率：0.001－200.cm(可擴展) 薄層電阻:0.01-2000/口(可擴展) 可測晶片厚度：≤3.00mm2、恒流電源:電流分為100mA、1mA、10mA、 100ma 四檔 ；連續(xù)可調(diào)；穩(wěn)定度優(yōu)于0.3% 3、數(shù)字電壓表：量程：0－199.99mV;分辨率：0.01mV精度：±0.1% 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示。極性、小數(shù)點、超量程自動顯示；4、模擬電路測試誤差：(用1、10、100、1000 精密電阻測量)≤±0.3%±1字;5、整機度：(用0.01至180.cm硅標樣片測試)≤4%6、專用微計算機功能： A 鍵盤控制測量取數(shù)，自動控制電流換向和電流、電壓探針的變換，并進行正、反向電流下的測量，顯示出平均值 B 鍵盤控制數(shù)據(jù)處理，按內(nèi)存公式計算出薄層電阻或電阻率平均值以及百分變化。 C 鍵盤控制打印全部測量數(shù)據(jù)。包括測量條件，各次測量平均值、最大值、最小值，百分變化等數(shù)據(jù)。7、外形尺寸：電氣主機：360mm×320mm×100mm； 微計算機：300mm×210mm×105mm8、儀器重量：電氣主機：約4kg；測試架(J-2A型):約5kg;微計算機:約2.5kg;9、電源：AC 220V±10%,50Hz,功率〈25W10、測試環(huán)境：溫度23±2℃；相對濕度≤65％；無高頻干擾；無強光照射。 訂購指南編號 品名 說明 單價(元/套) 142152 SDY-5雙電測四探針測試儀 SDY-5型雙電測四探針測試儀主機、J-2B型測試架、專用710-F型數(shù)據(jù)處理器(含微型打印機)、裝配9D探頭 27266.00 142154 SDY-5型雙電測四探針測試儀主機、J-52型測試臺、專用710-F型數(shù)據(jù)處理器(含微型打印機)、裝配DNT－1型探頭 27594.00 142156 SDY-5型雙電測四探針測試儀主機、J-52型測試臺、裝配DNT-1型探頭 20098.00 142158 TZT-9D型四探針探頭 探針間距1mm針距，針尖材料:碳化鎢鋨合金;針尖曲率半徑:40±5μm;探針壓力:5至8牛頓(總壓力，此范圍內(nèi)可調(diào));探針機械游移率:小于0.3%;探針伸出長度2+0.5mm;針尖錐體夾角60度;針間絕緣電阻:大于109ΩTZT-9D型四探針探頭采用環(huán)氧精澆注(帶紅寶石軸套),以精確的針距.同時適用復合材料作探針,從而提高探針頭的使用壽命.它具有絕緣性能好、測試數(shù)據(jù)，使用壽命長等特點。它的所有技術指標符合國家標準，同時符合美國ASTM標準的有關規(guī)定。用于測薄片 1468.00 142160 J-2B型手動測試臺(樣品直徑100) 1798.00 142162 J-52型手動測試臺(樣品臺400mmx500mm) 2296.00 142164 DNT-1型四探針探頭 1798.00 142166 DNT-2型四探針探頭 1798.00 142168 DNT-3型四探針探頭 1798.00 142170 SDY-6型雙電測四探針測試儀 SDY-6型雙電測四探針測試儀主機、J－52型測試架、專用710－F2型數(shù)據(jù)處理器(含微型打印機)、裝配DNT－1型探頭 33318.00 14217 SDY-6型雙電測四探針測試儀主機、J-2B型測試臺、專用710－F2型數(shù)據(jù)處理器(含微型打印機)、裝配9D型探頭 32466.00 142172 J-51型手動測試臺(樣品臺直徑200mm) 2735.00 142174 DJ-2型電動測試臺(樣品臺直徑150mm;高度50mm) 8589.00

主要說明：

1．  主機采用的電路設計，所測數(shù)值更精、更快、更準（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。

2．  屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示）。

3．  匹配電腦接口及軟件，讓操作簡便明了化（可直接連接電腦，電腦進行自動運算根據(jù)輸入指定厚度，自動比照并修正系數(shù)，使被測結果更精確，數(shù)據(jù)可儲藏或刪除，利于使用方保存記錄）。

4．  二代的測試架采用自動傳感裝置，接近被測物體時實行自動減速，避免了被測物體的損耗和探頭的磨損（領先于國內(nèi)市場上任何一款同類產(chǎn)品的測試架，老一代為手動）。

5．  測試時，可采用手自一體。

6．  測試探頭為鎢針，市場上多為高速鋼針。

7．  每次測量均有內(nèi)置計算機自動進行溫度補償及電壓電流矯正。

8．  整機測量標準不確定度：≤ 2（國內(nèi)其它廠家誤差為≤ 5 ）

 

技術參數(shù)： 

1． 測量范圍：電阻率：10-4~103 Ω-cm              方塊電阻：10 -3~104 Ω/□              電    阻：10-6~105 Ω2． 可測半導體材料尺寸：直徑：大于5寸，長度：≤400mm3． 測量方法：軸向、斷面均可4． 顯示方式：41/2,數(shù)顯,極性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。5． 恒流源：電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)

量   程：10、100μA、1、10、100mA

誤   差：±0.5讀數(shù)±1個字6.  四探針測試探頭：探針間距:1mm，材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.07.  電源:220±10 50Hz或60Hz 功耗:＜35W

 

 

 

硅材料復合測試儀  硅材料測試儀   數(shù)字式四探針測試儀  訂貨號：KY3490

產(chǎn)品簡介：硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀組合而成的   www.bjkaiyun.com二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導體材料。通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù)，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。數(shù)字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別工作環(huán)境：溫　　度：18℃?25℃相對濕度：50%－70%工作室內(nèi)應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。技術參數(shù)：測量范圍阻率測量：電 阻 率 0.01-200Ω-cm方塊電阻 0.01-200Ω-口電 阻 0.01-200.0Ω數(shù)字電壓表量 程 : 200mV單一量程誤 差: 讀數(shù) ±0.2%±3字輸入電阻 : >10MΩ恒 流 源電流輸出 0~10mA連續(xù)可調(diào)量 程 1mA, 10mA誤 差 ±0.2%±3字,手持式四探針測試頭探 針 間 距:: 1mm探針機械游移率: ±1.0%探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.壓力: 最大 2Kg導電類型判別：可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于”重摻”。 www.bjkaiyun.com

 同惠直流低電阻測試儀 > TH2661手持式四探針測試儀

性能特點 

 ■ 大屏幕液晶顯示 

 ■ 可手動或自動選擇合適的電流源量程...

 ■ 預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻...

 ■ 200個讀數(shù)存儲，最大值/最小值...

 ■ USB通訊功能，可通過上位機軟件...

 ■ 讀數(shù)穩(wěn)定性好 

 ■ 電池及外接電源供電方式 

 

 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元...

 

 TH2661手持表體積小，重量輕，可...

 TH2661四探針測試儀在能測量多種...

 TH2661四探針測試儀提供了強大的...

 TH2661四探針測試儀在測量數(shù)據(jù)的...

 TH2661四探針測試儀可以直接顯示...

 TH2661四探針測試儀為您配備了外...

 Mini-USB接口是TH2661系...

 ■ 采用SMT表面貼裝工藝 

 ■ 電流源方向有正方向、反方向和正反...

 ■ 報警門限預設，可用于HI PAS...

 ■ 數(shù)據(jù)可存儲到EXCELL表格 

 ■ 0.5%基本精度，0.01%分辨...

 ■ 自動關機功能 

 

 ApplicationsFeatur...

 

 小型便攜： 

 性能超強： 

 強大的數(shù)據(jù)操作： 

 快速分選功能： 

 多種顯示方式： 

 多種電源配置： 

 USB通訊： 

簡要說明 

 TH2661型四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。 由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。

產(chǎn)品型號：	TH2661-
電阻類測試儀器
基本準確度	0.5%
測試電流	100nA, 1uA, 10uA, 100uA, 1mA, 10mA
測量速度（次/秒）	約 3 次/秒
比較器	HI / PASS / LOW
量程方式	自動,保持
觸發(fā)方式	連續(xù)、數(shù)據(jù)鎖定
接口	miniUSB接口
電流方向	正向 / 反向 / 正反向
數(shù)學功能	絕對值偏差, 百分比偏差
顯示器	五位LCD顯示
顯示方式	直讀，Δ%，ΔABS
校準功能	短路清零
測試端配置	四端
一般技術指標 工作環(huán)境	溫度 0°C －－ 40°C, 相對濕度 ≤ 90% R.H.
電源要求	AC電源適配器 輸入：220V（1±10%），50Hz（1±5%）； 輸出：12V-15V DC （訂貨時可選擇110V/60Hz）, 電池型號 LH-200H7C，8.4V Ni-MH 200mAH可充電電池
工作電流	最大32 mA。
重量	400g
尺寸 （H ´ W ´ D）	200mm ´ 95mm ´ 40mm
顯示范圍 電壓 電阻率 方阻 電阻 Δ%	0.2 – 220mV  0.01Ω•cm ~ 100kΩ•cm  0.01Ω/□ ~ 10MΩ/□  0.1 Ω — 2MΩ  -999.9% — 999.99%
測量參數(shù)	電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

               RTS-9型雙電測四探針測試儀

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產(chǎn)品介紹：	RTS-9型雙電測四探針測試儀 采用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測量方法所生產(chǎn)的儀器是無法實現(xiàn)的
產(chǎn)品特點：

技術參數(shù)：

RTS-9型雙電測四探針測試儀 訂貨信息：
	貨號 品名 規(guī)格 包裝 備注 售價（元）   RTS-9型雙電測四探針測試儀 配置:四探針測試儀主機、S-2A型探針臺、FT-201四探針探頭、IBM筆記本電腦 1 可測晶片直徑:140mmX150mm 42000   RTS-9型雙電測四探針測試儀 配置:四探針測試儀主機、S-2A型探針臺、FT-201四探針探頭、臺式電腦 1 可測晶片直徑:140mmX150mm 32000   RTS-9型雙電測四探針測試儀 配置:四探針測試儀主機、S-2A型探針臺、FT-201四探針探頭、測試軟件（含測控模塊） 1 可測晶片直徑:140mmX150mm 27000

 

 RTS-9型雙電測四探針測試儀  相關儀器  ：

 

·RTS-9型雙電測四探針測試儀	·RTS-8型四探針測試儀
·SP-1651型數(shù)字合成低頻功率信號發(fā)生器	·GAD-201G型自動失真測試儀

四探針測試儀 SZT-2A

 四探針測試儀 四探針分析儀 四探針測量儀   

特點：   

     采用四探針測試技術，寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，測量方便，精確，游移率小，壽命長，可測量片狀、塊狀等半導體材料及徑向、軸向的電阻率和擴散層的薄層電阻、方塊電阻；對薄膜等材料的電阻率也可精確測量

 

主要技術性能：

測量范圍：電阻率：10^-4－10³Ω/cm 電阻：10^－6－10⁵Ω 方塊電阻：10^－3－10⁴Ω/□恒流源：10μA-100mA（五檔）精度：≤±0.5%±2個字分辨力：0.1μV功耗：12W（約）外形尺寸：400*120*400mm凈重：15千克

ST-82數(shù)字式四探針測試儀 

ST-82數(shù)字式四探針測試儀 銷售熱線：010-57722330  

 儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成，測量結果由數(shù)字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。

儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究部門、高等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

主要技術指標：

1測量范圍：10-4－－-106Ω -CM 分辨率 10-6。

2數(shù)字電壓表量程和電流輸出檔位：

a、電壓表量程2 mV、20 mV、200 mV、2V

b、電流輸出檔位： 1uA,10uA,100uA,1mA,10mA,100mA,

3測試（顯示電壓）精度及穩(wěn)定度：

a、使用電壓量程20mV—2V及使用10uA—100mA電流輸出檔時 ：

±(0.2%讀數(shù)+6字)  

b、使用電壓量程2mV檔及使用1uA電流輸出檔時：

±(0.5%讀數(shù)+8字)

c、顯示：4½位數(shù)字顯示0—19999及相應單位顯示,測試電壓的分辨力為

   0.1uV。

4  電源：220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

5外形尺寸：365mm*345mm*110mm