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平面平晶平面平晶

*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 

平面平晶的技術(shù)參數(shù)
平面直徑d(mm)基本參數(shù)
1級2級
d范圍內(nèi)2/3d范圍內(nèi)d范圍內(nèi)2/3d范圍內(nèi)
304560 0.03----0.10.05
80100150 0.050.03
200250300 0.080.10.15 0.050.050.09 0.120.150.2 0.060.080.1

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