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    JZ95MS顯微分析測量儀的特點(diǎn)：

 1． 日產(chǎn)的顯微光學(xué)系統(tǒng)可以外接照相機(jī)（將圖像拍成照片）和CCD攝像頭（將數(shù)碼影像轉(zhuǎn)換到電腦屏幕）  2． 光學(xué)系統(tǒng)配有專業(yè)圖像處理軟件，該軟件功能強(qiáng)大，參數(shù)多，可以處理各種圖像，滿足各種需求  3． 瘦型的連續(xù)變倍鏡筒、最適合裝在流水線及狹小的機(jī)器中，它有較長的工作距離(物距)和優(yōu)良的解像力，能夠配用圓形照明、斜光照明、透光照明。較長的物距更有利于觀察液體中微小的物體。  4． 配合機(jī)器的要求可選擇使用、在連續(xù)變倍鏡筒上附有固定機(jī)能防止機(jī)器的震動及引起光學(xué)芯的偏動。 1、型號:MS-01 變倍方式:連續(xù)變倍系統(tǒng) 照明:反射式 物鏡:0.75X-4.5X 圖像放大:600象素/毫米 操作:手動旋轉(zhuǎn)光圈 物距:90mm 2、型號:MS-02 變倍方式:連續(xù)變倍系統(tǒng) 照明:同軸落射式 物鏡:0.75X-4.5X 圖像放大:600象素/毫米 操作:手動旋轉(zhuǎn)光圈 物距:90mm 3、型號:MS-40 變倍方式:連續(xù)變倍系統(tǒng) 照明:反射式 物鏡:6.5X-40X 圖像放大:6象素/微米 操作:手動旋轉(zhuǎn)光圈 物距:8.5mm 4、型號:MS-60 變倍方式:連續(xù)變倍系統(tǒng) 照明:反射式 物鏡:10X-60X 圖像放大:8象素/微米 操作:手動旋轉(zhuǎn)光圈 物距:7.5mm 5、型號:MS-80 變倍方式:連續(xù)變倍系統(tǒng) 照明:反射式 物鏡:13X-80X 圖像放大:12象素/微米 操作:手動旋轉(zhuǎn)光圈 物距:7.5mm 6、型號:MS-160 變倍方式:連續(xù)變倍系統(tǒng) 照明:反射式 物鏡:26X-160X 圖像放大:24象素/微米 操作:手動旋轉(zhuǎn)光圈 物距:7.5mm 注3：產(chǎn)品的說明書詳本請自我公司網(wǎng)站www.powereach.com的下載區(qū)下載壓縮包，解壓縮密碼為2000。

• 測量范圍：5-2500HV加荷機(jī)構(gòu)：自動加卸試驗(yàn)力
• 顯微鏡倍率：測量用400X（物鏡40X，目鏡10X）
• 觀察用100X（物鏡10X，目鏡10X）
• 試驗(yàn)力保持時間：5~60sec測量顯微鏡：最大測量長度150μm
• 最小分度值0.0625μm(HVS-1000),0.5μm(HV-1000)試件允許最大高度：65mm壓頭中心至機(jī)壁距離：85mm
• 微動載物臺:100＊100mm/XY=25mm/0.01mm
• 輸出:打印機(jī)（HVS-1000）
• 攝像裝置：CCD（選配）
• 電源：交流220伏，50Hz（AC100V）
• 外形尺寸：W290 x D405x M480毫米
• 重量：約25千克

 BX51/BX51M 系統(tǒng)顯微鏡

產(chǎn)品特點(diǎn):? 常規(guī)研究系統(tǒng)金相顯微鏡，涵蓋所有觀察方式? 透射/反射和反射專用兩種鏡體可選，12V100W光源? 鏡臂鏡體分體式設(shè)計，可觀察最大高度65mm的試樣（反射專用鏡體）? 明場，暗場，偏光，微分干涉相襯，熒光等觀察方式可選? 多種膠片或數(shù)字照相系統(tǒng)可連接

BX51/BX51M詳細(xì)規(guī)格:

1、光學(xué)系統(tǒng)：NIS60無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)

2、放大倍數(shù)：40X—1000X

3、目鏡：超大視野目鏡SW10X/22，高眼點(diǎn)，-5～+5視度可調(diào) 

4、觀察頭：鉸鏈?zhǔn)饺坑^察頭、30°傾斜，固定視度，瞳距47-78mm，目視/數(shù)碼三檔分光比：100/0、20/80、0/100，能夠滿足不同的使用需求

5、轉(zhuǎn)換器：內(nèi)傾式內(nèi)定位六孔轉(zhuǎn)換器，轉(zhuǎn)動舒適，定位準(zhǔn)確可靠，帶有分析槽實(shí)現(xiàn)DIC觀察和偏光觀察等功能；

6、物鏡：NIS60無窮遠(yuǎn)平場半復(fù)消色差熒光用物鏡：采用多層鍍膜技術(shù)，保證了熒光

圖像的銳度、清晰度和色彩還原性，為數(shù)字成像提供高質(zhì)量和高性能的解決方案。

4X               NA=0.13   WD=16.5

10X              NA=0.3    WD=8.1

20X              NA=0.5    WD=2.1

40X（彈簧）      NA=0.75   WD=0.7

100X（彈簧、油） NA=1.3    WD=0.15

7、聚光鏡：擺出式聚光鏡，N.A 0.9/0.25，齒輪齒條調(diào)節(jié)，可升降，孔徑光欄并有刻度標(biāo)記，可放Φ45 mm各類濾色片

8、移動載物臺：鋼絲結(jié)構(gòu)載物平臺， Gorilla（康寧）玻璃臺面“永不磨損”，燕尾結(jié)構(gòu)；尺寸：302X152mm，不算兩翼為190X152（mm），移動范圍78X32(mm)，每格1mm，精度0.1mm；右手拉或左手位低位同軸操作手柄，移動手柄可升降18mm，松緊可調(diào)，可將手放在舒適的位置輕松移動載物臺；凸點(diǎn)導(dǎo)向機(jī)構(gòu)便于單手上切片。

9、調(diào)焦系統(tǒng)：低手位同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)（帶上限位及松緊調(diào)節(jié)環(huán)），符合人機(jī)工程學(xué)設(shè)計，給予用戶大程度的舒適感；調(diào)焦范圍35mm，微調(diào)格值1um

10、ECO照明系統(tǒng)：220VAC，24V100W鹵素?zé)簦蛇x擇S-LED照明），外掛式鹵素?zé)粽彰?，中心可調(diào)、亮度可調(diào)；內(nèi)置透射光濾色鏡（LBD、ND6、ND25）內(nèi)置抽拉式設(shè)計，避免灰塵進(jìn)入；人走燈滅功能：操作者離開超過30分鐘后（可設(shè)置時間），顯微鏡主機(jī)會自動關(guān)閉透射光源，節(jié)能開關(guān)既節(jié)約了能源，又保護(hù)了光源的使用壽命。

11、熒光垂直照明裝置：B、G雙激發(fā)光波濾色組件 

六孔熒光濾光快轉(zhuǎn)盤，所有熒光濾色鏡部件采用了超高性能的濾色片，能夠同時對各種染色的標(biāo)本進(jìn)行成像，在熒光垂直照明器上可放置ND6、ND25濾光片，并在端設(shè)置光閘，可以切斷熒光照明，保護(hù)試樣；

B激發(fā)光波濾色組件：激發(fā)BP460-490  截止BA520  分色DM500

G激發(fā)光波濾色組件：激發(fā)BP510-550  截止BA590  分色DM570

選配：

U激發(fā)光波濾色組件：激發(fā)BP330-385  截止BA420  分色DM400

V激發(fā)光波濾色組件：激發(fā)BP400-410  截止BA455  分色DM455

12、光源：osram100WHBO超高壓球型汞燈

13、觀察護(hù)目屏：防紫外擋板

14、電源箱：電源箱NFP-1，220V/110V交流輸入（可切換），數(shù)字顯示帶計時器；自動保護(hù)裝置：汞燈打開狀態(tài)下關(guān)閉開關(guān)， 電源箱數(shù)碼顯示管會出現(xiàn)倒計時，系統(tǒng)會等汞燈工作至少15分鐘后才自動關(guān)燈，在關(guān)燈后3分鐘冷卻時間后才切斷電源（防止重復(fù)觸發(fā)），這有效保護(hù)了汞燈的使用壽命；汞燈工作達(dá)到300小時，數(shù)碼顯示管閃爍顯示，提示更換燈管；汞燈電源箱計數(shù)達(dá)到1000小時，數(shù)碼管會自動清零。電源箱風(fēng)扇為雙滾珠軸承低噪風(fēng)扇，流量大、壽命長和噪聲小的特點(diǎn)，

產(chǎn)品優(yōu)勢

1.中國臺商業(yè)化四色激光共聚焦顯微鏡。 2.配備高靈敏度4路激光器和聲光調(diào)制器（AOTF），實(shí)現(xiàn)各通道激光的高速獨(dú)立調(diào)節(jié)，激光強(qiáng)度調(diào)節(jié)精度為0.01%。 3.配備4個高靈敏度探測器（PMT），實(shí)現(xiàn)4通道同時成像或者分時成像，可以大大的提高用戶的效率。 4.高精度的步進(jìn)電機(jī)和絲桿結(jié)構(gòu)，配合高精度光柵尺，實(shí)現(xiàn)Z軸20nm的步進(jìn)精度，為Z-Stack掃描提供了穩(wěn)定的步進(jìn)。 5.無變速電動小孔，適配全物鏡倍率。

原子力顯微鏡

晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國PNI公司開發(fā)的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無需知道更多掃描探針顯微學(xué)(SPM)知識的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無需復(fù)雜光路調(diào)整(Alignment)過程的力傳感器。它能夠進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的成像和分析。 使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學(xué)工作者無需等候獲得掃描的納米結(jié)構(gòu)圖像，而是直接測量物體的形貌像。公司和研究機(jī)構(gòu)也不用雇傭AFM專家，這樣可為納米技術(shù)的研究、發(fā)展和工藝控制節(jié)省大量的成本。 晶體掃描儀在納米牛頓力測量領(lǐng)域內(nèi)注入了新的設(shè)計理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測試臺和軟件相結(jié)合，便可以得到一個新的用戶友好接口的納米成像儀器。尤其是，當(dāng)配合點(diǎn)和掃描(Point & Scan TM)技術(shù)，將大大簡化儀器的操作過程。

原子力顯微鏡

點(diǎn)和掃描技術(shù) 點(diǎn)和掃描技術(shù)大大減少了傳統(tǒng)系統(tǒng)軟件的復(fù)雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測試。幾步操作后，實(shí)驗(yàn)人員便可以在計算機(jī)屏幕上看到圖像。 點(diǎn)和掃描技術(shù)使用標(biāo)準(zhǔn)的納米成像操作步驟。步驟如下：

• 選擇樣品類型；

• 將樣品放置于顯微鏡下；

• 如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；

• 選擇要掃描的樣品區(qū)域；

• 成像操作。

上述的納米成像過程同樣可以分析DVD和半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)以及對納米管、納米粒子和納米晶體進(jìn)行高分辨的納米成像。 點(diǎn)和掃描技術(shù)包括3個方面的創(chuàng)新性：晶體傳感器，測試臺的自動化和軟件。

• 晶體傳感器

晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當(dāng)探針靠近樣品表面時，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時，使用軟件可以優(yōu)化振蕩頻率和力的大小。使用時，晶體傳感器無需任何力的調(diào)整。

圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上

• 測試臺自動化

的測試臺自動化大大簡化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過程。結(jié)合馬達(dá)驅(qū)動的光學(xué)系統(tǒng)、樣品定位和探針-樣品控制，無需任何手動調(diào)整。因此，便可以實(shí)現(xiàn)“放置樣品-設(shè)定掃描區(qū)域-開始掃描”的簡單操作過程。

• 晶體掃描軟件

晶體掃描軟件(CSS)大大簡化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實(shí)驗(yàn)人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類型。有關(guān)樣品類型的信息可存儲在計算機(jī)內(nèi)，需要時可調(diào)用。例如，CSS可以使用設(shè)置的掃描參數(shù)。CSS與測試臺自動化的相結(jié)合是一個強(qiáng)有力的工具。舉例來說，當(dāng)運(yùn)行CSS時，樣品臺會自動移動到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進(jìn)一步設(shè)置成適于視頻光學(xué)記錄的位置。 實(shí)驗(yàn)人員必須更換樣品和探針。為了簡化操作過程，幾個視頻系統(tǒng)集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。 圖3軟件接口

CSS軟件的算法可用來判斷探針的成像質(zhì)量和優(yōu)化掃描參數(shù)。對某些特殊的樣品，這些算法的運(yùn)用可設(shè)計成樣品信息文件。

的掃描儀設(shè)計 使用移動探針的彎曲壓電掃描儀設(shè)計可確保精確測量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測量最小的色度亮度干擾，以表明沒有背底彎曲。 外置的x、y、z軸校準(zhǔn)傳感器可監(jiān)視彎曲掃描儀的動作。這種傳感器在x、y、z軸線性化和校準(zhǔn)掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對于點(diǎn)和位置測量也很有必要，對于圖像中某個特殊形貌的放大應(yīng)用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)如表1。 表1? 晶體掃描儀的技術(shù)參數(shù)

與光杠桿傳感器的切換 常規(guī)的AFM使用光杠桿(Light Lever)來測量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機(jī)構(gòu)較為復(fù)雜且需要調(diào)光路，但也有一些優(yōu)點(diǎn)。其主要優(yōu)點(diǎn)是：可以進(jìn)行材料敏感模式的測量，如側(cè)向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進(jìn)行磁力和靜電力成像。 Nano-R TM型AFM測試臺可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進(jìn)行接觸或振蕩模式的形貌像測量。

應(yīng)用 使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測量各種樣品如工業(yè)樣品和需要高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)的形貌像。工業(yè)樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結(jié)構(gòu)包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。

●采用進(jìn)口光譜儀為檢測器，提高光譜的靈敏度和穩(wěn)定性。●球面透鏡、非球面透鏡、微小鏡片鍍膜后單面反射率檢測?！駷V光片、光學(xué)鏡片反射率檢測。●金屬材料、非金屬材料反射率檢測。●材料鍍膜厚度檢測?！袂蛎?、柱面、非球面鍍膜膜厚檢測?！裎⑿^(qū)域、微小材料、液體表面反射率檢測。