MC016-760CRT雙光束紫外可見分光光度計
MC016-760CRT雙光束紫外可見分光光度計是引進吸收日本島津技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動記錄分光光度計。特別適應(yīng)于實驗室的日常分析和研究工作的需要。
特點：□采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高。 □微機控制、繪圖打印、自動記錄。 □自動轉(zhuǎn)換光源。 □可容易地獲得者1-4光譜。 □具有自動掃描、時間掃描、波長程序、2入和3入測定、動力學(xué)測定、光譜存儲等功能！跄芘c彩色CRT會話，用菜單形式來選擇。 □光譜掃描和定量測定可同時進行。 □信息存儲容量大，保存方便。 □有功能極強的光譜處理能力。 □可進行到底1-3曲線凝合，及異常點剔除。
技術(shù)指標： □波長范圍：190-900nm □透射比度：優(yōu)于±0.3%（用NBS930濾光片測定） □波長度：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置） □分辨率：優(yōu)于0.15nm □波長重現(xiàn)性：±0.2nm □離散光：優(yōu)于0.08%（在220nm處Nal溶液） □波長掃描速度：FAST（高速）、M（中速）、SLOW（低速）以及ACC（累加），內(nèi)裝曲線不失真的自動消除裝置 □光譜帶寬：0.08-5nm 連續(xù)可變，每隔0.1nm用數(shù)字設(shè)定。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。● 光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）● 功能極強的光譜處理能力。UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。● 時間掃描可進行動力學(xué)研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當前測試條件。● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術(shù)參數(shù)：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優(yōu)于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）● 波長重復(fù)性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復(fù)性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。● 光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）● 功能極強的光譜處理能力。UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。● 時間掃描可進行動力學(xué)研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當前測試條件。● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術(shù)參數(shù)：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優(yōu)于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）● 波長重復(fù)性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復(fù)性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。● 光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）● 功能極強的光譜處理能力。UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。● 時間掃描可進行動力學(xué)研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當前測試條件。● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術(shù)參數(shù)：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優(yōu)于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）● 波長重復(fù)性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復(fù)性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
紫外可見分光光度計廠家供應(yīng)四川地區(qū)紫外可見分光光度計型號報價紫外可見分光光度計價格, 提供品質(zhì)優(yōu)良的紫外可見分光光度計產(chǎn)品。成都蘇凈儀器長年經(jīng)營：751GD紫外可見分光光度計、752N紫外可見分光光度計、754N紫外可見分光光度計、755B紫外可見分光光度計、UV759紫外可見分光光度計、UV759S紫外可見分光光度計、UV757紫外可見分光光度計、UV762 UV765 UV765CRT 760CRT紫外可見分光光度計等國內(nèi)外知名紫外可見分光光度計。
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UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計
技術(shù)指標：● 測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優(yōu)于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）● 波長重復(fù)性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復(fù)性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
【產(chǎn)品概述】
界面友好、美觀，操作簡單，通過打印機可打印出圖文合的分析報告,并可將圖譜數(shù)據(jù)或測試數(shù)據(jù)傳送Execl進行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表，儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能，優(yōu)異的性能。
【適用范圍】
適合用于醫(yī)藥、藥學(xué)、生物化學(xué)、環(huán)境保護、化學(xué)工業(yè)等實驗室的日常分析和研究工作的需要。
【760CRT雙光束紫外可見分光光度計特點】
★ 采用息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。
★ 微機控制，自動記錄，打印機可在張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
★ 光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）
★ 功能強的光譜處理能力。
★ 信息存貯容量大，保存方便。
★ 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。
★ 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
★ 時間掃描可進行動力學(xué)研究。
★ 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
★ 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
★ 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當前測試條件。
★ 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
【760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術(shù)參數(shù)】
測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。
波長范圍：190nm～900nm
分辯率：優(yōu)于0.15nm
光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
波長大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）
波長重復(fù)性：0.2nm
雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
透射比大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）
透射比重復(fù)性：0.2%（T）
掃描速度：快、中、慢
穩(wěn)定性：≤0.004A/30min
噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
主機尺寸和重量：560mm×480mm×190mm 35Kg
產(chǎn)品名稱：雙光束紫外可見分光光度計
產(chǎn)品型號：760CRT
760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。
微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）
功能極強的光譜處理能力。
軟件特點：
信息存貯容量大，保存方便。
軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算。
圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
時間掃描可進行動力學(xué)研究。
定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當前測試條件。
打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
雙光束760CRT紫外可見分光光度計技術(shù)指標：
測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。
波長范圍：190nm～900nm
分辯率：優(yōu)于0.15nm
光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）
波長重復(fù)性：0.2nm
雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）
透射比重復(fù)性：0.2%（T）
掃描速度：快、中、慢
穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min
噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
| 產(chǎn)品型號 | 技術(shù)參數(shù) |
| UV759 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm，波長準確度：±0.5nm，光譜帶寬：2nm，雜散光≤0.05%T, 比例雙光束結(jié)構(gòu),全自動操作,LCD顯示（數(shù)據(jù)）,自動 調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯(lián)樣品架，不帶光譜掃描，有USB接口。配置軟件后可與PC通訊,由PC全面操作 |
| UV759S 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190nm-1100nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結(jié)構(gòu)；全自動操作；LCD顯示（數(shù)據(jù)、圖譜）；具有掃描功能；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能,；自動8聯(lián)樣品架；可進行光譜掃描；有USB接口；配置軟件后可與PC通訊 |
| UV757CRT 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：200-1000nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；全自動操作；LCD顯示（數(shù)據(jù)）；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能；具有RS232接口；由PC全面操作（附軟件）；自動8聯(lián)樣品架， |
| UV757CRT/PC 紫外可見分光光度計 | CRT附電腦、打印機；技術(shù)指標同UV757 |
| UV765 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm；波長準確度±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結(jié)構(gòu)；全自動操作；LCD顯示（數(shù)據(jù)、圖譜）；具有掃描功能；自動調(diào)“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯(lián)樣品架；有USB接口,；配置軟件后可可與PC通訊 |
| UV765CRT 紫外可見分光光度計 | 技術(shù)指標同UV765；帶反控軟件 |
| UV765PC 紫外可見分光光度計 | 技術(shù)指標同UV765；帶電腦（含打印機）、反控軟件、 |
| 760CRT雙光束 紫外可見分光光度計 | 雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)；波長范圍：190-900nm；波長準確度±0.3nm；光譜帶 寬：0.08～5nm連續(xù)可調(diào)；雜散光≤0.08%T；測光方式：具有波長掃描、時間掃描、定量分析、多波長測定；附品牌電腦、噴墨打印附件 |
主要特點：● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好！ 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)！ 光源自動轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）● 功能極強的光譜處理能力。
軟件特點：● 信息存貯容量大，保存方便！ 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導(dǎo)數(shù)運算！ 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如！ 時間掃描可進行動力學(xué)研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設(shè)定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用！ 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試！ 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當前測試條件！ 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、www.jinghua-apc.cm參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
技術(shù)指標：● 測光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測！ 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優(yōu)于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）● 波長重復(fù)性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復(fù)性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）