掃描電子顯微鏡(SEM)圖像系統(tǒng)改造 硬件:
1.原裝美國國家儀器公司圖像采集板,支持PCI總線標(biāo)準(zhǔn)(2.2版),其總線數(shù)據(jù)度可 達(dá)32位,頻率為33MHz,傳輸速率132Mb/S;支持的數(shù)據(jù)管理結(jié)構(gòu),包括兩路 DMA引擎,可編程的目標(biāo)和源數(shù)據(jù)傳輸模式 ,以及PCI消息功能,即插即用。
2.SEM圖像接口及電纜
掃描電子顯微鏡(SEM)圖像系統(tǒng)改造 功能:
1.主動(dòng)式數(shù)字掃描系統(tǒng),可實(shí)時(shí)調(diào)整掃描速度,亮度和對比度等。
2.可選擇全屏掃描和區(qū)域掃描。
3.采集速度:4~120μS多種點(diǎn)逗留方式。
4.采集圖像分辨率:64648bit、1281288bit、2562568bit、 5125128bit、 102410248bit
圖像處理及分析軟件:
1.圖像顯示方式:標(biāo)準(zhǔn)窗口匹配,圖像縮放,處理區(qū)域選擇,同屏顯示原始圖像及處 理后的結(jié)果。
2.圖像標(biāo)記:放大倍數(shù)、加速電壓輸入,彩色中西文字編輯,測量μ標(biāo)尺顯示。
3.圖像增強(qiáng):a.亮度、對比度調(diào)節(jié)。b.圖像平滑。c.圖像銳化。d.邊緣提取。
4.域值分割:a.二值分割:建立二值圖像。b.彩色分割:將圖像不同的灰度區(qū)域設(shè)置 成不同的顏色,以偽彩色的方式顯示出來。
5.形態(tài)學(xué)變換:a.二值圖像處理及編輯:灰度形態(tài)學(xué)變換,包括:腐蝕、膨脹、開運(yùn) 算、閉運(yùn)算。b.圖像細(xì)化。
6.灰度圖像的偽彩色變換:將灰度圖像設(shè)置成某種顏色顯示和存儲。
7.灰度值方圖顯示
8.粒度分析:對圖像中的顆粒進(jìn)行重心、面積、周長、圓形度、長軸、短軸計(jì)算和部 分參數(shù)直方圖顯示、存儲、打印。
9.圖像存儲和輸出:多種格式圖像存儲,圖像格式轉(zhuǎn)換,圖像打印、拷貝。
相關(guān)產(chǎn)品鏈接:
15J型測量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量儀器種,它的結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,適用范圍廣,主要用途如下:
1.用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版,檢驗(yàn)紡織纖維等.
2.采用數(shù)顯手輪,讀數(shù)測量方便,快捷。
3.直角座標(biāo)中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽
寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。
4.轉(zhuǎn)動(dòng)度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測量。
【技術(shù)參數(shù)】:
物 鏡 | 目 鏡 | 顯微鏡 放大倍數(shù) | 工作距離 (毫米) | 視場直徑 (毫米) | ||
放大倍數(shù) | 焦距(毫米) | 放大倍數(shù) | 焦距(毫米) | |||
2.5X | 43.40 | 10X | 25.00 | 25X | 58.84 | 5.6 |
10X | 17.13 | 100X | 7.81 | 1.4 |
【主要規(guī)格】:
x軸移動(dòng)測量范圍: 50毫米
y軸移動(dòng)測量范圍: 13毫米
測微器分度值: 0.01毫米
測量臺轉(zhuǎn)動(dòng)范圍: 不限
測量臺刻度盤分度范圍: 0° - 360°
測量臺刻度盤分度值: 1°
測量臺刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值: 6'
照明方式:反射光(自然光)
測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米
示值誤差:包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。
注:測量地點(diǎn)溫度變化(20 ± 3)C;L—被測件長度(毫米)
儀器主要尺寸: 測量臺與物鏡間大距離:80毫米
測量工作臺直徑: 120毫米
外形尺寸: 高325*長262*寬220毫米
重量級: 約10.6公斤
顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為體繞垂軸旋轉(zhuǎn),顯微鏡可由調(diào)焦手輪進(jìn)行上下調(diào)焦
【選購件】:
1.目鏡:20X
2.物鏡:4X,5X,20X,40X查看更多顯微鏡產(chǎn)品請進(jìn)入:www.dookings.com
“上海旦鼎”(www.dookings.com)國際化站式采購平臺,運(yùn)行商為上海旦鼎國際貿(mào)易有限公司,坐落于上海繁華的金橋國際商務(wù)區(qū)。本公司以公平的價(jià)格體系向客戶平價(jià)銷售實(shí)驗(yàn)室科研設(shè)備、施工現(xiàn)場監(jiān)測設(shè)備、生物器材、耗材試劑等產(chǎn)品。上海旦鼎國際貿(mào)易有限公司實(shí)力雄厚,重信用、守合同、保證產(chǎn)品質(zhì)量,以多品種經(jīng)營特色和薄利多銷的原則,贏得了廣大客戶的信任。
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型號:RL089184數(shù)碼工業(yè)顯微鏡400倍 | 型號:RL089163VGA視頻顯微鏡 | 型號:RL089169工業(yè)顯微鏡 電子顯微鏡 |
顯微鏡參數(shù):
型號:TD-V130M顯微鏡
放大倍數(shù):10-130倍
圖像傳感器:130萬像素、彩色、COMS、有效像素:1280*1024
圖像刷新率:15幀
清晰度:650線以上
信噪比:>60DB
視頻輸出:VGA接口
鏡頭接口:C接口
控制功能:亮度,對比度,色飽和度,銳度,Cb偏移量, Cr偏移量,垂直鏡像,水平鏡像,負(fù)片
電壓:5V
功率:2W
放大倍率:7-130連續(xù)變倍
升降范圍:240mm
中心距離:120mm
立柱直徑:22mm
鏡頭直徑:40mm
重量:5kg
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7983.html工業(yè)顯微鏡來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-89163-pid-7983.htmlVGA視頻顯微鏡型號:RL089169工業(yè)顯微鏡 電子顯微鏡
平臺尺寸:280*250*25mm工作距離:100-95mm變焦物鏡: 0.67-4.6變倍比: 1:6.9
電子倍率:A型 19-135倍 連續(xù)變倍(默認(rèn)A型) B型 38-270倍 連續(xù)變倍(加100元) C型 76-540倍 連續(xù)變倍(加280元) *電子倍率=14寸顯示器上成像大小/實(shí)物大小
像素倍率:A型 600-4000倍 連續(xù)變倍 B型 1200-8000倍 連續(xù)變倍 C型 1800-16000倍 連續(xù)變倍 *像素倍率為“網(wǎng)上倍率”單位,并非儀器倍率,僅供參考
齊焦:良好工作半徑:130mm物件高度:120mm圖像器件:sony 700線高清圖像信號:AV
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/7983.html工業(yè)顯微鏡來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-89169-pid-7983.html工業(yè)顯微鏡 電子顯微鏡溫馨提示:潤聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息,您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料,聯(lián)系時(shí)請說明是在潤聯(lián)看到的,并告知型號S-3400N掃描電子顯微鏡
S-3400N具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強(qiáng)大的自動(dòng)化功能,操作更簡易。
特點(diǎn):
1. S-3400N具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能,包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對比度等。
2. 在3kV低加速電壓時(shí)保證有10nm的分辨率。
3. 新型5分割高靈敏半導(dǎo)體式背散射探頭。
4. S-3400N II型具有五軸馬達(dá)臺,傾斜角度可達(dá)-20度~+90度,樣品最高可達(dá)80mm。
5. 分析樣品倉可以同時(shí)安裝EDX , WDX 及EBSD。
6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵,潔凈、高效。
技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目 | 描述 |
SE分辨率 | 3.0nm (30kV),高真空模式 10nm (3kV), 高真空模式 |
BSE分辨率 | 4.0nm (30kV),低真空模式 |
放大倍率 | x5 ~ x300,000 |
加速電壓 | 0.3 ~ 30 kV |
低真空范圍 | 6 ~ 270 Pa |
最大樣品尺寸 | 直徑200mm |
樣品臺 | I型 II型 |
X | 0 ~ 80mm 0 ~ 100mm |
Y | 0 ~ 40mm 0 ~ 50mm |
Z | 5 ~ 35mm 5 ~ 65mm |
R | 360º 360º |
T | -20º~ +90º -20º ~ +90º |
最大樣品高度 | 35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm) |
驅(qū)動(dòng)類型 | 手動(dòng) 五軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng) |
燈絲 | 預(yù)對中鎢燈絲 |
物鏡光欄 | 可移動(dòng)式4孔物鏡光欄 |
槍偏壓 | 固定比例偏壓、手動(dòng)偏壓和自動(dòng)4偏 |
檢測器 | 二次電子檢測器 高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測器 |
分析位置 | WD=10mm, TOA=35o |
控制 | 鼠標(biāo)、鍵盤,手動(dòng)旋鈕 |
自動(dòng)調(diào)校 | 自動(dòng)燈絲飽和、自動(dòng)4偏壓、自動(dòng)槍對中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸、自動(dòng)聚焦 消像散、自動(dòng)亮度對比度 |
詳細(xì)描述:
品牌:卡爾·蔡司
型號:EVO MA 25/LS 25
制造商:德國卡爾蔡司公司
【品牌故事】
世界頂級光學(xué)品牌,可見光及電子光學(xué)的領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋),積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗(yàn),ZEISS電子束技術(shù)在世界上創(chuàng)造了數(shù)個(gè)第yi:
第yi臺靜電式透射電鏡(1949)
第yi臺商業(yè)化掃描電鏡(1965)
第yi臺數(shù)字化掃描電鏡(1985)
第yi臺場發(fā)射掃描電鏡(1990)
第yi臺帶有成像濾波器的透射電鏡(1992)
第yi臺具有Koehler照明的200kV場發(fā)射透射電鏡(2003)
第yi臺具有鏡筒內(nèi)校正Omega能量濾波器的場發(fā)射透射電鏡(2003)
CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的設(shè)計(jì)融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動(dòng)的王者地位。自成立至今,一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng),公司擁有電鏡制造最核心最先進(jìn)的專有技術(shù),隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是全球唯一為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到全世界廣大用戶的信賴與認(rèn)可。作為全球電鏡標(biāo)準(zhǔn)締造者的CARL ZEISS將一路領(lǐng)跑高端電鏡市場為您開創(chuàng)探求納米科技的嶄新紀(jì)元。
【總體描述】
EVO系列電鏡是高性能、功能強(qiáng)大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領(lǐng)域,LS 25用于生命科學(xué)領(lǐng)域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級的物鏡設(shè)計(jì),提供高低真空成像功能,可對各種材料表面作分析,并且具有業(yè)界領(lǐng)先的X射線分析技術(shù)。革命性的Beamsleeve的設(shè)計(jì),確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像,同時(shí)還可以進(jìn)行準(zhǔn)確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動(dòng)控制。標(biāo)準(zhǔn)的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護(hù))成像分析。
【技術(shù)參數(shù)】
分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W)
4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓:0.2—30KV
放大倍數(shù):5—1000000x
探針電流:0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離:8.5mm 35度接收角
低真空壓力范圍:10—400Pa (LS25:10-3000Pa)
工作室:420mm(φ)×330mm(h)
5軸試樣載物臺:X=130mm Y=130mm Z=50mm T=0-90°R=360°
最大試樣高度:210mm,試樣最大直徑:300mm
系統(tǒng)控制:基于Windows XP的SmartSEM操作系統(tǒng)
【主要特點(diǎn)】
最大的樣品高度可達(dá)210mm
最大樣品重量5Kg
最大的樣品直徑300mm
能在可變壓力下操作
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇
【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。
詳情咨詢:黃建國 13805200201