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FT-351硅片高溫方阻測試儀

 FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)

一、概述:硅片高溫方阻測試儀

采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結合配置專用的高溫測試探針治具,滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數(shù)據的變化曲線,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

二、適用行業(yè):硅片高溫方阻測試儀

廣泛用于:生產企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據.

三、功能介紹:液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。

測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

四、技術參數(shù)資料  硅片高溫方阻測試儀

1.方塊電阻范圍:10-4105Ω/□

2.電阻率范圍:10-5×106cm

3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10. 最高溫度: 1200℃可調節(jié);沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C

11、升溫速度:9999分鐘以內自由設定,一般10分鐘內即可升到900℃;功率:3kw.

12、爐膛材料:采用復合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征。

13.專用測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據!

14.選購:電腦和打印機

還有如下相關產品:FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng);FT-352導體材料高溫電阻率測試系統(tǒng); FT-353絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng)

 

 

該公司產品分類: 多功能密度計 橡膠塑料密度計 黃金密度計 固體密度計 液體密度計 固液體密度測試儀 粉體密度測定儀 水分儀 樹脂密度測定儀 干粉滅火劑電絕緣性測試儀 循環(huán)冷水機 粗纖維測定儀 索氏提取自動脂肪儀 火焰光度計 凱氏定氮儀 實驗電熱板 石墨消解儀 體積密度測定儀 固液體密度測試儀 水分測定儀

FT-330系列方阻測試儀

 FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀

按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量,更加準確.

方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。方阻測試儀采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;方阻測試儀本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

 

 方阻測試儀

規(guī)格型號

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-4105Ω/□

10-4103Ω/□

10-3105Ω/□

10-3103Ω/□

10-2105Ω/□

10-2103Ω/□

2.電阻率范圍

10-5×106cm

10-5×104-cm

10-4106Ω-cm

10-4104-cm

10-3106Ω-cm

10-3104-cm

3.測試電流范圍

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

10μA,100µA,1mA,10mA,

100 mA

0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度

±0.1%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式

普通單電測量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差

≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業(yè).

專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原

該公司產品分類: 多功能密度計 橡膠塑料密度計 黃金密度計 固體密度計 液體密度計 固液體密度測試儀 粉體密度測定儀 水分儀 樹脂密度測定儀 干粉滅火劑電絕緣性測試儀 循環(huán)冷水機 粗纖維測定儀 索氏提取自動脂肪儀 火焰光度計 凱氏定氮儀 實驗電熱板 石墨消解儀 體積密度測定儀 固液體密度測試儀 水分測定儀

FT-333方阻測試儀

FT-333方阻測試儀

按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量,更加準確.

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

FT-333方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-3105Ω/□

2.電阻率范圍:10-4106Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭:   探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 FT-333方阻測試儀

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業(yè).

專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原

該公司產品分類: 粉體強度測試儀 電絕緣性測試儀 粒度儀 比重計 真密度儀 密度儀 密度計 鹵素水分儀 水分計 水分儀 水分儀 壓實密度 壓實密度測定儀 壓實密度測試儀 電壓降測試儀 高溫電阻率測試儀 高阻計 絕緣材料電阻率測試儀 絕緣材料電阻測試儀 表面體積電阻測試儀

FT-342雙電測電四探針電阻率方阻測試儀

 FT-342雙電測電四探針電阻率方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-4103Ω/□

2.電阻率范圍:10-5104Ω-cm

3.測試電流范圍:10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業(yè).

專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原

該公司產品分類: 粉體強度測試儀 電絕緣性測試儀 粒度儀 比重計 真密度儀 密度儀 密度計 鹵素水分儀 水分計 水分儀 水分儀 壓實密度 壓實密度測定儀 壓實密度測試儀 電壓降測試儀 高溫電阻率測試儀 高阻計 絕緣材料電阻率測試儀 絕緣材料電阻測試儀 表面體積電阻測試儀

FT-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀

FT-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

FT-343雙電四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-3105Ω/□

2.電阻率范圍:10-4106Ω-cm

3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業(yè).

專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原

 

 

該公司產品分類: 粉體強度測試儀 電絕緣性測試儀 粒度儀 比重計 真密度儀 密度儀 密度計 鹵素水分儀 水分計 水分儀 水分儀 壓實密度 壓實密度測定儀 壓實密度測試儀 電壓降測試儀 高溫電阻率測試儀 高阻計 絕緣材料電阻率測試儀 絕緣材料電阻測試儀 表面體積電阻測試儀

FT-345雙電測電四探針電阻率方阻測試儀

 FT-345雙電測電四探針電阻率方阻測試儀FT-345雙電測電四探針電阻率方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-3103Ω/□

2.電阻率范圍:10-4104Ω-cm

3.測試電流范圍:10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業(yè).

專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原

 

 

該公司產品分類: 粉體強度測試儀 電絕緣性測試儀 粒度儀 比重計 真密度儀 密度儀 密度計 鹵素水分儀 水分計 水分儀 水分儀 壓實密度 壓實密度測定儀 壓實密度測試儀 電壓降測試儀 高溫電阻率測試儀 高阻計 絕緣材料電阻率測試儀 絕緣材料電阻測試儀 表面體積電阻測試儀

FT-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀

 FT-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀FT-347雙電測電四探針電阻率方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-2103Ω/□

2.電阻率范圍:10-3104Ω-cm

3.測試電流范圍:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

 

ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個專注于改變人們生活方式和品質的企業(yè).

專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原

 

 

該公司產品分類: 粉體強度測試儀 電絕緣性測試儀 粒度儀 比重計 真密度儀 密度儀 密度計 鹵素水分儀 水分計 水分儀 水分儀 壓實密度 壓實密度測定儀 壓實密度測試儀 電壓降測試儀 高溫電阻率測試儀 高阻計 絕緣材料電阻率測試儀 絕緣材料電阻測試儀 表面體積電阻測試儀

FT-343方阻測試儀配置說明

方阻測試儀配置說明應用領域符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量,更加準確.方阻測試儀配置說明產品功能

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.方阻測試儀配置說明參數(shù)規(guī)格

規(guī)格型號/ model

FT-341

FT-342

FT-343

FT-345

FT-346

FT-347

1.方塊電阻 

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×105Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×104Ω /□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×104Ω/□

2.電阻率 

10-6~2×106Ω-cm

10-5~2×106Ω-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×105Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

3.測試電流 

0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

0.1μA.μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

0.1μA、1μA10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.電流精度 

±0.1%

±0.2%  

±0.2%  

±0.3%  

±0.3%  

±0.3%  

5.電阻精度 

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式

雙電測量

8.電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 

9.誤差

3%(標準樣片結果)

10.選購功能

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻.1

11.測試探頭

探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產品分類: 粉體強度測試儀 電絕緣性測試儀 粒度儀 比重計 真密度儀 密度儀 密度計 鹵素水分儀 水分計 水分儀 水分儀 壓實密度 壓實密度測定儀 壓實密度測試儀 電壓降測試儀 高溫電阻率測試儀 高阻計 絕緣材料電阻率測試儀 絕緣材料電阻測試儀 表面體積電阻測試儀

FT-334供應四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-334供應四探針電阻率/方阻測試儀

按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量,更加準確.

 FT-334供應四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

 FT-334供應四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等

 FT-334供應四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

 

1.方塊電阻范圍:10-32×103Ω/□

2.電阻率范圍:10-42×104Ω-cm

3.測試電流范圍:10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.5%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭:   探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

FT-342供應雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

 FT-342供應雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據,自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

 FT-342供應雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

 FT-342供應雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等

 FT-342供應雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-42×103Ω/□

2.電阻率范圍:10-52×104Ω-cm

3.測試電流范圍:10μA,100µA1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.2%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺

11.測試探頭: 探針間距選購:1mm2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

該公司產品分類: 超高阻四探針電阻率測試儀 超低阻四探針電阻率測試儀 表面/體積電阻率測試儀 電導率測試儀 材料電阻率測試儀 電線電纜電阻率測試儀 雙電四探針電阻率測試儀 電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀 線束電壓降測試儀 插頭電壓降測試儀 高溫絕緣電阻率測試儀 高溫導電材料電阻率測試儀 高溫四探針電阻率測試儀 高溫粉末電阻率測試儀 電壓降測試儀 四探針測試儀

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