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DBC-352晶閘管少子壽命測試儀/可控硅控制器

晶閘管少子壽命測試儀主要技術(shù)參數(shù):

少子壽命測量范圍:0.1-99us外形尺寸:440X×440×150mm整機重量:10kg

 晶閘管少子壽命測試儀用于測試可控硅或PN結(jié)(二極管)的長基區(qū)少子壽命。數(shù)字顯示測試結(jié)果,自動測試。

DBC-051晶閘管測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管測試儀主要技術(shù)參數(shù):

斷態(tài)峰值電壓VDM : 0-2000V;電壓臨界上升率dV/dt:  30-1000V/us外形尺寸:440×440×150mm整機重量:15kg

晶閘管測試儀用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的斷態(tài)電壓臨界上升率dV/dt。數(shù)字顯示斷態(tài)峰值電壓VDM

DBC-013A晶閘管測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管測試儀主要技術(shù)參數(shù):峰值電流測量范圍: 30-3000A峰值壓降測量范圍: 0-7V外形尺寸: 440×440×150mm 2箱整機重量: 35kg

晶閘管測試儀使用范圍:◇ 用于測試普通可控硅、雙向可控   硅、快速可控硅、可控硅模塊的   通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM◇ 用于測試整流管的正向峰值電流   IFM和峰值壓降VFM。   數(shù)字顯示測試結(jié)果,自動測試。   通態(tài)峰值電流值測試前可設(shè)定,并具有良好的測試重復性。

DBC-023B晶閘管伏安特性測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管伏安特性測試儀主要技術(shù)參數(shù):

正向斷態(tài)和反向阻斷電壓測量范圍:0-6000V正向斷態(tài)和反向阻斷電流測量范圍: 0-199mA保護電流設(shè)定:0-199mA外形尺寸:440×440×150mm整機重量:15kg

 晶閘管伏安特性測試儀用于測試普通可控硅、快速可控硅、雙向可控硅、可控硅模塊、整流管參數(shù);數(shù)字顯示測試結(jié)果。對被測器件具有保護功能。   注: 保護電流值大小根據(jù)需要自行設(shè)定。

DBC-023A晶閘管伏安特性測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管伏安特性測試儀主要技術(shù)參數(shù):

正向斷態(tài)和反向阻斷電壓測量范圍:0-3000V正向斷態(tài)和反向阻斷電流測量范圍:0-99mA 保護電流設(shè)定:0-99mA 外形尺寸:440×440×150mm整機重量:15kg

 晶閘管伏安特性測試儀用于測試普通可控硅、快速可控硅、雙向可控硅、可控硅模塊、整流管參數(shù),數(shù)字顯示測試結(jié)果。對被測器件具有保護功能。    注:保護電流值大小根據(jù)需要自行設(shè)定。

DBC-031晶閘管測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管測試儀主要技術(shù)參數(shù):

測量范圍: 觸發(fā)電流1-450mA;           觸發(fā)電壓0-7V;           維持電流1-450mA。外形尺寸:440×440×150mm整機重量:10kg

晶閘管測試儀用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的參數(shù)。

北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法

單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測定儀

型號:SN/LT-2

北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法是參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量,是半導體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
 
   北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導衰退法的原理設(shè)計,由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法技 術(shù) 指 標:
 
 測試單晶電阻率范圍  >2Ω.cm
 可測單晶少子壽命范圍  5μS~7000μS
 配備光源類型  波長:1.09μm;余輝<1 μS;  閃光頻率為:20~30次/秒;  閃光頻率為:20~30次/秒;
 高頻振蕩源  用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz
 前置放大器  放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz
 儀器測量重復誤差  <±20%
 測量方式  采用對標準曲線讀數(shù)方式
 儀器消耗功率  <25W
 儀器工作條件  溫度: 10-35℃、 濕度 < 80%、使用電源:AC 220V,50Hz
 可測單晶尺寸  斷面豎測:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;  縱向臥測:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
 配用示波器  頻寬0—20MHz;  電壓靈敏:10mV/cm;
該公司產(chǎn)品分類: 測距儀、測速儀 硬度計 流量計 其他行業(yè)專用儀器儀表 軸承測試儀、軸承加熱器 汽車行業(yè)檢測儀 位移傳感器/位移測量儀 水文儀器 轉(zhuǎn)速測量儀/轉(zhuǎn)速儀/轉(zhuǎn)速表 振動分析儀/測振儀 激光測試儀器 設(shè)備/機械故障檢測儀 前照燈檢測儀 行業(yè)專用儀器儀表 其他物理學儀器 反射率儀 白度計/白度儀 比色計/比色儀/色度儀 測色儀/色差計 冰點儀/比重計

北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載

單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測試儀

型號:SN/LT-3

*.北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;*.測試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;*.可測單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;*.配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;  余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;*.前置放大器:放大倍數(shù)約25;*.測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載

*.北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;*.測試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;*.可測單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;*.配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;  余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;*.前置放大器:放大倍數(shù)約25;*.測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;

*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;*.測試單晶電阻率范圍: >0.3Ω.cm;*.可測單晶少子壽命范圍: 1μS-10000μS;*.配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;  余輝<1 μS;閃光頻率為:20-30次/秒;*.前置放大器:放大倍數(shù)約25;*.測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;

該公司產(chǎn)品分類: 測距儀、測速儀 硬度計 流量計 其他行業(yè)專用儀器儀表 軸承測試儀、軸承加熱器 汽車行業(yè)檢測儀 位移傳感器/位移測量儀 水文儀器 轉(zhuǎn)速測量儀/轉(zhuǎn)速儀/轉(zhuǎn)速表 振動分析儀/測振儀 激光測試儀器 設(shè)備/機械故障檢測儀 前照燈檢測儀 行業(yè)專用儀器儀表 其他物理學儀器 反射率儀 白度計/白度儀 比色計/比色儀/色度儀 測色儀/色差計 冰點儀/比重計

DLY-2型 DSY-II型 FJDY-I導電類鑒別儀 單晶少子壽命測試儀 非接觸硅片電阻率測試儀

DLY-2型導電類鑒別儀 DSY-II型單晶少子壽命測試儀 FJDY-I FJDY-I非接觸硅片電阻率測試儀DLY2型導電類型測試儀 本儀器采用溫差電法(也稱冷熱探筆法)和整流法來判斷單晶硅的導電類型的新一代專用測試儀器.特別采用了平面輕觸式開關(guān)設(shè)計;可隨機調(diào)零;各種工作狀態(tài)LED指示;自動加熱,恒溫;以及大型LED數(shù)碼管直接顯示單晶(或多晶)的導電類型(N型或P型).具有體積小、重量輕、性能穩(wěn)定、測試簡便、等優(yōu)點。DLY2導電類型測試儀 本儀器符合硅單晶物理測試國家標準及美國A.S.T.M.標準中有關(guān)要求?蓾M足大專院校,科研及生產(chǎn)單位對硅材料棒的縱向、截面及片子的導電類型判斷的需要。DLY-2導電類型測試儀 技術(shù)指標1、可判斷硅材料的電阻率范圍: 溫差電法:0.0001-104Ω.cm; 整流 法: 0.01-104Ω.cm2、硅單晶直徑及長度:不受限制;3、顯示方式:用大型LED數(shù)碼管分別直接顯示;4、探頭: 溫差電法:采用冷熱兩根探筆,熱筆為鎢棒,冷筆為高速鋼棒或鎢棒; 整流法:采用三根探針,用鎢針或高速鋼針;5、電源及功耗:AC 220V±10%; 50Hz;功率〈30W;6、外形尺寸:主機 360X 365 X125mm;7、使用環(huán)境: 溫度:室溫;相對濕度≤80%; 無高頻干擾;無強光照射。訂購指南 編號 品名 單價(元/套) 142098 DLY-2型導電類型測試儀 8977.00 142100 DSY-Д型單晶少子壽命測試儀(高頻光電導法;配示波器) 36800.00 142102 FJDY-1型非接觸硅片電阻率測試儀 34500.00

JC03-LT-3單晶少子壽命測試儀, 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

 單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

特點:

該儀器參考美國A.S.T.M標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;

測試單晶電阻率范圍:>0.3Ω.cm;

可測單晶少子壽命范圍:1μS-10000μS;

配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;

余輝<1μS;閃光頻率為:20-30次/秒;

前置放大器:放大倍數(shù)約25

測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;

 

該公司產(chǎn)品分類: 教學儀器 照度光譜系列 邏輯棒/筆 測氡儀 氧氣檢測儀 氫氣檢測報警儀 氣體檢測報警儀 熏蒸氣體檢測儀 空氣質(zhì)量檢測儀 垃圾場氣體檢測 酒精測試儀 有毒氣體檢測儀 甲烷檢測儀 可燃氣體檢測儀/探測儀 復合氣體檢測儀 苯檢測儀 揮發(fā)性有機氣體 臭氧檢測分析儀 甲醛檢測/分析 氧氣檢測報警儀

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