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DBC-352晶閘管少子壽命測試儀/可控硅控制器

晶閘管少子壽命測試儀主要技術(shù)參數(shù)：

少子壽命測量范圍：0.1-99us外形尺寸：440X×440×150mm整機(jī)重量：10kg

 晶閘管少子壽命測試儀用于測試可控硅或PN結(jié)（二極管）的長基區(qū)少子壽命。數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動測試。

DBC-051晶閘管測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管測試儀主要技術(shù)參數(shù)：

斷態(tài)峰值電壓VDM : 0-2000V；電壓臨界上升率dV/dt:  30-1000V/us外形尺寸：440×440×150mm整機(jī)重量：15kg

晶閘管測試儀用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的斷態(tài)電壓臨界上升率dV/dt。數(shù)字顯示斷態(tài)峰值電壓VDM

DBC-013A晶閘管測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管測試儀主要技術(shù)參數(shù)：峰值電流測量范圍： 30-3000A峰值壓降測量范圍： 0-7V外形尺寸： 440×440×150mm 2箱整機(jī)重量： 35kg

晶閘管測試儀使用范圍：◇ 用于測試普通可控硅、雙向可控   硅、快速可控硅、可控硅模塊的   通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM◇ 用于測試整流管的正向峰值電流   IFM和峰值壓降VFM。   數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動測試。   通態(tài)峰值電流值測試前可設(shè)定，并具有良好的測試重復(fù)性。

DBC-023B晶閘管伏安特性測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管伏安特性測試儀主要技術(shù)參數(shù)：

正向斷態(tài)和反向阻斷電壓測量范圍：0-6000V正向斷態(tài)和反向阻斷電流測量范圍： 0-199mA保護(hù)電流設(shè)定:0-199mA外形尺寸：440×440×150mm整機(jī)重量：15kg

 晶閘管伏安特性測試儀用于測試普通可控硅、快速可控硅、雙向可控硅、可控硅模塊、整流管參數(shù)；數(shù)字顯示測試結(jié)果。對被測器件具有保護(hù)功能。   注： 保護(hù)電流值大小根據(jù)需要自行設(shè)定。

DBC-023A晶閘管伏安特性測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管伏安特性測試儀主要技術(shù)參數(shù)：

正向斷態(tài)和反向阻斷電壓測量范圍：0-3000V正向斷態(tài)和反向阻斷電流測量范圍：0-99mA 保護(hù)電流設(shè)定:0-99mA 外形尺寸：440×440×150mm整機(jī)重量：15kg

 晶閘管伏安特性測試儀用于測試普通可控硅、快速可控硅、雙向可控硅、可控硅模塊、整流管參數(shù)，數(shù)字顯示測試結(jié)果。對被測器件具有保護(hù)功能。    注：保護(hù)電流值大小根據(jù)需要自行設(shè)定。

DBC-031晶閘管測試儀/晶閘管少子壽命測試儀

晶閘管測試儀主要技術(shù)參數(shù)：

測量范圍： 觸發(fā)電流1-450mA；           觸發(fā)電壓0-7V；           維持電流1-450mA。外形尺寸：440×440×150mm整機(jī)重量：10kg

晶閘管測試儀用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的參數(shù)。

北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法

單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測定儀

型號：SN/LT-2

北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項(xiàng)目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
 
   北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計(jì)，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。
北京SN/LT-2單晶少子壽命測試儀操作方法技　術(shù)　指　標(biāo)：
 
 測試單晶電阻率范圍  >2Ω.cm
 可測單晶少子壽命范圍  5μS～7000μS
 配備光源類型  波長：1.09μm；余輝<1 μS；  閃光頻率為：20～30次／秒；  閃光頻率為：20～30次／秒；
 高頻振蕩源  用石英諧振器，振蕩頻率：30MHz
 前置放大器  放大倍數(shù)約25，頻寬2 Hz-1 MHz
 儀器測量重復(fù)誤差  <±20％
 測量方式  采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式
 儀器消耗功率  <25W
 儀器工作條件  溫度： 10-35℃、 濕度 < 80％、使用電源：AC 220V，50Hz
 可測單晶尺寸  斷面豎測：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；  縱向臥測：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
 配用示波器  頻寬0—20MHz；  電壓靈敏：10mV／cm；
該公司產(chǎn)品分類： 測距儀、測速儀 硬度計(jì) 流量計(jì) 其他行業(yè)專用儀器儀表 軸承測試儀、軸承加熱器 汽車行業(yè)檢測儀 位移傳感器/位移測量儀 水文儀器 轉(zhuǎn)速測量儀/轉(zhuǎn)速儀/轉(zhuǎn)速表 振動分析儀/測振儀 激光測試儀器 設(shè)備/機(jī)械故障檢測儀 前照燈檢測儀 行業(yè)專用儀器儀表 其他物理學(xué)儀器 反射率儀 白度計(jì)/白度儀 比色計(jì)/比色儀/色度儀 測色儀/色差計(jì) 冰點(diǎn)儀/比重計(jì)

北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載

單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測試儀

型號：SN/LT-3

*.北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載該儀器參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；  余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；*.測量方式：采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載

*.北京SN/LT-3單晶少子壽命測試儀說明書下載該儀器參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；  余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；*.測量方式：采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；

*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；  余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；*.測量方式：采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；
該公司產(chǎn)品分類： 測距儀、測速儀 硬度計(jì) 流量計(jì) 其他行業(yè)專用儀器儀表 軸承測試儀、軸承加熱器 汽車行業(yè)檢測儀 位移傳感器/位移測量儀 水文儀器 轉(zhuǎn)速測量儀/轉(zhuǎn)速儀/轉(zhuǎn)速表 振動分析儀/測振儀 激光測試儀器 設(shè)備/機(jī)械故障檢測儀 前照燈檢測儀 行業(yè)專用儀器儀表 其他物理學(xué)儀器 反射率儀 白度計(jì)/白度儀 比色計(jì)/比色儀/色度儀 測色儀/色差計(jì) 冰點(diǎn)儀/比重計(jì)

DLY-2型 DSY－II型 FJDY－I導(dǎo)電類鑒別儀 單晶少子壽命測試儀 非接觸硅片電阻率測試儀

DLY-2型導(dǎo)電類鑒別儀 DSY－II型單晶少子壽命測試儀 FJDY－I FJDY-I非接觸硅片電阻率測試儀DLY2型導(dǎo)電類型測試儀 本儀器采用溫差電法(也稱冷熱探筆法)和整流法來判斷單晶硅的導(dǎo)電類型的新一代專用測試儀器.特別采用了平面輕觸式開關(guān)設(shè)計(jì);可隨機(jī)調(diào)零;各種工作狀態(tài)LED指示;自動加熱,恒溫;以及大型LED數(shù)碼管直接顯示單晶(或多晶)的導(dǎo)電類型(N型或P型).具有體積小、重量輕、性能穩(wěn)定、測試簡便、等優(yōu)點(diǎn)。DLY2導(dǎo)電類型測試儀 本儀器符合硅單晶物理測試國家標(biāo)準(zhǔn)及美國A.S.T.M.標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)要求?？蓾M足大專院校，科研及生產(chǎn)單位對硅材料棒的縱向、截面及片子的導(dǎo)電類型判斷的需要。DLY－2導(dǎo)電類型測試儀 技術(shù)指標(biāo)1、可判斷硅材料的電阻率范圍： 溫差電法：0.0001－104Ω.cm; 整流 法: 0.01-104Ω.cm2、硅單晶直徑及長度：不受限制；3、顯示方式：用大型LED數(shù)碼管分別直接顯示；4、探頭： 溫差電法：采用冷熱兩根探筆，熱筆為鎢棒，冷筆為高速鋼棒或鎢棒； 整流法：采用三根探針，用鎢針或高速鋼針；5、電源及功耗：AC 220V±10%; 50Hz;功率〈30W;6、外形尺寸：主機(jī) 360X 365 X125mm；7、使用環(huán)境： 溫度：室溫；相對濕度≤80％； 無高頻干擾；無強(qiáng)光照射。訂購指南 編號 品名 單價(jià)(元/套) 142098 DLY－2型導(dǎo)電類型測試儀 8977.00 142100 DSY-Д型單晶少子壽命測試儀(高頻光電導(dǎo)法;配示波器) 36800.00 142102 FJDY-1型非接觸硅片電阻率測試儀 34500.00

JC03-LT-3單晶少子壽命測試儀， 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

 單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

特點(diǎn):

該儀器參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；

測試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；

可測單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；

配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；

余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；

前置放大器：放大倍數(shù)約25；

測量方式：采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；

 

該公司產(chǎn)品分類： 教學(xué)儀器 照度光譜系列 邏輯棒/筆 測氡儀 氧氣檢測儀 氫氣檢測報(bào)警儀 氣體檢測報(bào)警儀 熏蒸氣體檢測儀 空氣質(zhì)量檢測儀 垃圾場氣體檢測 酒精測試儀 有毒氣體檢測儀 甲烷檢測儀 可燃?xì)怏w檢測儀/探測儀 復(fù)合氣體檢測儀 苯檢測儀 揮發(fā)性有機(jī)氣體 臭氧檢測分析儀 甲醛檢測/分析 氧氣檢測報(bào)警儀

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