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SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 其它基礎(chǔ)儀表 其它測量/計量儀器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動泵 電化學(xué)工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點樣儀、芯片檢測儀 微波、電、磁學(xué)量的測量儀表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動物實驗儀器 白光干涉測厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 其它基礎(chǔ)儀表 其它測量/計量儀器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動泵 電化學(xué)工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點樣儀、芯片檢測儀 微波、電、磁學(xué)量的測量儀表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動物實驗儀器 白光干涉測厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV

SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 其它基礎(chǔ)儀表 其它測量/計量儀器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動泵 電化學(xué)工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點樣儀、芯片檢測儀 微波、電、磁學(xué)量的測量儀表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動物實驗儀器 白光干涉測厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV

SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 其它基礎(chǔ)儀表 其它測量/計量儀器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動泵 電化學(xué)工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點樣儀、芯片檢測儀 微波、電、磁學(xué)量的測量儀表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動物實驗儀器 白光干涉測厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV

SpectraThick3000薄膜厚度測量儀

SpectraThick3000薄膜厚度測量儀特點1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4) 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7)可測量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP專用) 

SpectraThick3000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera

FunctionPattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 其它基礎(chǔ)儀表 其它測量/計量儀器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動泵 電化學(xué)工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點樣儀、芯片檢測儀 微波、電、磁學(xué)量的測量儀表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動物實驗儀器 白光干涉測厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV

SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 恒流泵 恒壓恒流進(jìn)樣泵 微流控

SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 恒流泵 恒壓恒流進(jìn)樣泵 微流控

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 恒流泵 恒壓恒流進(jìn)樣泵 微流控

SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀

SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 恒流泵 恒壓恒流進(jìn)樣泵 微流控

CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀

CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
產(chǎn)品關(guān)鍵詞：測厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測厚儀，紙張厚度測定儀，厚度測量儀，厚度計，薄膜厚度測量儀，薄膜厚度檢測儀，薄膜厚度測定儀，薄片測厚儀，硅片測厚儀，GB 6672，紙張測厚儀
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標(biāo)定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀技術(shù)指標(biāo)：
負(fù)荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選購件：業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)
該公司產(chǎn)品分類： 智能型反壓高溫蒸煮鍋 鋰電池隔膜透氣性測試儀 透濕儀、透濕性測試儀 蒸發(fā)殘渣恒重儀、蒸發(fā)殘渣儀 透氣儀、透氣性能測試儀 透氧儀、透氧性測試儀 熱粘拉力試驗儀 透氣性測試標(biāo)準(zhǔn)膜片 膠粘帶壓滾機(jī) 圓盤剝離試驗機(jī) 光澤度測定儀、光澤度計 鋁箔針孔檢測儀 智能耐破度測試儀、耐破強(qiáng)度儀 安瓿瓶折斷力測試儀 RGT-01真空包裝殘氧儀 抗穿刺性能測試儀、穿刺力試驗機(jī) 摩擦系數(shù)/剝離試驗儀 醬料包抗壓試驗儀 真空衰減法無損密封儀 瓶蓋扭力測試儀、瓶蓋扭矩儀

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熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計（PH計） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑