| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EM13 LD/635 (或其它選定波長) |
| 激光波長 | 635 nm (或其它選定波長，高穩(wěn)定半導體激光器) |
| 膜厚測量重復性（1） | 0.5nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率測量重復性（1） | 5x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 單次測量時間 | 與測量設置相關，典型3s |
| 的膜層范圍 | 透明薄膜可達1000nm 吸收薄膜則與材料性質相關 |
| 光學結構 | PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度） |
| 激光光束直徑 | 2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動調節(jié)，步進5° |
| 樣品方位調整 | Z軸高度調節(jié)：±6.5mm 二維俯仰調節(jié)：±4° 樣品對準：光學自準直和顯微對準系統(tǒng) |
| 樣品臺尺寸 | 平面樣品直徑可達Φ170mm |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調節(jié)平移臺，真空吸附泵 |
| 軟件(ETEM) | * 中英文界面可選 * 多個預設項目供快捷操作使用 * 單角度測量/多角度測量操作和數(shù)據(jù)擬合 * 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出 * 豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫支持 |
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
產(chǎn)品關鍵詞：測厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測厚儀，紙張厚度測定儀，厚度測量儀，厚度計，薄膜厚度測量儀，薄膜厚度檢測儀，薄膜厚度測定儀，薄片測厚儀，硅片測厚儀，GB 6672，紙張測厚儀
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀技術特征：
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷
配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看
標準的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結果和試驗報告
執(zhí)行標準：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀技術指標：
負荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min（可調）
測量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標準配置：主機、標準量塊一件
選購件：業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機
GB/T 6672臺式薄膜測厚儀 包裝薄膜厚度測定儀Labthink
GB/T 6672臺式薄膜測厚儀 包裝薄膜厚度測定儀LabthinkPARAM博每 CHY-C2A測厚儀產(chǎn)地：濟南蘭光機電技術有限公司品牌：Labthink蘭光咨詢熱線：0531-85068566、15764121171
CHY-C2A測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
技術特征：
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷
配置標準量塊用于系統(tǒng)標定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看
標準的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結果和試驗報告
執(zhí)行標準：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A測厚儀技術指標：
負荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min（可調）
測量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標準配置：主機、標準量塊一件
選購件：業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機
2016款南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢
1、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢熱門搜索:YG141數(shù)字式織物測厚儀YG141數(shù)字式織物測厚儀Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀
【河北潤聯(lián)科技公司】10年品牌“潤聯(lián)”★★工業(yè)品領導者★★2014年高新技術企業(yè)★★2013年有潛力企業(yè)榮譽★★河北誠信民營企業(yè)單位★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號，熱線：【】2、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢多種型號圖片
【南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 邢臺潤聯(lián)機械設備有限公司】3、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢多種型號內容
型號:RL046081YG141數(shù)字式織物測厚儀
【河北潤聯(lián)科技公司】10年品牌“潤聯(lián)”★★工業(yè)品領導者★★2014年高新技術企業(yè)★★2013年有潛力企業(yè)榮譽★★河北誠信民營企業(yè)單位★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號，熱線：【】2、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢多種型號圖片 | | |
| 型號:RL046081YG141數(shù)字式織物測厚儀 | 型號:RL046082YG141數(shù)字式織物測厚儀 | 型號:RL046111Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀 |
型號:RL046081YG141數(shù)字式織物測厚儀主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測定。
主要技術指標：
1.測定厚度范圍：
YG141L型 0.01～10mm
YG141LA型0.01～20mm
2．小分度值：0.01mm
3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm
100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2
4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只）
5．壓重時間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標準已經(jīng)實施，敬請選型注意，老標準指標如下：
主要技術指標：（請比較）
1.測定厚度范圍：0.01～10mm
2．小分度值：0.01mm
3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm
4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只）
5．壓重時間：10s、30s
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46081-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測厚儀型號:RL046082YG141數(shù)字式織物測厚儀主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測定。主要技術指標： 1.測定厚度范圍： YG141L型 0.01～10mm YG141LA型0.01～25mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm 100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2 4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只） 5．壓重時間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標準已經(jīng)實施，敬請選型注意，老標準指標如下：主要技術指標：（請比較） 1.測定厚度范圍：0.01～10mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm 4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只） 5．壓重時間：10s、30s
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46082-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測厚儀型號:RL046111Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀【適用范圍】：
Tellus型紡織品壓縮回復性能測試儀可對紡織品厚度及壓縮回復性能測試。本機具有通用的測試平臺，配置了多種系列的壓腳，滿足多指標（厚度、壓縮回復性能）、多標準、多產(chǎn)品的測試，真正實現(xiàn)了一機多用。
【符合標準】：
GB/T 24442.1-2009 紡織品 壓縮性能測定 第1部分：恒定法
GB/T 24442.2-2009 紡織品 壓縮性能測定 第2部分：等速法
FZ/T 64017-2011、FZ/T 64020-2011、FZ/T 64003-2011、GB/T 22796-2009、GB/T 24252-2009
FZ/T 81005-2006、GB/T 3820-1997、GB/T 13761.1-2009、QB/T 1089-2001、QB/T 1092-2001
GB/T 24218.2、GB/T 8168-2008
【儀器特性】：
1、儀器采用等速伸長（CRE）測試原理，雙立柱龍門結構，鋁合金外殼外形美觀整潔。
2、傳動機構采用進口滾珠絲桿組、同步帶、同步輪、交流伺服系統(tǒng)，運行穩(wěn)定，噪音小。
3、采用進口高精度測力傳感器，高速精密24 bits A/D，儀器采樣頻率為1000HZ，能及時準確撲捉試驗的受力變化。
4、位移采用高精度位移光柵尺測量，精度高并排除了傳動機構和保護裝置產(chǎn)生的誤差。
5、采用32位cortex-m3微處理器，操控性強，數(shù)據(jù)處理速度快，儀器反應靈敏，運行穩(wěn)定可靠。
6、全計算機專業(yè)軟件操控，軟件系統(tǒng)：操作簡單、易懂、功能強大。
【技術參數(shù)】：
1、速度調節(jié)范圍：0.1～200mm/ min
2、位移：250mm
3、位移誤差：0.01mm
4、測力范圍：滿量程的1%～100%
5、測力精度：0.2%FS
6、壓腳平行度：0.1%
7、工作電源：AC220V 50HZ 450W
8、外形尺寸：7252175cm
欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46111-pid-5767.htmlTellus型紡織品壓縮回復性能測試儀聯(lián)系方式:0319-8277762溫馨提示：潤聯(lián)網(wǎng)為您提供產(chǎn)品的詳細產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時請說明是在潤聯(lián)網(wǎng)看到的，并告知型號凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹
產(chǎn)品簡介: ES01是針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度全自動光譜橢偏儀，系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。ES01系列光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k），也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。ES01系列光譜橢偏儀適合于對樣品進行實時和非實時檢測。特點： 原子層量級的檢測靈敏度 國際先進的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質量的設計和制造工藝實現(xiàn)并保證了能夠測量原子層量級的納米薄膜，膜厚精度達到0.05nm。 秒級的快速測量 快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號探測、自動化的測量軟件，在保證高精度和準確度的同時，10秒內快速完成一次全光譜橢偏測量。 一鍵式儀器操作 對于常規(guī)操作，只需鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求。 應用：ES01系列尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)。ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應用場合。比如： ES01V適合于測量電介質材料、無定形半導體、聚合物等的實時和非實時檢測。 ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對介質材料、聚合物、半導體、金屬等的實時和非實時檢測，光譜范圍覆蓋半導體的臨界點，這對于測量和控制合成的半導體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級到10微米左右）。 ES01系列可用于測量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數(shù)k。應用領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁介質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應用如： 半導體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）； 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等； 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等； 生物和化學工程：有機薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹多種型號圖片
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【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細配置價格請致電咨詢！[河北潤聯(lián)機械公司]——是集科研、開發(fā)、制造、經(jīng)營于一體，的工程試驗儀器專業(yè)制造實體。公司主要經(jīng)營砼混凝土儀器,水泥試驗儀器,砂漿試驗儀器,泥漿試驗儀器,土工試驗儀器,瀝青試驗儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗儀器,壓力試驗機養(yǎng)護室儀器及實驗室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術底蘊在強化自主開發(fā)的同時，積極采用國內外先進技術標準，尋求推進與大專院校，科研單位的協(xié)作互補，以實現(xiàn)新產(chǎn)品開發(fā)的高起點，在交通部、建設部及科研所專家們的指導下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設，水電工程和機械，交通、石油、化工等領域的質量檢測。并同國內外各試驗儀器廠建立了長期合作關系，嚴把質量關，價格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構倉庫4000多平方米，并配備業(yè)內的裝備設施，車輛出入方便，倉庫管理實現(xiàn)標準化、高效化管理，確保儀器設備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗儀器及測量、測繪電子廠家直供，國內外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購平臺的之地。全國服務隊伍專業(yè)快捷服務，完善的呼叫中心服務體系，咨詢熱線：[孫經(jīng)理0319-8738881]迅速解決客戶問題，專業(yè)提供優(yōu)質高效的售后服務。潤聯(lián)為您提供詳細的產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時請說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號【關于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實守信、服務熱情周到的服務宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質和服務。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們。【關于發(fā)貨】我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業(yè)務已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。熱門搜索:EMPro 型多入射角激光橢偏儀 EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀 EX2自動橢圓偏振測厚儀 EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 ES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀 【凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 河北潤聯(lián)機械公司】凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹多種型號內容型號:JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200096.htmlEM13 LD系列多入射角激光橢偏儀型號:JX200090EX2自動橢圓偏振測厚儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200090.htmlEX2自動橢圓偏振測厚儀型號:JX200087ES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀![]()
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200087.htmlES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀![]()
凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細介紹【河北潤創(chuàng)科技開發(fā)有限公司】河北誠信民營企業(yè)單位★★專業(yè)售后為您服務★★安全放心購物企業(yè)★★機械行業(yè)品牌★★河北暢銷工業(yè)品品牌★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號，熱線：【孫經(jīng)理0319-8738881】【關于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實守信、服務熱情周到的服務宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質和服務。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們！娟P于發(fā)貨】我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業(yè)務已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。聯(lián)系方式:劉經(jīng)理電話:0319-8318708QQ:2851558308
| 型號:JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀 | 型號:JX200090EX2自動橢圓偏振測厚儀 | 型號:JX200087ES01 快速攝譜式自動變角度光譜橢偏儀 |
EM13LD 系列是采用量拓科技先進的測量技術，針對普通精度需求的研發(fā)和質量控制領域推出的多入射角激光橢偏儀。 EM13LD系列采用半導體激光器作為光源，可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實時測量納米薄膜動態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設計實現(xiàn)了納米薄膜的厚度測量。 EM13LD系列采用了量拓科技多項專利技術。特點：次納米的高靈敏度國際先進的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質量的制造工藝實現(xiàn)并保證了能夠測量極薄納米薄膜，膜厚精度可達到0.5nm。3秒的快速測量國際水準的儀器設計，在保證精度和準確度的同時，可在3秒內快速完成一次測量，可對納米膜層生長過程進行測量。簡單方便的儀器操作用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進行高級測量設置。應用：EM13LD系列適合于普通精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質量控制。EM13LD系列可用于測量單層或多層納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k；可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；可用于實時測量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。EM13LD可應用的納米薄膜領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等？蓱玫膲K狀材料領域包括：固體（金屬、半導體、介質等），或液體（純凈物或混合物）。技術指標:
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次所計算的標準差。 性能保證:穩(wěn)定性的半導體激光光源、先進的采樣方法，保證了穩(wěn)定性和準確度高精度的光學自準直系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準穩(wěn)定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合先進的采樣技術，保證了快速、穩(wěn)定測量分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量一體化集成式的儀器結構設計，使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫，方便用戶使用 可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 樣品池
EX2自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。EX2儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。EX2儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數(shù)k。特點經(jīng)典消光法橢偏測量原理 儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式 采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結構 集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便使用。高準確性的激光光源 采用激光作為探測光波，測量波長準確度高。豐富實用的樣品測量功能 可測量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復折射率、樣品反射率、樣品透過率。便捷的自動化操作 儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。安全的用戶使用權限管理 軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U展的儀器功能 利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。應用EX2適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX2可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。技術指標
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次所計算的標準差。性能保證ISO9001國際質量體系下的儀器質量保證專業(yè)的橢偏測量原理課程 專業(yè)的儀器使用培訓
| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EX2 |
| 測量方式 | 自動測量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | He-Ne激光器，波長632.8nm |
| 膜厚測量重復性* | 0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質相關 |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進角 | 0.014° |
| 樣品方位調整 | Z軸高度調節(jié)：16mm 二維俯仰調節(jié)：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 樣品直徑可達Φ160mm |
| 配套軟件 | * 用戶權限設置 * 多種測量模式選擇 * 多個測量項目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | 約400*400*250mm |
| 儀器重量（凈重） | 約20Kg |
| 選配件 | * 半導體激光器 |
ES01是針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度全自動光譜橢偏儀，系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。
ES01系列光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k），也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。
ES01系列光譜橢偏儀適合于對樣品進行實時和非實時檢測。
特點：- 原子層量級的檢測靈敏度 國際先進的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質量的設計和制造工藝實現(xiàn)并保證了能夠測量原子層量級的納米薄膜，膜厚精度達到0.05nm。
- 秒級的快速測量 快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號探測、自動化的測量軟件，在保證高精度和準確度的同時，10秒內快速完成一次全光譜橢偏測量。
- 一鍵式儀器操作 對于常規(guī)操作，只需鼠標點擊一個按鈕即可完成復雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求。
ES01系列尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)。
ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應用場合。比如：
- ES01V適合于測量電介質材料、無定形半導體、聚合物等的實時和非實時檢測。
- ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對介質材料、聚合物、半導體、金屬等的實時和非實時檢測，光譜范圍覆蓋半導體的臨界點，這對于測量和控制合成的半導體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級到10微米左右）。
ES01系列可用于測量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數(shù)k。應用領域包括：微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁介質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應用如：
- 半導體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）；
- 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等；
- 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等；
- 生物和化學工程：有機薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。
ES01系列也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。應用領域包括：固體（金屬、半導體、介質等），或液體（純凈物或混合物）。典型應用包括：
- 玻璃新品研發(fā)和質量控制等。
| 項目 | 技術指標 |
| 光譜范圍 | ES01V：370-1000nm ES01U：245-1000nm |
| 光譜分辨率 | 1.5nm |
| 單次測量時間 | 典型10s,取決于測量模式 |
| 準確度 | δ(Psi): 0.02 ° ,δ(Delta): 0.04° （透射模式測空氣時） |
| 膜厚測量重復性（1） | 0.05nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 折射率精度（1） | 1x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 入射角度 | 40°-90°自動調節(jié)，重復性0.02° |
| 光學結構 | PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度） |
| 樣品臺尺寸 | 可放置樣品尺寸：直徑170 mm |
| 樣品方位調整 | 高度調節(jié)范圍：0-10mm |
| 二維俯仰調節(jié)：±4° | |
| 樣品對準 | 光學自準直顯微和望遠對準系統(tǒng) |
| 軟件 | •多語言界面切換 |
| •預設項目供快捷操作使用 | |
| •安全的權限管理模式（管理員、操作員） | |
| •方便的材料數(shù)據(jù)庫以及多種色散模型庫 | |
| •豐富的模型數(shù)據(jù)庫 | |
| 選配件 | 自動掃描樣品臺 聚焦透鏡 |
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次所計算的標準差。
可選配件：
- NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片
- NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片
- VP01真空吸附泵
- VP02真空吸附泵
- 樣品池
臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展
產(chǎn)品簡介: EX3自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。EX3儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數(shù)k。特點:經(jīng)典消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結構集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導體激光器作為探測光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實用的樣品測量功能可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等。便捷的自動化操作儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。安全的用戶使用權限管理軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U展的儀器功能利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。應用領域:EX3適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。技術指標: 項目 技術指標 儀器型號 EX3 測量方式 自動測量 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號圖片
【臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 河北德科機械設備有限公司】臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號內容型號:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200094.htmlEM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）型號:JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200097.htmlEM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號:JX200091EX3自動橢圓偏振測厚儀
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200091.htmlEX3自動橢圓偏振測厚儀
熱門搜索:EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） VP02 真空吸附泵 EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 EX3 自動橢圓偏振測厚儀 EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） EX3自動橢圓偏振測厚儀 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展【河北潤聯(lián)科技開發(fā)有限公司】創(chuàng)新科技先鋒品牌★★誠信經(jīng)營企業(yè)★★電子商務企業(yè)獎★★工業(yè)產(chǎn)品推薦★★機械行業(yè)品牌★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號，熱線：【牛經(jīng)理400-076-1255】【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細配置價格請致電咨詢！[河北德科機械設備有限公司]——是集科研、開發(fā)、制造、經(jīng)營于一體，的工程試驗儀器專業(yè)制造實體。公司主要經(jīng)營砼混凝土儀器,水泥試驗儀器,砂漿試驗儀器,泥漿試驗儀器,土工試驗儀器,瀝青試驗儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗儀器,壓力試驗機養(yǎng)護室儀器及實驗室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術底蘊在強化自主開發(fā)的同時，積極采用國內外先進技術標準，尋求推進與大專院校，科研單位的協(xié)作互補，以實現(xiàn)新產(chǎn)品開發(fā)的高起點，在交通部、建設部及科研所專家們的指導下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設，水電工程和機械，交通、石油、化工等領域的質量檢測。并同國內外各試驗儀器廠建立了長期合作關系，嚴把質量關，價格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構倉庫4000多平方米，并配備業(yè)內的裝備設施，車輛出入方便，倉庫管理實現(xiàn)標準化、高效化管理，確保儀器設備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗儀器及測量、測繪電子廠家直供，國內外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購平臺的之地。全國服務隊伍專業(yè)快捷服務，完善的呼叫中心服務體系，咨詢熱線：[牛經(jīng)理400-076-1255]迅速解決客戶問題，專業(yè)提供優(yōu)質高效的售后服務。潤聯(lián)為您提供詳細的產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時請說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號【關于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實守信、服務熱情周到的服務宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質和服務。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們。【關于發(fā)貨】我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業(yè)務已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。聯(lián)系方式:電話:400-076-1255
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| 型號:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） | 型號:JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 | 型號:JX200091EX3自動橢圓偏振測厚儀 |
【臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一共有★★30★★多種型號以上只顯示1-3種型號，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 河北德科機械設備有限公司】臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號內容型號:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）EM12-PV是采用量拓科技先進的測量技術，針對中端精度需求的光伏太陽能電池研發(fā)和質量控制領域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。EM12-PV用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。EM12-PV融合多項量拓科技專利技術，采用一體化樣品臺技術，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡單安全。特點：粗糙絨面納米薄膜的測量先進的光能量增強技術、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號處理方法，實現(xiàn)了對粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面納米鍍層的檢測。次納米量級的高靈敏度和準確度國際先進的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質量的制造工藝實現(xiàn)并保證了高準確度和穩(wěn)定性，測量絨面減反膜的厚度精度優(yōu)于0.2nm。1.6秒的快速測量國際水準的儀器設計，在保證極高精度和準確度的同時，可在1.6秒內快速完成一次測量，可滿足快速多點檢測和批量檢測需求。簡單方便安全的儀器操作一鍵式操作設計，用戶只需一個按鈕即可完成復雜的材料測量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導出，豐富的模型庫和材料庫也同時方便了用戶的高級操作需求。應用：EM12-PV適合于光伏領域中端精度要求的工藝研發(fā)和現(xiàn)場的質量控制。EM12-PV可用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型納米膜層包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，應用領域包括晶體硅太陽電池、薄膜太陽電池等。EM12-PV也可用于測量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜，包括膜層的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。也可用于測量塊狀材料（包括，液體、金屬、半導體、介質等）在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。應用領域包括半導體、微電子、平板顯示等。
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量25次所計算的標準差。性能保證：穩(wěn)定的He-Ne激光光源、先進的采樣方法以及低噪聲探測技術，保證了穩(wěn)定性和準確度一體化樣品臺技術，兼容單晶和多晶硅太陽電池樣品,輕松變換可實現(xiàn)準確測量高精度的光學自準直顯微和望遠系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準新型樣品調節(jié)技術，有效提高樣品定位精度，并節(jié)省操作時間新型光電增強技術和獨特的噪聲處理方法，顯著降低現(xiàn)場噪聲的影響一體化集成式儀器整體設計，保證了系統(tǒng)穩(wěn)定性，并節(jié)省空間分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量一鍵式軟件設計以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫，方便用戶使用可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片 VP01真空吸附泵 VP02 真空吸附泵
技術指標：
| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EM12-PV |
| 激光波長 | 632.8nm (He-Ne Laser) |
| 膜厚測量重復性（1） | 0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 0.2nm (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層) | |
| 折射率精度（1） | 2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 2x10-3 (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層) | |
| 單次測量時間 | 與測量設置相關，典型1.6s |
| 光學結構 | PSCA（Δ在0°或180°附近時也具有極高的準確度） |
| 激光光束直徑 | 1-2mm |
| 入射角度 | 40°-90°可手動調節(jié)，步進5° |
| 樣品方位調整 | 一體化樣品臺輕松變換可測量單晶或多晶樣品 |
| 可測量156*156mm電池樣品上每個點 | |
| Z軸高度調節(jié)：±6.5mm | |
| 二維俯仰調節(jié)：±4° | |
| 樣品對準：光學自準直顯微和望遠對準系統(tǒng) | |
| 樣品臺尺寸 | 平面樣品直徑可達Φ170mm |
| 兼容125*125mm和156*156mm的太陽能電池樣品 | |
| 的膜層厚度范圍 | 粗糙表面樣品：與絨面物理結構及材料性質相關 |
| 光滑平面樣品：透明薄膜可達4um，吸收薄膜與材料性質相關 | |
| 外形尺寸 | 887 x 332 x 552mm (入射角為90º時) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
| 選配件 | 水平XY軸調節(jié)平移臺 |
| 真空吸附泵 | |
| 軟件 | ETEM軟件： |
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特別聲明：EM01-RD多入射角激光橢偏儀（研發(fā)級）已升級至EMPro31 型多入射角激光橢偏儀，主要升級內容包括：單次測量速度提高3倍;新的儀器外形;整體穩(wěn)定性增強. 納米薄膜高端研發(fā)領域專用的多入射角激光橢偏儀，用于納米薄膜的厚度、折射率n、消光系數(shù)k等參數(shù)的測量。適用于光面或絨面納米薄膜測量、塊狀固體參數(shù)測量、快速變化的納米薄膜實時測量等不同的應用場合。采用量拓科技多項專利技術，儀器操作具有個性化定制功能，方便使用。特點：高精度、高穩(wěn)定性 一體化集成設計快速、高精度樣品方位對準多入射角度測量快速反應過程的實時測量操作簡單豐富的材料庫及物理模型強大的數(shù)據(jù)分析和管理 應用領域：可對納米薄膜層構樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k進行快速、高精度、高準確度的測量，尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)可用于表征單層納米薄膜、多層納米層構膜系，以及塊狀材料（基底）。應用領域涉及納米薄膜的幾乎所有領域，如微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、電化學、磁介質存儲、聚合物及金屬表面處理等。性能保證：高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測技術，保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準確度.高精度的光學自準直望遠系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準穩(wěn)定的結構設計、可靠的樣品方位對準，結合先進的采樣技術，保證了快速、穩(wěn)定測量分立式的多入射角選擇，可應用于復雜樣品的折射率和厚度的測量一體化集成式的儀器結構設計，使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間專用軟件方便納米薄膜樣品的測試和建模。 技術指標：
| 激光波長 | 632.8nm (He-Ne laser) |
| 膜厚測量重復性 | 0.01nm (對于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
| 折射率精度 | 1x10-4 (對于Si基底上110nm的SiO2膜層) |
| 光學結構 | PSCA |
| 激光光束直徑 | <1mm |
| 入射角度 | 40°-90°可選，步進5° |
| 樣品方位調整 | 三維平移調節(jié) 二維俯仰調節(jié) 光學自準直系統(tǒng)對準 |
| 樣品臺尺寸 | Φ170mm |
| 單次測量時間 | 0.2s |
| 推薦測量范圍 | 0-6000nm |
| 外形尺寸(長x寬x高) | 887 x 332 x 552mm (入射角為70º時) |
| 儀器重量（凈重） | 25Kg |
可選配件：NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標片NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標片VP01真空吸附泵VP02真空吸附泵樣品池
EX3自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。EX3儀器還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數(shù)k。特點:經(jīng)典消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結構集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導體激光器作為探測光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實用的樣品測量功能可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復折射率等。便捷的自動化操作儀器軟件可自動完成樣品測量，并可進行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準等操作。安全的用戶使用權限管理軟件中設置了用戶使用權限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用。可擴展的儀器功能利用本儀器，可通過適當擴展，完成多項偏振測量實驗，如馬呂斯定律實驗、旋光測量實、旋光等。應用領域:EX3適合于教學中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導體、集成電路、顯示技術、太陽電池、光學薄膜、生命科學、化學、電化學、磁質存儲、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領域。技術指標:
注：(1)測量重復性：是指對標準樣品上同一點、同一條件下連續(xù)測量30次的標準差。性能保證:ISO9001國際質量體系下的儀器質量保證專業(yè)的儀器使用培訓專業(yè)的橢偏測量原理課程
| 項目 | 技術指標 |
| 儀器型號 | EX3 |
| 測量方式 | 自動測量 |
| 樣品放置方式 | 水平放置 |
| 光源 | 半導體激光器，波長635nm |
| 膜厚測量重復性* | 0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
| 膜厚范圍 | 透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質相關 |
| 折射率范圍 | 1.3 – 10 |
| 探測光束直徑 | Φ2-3mm |
| 入射角度 | 30°-90°，精度0.05° |
| 偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
| 偏振器步進角 | 0.014° |
| 樣品方位調整 | Z軸高度調節(jié)：16mm 二維俯仰調節(jié)：±4° |
| 允許樣品尺寸 | 圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達120mm x 160mm |
| 配套軟件 | * 用戶權限設置 * 多種測量模式選擇 * 多個測量項目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計算、輸入輸出 |
| 外形尺寸 | （入射角度70°時）450*375*260mm |
| 儀器重量（凈重） | 15Kg |
熱門搜索:EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） VP02 真空吸附泵 EM01-RD 多入射角激光橢偏儀 EX3 自動橢圓偏振測厚儀 EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用） EX3自動橢圓偏振測厚儀 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展【河北潤聯(lián)科技開發(fā)有限公司】創(chuàng)新科技先鋒品牌★★誠信經(jīng)營企業(yè)★★電子商務企業(yè)獎★★工業(yè)產(chǎn)品推薦★★機械行業(yè)品牌★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號，熱線：【牛經(jīng)理400-076-1255】【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細配置價格請致電咨詢！[河北德科機械設備有限公司]——是集科研、開發(fā)、制造、經(jīng)營于一體，的工程試驗儀器專業(yè)制造實體。公司主要經(jīng)營砼混凝土儀器,水泥試驗儀器,砂漿試驗儀器,泥漿試驗儀器,土工試驗儀器,瀝青試驗儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗儀器,壓力試驗機養(yǎng)護室儀器及實驗室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術底蘊在強化自主開發(fā)的同時，積極采用國內外先進技術標準，尋求推進與大專院校，科研單位的協(xié)作互補，以實現(xiàn)新產(chǎn)品開發(fā)的高起點，在交通部、建設部及科研所專家們的指導下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設，水電工程和機械，交通、石油、化工等領域的質量檢測。并同國內外各試驗儀器廠建立了長期合作關系，嚴把質量關，價格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構倉庫4000多平方米，并配備業(yè)內的裝備設施，車輛出入方便，倉庫管理實現(xiàn)標準化、高效化管理，確保儀器設備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗儀器及測量、測繪電子廠家直供，國內外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購平臺的之地。全國服務隊伍專業(yè)快捷服務，完善的呼叫中心服務體系，咨詢熱線：[牛經(jīng)理400-076-1255]迅速解決客戶問題，專業(yè)提供優(yōu)質高效的售后服務。潤聯(lián)為您提供詳細的產(chǎn)品價格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時請說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號【關于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實守信、服務熱情周到的服務宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質和服務。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們。【關于發(fā)貨】我們會在確認合作方式以及合作達成時為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因為我們的外地客戶非常之多，基本上我們業(yè)務已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時間，還是價格都是滿意的，同時我們在交付物流公司后將在時間告知客戶，并且我們會將物流費用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴格檢查商品的質量的，請放心購買。聯(lián)系方式:電話:400-076-1255
F20薄膜厚度測量儀
薄膜厚度測量范圍： 3nm～450um，精度為0.1nm。 光源及探測器的波長從紫外220nm至近紅外1700nm。
產(chǎn)品特性：
1、操作簡單、使用方便；
2、測量快速、；
3、體積小、重量輕；
4、價格便宜；
產(chǎn)品應用：
1、半導體行業(yè):光刻膠、氧化物、氮化物；
2、LCD行業(yè):液晶盒間隙厚度、ITO、Polyimides；
3、光電鍍膜應用:硬化膜、抗反射膜、濾波片；
ST2000薄膜厚度測量儀
ST2000薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
ST2000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
ST2000薄膜厚度測量儀
ST2000薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
ST2000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
山東聊城光學薄膜厚度測量儀鍍鋅層厚度測量儀生產(chǎn)廠家
我廠專業(yè)生產(chǎn)鍍鋅層厚度測量儀；擁有100多名的售后服務隊伍，完善的售后保證，保證每個客戶問題及時反饋和處理；本廠常年保存充足的鍍鋅層厚度測量儀產(chǎn)品備件，滿足用戶隨時的維護和維修需求！ ∥覐S生產(chǎn)的各種產(chǎn)品具有鑄造，加工、組裝，一次性完成的能力，保證每臺出廠產(chǎn)品的質量，擁有大型機加車間、機加設備及配套的相關技術工人，可根據(jù)用戶的需要，為用戶設計各種鍍鋅層厚度測量儀專用設備，可以滿足，建筑，鐵道，水電，交通，礦山等單位不同工程實際情況；除此外，我廠擁有一支具備專業(yè)能力的隊伍，可以對外承攬技術咨詢服務！ 1.我們將在北京、石家莊、邢臺、廣東、成都等地提供送貨上門服務. 2.鍍鋅層厚度測量儀根據(jù)配置不同價格不同，此價格為參考價格，具體價格以合同為準. 3.鍍鋅層厚度測量儀發(fā)貨周期為正常周期，根據(jù)產(chǎn)品不同型號不同貨期也有所不同，具體發(fā)貨時間以合同為準.山東聊城光學薄膜厚度測量儀鍍鋅層厚度測量儀生產(chǎn)廠家光學薄膜厚度測量儀高精度超聲波測厚儀[導讀]TT110超聲波測厚儀 詳細參數(shù) 原理：超聲波測量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。時代超聲波測量厚儀系列是集當代科技電子技術和測量技術于一體的、先進的無損檢測儀器，采用微電腦對數(shù)據(jù)時行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測量電路，具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩(wěn)定可靠等特點。廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。 TT110超聲波測厚儀聲速固定為5900m/s(鋼材聲速)，可以對各種鋼鐵類板材和加工零件作精確測量1、自動校對零點：可對系統(tǒng)誤差進行修正；2、耦合提示、低電壓提示；3、關機方式：自動關機（無操作三分鐘后）；4、數(shù)據(jù)存儲：可以存儲10個厚度值；5、聲速固定：5900m/s適合測量鋼鐵材料厚度 性能TT110測量范圍0.
 DR86型超聲波測厚儀 庫號：RL023676 | DR86型超聲波測厚儀采用超聲波測量原理,適用于能使用超聲波以一恒定速度在其內部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量DR86高精度超聲波測厚儀（高溫型），適用于各種材料的高精度厚度測量需求，可應用于鋼、鑄鐵、鋁、銅、鋅、石英、玻璃、聚、PVC，灰口鑄鐵、球墨鑄鐵等材質的被測物體厚度測量。 只需要將探頭放置于被測物體一側的接觸面上，既可以迅速準確測量出被測物體厚度。這款高溫型適用于，生產(chǎn)用品是的高溫材料，耐用無損，高溫金屬超聲波測厚儀 高溫塑料厚度測量儀 高溫玻璃測厚儀技 |
 TT110超聲波測厚儀 庫號：RL023677 | 原理：超聲波測量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。時代超聲波測量厚儀系列是集當代科技電子技術和測量技術于一體的、先進的無損檢測儀器，采用微電腦對數(shù)據(jù)時行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測量電路，具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩(wěn)定可靠等特點。廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。 TT110超聲波測厚儀聲速固定為5900m/ |
 HCH-2000D型超聲波測厚儀 庫號：RL023678 | HCH-2000D型超聲波測厚儀的0.65-350mm，顯示精度：0.01mm，內部電路均采用最新數(shù)字電子技術，具有體積小、功耗低、穿透力強、抗摔打、抗振動、示值穩(wěn)定、觸摸按鍵、檢測精度高、可存儲測量值、帶公英制轉換、全漢顯中文菜單、液晶顯示、可連接微機、打印機等特點，是您在實際應用中首選的儀器。超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。它可以對各種材料的板 |
 高精度超聲波測厚儀 庫號：RL023680 | 產(chǎn)品簡介應用：石油、造船、電站、機器制造業(yè)及壓力容器、化工設備鍋爐、儲油罐等厚度測量和腐蝕測量。型號:LH-8812測量范圍（公/英制）:1.2-220 0.05-8inch可測量的材料：可測任何硬材料，如：鋼，鑄鋼，鋁，紫銅，黃銅，鋅，石英玻璃，聚，聚氯，灰鑄鐵，球墨鑄鐵，陶瓷，塑料及其他任何超聲波的良導體厚度。傳感器: 超聲波管材測量下限：由傳感器確定電池電壓指示：低電壓提示聲速范圍：500-9000m/s管材測量下限：Ф15X2.0mm,Ф20X3.0mm由探頭確定使用環(huán)境：溫度： |
HCH-2000D型超聲波測厚儀的0.65-350mm，顯示精度：0.01mm，內部電路均采用最新數(shù)字電子技術，具有體積小、功耗低、穿透力強、抗摔打、抗振動、示值穩(wěn)定、觸摸按鍵、檢測精度高、可存儲測量值、帶公英制轉換、全漢顯中文菜單、液晶顯示、可連接微機、打印機等特點，是您在實際應用中首選的儀器。超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。它可以對各種材料的板材和加工零件作精確測量；可以對生產(chǎn)設備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測，檢測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。也可以在不去除所涂油漆層的情況下，準確的測量板材厚度。
應用范圍：用于測量硬質材料的厚度，如：鋼鐵、不銹鋼、鋁、銅、鉻合金等金屬材料，及塑料、橡膠、陶瓷、玻璃等非金屬。該儀器廣泛應用于石油、化工、電力、鍋爐、冶金、造船、航空、航天等各個領域。
二、產(chǎn)品性能
1、測量范圍：0.65-350mm(45＃鋼)
2、顯示精度：0.01mm
3、測量誤差：1% x厚度值0.05mm
4、測量方式：手動存儲測量
5、存儲容量：600個測量點
6、探頭頻率：5MHz
7、聲速范圍：1000-9990M/S
8、電源范圍：1.2-1.5V堿性電池或充電電池
9、外型尺寸：50mmx124mmx24mm
10、使用環(huán)境：溫度-10C ~ 60C 相對濕度小于90%
11、自動斷電：本儀器待機五分鐘將自動關機
三、HCH-2000D型超聲波測厚儀配置單
1、HCH-2000D型主機 1臺
2、探頭( 8 ) 1支
3、耦合劑 1瓶
4、七號電池 2節(jié)
5、使用說明書 1份
6、保修卡、合格證 1份
7、手提箱 1只
選配件1、打印機及通訊打印連線 1套
2、微機通訊軟件 1盤
3、高溫、鑄鐵、小管徑探頭
該公司產(chǎn)品分類：
儀表儀器
潤聯(lián)機械
測量聚合物薄膜薄膜厚度測量儀價格
光學薄膜厚度測量儀在傳統(tǒng)薄膜測厚儀的基礎上添加了加熱/制冷的溫度控制單元，使用白光反射光譜技術（WLRS），實時測量薄膜厚度和折射率，并通過專業(yè)軟件記錄下這些數(shù)據(jù)。這款薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀用于測量聚合物薄膜和光致抗蝕劑薄膜在加熱或制冷情況下薄 膜厚度和光學常量（n, k）的變化。為了這種特色的測量，我們特意研發(fā)了專業(yè)的軟件和算法，使得該聚合物薄膜測厚儀能夠給出薄膜的物理化學指標：例如玻璃化轉變溫度 glass transition temperature （Tg）, ，熱分解溫度thermal degradation temperature （Td） ，薄膜的厚度測量范圍也高達10nm－－100微米。
詳情瀏覽： http://www.f-lab.cn/surface-residue/coating-mapping.html這 套薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀能夠快速實時給出薄膜厚度和薄膜光學常量等物理化學性能數(shù)據(jù)，并且能夠控制薄膜加熱和 制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。所使用的軟件也適合薄膜的其他熱性能研究，例如：薄膜的熱消融/熱剝蝕thermal ablation研究，薄膜光學性質隨溫度的變化，薄膜預烘烤Post Apply Bake，光刻過程后烘烤 Post Exposure Bake對薄膜厚度的損失等諸多研究。對于薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀要求薄膜襯底是透明的，背面是不反射的。它能夠處理最高4層薄膜的膜堆layer stacks，給出兩個參數(shù)：例如兩個薄膜的厚度或一個薄膜的厚度和光學常量。這套薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀已經(jīng)成功應用于測量不同聚合物薄膜的熱性能，光刻薄膜的熱處理影響分析，Si晶圓wafer上的光致抗蝕劑薄膜分析等。標準參數(shù)可測膜厚： 5nm-150微米；波長范圍：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm測量點光斑大小：0.5mm可測樣品大。10-100mm計算機要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg電力要求：110/230VAC薄膜測厚儀,光學薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀應用聚合物薄膜測量光致抗蝕劑薄膜測量化學和生物薄膜測量，傳感測量光電子薄膜結構測量半導體制造在線測量光學鍍膜測量中國最大的進口精密光學器件和科學儀器供應商！－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－
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