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CSⅠ標準試塊 單直探頭標準試塊

CSⅠ標準試塊 單直探頭標準試塊

試塊序號 CSⅠ-1 CSⅠ-2 CSⅠ-3 CSⅠ-4
L 50 100 150 200
D 50 60 80 80

    L               ：    50                  100                  150             200

    D              ：     50                   60                    80                80

全套共四塊

漆膜測厚儀，涂鍍層測厚儀，電火花檢漏儀，測厚儀，紅外線測溫儀，硬度計

http://www.xingtuo.net   http://www.xingtuo17.com

試塊序號：CSⅠ-1  CSⅠ-2    CSⅠ-3    CSⅠ-4

該公司產(chǎn)品分類： 測速儀 測振儀 煙氣分析儀 電纜故障測試儀 電纜測試儀 鹵素水分測試儀 顯微鏡 千/萬分之一天平 數(shù)字酸度計 數(shù)字電導率儀 雙光束紫外可見分光光度計 可見光分光光度計 分光光度計 工業(yè)底片觀片燈 埋地管線檢測儀 里氏硬度計新 管道檢漏儀 黑白密度計新 個人劑量儀器 鍍涂層測厚儀

美國GE超聲波直探頭（歐規(guī)）原理

     產(chǎn)品資料                                   
產(chǎn)品名稱：美國GE超聲波直探頭（歐規(guī)）
 

應用：

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

 

特點：

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護膜，保護探頭不被磨損

柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

 

應用：

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

 

特點：

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護膜，保護探頭不被磨損

柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

 

B..S系列

A=30mm

B=59mm

C=45mm

D=29mm
 

 

系列

型號

頻率

(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

BS

B1S-EN

1

側裝

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

頂裝

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5

 

  

MB..S系列

A=20mm

B=43mm

C=25mm

D=15mm

  

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5
 
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應用：

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

 

特點：

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護膜，保護探頭不被磨損

柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

 

應用：

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

 

特點：

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護膜，保護探頭不被磨損

柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

 

B..S系列

A=30mm

B=59mm

C=45mm

D=29mm
 

 

系列

型號

頻率

(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

BS

B1S-EN

1

側裝

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

頂裝

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5

 

  

MB..S系列

A=20mm

B=43mm

C=25mm

D=15mm

  

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5
 
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        應用領域：

美國GE超聲波直探頭（歐規(guī)）用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

 

超聲波直探頭（歐規(guī)）產(chǎn)品特點：

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護膜，保護探頭不被磨損

柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

     超聲波直探頭（歐規(guī)）  參數(shù)規(guī)格

A=30mm

B=59mm

C=45mm

D=29mm

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

  

A=20mm

B=43mm

C=25mm

D=15mm

系列

型號

頻率

(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

BS

B1S-EN

1

側裝

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

頂裝

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5

 

系列

型號

頻率

(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

BS

B1S-EN

1

側裝

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

頂裝

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5

 

A=20mm

B=43mm

C=25mm

D=15mm

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5

超聲波直探頭（歐規(guī)）品質保證  公司介紹

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5

質保期內所提供服務 The service provided within the warranty period.

1.我們保證為貨物提供為期  1 年的保修，保修時間從驗收簽字起起計算。在質保期內我方將嚴格遵守中華人民共和國的相關法律和法規(guī)對貨物提供“三包”等售后服務,除非合同另行規(guī)定。

We will provide 1 year of warranty period beginning from the signing of the certificate of acceptance,  We will faithfully abide by the relevant laws, statutes ａnd regulations promulgated by the People’s Republic of China ａnd provide “Three Guarantees” ａnd other after-sales services concerning the Goods, unless stipulated otherwise in the Contract

2.我們在中國國內設有（或委托）永久性常駐維修機構處理所有維修服務，并配有專職的、具有三年以上相應工作經(jīng)驗的技術人員。備品備件等供應充足完全可以滿足用戶五年所需。在委托中國國內永久性常駐維修機構承擔維修服務時，我們將提供具有法律效力的相關證明文件。

We have (or entrust) permanent facilities in China to provide repair ａnd maintenance services stationed with professional technical personnel with three years of similar experience. The spare parts are sufficient to meet the needs of the users for five years. If entrust permanent facilities in China to do such work, we will provide the relevant legally effective certificates.

 

三、質保期后所提供服務

1.質保期后我方將為需方提供設備所需的備品備件以滿足長期使用；

We can supply the spare parts required by the end-users for a long term beyond the warranty period.

2.保證期后的三年內，我方將負責幫助需方維修設備在此期間設備出現(xiàn)的故障；

Within the next 3 years after the warranty period, we will help the end-users carry out the maintenance.

3.需方機器出現(xiàn)故障不能使用，我方提供同型號備用機一臺，已備需方使用。

Failure of the demand side of the machine can not be used, we provide the same type of standby machine, has been used by the buyer 

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護膜

MBS

MB1S

1

側裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5
亞測（上海）儀器科技有限公司是專業(yè)生產(chǎn)超聲波探傷儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀、里氏硬度計、粗糙度儀等無損檢測儀器的廠家，現(xiàn)貨供應CUT-Q5超聲波探傷儀、CUT-Q7超聲波探傷儀、CUT-Z1鑄造專用探傷儀、CUT-Z2焊縫超聲波探傷儀、CUT-Z3鐵路專用超聲波探傷儀、CUT-Z4電力絕緣子探傷儀、CUT-Z5高校專用探傷儀、TT110超聲波測厚儀、TT150超聲波測厚儀（穿透型）、Cpad vx球化率檢測儀、TT210F涂層測厚儀、TR300粗糙度檢測儀、TH110里氏硬度計等系列產(chǎn)品！
該公司產(chǎn)品分類： 韓國京都磁粉探傷儀 德國尼克斯涂層測厚儀 德國EPK涂層測厚儀 美國達高特 美國磁通儀器 武漢中科儀器 汕超電子儀器 萊州華銀儀器 北京時代儀器 儀器儀表配件 其它儀器儀表 其它品牌儀器 美國GE/德國KK 奧林巴斯儀器 射線探傷儀 里氏硬度計 粗糙度檢測儀 涂鍍層測厚儀 超聲波測厚儀 超聲波探傷儀

X雙晶直探頭試塊

供應板厚≤20mm雙晶直探頭試塊。超聲波探傷試塊產(chǎn)品圖片

產(chǎn)品名稱：板厚≤20mm雙晶直探頭試塊

產(chǎn)品型號： 未錄入 產(chǎn)品類別： 超聲波試塊  產(chǎn)品性質： 無損檢測系列 產(chǎn)品資料： 供應板厚≤20mm雙晶直探頭試塊。該產(chǎn)品圖片非真實圖片。    

該公司產(chǎn)品分類： X射線探傷耗材 超聲波探傷耗材 超聲波測厚儀 涂層測厚儀 電火花檢測儀|防腐層檢漏儀 超聲波探傷試塊及耗材 鋼板測厚儀|超聲波測厚儀 人體靜電釋放儀|人體靜電導除裝置 滲透探傷劑|著色探傷劑 手持硬度計|里氏硬度計 超聲波探傷儀|焊縫探傷儀

最新產(chǎn)品
熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑