MarSurf M400粗糙度儀馬爾工廠現(xiàn)貨
NSX100F TM40D 3PNSX100F TM40D 3P天行健代理法國原裝schneier(施耐德）塑殼斷路器
NSX100F TM40D 3PNSX100F TM32D 3PNSX100F TM25D 3PNSX100F TM16D 3P
LC1DT80AB7 TeSys D系列四極接觸器，AC1 80A，24V，50/60Hz BM4010-09W-B77散熱風扇BM4010-09W-B77
MM400/800尼康測量顯微鏡MM400/MM800
| 類型 | 光學顯微鏡 | 品牌 | ＮＩＫＯＮ |
| 型號 | ＭＭ４０／６０ | 儀器放大倍數(shù) | 50X,100X,200X,500X,1000X |
| 目鏡放大倍數(shù) | １０Ｘ | 物鏡放大倍數(shù) | 5X,10X,20X,50X,100X |
| 重量 | 65000（g） | 適用范圍 | 精密加工制造，沖壓件，注塑件 |
| 裝箱數(shù) | １ |
【主要特點】◆ 新式光學系統(tǒng)，采用鹵素燈光源，特別明亮清晰，對黑色、深色表面不反光工件塑膠、橡膠、碳化物金屬……等，亦可清晰檢查、量測、應用范圍廣泛載物臺行程可選擇50×50/100×50/100×100/150×100/200×150/250×1506種◆ FA對焦指示系統(tǒng)，提高Z軸量測精度，減少人為視覺對焦誤差◆ Z軸重現(xiàn)精度1.5μm以內◆ 可加裝照相及CCD CAMERA 系統(tǒng)◆ 可附加微電腦處理機，并能與PC連線
【百年德氟】CEM40位 55ML 微波消解罐
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微波消解儀已廣泛應用于食品、藥品、紡織、塑料、地質、冶金、煤炭、生物醫(yī)藥、石油化工、環(huán)境監(jiān)測、污水處理、化妝品等領域，但進口微波消解儀內罐不論是供應周期還是產(chǎn)品價格確實讓很多使用單位望而卻步，為了滿足更多客戶的需求，我司作為PTFE產(chǎn)品的生產(chǎn)單位，在完善的成熟的生產(chǎn)技術水平上，不斷開發(fā)生產(chǎn)國內外各品牌各型號的微波消解儀內罐及外罐、轉盤、塞子、墊片、彈片、主控罐蓋子等。
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TFM微波消解罐特點：
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內罐選用進口美國3M公司旗下牌號TFM1700、PFA（改性聚四氟乙烯）、PTFE加工完成；
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罐體材料純進口，保證與原廠一致，絕不添加回料，潔凈的車間環(huán)境，精準高效的工藝，確保合理的成本；
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TFM材質耐高低溫-190～+260℃，極限可耐300℃，具有空白值更低，耐變形性更好，耐滲透，高溫高壓下恢復性更強等特點；
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我司特殊研發(fā)的生產(chǎn)工藝（五軸CNC），保證了特別廠家（如美國CEM）的超長內罐的光潔度；
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我司具有自己獨特的優(yōu)勢：
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我司是目前國內第一批從事PTFE行業(yè)的廠家，從產(chǎn)品原材料到半成品再到成品，全程把控，絕不添加回料，公司通過了ISO9001.ISO14001，以及被多家世界500強企業(yè)納入合格供應商名單內；在華南地區(qū)，德誠旺在四氟行業(yè)有相當?shù)闹取?/span>
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所加工的產(chǎn)品實驗數(shù)據(jù)不亞于原廠、且成本低、價格只有原廠的1/4，大大縮減了眾多科研單位購買耗材的成本開支；
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我司可以配合客戶開發(fā)生產(chǎn)任何PTFE、POM、PEEK、PVDF、PCTFE、TFM等多鐘材質的所有產(chǎn)品，工藝技術與日本、德國看齊，我司擁有現(xiàn)代化模壓設備、數(shù)控設備、走心機、三軸、四軸、五軸CNC、車銑復合等多種設備數(shù)十臺，保證了技術產(chǎn)品的穩(wěn)定性，產(chǎn)品單價的合理性；
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我司加工的任意一個零配件都是完整的符合客戶的要求。
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我司可定制的各個廠家微波消解儀內罐如下：
美國CEM、邁爾斯通、安東帕、耶拿、上海新儀、上海新拓、上海屹堯、北分瑞利、北京祥鵠、山東海能等，我廠特殊研發(fā)的生產(chǎn)工藝保證特別廠家（如CEM MARS5、MARS6、XPRESS）的超長罐的光潔度。
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GEM40P4-76-SMP高純鍺探測器
高純鍺探測器:
半導體（高純鍺和Si（Li））探測器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測量技術與產(chǎn)品，不僅是核結構、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應研究的重要工具，而且在核電、環(huán)境、檢驗檢疫、生物醫(yī)學、天體物理與化學、地質、法學、考古學、冶金和材料科學等諸多科學與社會領域得到了越來越廣泛的應用。 
一、 探測器機理與各指標的簡要意義 放射性核素產(chǎn)生的γ光子和X射線，其能量一般在keV至MeV范圍。由于其不帶電荷，通過物質時不能直接使物質產(chǎn)生電離，不能直接被探測到，因此γ和X射線的探測主要依賴于其通過物質時與物質原子相互作用，并將全部或部分光子能量傳遞給吸收物質中的一個電子。這種相互作用表現(xiàn)出光子的突變性和多樣性，在吸收物質中主要產(chǎn)生三種不同類型的相互作用：光電效應、康普頓效應或電子對效應，而產(chǎn)生的次級電子（光電子）再引起物質的電離和激發(fā)，形成電脈沖流，電脈沖的幅度正比于γ和X射線的能量。三種效應中，光電效應中γ光子把全部能量傳遞給光電子而產(chǎn)生全能峰，是譜儀系統(tǒng)中用于定性定量分析的主要信號；而康普頓效應和電子對效應則會產(chǎn)生干擾，應盡可能予以抑制。 在譜儀中，探測器（包括晶體、高壓和前置放大器）實際上是一個光電轉換器，將光子的能量轉變成幅度與其成正比的電脈沖。然后通過譜儀放大器將該脈沖成形并線性放大，再送入模數(shù)變換器即ADC中將輸入信號根據(jù)其脈沖幅度轉變成一組數(shù)字信號，并將該數(shù)字信號送入多道計算機數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)，由相關軟件形成譜圖并進行分析。以下簡要闡明所涉及的相關物理概念： 1、相對效率、絕對效率與實際效率 相對探測效率（即標稱效率）的定義：按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義，Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處，對1.33MeV能量峰，半導體探測器與3"×3" NaI探測器計數(shù)率的比值，以%表示。絕對效率：Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處，1.33MeV能量峰處所產(chǎn)生的實際探測效率（3"×3"NaI探測器，此絕對效率為0.12%）。實際探測效率：取決于感興趣核素所在能量峰、探測器的晶體結構、實際樣品的形狀、體積及探測器與樣品間的相對位置關系等因素。針對低活度樣品的測量，通過提高實際探測效率以提高測量靈敏度是選擇探測器的出發(fā)點。 2、 能量分辨率（FWHM）：探測器或系統(tǒng)對不同能量γ和X射線在探測中的分辨能力，通常以半高寬（FWHM，全能峰高度一半處所對應的能量寬度）表示。比如對于1.33MeV能量峰，按ANSI/IEEE Std. 325-1996定義，Co-60點源置于探測器端面正上方25cm處，在計數(shù)率為1kcps時的全能半高寬。由于高純鍺探測器的分辨率本身已經(jīng)相當精銳，除了在中子活化、超鈾元素分析等少數(shù)應用中，能量分辨率已不是首要考慮的因素。更加實際的分辨率問題是在高計數(shù)率和計數(shù)率動態(tài)變化（如中子活化、裂變產(chǎn)物、在線監(jiān)測、現(xiàn)場測量）情況下，如何保證分辨率盡可能的穩(wěn)定。 3、 康普頓效應與峰康比 γ光子與探測器中的半導體原子的電子相互作用時，將部分能量傳遞給電子，剩余能量的γ光子以一定的角度散射出去，成為康普頓散射。康普頓效應的結果會導致在低能部分的全能峰下方形成康普頓坪，成為相關能量峰的本底或甚至淹沒此能量峰。 峰康比：對1.33MeV能量峰，指其全能峰的中心道計數(shù)與1.040MeV至1.096MeV區(qū)間內康普頓坪的平均道計數(shù)之比。 4、 峰形 表征全能峰對稱性之指標，通常以FTWH（十分之一全高寬）與FWHM（半高寬）之比表示。為嚴格定義峰形，ORTEC對部分探測器同時提供F.02WH（五十分之一全高寬）與FWHM（半高寬）之比。 二、 ORTEC所有同軸探測器全面嚴格保證能量分辨率、峰康比和峰形指標。1、ORTEC HPGe與Si（Li）探測器的分類與特點： GEM系列: P型同軸HPGe探測器 
GEM Profile系列: P型優(yōu)化同軸HPGe探測器
- 同一型號的探測器采用相同的晶體結構和尺寸，從而保證了相當一致的效率曲線；
- GEM-M系列：專門設計適用于馬林杯狀樣品的測量，探測器端窗直徑與晶體有效厚度一致；
- GEM-F系列：采用扁平結構晶體（直徑>長度），對于濾紙、濾膜等薄層樣品的測量能獲得最理想的實際探測效率；
- GEM-FX系列：有著-F系列類似的晶體結構，但采用超薄的接觸極和碳纖維端窗，能量響應范圍10keV至10MeV；還可作為超鈾元素測量的理想選擇；提供15%，20%和50%三種探測效率選擇；
- GEM-MX系列：結合-M與-FX工藝，能量響應范圍10keV-10MeV，尤其適合于馬林杯狀樣品；提供38%, 66%，115%和175%四種效率選擇；
- GEM-FX與GEM-MX在整個10keV至10MeV（“寬能”）的能量范圍內都有十分優(yōu)異的能量分辨率，從指標與實用意義上實現(xiàn)了傳統(tǒng)P型與N型探測器的“優(yōu)勢組合”。
Actinide-85: 肺部計數(shù)HPGe探測器： 采用GEM-FX8530探測器工藝，用于肺部計數(shù)探測器；采用超低本底冷指材料和整體碳纖維封裝結構。 SLP系列: X-射線Si（Li）探測器： 用于X-射線能譜測量；能量響應范圍1keV至30keV；有效面積12.5至200mm2。 
對于700keV以下的能量峰，120cc體積的井式探測器已能很好的滿足探測效率的要求，增大探測器體積并沒有太多的實際意義。
2、探測器的附屬選項及其意義
英思科M40四合一氣體檢測儀英思科M40四合一氣體檢測儀
英思科M40四合一氣體檢測儀
尺寸:109mm*62mm*35mm
重量:244g（帶泵326g）
傳感器:可燃氣體-催化燃燒原理
氧氣和有毒氣體-電化學原理
量程及分辨率:0~0.05VOL
分辨率:0.1@0VOL
響應時間（T90）:<15秒
測量誤差:<0.05（實際值）
電源:可充電鋰離子電池18小時（帶泵工作12小時）
報警:90dB聲、光和高亮液晶顯示屏顯示報警
數(shù)據(jù)采集：可使用RS232接口進行數(shù)據(jù)下載，長達50小時容量
防護等級：IP65
溫度范圍：-20~50度
濕度范圍：15~0.95RH（非凝結）