hemiview 通過(guò)處理影像數(shù)據(jù)文件來(lái)獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的,例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過(guò)分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息,hemiview 能夠測(cè)算出冠層截獲的par以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測(cè)量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布。 使用180度魚(yú)眼鏡頭和高清晰度數(shù)碼相機(jī)從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數(shù)碼相機(jī)的高清晰度影像載入hemiview軟件,進(jìn)行分析處理。
更新時(shí)間:2024-11-12