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植物冠層產(chǎn)品及廠家

SUNSCAN植物冠層分析系統(tǒng)
通過測量作物冠層par值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（lai）；sunscan探測器也可被用來描繪作物冠層par的分布圖。根據(jù)冠層吸收的beer法則，wood的sunscan冠層分析方程以及campbell的橢圓葉面角度分布方程，使用光量子傳感器來測量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。
更新時(shí)間:2024-11-12
HEMIDIG 數(shù)字植物冠層分析系統(tǒng)
hemiview 通過處理影像數(shù)據(jù)文件來獲取與冠層結(jié)構(gòu)有關(guān)的，例如葉面積指數(shù)、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數(shù)據(jù)的相關(guān)信息，hemiview 能夠測算出冠層截獲的par以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計(jì)算輻射指標(biāo)、冠層指標(biāo)、測量地點(diǎn)的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布。 使用180度魚眼鏡頭和高清晰度數(shù)碼相機(jī)從植物冠層下方或森林地面向上取像， 再將數(shù)碼相機(jī)的高清晰度影像載入hemiview軟件，進(jìn)行分析處理。
更新時(shí)間:2024-11-12
植物冠層分析儀
產(chǎn)描述簡介：lai-2200植物冠層分析儀基于成熟的lai-2000技術(shù)平臺，利用“魚眼”光學(xué)傳感器（垂直視野范圍148°，水平視野范圍360°）測量樹冠上、下5個(gè)角度的透射光線，利用植被樹冠的輻射轉(zhuǎn)移模型計(jì)算葉面積指數(shù)、空隙比等樹冠結(jié)構(gòu)參數(shù)。利用隨機(jī)fv-2200軟件，可對數(shù)據(jù)進(jìn)行深入處理分析。
更新時(shí)間:2024-11-12
美LAI-2200植物冠層分析儀
lai-2200植物冠層分析儀基于成熟的lai-2000技術(shù)平臺，利用“魚眼”光學(xué)傳感器（垂直視野范圍148°，水平視野范圍360°）測量樹冠上、下5個(gè)角度的透射光線，利用植被樹冠的輻射轉(zhuǎn)移模型計(jì)算葉面積指數(shù)、空隙比等樹冠結(jié)構(gòu)參數(shù)。利用隨機(jī)fv-2200軟件，可對數(shù)據(jù)進(jìn)行深入處理分析。
更新時(shí)間:2024-11-12

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑