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掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家

日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過(guò)組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過(guò)了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器，組合使用wds和eds，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過(guò)與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒(méi)式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2024-11-21
日本JEOL熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時(shí)間:2024-11-21
日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2024-11-21
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時(shí)間:2024-11-21
德國(guó)KSI 型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
德國(guó)ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
更新時(shí)間:2024-11-21
KSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無(wú)損檢測(cè)，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè)，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測(cè)時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2024-11-21
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2024-11-21
德國(guó)KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:2024-11-21
韓國(guó)賽可臺(tái)式掃描電鏡4500主要功能
table-sem (臺(tái)式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬(wàn)倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2024-11-21
韓國(guó)SEC掃描電子顯微鏡采購(gòu)價(jià)格
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對(duì)工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時(shí)間:2024-11-21
韓國(guó)賽可臺(tái)式掃描電鏡4500
table-sem (臺(tái)式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬(wàn)倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2024-11-21
SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2024-11-20
SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2024-11-20
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2024-11-19
供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn)： 1. 新型
更新時(shí)間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動(dòng)化功能，操作更簡(jiǎn)易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能，包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、 自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)
更新時(shí)間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺(tái)可以傾
更新時(shí)間:2024-11-19
萬(wàn)能工具顯微鏡
本儀器具有較高的測(cè)量精度，適用于長(zhǎng)度和角度的精密測(cè)量；同時(shí)由于配備有多種附件，使其使用范圍得到充分的擴(kuò)大。應(yīng)用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)量，能解決各種復(fù)雜的二維測(cè)量問(wèn)題，主要的測(cè)量對(duì)象有：刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時(shí)間:2024-11-14
供應(yīng)： 臺(tái)`CHUNG TA`宗大機(jī)器廠` PAPER CUTTING MACHINE裁切機(jī)
臺(tái)`chung ta`宗大機(jī)器廠` paper cutting machine裁切機(jī) 、裁紙機(jī)smc136配件micro computer high-speed paper-cutting-machine裁切刀 總長(zhǎng)1117.6mm
更新時(shí)間:2024-11-14
經(jīng)濟(jì)型掃描電子顯微鏡 KYKY-EM3200系列
產(chǎn)品說(shuō)明： kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動(dòng)控制功能 等諸多方面都進(jìn)行了改進(jìn)。主要特點(diǎn)是穩(wěn)定可靠、結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便、維護(hù)簡(jiǎn)單，是一款性價(jià)比較高的經(jīng)濟(jì)型電鏡。
更新時(shí)間:2024-11-08
電子掃描顯微鏡KYKY-EM6900
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號(hào) kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
更新時(shí)間:2024-11-08
實(shí)用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800
產(chǎn)品說(shuō)明： kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國(guó)科學(xué)院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎(chǔ)上，引用現(xiàn)代最新計(jì)算機(jī)及數(shù)字圖像技術(shù)， 開發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外，新增加了各種計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制及調(diào)節(jié)功能，尤其是采用了專用圖像處理器進(jìn)行圖像分析處理，使掃描電鏡與圖像分析得到完美結(jié)合。在window
更新時(shí)間:2024-11-08
轉(zhuǎn)盤式共聚焦掃描成像系統(tǒng)
cv1000采用了雙nipkow轉(zhuǎn)盤共聚焦掃描器，它可以將活細(xì)胞成像實(shí)驗(yàn)中的光毒性和光漂白性降到低。在整個(gè)實(shí)驗(yàn)期間，該系統(tǒng)的培養(yǎng)平臺(tái)可以保持實(shí)驗(yàn)樣本（如柔弱的胚胎、ips/es細(xì)胞以及其它類型的細(xì)胞）的活性和溫度的恒定。
更新時(shí)間:2024-11-08
Phenom飛納臺(tái)式掃描電鏡（標(biāo)準(zhǔn)版）
phenom(飛納) g2 pure（飛納臺(tái)式掃描電鏡 標(biāo)準(zhǔn)版） 款性能和價(jià)格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式掃描電鏡，可用于測(cè)量亞微米尺寸的樣品。phenom g2 pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿足需求的客戶。
更新時(shí)間:2024-11-08
Phenom飛納臺(tái)式掃描電鏡（能譜版）
phenom prox （飛納臺(tái)式掃描電鏡 能譜版）是phenom第三代產(chǎn)品，結(jié)合了表面成像功能和元素分析能譜eds功能，能譜儀 eds的可以準(zhǔn)確的進(jìn)行樣品表面元素的定性和定量分析。
更新時(shí)間:2024-11-08
Mini-SEM臺(tái)式掃描電鏡
nanoanalysis系統(tǒng)由evex mini-sem，mini-sem，qdd先進(jìn)的探測(cè)器技術(shù)和nanoanalysis軟件組成。mini-sem是具有高清度，高放大率，高性能的臺(tái)式掃描電子顯微鏡。mini-sem結(jié)合了傳統(tǒng)sem的性能，但在大小，price和易操作方面超越了臺(tái)式顯微鏡。
更新時(shí)間:2024-11-08
EM科特（EmCrafts）CUBE系列臺(tái)式桌面式掃描電鏡
可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)sem設(shè)備，提供5軸共心樣品臺(tái)（電動(dòng)或手動(dòng)）的臺(tái)式sem，中心傾斜對(duì)于3d重構(gòu)功能至關(guān)重要。高分辨率，與傳統(tǒng)sem一樣優(yōu)異；高空間利用率和便攜性，易于移動(dòng)，可安裝在任何地方；無(wú)需等待：抽氣90/排氣10；高度可靠的高壓組件；無(wú)需對(duì)準(zhǔn)電子槍。
更新時(shí)間:2024-11-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑