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白光干涉膜厚儀車(chē)燈測(cè)厚儀 FTMLite

技術(shù)特點(diǎn)

光學(xué)方法，非接觸、無(wú)損測(cè)量，安全無(wú)輻射。

快速膜厚分析，只需幾毫秒即可獲得測(cè)量結(jié)果

膜厚測(cè)量范圍 0.1 - 150 微米（ 0.004 to 6 mil ）

極高的分析準(zhǔn)確度，在整個(gè)厚度測(cè)量范圍內(nèi)偏差小于0.005微米

可同時(shí)分析計(jì)算兩層膜厚

可同時(shí)支持實(shí)驗(yàn)室離線(xiàn)分析或者在線(xiàn)生產(chǎn)分析

主要用于

全球主要的汽車(chē)燈以及CD生產(chǎn)商進(jìn)行有機(jī)膜厚測(cè)試。

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀白光干涉測(cè)厚儀輪廓儀電磁/電渦流測(cè)厚儀掃描電鏡（SEM）光電直讀光譜儀渦流探傷儀超聲波探傷儀 X-Strata920 TranSpec FTM-Mirco FTM-Lite 便攜式涂鍍層測(cè)厚儀掃描電鏡 XRF元素分析儀手持式XRF光譜儀實(shí)驗(yàn)室模擬洗車(chē)系統(tǒng) 白光干涉膜厚儀 NVM6000P Nano view 3000

2000B超聲波測(cè)厚儀

2000B超聲波測(cè)厚儀2000B型超聲波測(cè)厚儀測(cè)量范圍：1.0～199.9mm，顯示精度：0.1mm，該儀器是利用單片機(jī)技術(shù)，采用定制的液晶，字體清晰美觀，人機(jī)對(duì)話(huà)采用當(dāng)今流行的薄膜面板，具有體形小，容易操作，攜帶方便，是鍋爐、高壓容器、儲(chǔ)罐、管道等理想的厚度測(cè)量工具。2000B型超聲波測(cè)厚儀配置單 1、2000B型主機(jī) 1臺(tái)2、探頭（Φ8） 1支3、耦合劑 1瓶4、階梯試塊 1塊5、五號(hào)1.5 V 電池 2節(jié) 6、使用說(shuō)明書(shū) 1份7、保修卡合格證 1份8、小鋁箱 1個(gè)9、選配件：高溫、鑄鐵、小管徑探頭2000B超聲波測(cè)厚儀產(chǎn)品性能1、超聲波測(cè)厚儀測(cè)量范圍：1.0～199.9mm2、顯示精度：0.1mm3、誤差：1%*厚度值±0.1mm4、探頭頻率：5MHz5、電源：一節(jié)5號(hào)電池6、耦合指示：被測(cè)件與探頭耦合良好時(shí)，顯示“▲”7、外形尺寸：125*26*60mm8、重量：220克9、使用環(huán)境：溫度-10～60度,相對(duì)濕度 <90%10、低電壓指示：紅燈亮上海魯碩實(shí)業(yè)有限公司無(wú)損檢測(cè)滲透探傷：滲透劑、清洗劑、顯像劑、滲透試塊、核級(jí)探傷劑磁粉探傷：黑磁粉、白磁粉、紅磁粉、復(fù)合熒光磁粉、磁場(chǎng)指示器、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、熒光磁懸液、黑水磁懸液、黑油磁懸液、磁粉靈敏度試片、紫外線(xiàn)燈、磁粉探傷儀超聲探傷：超聲波耦合劑、高溫耦合劑、超聲波試塊、超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀射線(xiàn)探傷：鉛字、暗袋、洗片架、恒溫洗片機(jī)、膠片干燥箱、代理品牌：美國(guó)SP、美國(guó)磁通、美國(guó)路陽(yáng)、日本碼克泰科、美國(guó)GE、奧林巴斯、上海新美達(dá)

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：混合器磁力攪拌器勻漿機(jī) 涂層測(cè)厚儀看譜鏡電火花檢漏儀其他儀器及附件氣體檢測(cè)儀大氣壓力計(jì) 噪音計(jì) 風(fēng)速計(jì)/風(fēng)速儀除濕機(jī) 超聲波清洗機(jī) 培養(yǎng)箱試驗(yàn)箱離心機(jī) 真空泵恒流泵粘度計(jì) 蒸餾水器

4200/4500涂層測(cè)厚儀

儀器用于精確測(cè)量圖層（鍍層）厚度。測(cè)量時(shí)只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)。

主要技術(shù)參數(shù)：

1.測(cè)量范圍：0-3000μm

2.測(cè)量精度：0-50μm≤±1μm 50-1000μm≤±1.5%

1000-2000μm≤±2% 2000-3000μm≤±3%

外形尺寸：100*60*27mm

20001IS——726E-004測(cè)厚儀,便攜式,手提式測(cè)厚儀

測(cè)厚儀<


測(cè)厚儀 20012IS 分度值 0.01 mm 測(cè)量范圍 0 – 10 mm 弓形架深度 50 mm 誤差極限 15 μm	測(cè)厚儀 20093IS 分度值 0.01 mm 測(cè)量范圍 0 – 0.5 mm 弓形架深度 50 mm 界面 RS 232 誤差極限 5 μm	測(cè)厚儀 20009IS 分度值 0.01 mm 測(cè)量范圍 0 – 10 mm 弓形架深度 18mm 誤差極限 15 μm

測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	分度值 mm	量程 mm	頸深 mm	提升器	測(cè)量頭形狀
型號(hào)	分度值 mm	量程 mm	頸深 mm	提升器	標(biāo)準(zhǔn)型	可選，非標(biāo)準(zhǔn)型
20001IS	0,1	10	15	無(wú)	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ 平頭,凸起或球形
20045IS	0,1	20	50	無(wú)	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ 平頭,凸起或球形
20002IS	0,1	10	15	無(wú)	c	a, b, d 或 e
20066IS	0,1	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20003IS	0,1	20	50	無(wú)	c	a, b, d 或 e
20004IS	0,1	30	50	無(wú)	c	a, b, d 或 e
20043IS	0,1	50	50	無(wú)	c	a, b, d 或 e
20005IS	0,1	30	100	無(wú)	c	a, b, d 或 e
20006IS	0,1	30	200	有	c	a, b, d 或 e
20007IS	0,1	30	300	有	c	a, b, d 或 e
20008IS	0,1	30	400	有	c	a, b, d 或 e
20042IS	0,01	8	12	有	6,35 mm Φ 平頭	球形
20009IS	0,01	10	18	有	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ平頭, 凸起或球形
20011IS	0,01	10	45	有	6,35 mm Φ 平頭	10 mm Φ平頭, 凸起或球形
20012IS	0,01	10	50	無(wú)	c	a, b, d 或 e
20067IS	0,01	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20048IS	0,01	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20099IS	0,01	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20015IS	0,01	30	50	無(wú)	c	a, b, d 或 e
20076IS	0,01	30	50	有	c	a, b, d 或 e
20087IS	0,01	25	50	有	c	a, b, d 或 e
20013IS	0,01	5	50	有	滾子測(cè)頭
20038IS	0,01	5	50	有	滾子測(cè)頭，無(wú)側(cè)面夾合墊片
20086IS	0,01	10	50	有	滾子測(cè)頭
20098IS	0,01	10	50	有	滾子測(cè)頭，無(wú)側(cè)面夾合墊片
20039IS	0,01	10	50	有	適合測(cè)量管壁
20049IS	0,01	10	50	有	適合測(cè)量管壁
20055IS	0,01	20	50	有	適合測(cè)量波紋
20014IS	0,01	10	100	有	c	a, b, d 或 e
20051IS	0,01	10	100	有	c	a, b, d 或 e
20079IS	0,01	30	100	有	c	a, b, d 或 e
20089IS	0,01	25	100	有	c	a, b, d 或 e
20017IS	0,01	10	200	有	c	a, b, d 或 e
20052IS	0,01	10	200	有	c	a, b, d 或 e
20018IS	0,01	30	200	有	c	a, b, d 或 e
20046IS	0,01	25	200	有	c	a, b, d 或 e
20019IS	0,01	10	300	有	c	a, b, d 或 e
20053IS	0,01	10	300	有	c	a, b, d 或 e
20083IS	0,001	1	30	有	6,35 mm Φ 平頭	上測(cè)量頭為半球形
20084IS	0,001	1	30	有	6,35 mm Φ 平頭	上測(cè)量頭為半球形 R15
						上測(cè)量頭為半球形 R 40
						平頭 10 mm Φ 球形
						下測(cè)量頭為半球形 R 15
20080IS	0,001	5	50	有	c	a, b, d 或 e
20054IS	0,001	10	50	有	c	a, b, d 或 e
20093IS	0,001	25	50	有	c	a, b, d 或 e
20095IS	0,001	25	100	有	c	a, b, d 或 e
20047IS	0,001	25	200	有	c	a, b, d 或 e

CORDIX 快速測(cè)厚儀

CORDIX 快速測(cè)厚儀	CORDIX 快速測(cè)厚儀	CORDIX 快速測(cè)厚儀
快速測(cè)厚儀因其測(cè)量范圍和測(cè)量深度廣泛、測(cè)頭形式多等優(yōu)點(diǎn)，在生產(chǎn)中得到了廣泛應(yīng)用。由特殊輕金屬合金制作而成的高剛性構(gòu)架，使操作更為簡(jiǎn)便并且適應(yīng)長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量。測(cè)頭和指示表殼具有防腐性。SERIE 3000的直角測(cè)桿可以最大限度的減小擺動(dòng)對(duì)于測(cè)量的影響，尤其是可以避免扭轉(zhuǎn)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的干擾。應(yīng)用時(shí)，請(qǐng)注意正確選擇測(cè)量?jī)x的測(cè)量深度（T）、測(cè)量范圍（B）和測(cè)頭（F）

CORDIX 快速測(cè)厚儀參數(shù)表:

SERIE 3000	1/10mm		[F]=測(cè)頭形式
型號(hào)	測(cè)量范圍[B]=mm	測(cè)量深度[T]=mm
型號(hào)	測(cè)量范圍[B]=mm	測(cè)量深度[T]=mm	a	b		c	d	e	f	h	i
726M-001	0-10	15		●*
726M-002	0-25	30	●	●		●	●	〇	〇
726M-003	0-30	50	●	●		●	●	〇	〇
726M-004										●	●
726M-005		150	●	●		●	●	〇	〇
726M-006		275	●	●		●	●	〇	〇
726M-007		420	●	●		●	●	〇	〇
726M-008		600	●	●		●	●	〇	〇
726M-009	0-50	50	●	●		●	●	〇	〇
726M-010										●	●
726M-011		275	●	●		●	●	〇	〇
726M-012	30-80	50	●	●		●	●	〇	〇
SERIE	1/100mm		注： ●標(biāo)準(zhǔn)測(cè)頭；〇特殊測(cè)頭
726M-013	帶偏差表 0-10	50	●		●	●	●
726M-014		50	●		●	●	●
726M-015		150	●		●	●	●
726M-016		275	●		●	●	●
726E-001	帶數(shù)顯表 0-10	50	●		●	●	●
726E-002		50	●		●	●	●
726E-003		150	●		●	●	●
726E-004		275	●		●	●	●

注：CORDIX快速測(cè)厚儀要定期依據(jù). DIN ISO 9000 ff標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行重新校準(zhǔn)；請(qǐng)尋求. KORDT提供校準(zhǔn)服務(wù)。我們根據(jù)要求提供帶質(zhì)量證書(shū)的檢具并提供定期的校準(zhǔn)。

詳情請(qǐng)咨詢(xún)北京伊斯來(lái)福電話(huà)：陳先生,郵箱:islive@islive.com.cn，或者訪(fǎng)問(wèn)產(chǎn)品詳情頁(yè)面測(cè)厚儀,便攜式,手提式測(cè)厚儀

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：量?jī)x

CMI233（CMI200測(cè)厚儀系列）連線(xiàn)探頭涂層測(cè)厚儀/膜厚儀

CMI 233連線(xiàn)探頭涂層測(cè)厚儀/膜厚儀品牌：OXFORD CMI（英國(guó)牛津）

簡(jiǎn)介：

□性?xún)r(jià)比優(yōu)勢(shì)：同類(lèi)進(jìn)口產(chǎn)品中具有很高的價(jià)格性能比

□探頭：配備有世界上秀的檢測(cè)探頭

□測(cè)量精度：1%或±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片，分辨率：0.1μm

□測(cè)量范圍：磁感應(yīng)0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm）產(chǎn) 品介紹訂購(gòu)編號(hào)：20706 CMI233（單探頭） / 20707 CMI233（雙探頭）

用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍、涂料涂裝、汽車(chē)、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)中的表面涂層及各種薄膜厚度的測(cè)量

CMI 200型測(cè)厚儀是高科技電子技術(shù)和軟件的組合，多功能、耐用的設(shè)計(jì)，專(zhuān)為適應(yīng)最?lèi)毫拥墓ぷ鳝h(huán)境而制造，典型應(yīng)用于表面處理工業(yè)。

CMI 200以經(jīng)濟(jì)的價(jià)格為您提供對(duì)涂鍍層厚度的、的監(jiān)控。

應(yīng)用范圍：

•磁性基材上的非磁性涂層，例如鋼或鐵上的鋅、鉻、鎘、錫、銅、聚四氟乙烯、環(huán)氧樹(shù)脂、油漆、粉末涂料等涂層

•導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電性涂層，例如銅或鋁上的陽(yáng)極電鍍、油漆、琺瑯/瓷釉、粉末涂料、環(huán)氧化物等涂層。

●測(cè)量方法：磁感應(yīng)或渦流式

●測(cè)量精度：1%±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片

●測(cè)量范圍：磁感應(yīng)0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm）

●分辨率：0.1μm

●最小曲率半徑 5mm（凸）；25mm（凹）

●最小測(cè)量面積 φ20mm

●最小基體厚度 0.35mm

●適用標(biāo)準(zhǔn)：磁感應(yīng)遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 ａnd BS 5411 PART9&11有關(guān)規(guī)定。渦流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 ａnd BS 5411 PART3有關(guān)規(guī)定

●存儲(chǔ)量：12，400條讀數(shù)

●低鐵和無(wú)鐵層厚度：12 mils（305μm）

●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含電池）

●單位：英制和公制，可轉(zhuǎn)換

●電池：9伏干電池或充電電池

●統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，值，值，由打印機(jī)或連續(xù)輸出支持的直方圖和CPK圖

●接口：RS-232串行輸出端口

●顯示：1/2英寸背光液晶顯示屏

●鍵區(qū)：密封膜�；�-9鍵；增強(qiáng)-16鍵

●掃描特征：在指定掃描時(shí)間內(nèi)自動(dòng)平均讀數(shù)（或可提供實(shí)際高低值）

●品牌及產(chǎn)地：英國(guó)牛津儀器；產(chǎn)地：美國(guó)

涂層測(cè)厚儀/涂鍍層測(cè)厚儀是本公司主打銷(xiāo)售產(chǎn)品之一，我們是牛津測(cè)厚儀中國(guó)一級(jí)代理，專(zhuān)業(yè)提供涂層測(cè)厚儀品牌、涂層測(cè) 厚儀行情、涂層測(cè)厚儀參數(shù)、涂層測(cè)厚儀應(yīng)用、涂層測(cè)厚儀維修、涂層測(cè)厚儀保養(yǎng)、涂層測(cè)厚儀報(bào)價(jià)、涂層測(cè)厚儀售后服務(wù)等涂層測(cè)厚儀各種問(wèn)題

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：日本孔雀電線(xiàn)電纜通用土工布纖維紗線(xiàn) 印染織物服裝強(qiáng)力儀丨強(qiáng)力機(jī) 實(shí)驗(yàn)儀器自動(dòng)滴液系統(tǒng) 檢針機(jī) 手持式臺(tái)式皮帶式日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA 蒙賽爾國(guó)產(chǎn) 美國(guó)愛(ài)色麗X-RITE 日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA 分光測(cè)色儀色彩色差計(jì) 密度儀分光光度計(jì) 放大鏡顯微鏡臺(tái)灣泰仕

BMH-J3數(shù)顯薄膜測(cè)厚儀

一、BMH-J3數(shù)顯薄膜測(cè)厚儀主要技術(shù)指標(biāo): 測(cè)量范圍：（0-25）mm 分辨率：0.001mm 電源：氧化銀電池SR44 工作溫度：0℃～+40℃儲(chǔ)運(yùn)溫度：-20～+70℃ 相對(duì)濕度：≤80% 二、BMH-J3數(shù)顯薄膜測(cè)厚儀主要功能: 數(shù)據(jù)輸出任意位置置零公英制轉(zhuǎn)換自動(dòng)斷電

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀

JMR-C10多能測(cè)厚儀

商品詳細(xì)介紹 JMR-C10型多能測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量剛性和非剛性軟類(lèi)物體的多用途量具；它既不損傷被測(cè)物體的表面，又能得到精確的測(cè)量數(shù)據(jù)，可廣泛用于測(cè)量片劑、糖衣片、薄膜衣片、浸膏片、丸粒等藥物的直徑和厚度，還可測(cè)量膠囊的壁厚和藥物包裝薄膜的厚度。隨機(jī)的百分表附有CMC計(jì)量合格證，本量?jī)x適用于生產(chǎn)線(xiàn)，質(zhì)量管理和科研實(shí)驗(yàn)室等部門(mén)。　　　主要技術(shù)參數(shù)：測(cè)量范圍：0-10mm 測(cè)量分度值：0.01mm 可測(cè)膠囊壁厚范圍：0、1、2、3號(hào)膠囊

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：核輻射探測(cè)儀硬度計(jì) 實(shí)驗(yàn)室專(zhuān)用儀器總有機(jī)碳（TOC）測(cè)定儀氨氣檢測(cè)儀可燃?xì)怏w檢測(cè)儀靜電消除器應(yīng)力儀探傷儀測(cè)厚儀高斯計(jì)/萬(wàn)用表紅外測(cè)溫儀激光測(cè)距儀硫化氫檢測(cè)儀培養(yǎng)箱漏能儀電子天平熱量計(jì) 恒溫水浴振蕩器/搖床

ZHD-01 測(cè)厚儀ZHD-01 測(cè)厚儀

數(shù)顯手持測(cè)厚儀產(chǎn)品名稱(chēng)：測(cè)厚儀，數(shù)顯測(cè)厚儀，手持測(cè)厚儀，厚度測(cè)試儀，厚度檢測(cè)儀，厚度試驗(yàn)儀，厚度測(cè)量?jī)x，數(shù)顯千分測(cè)厚儀

數(shù)顯手持測(cè)厚儀型號(hào)：ZHD-01

數(shù)顯手持測(cè)厚儀價(jià)格：優(yōu)惠，歡迎來(lái)電咨詢(xún)！

產(chǎn)品用途及適用范圍：適用行業(yè)：紡織布料、薄膜、紙張等物品的厚度測(cè)量，加長(zhǎng)型測(cè)臂具有更大的測(cè)量深度。

數(shù)顯手持測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍：（0-25）mm

分辨率：0.001mm

電源：氧化銀電池SR44

工作溫度：0℃～+40℃

儲(chǔ)運(yùn)溫度：-20～+70℃℃

相對(duì)濕度：≤80%

數(shù)顯手持測(cè)厚儀國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：

數(shù)顯手持測(cè)厚儀關(guān)鍵字：測(cè)厚儀，數(shù)顯手持測(cè)厚儀，手持測(cè)厚儀，厚度測(cè)試儀，厚度檢測(cè)儀，厚度試驗(yàn)儀，厚度測(cè)量?jī)x，千分精度測(cè)厚儀

EM22EM22 自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀

EM22自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱(chēng)“零橢偏”）橢偏測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。

EM22儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。

EM22儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。

特點(diǎn)

經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理

儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過(guò)程。

方便安全的樣品水平放置方式

采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。

緊湊的一體化結(jié)構(gòu)

集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀器外形通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便使用。

高準(zhǔn)確性的激光光源

采用激光作為探測(cè)光波，測(cè)量波長(zhǎng)準(zhǔn)確度高。

豐富實(shí)用的樣品測(cè)量功能

可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復(fù)折射率、樣品反射率、樣品透過(guò)率。

便捷的自動(dòng)化操作

儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量，并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。

安全的用戶(hù)使用權(quán)限管理

軟件中設(shè)置了用戶(hù)使用權(quán)限（包括：管理員、操作者等模式），便于儀器管理和使用。

可擴(kuò)展的儀器功能

利用本儀器，可通過(guò)適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。

應(yīng)用

EM22適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測(cè)量，也可用于測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。

EM22可測(cè)量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽(yáng)電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。

技術(shù)指標(biāo)

項(xiàng)目	技術(shù)指標(biāo)
儀器型號(hào)	EM22
測(cè)量方式	自動(dòng)測(cè)量
樣品放置方式	水平放置
光源	He-Ne激光器，波長(zhǎng)632.8nm
膜厚測(cè)量重復(fù)性^*	0.5nm （對(duì)于Si基底上100nm的SiO₂膜層）
膜厚范圍	透明薄膜：1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān)
折射率范圍	1.3 – 10
探測(cè)光束直徑	Φ2-3mm
入射角度	30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角讀數(shù)范圍		偏振器步進(jìn)角	樣品方位調(diào)整	Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm 二維俯仰調(diào)節(jié)：±4°
允許樣品尺寸	樣品直徑可達(dá)Φ160mm
配套軟件	* 用戶(hù)權(quán)限設(shè)置 * 多種測(cè)量模式選擇 * 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出
最大外形尺寸	約400400250mm
儀器重量（凈重）	約20Kg
選配件	* 半導(dǎo)體激光器

注：（1）測(cè)量重復(fù)性：是指對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測(cè)量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。

性能保證

ISO9001國(guó)際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證
專(zhuān)業(yè)的橢偏測(cè)量原理課程
專(zhuān)業(yè)的儀器使用培訓(xùn)

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：在線(xiàn)橢偏儀激光橢偏儀光譜橢偏儀

防水卷材測(cè)厚儀（冀路試驗(yàn)儀器廠(chǎng)）

防水卷材測(cè)厚儀（冀路試驗(yàn)儀器廠(chǎng)）我廠(chǎng)生產(chǎn)的WHT-10型防水卷材測(cè)厚儀是根據(jù)GBl8242-2000及GBl8243-2000標(biāo)準(zhǔn)要求專(zhuān)為防水卷材厚度測(cè)量而設(shè)計(jì)制造。可隨身攜帶，手持測(cè)量。

主要技術(shù)參數(shù)：1、測(cè)量范圍：0-10mm2、上測(cè)直徑：Φ10±0.05m3、分度值：0.01mm4、施加壓力：0.02MPa

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