測量范圍 | 0~1800um |
測量原理 | 磁感應 |
測量誤差 | ±(3%H±1um) |
分辨率 | 0.1um |
數(shù)據(jù)存儲 | 15組 |
自動關機 | 有 |
低電提示功能 | 有 |
零點校準/兩點校準 | 有 |
7點校準 | 有 |
最大/最小值功能 | 有 |
技術參數(shù):測量范圍:0.75-300mm(鋼).顯示精度:0.01mm測量誤差:1 mm~10 mm :±0.05mm 10mm~200mm :(±0.5%H+0.1)mm管道測量下限(鋼):Φ20mm×2.0mm測量周期:2次/ 秒測量頻率:5MHz聲速范圍:1000-9999m/s顯示:4位半數(shù)字LCD顯示,帶冷光源照明顯示零位調整:探頭放在測厚儀試塊上按鍵自動調零線性校正:微處理器程序自動線性校正(即V Path 自動補償)報警功能:可設置限界,對限界外的測量值能自動蜂鳴報警工作電壓:3V(2節(jié)AA尺寸堿性電池串聯(lián))關閉:連續(xù)2分鐘無動作自動關閉,有開關按鈕顯示內容:厚度值、耦合狀態(tài)、電量狀態(tài),可顯示CAL標定狀態(tài)、聲速外形尺寸:132 X 76.2 mm整機重量:345g
工作原理本超聲波測厚儀對厚度的測量,是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達被測體,一部分超聲信號被物體底面反射,探頭接收由被測體底面反射的回波,精確地計算超聲波的往返時間,并按下式計算厚度值,再將計算結果顯示出來。
式中:
H-測量厚度; v-材料聲速; t-超聲波在試件中往返一次的傳播時間。
5、儀器配置表1 儀器配置 序號名稱數(shù)量備注標準配置1主機1臺 2標準探頭(5MHz)1只 3耦合劑1瓶 4ABS儀器箱1只 5隨機資料1份 6電池倉工具1把 7AA(5號)尺寸堿性電池2只 可選配置8粗晶探頭(2MHz)9微徑探頭(7.5MHz)
品牌 | 北京時代 | 型號 | TT220 |
測量范圍 | 0-1250um(mm) |
|
ST8000光學薄膜測厚儀是把UV-Vis光照在測量對象上,利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導電體薄膜現(xiàn)場,特別在半導體及有關Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。ST8000光學薄膜測厚儀產(chǎn)品特性
1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會影響實驗樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量3層以內的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)用于特殊領域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a
TESTER SANGYO國內總代理:上海貿和榮貿易有限公司
TH-104 紙、薄膜厚度測定儀
本機是TH-101,102系列的數(shù)碼萬分表類型。因為是數(shù)碼類型、自動回零、有抓頭兒等的功能、校正也簡便。根據(jù)選項能打印所需求的數(shù)據(jù)。
配 置
紙用
型 式 :A 型
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
載 重 :550g /cm
加壓尺寸:14.3mm¢
薄膜用
型 式 :A 型’
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
載 重:125g
加壓尺寸: 5mm¢
參考規(guī)格……JISP-8111 (紙用) JISK-6781(薄膜用)
付屬品 ……回收箱
機體尺寸……約(正面的寬度)9x(深)14x(高度)27cm
TESTER SANGYO國內總代理:上海貿和榮貿易有限公司
TH-104 紙、薄膜厚度測定儀
本機是TH-101,102系列的數(shù)碼萬分表類型。因為是數(shù)碼類型、自動回零、有抓頭兒等的功能、校正也簡便。根據(jù)選項能打印所需求的數(shù)據(jù)。
配 置
紙用
型 式 :A 型
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
載 重 :550g /cm
加壓尺寸:14.3mm¢
薄膜用
型 式 :A 型’
精 度 :1 /1000mm
行 程 :8mm
載 重:125g
加壓尺寸: 5mm¢
參考規(guī)格……JISP-8111 (紙用) JISK-6781(薄膜用)
付屬品 ……回收箱
機體尺寸……約(正面的寬度)9x(深)14x(高度)27cm
功 能: 1.測量錫膏厚度:計算方形、不規(guī)則多邊形、圓形錫膏面積和體積。 2.檢查幾何形狀、X軸間距、Y軸間距和兩線夾角,零件腳共平面度 3.影像捕捉、處理;S.P.C分析、報表輸出 量測原理: 非接觸激光測度儀由專用激光器產(chǎn)生線型光束,以一定的傾角投射到待測量目標上,由于待測與基板存在 高度差,此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現(xiàn)斷續(xù)落差,根據(jù)三角函數(shù)關系可以用觀測到的落差 計算出待測目標與周圍基板存在高度差,從而實現(xiàn)非接觸式的快速測量。 軟件介紹: 1.視頻觀察、圖像保存、厚度測量、數(shù)據(jù)記錄、背景光、激光亮度控制、面積(方形、不規(guī)則多邊形、圓 形)/體積/間距/(X軸、Y軸)/夾角測量,可記憶24條生產(chǎn)線任意數(shù)量產(chǎn)品。 2.根據(jù)的產(chǎn)品、生產(chǎn)線和日期范圍進行數(shù)據(jù)查詢、修改、刪除、導出(文本和Excel表格)、打印,能統(tǒng)計平均值、最大值、最小值、方差、標準差、不良數(shù)、不良率、偏度、峰度、Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk,并可繪制、預覽、打印X-BAR管制圖和R管制圖(其中的管制參數(shù)可自行設定) 技術參數(shù):
測量原理:非接觸式、激光束 平臺:大理石平臺,機座不可以移動 測量精度 ±0.002mm 重復測量精度:±0.004mm 基座尺寸:320mm×500mm×360mm 系統(tǒng)尺寸: L320mm×W500mm×H360mm 光學放大倍率:25x~110x(5檔可調) 照明系統(tǒng):可調亮度環(huán)形LED光源(PC控制亮度) 測量光源:高精度紅色激光線 測量軟件:SH-110-2D/HSPC1000(Windows2000/XP平臺)
技術參數(shù)
顯示方法:高對比度的段碼液晶顯示,高亮度EL背光; 測量范圍:0.75~300mm(鋼中),公制與英制可選擇; 聲速范圍:1000~9999 m/s: 分 辨 率:0.1mm 示值精度: ±(1%H+0.1)mm H為被測物實際厚度 測量周期:單點測量時4次/秒、掃描模式10次/秒; 存儲容量:可存儲20組(每組最多99個測量值)厚度測量數(shù)據(jù)。 工作電壓:3V(2節(jié)AA尺寸堿性電池串聯(lián)) 持續(xù)工作時間:約100小時(不開背光時) 外形尺寸:150×74×32 mm 整機重量:245g
主要功能
適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度; 可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用; 具有探頭零點校準、兩點校準功能, 可對系統(tǒng)誤差進行自動修正; 已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度; 具有耦合狀態(tài)提示功能; 有EL背光顯示,方便在光線昏暗環(huán)境中使用; 有剩余電量指示功能,可實時顯示電池剩余電量; 具有自動休眠、自動關機等節(jié)電功能; 小巧、便攜、性高,適用于惡劣的操作環(huán)境,抗振動、沖擊和電磁干擾;
工作原理
本超聲波測厚儀對厚度的測量,是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達被測體,一部分超聲信號被物體底面反射,探頭接收由被測體底面反射的回波,精確地計算超聲波的往返時間,并按下式計算厚度值,再將計算結果顯示出來。 環(huán)境溫度:
操作溫度-20~+50℃;存儲溫度:-30℃~+70℃相對濕度≤90%;周圍環(huán)境無強烈振動、無強烈磁場、無腐蝕性介質及嚴重粉塵。