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日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x潤(rùn)道精密華南華中區(qū)總代出廠價(jià)

   產(chǎn) 品 說(shuō) 明

概述：

    是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測(cè)量計(jì)。SFT系列是本公司標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型。有適用小型部件的SFT9200、

    有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結(jié)構(gòu)不吻合的功能是本系列的標(biāo)準(zhǔn)裝備。

主要特點(diǎn)：

    是SFT3000系列的后續(xù)機(jī)型。
  1.依據(jù)照明，可以看到以前觀察困難的樣品。
  2.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
  3.運(yùn)用激光聚焦功能簡(jiǎn)單實(shí)現(xiàn)位置的調(diào)整。
  4.微小領(lǐng)域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。（任選）
  5.搭載了焦點(diǎn)切換功能，能夠?qū)τ懈叨鹊臉悠返牡筒糠诌M(jìn)行測(cè)定。（任選）
 
產(chǎn)品規(guī)格：
     

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測(cè)厚規(guī) 測(cè)長(zhǎng)儀 數(shù)碼工程打印機(jī) 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗(yàn)機(jī) 除銹油 美國(guó)施泰力 東京精密 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x 電子天平、水分測(cè)試儀 色差、光澤計(jì) 齒輪測(cè)量?jī)x 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT-110潤(rùn)道總代批發(fā)價(jià)

產(chǎn) 品 說(shuō) 明

概述：

    即放即測(cè)；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量；

    可無(wú)標(biāo)樣測(cè)量；通過(guò)樣品整體圖像更方便選擇測(cè)量位置！

 

主要特點(diǎn)：

  1.通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí)，以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大

    提高樣品定位的操作性。    2.微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

    度提高膜厚測(cè)量的精度。    3.多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件，即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。    4.廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。    5.對(duì)應(yīng)大型印刷線路板（選配） 可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。    6.低價(jià)位 與以往機(jī)型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。

 

產(chǎn)品規(guī)格：

   

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測(cè)厚規(guī) 測(cè)長(zhǎng)儀 數(shù)碼工程打印機(jī) 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗(yàn)機(jī) 除銹油 美國(guó)施泰力 東京精密 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x 電子天平、水分測(cè)試儀 色差、光澤計(jì) 齒輪測(cè)量?jī)x 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT-110，專(zhuān)注金屬厚度測(cè)量

概述：

    即放即測(cè)；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量；

    可無(wú)標(biāo)樣測(cè)量；通過(guò)樣品整體圖像更方便選擇測(cè)量位置！

 

主要特點(diǎn)：

  1.通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí)，以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大

    提高樣品定位的操作性。    2.微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

    度提高膜厚測(cè)量的精度。    3.多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件，即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。    4.廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。    5.對(duì)應(yīng)大型印刷線路板（選配） 可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。    6.低價(jià)位 與以往機(jī)型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。

 

產(chǎn)品規(guī)格：

   

 

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測(cè)厚規(guī) 測(cè)長(zhǎng)儀 數(shù)碼工程打印機(jī) 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗(yàn)機(jī) 除銹油 美國(guó)施泰力 東京精密 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x 電子天平、水分測(cè)試儀 色差、光澤計(jì) 齒輪測(cè)量?jī)x 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT9300系列，潤(rùn)道華南華中總代價(jià)格

概述：

    高速X射線管球的搭載，實(shí)現(xiàn)了高精度的測(cè)定。而且配合極微小準(zhǔn)直器和光學(xué)變焦鏡頭可以實(shí)現(xiàn)

    極微小部分的測(cè)定。更可以對(duì)有高低平面差異的樣品進(jìn)行測(cè)定。

 

主要特點(diǎn)：

  1.搭載了75W高性能X射線管。
  2.搭載標(biāo)準(zhǔn)的Φ50μm微小準(zhǔn)直管（最小Φ15μm）。
  3.容易對(duì)微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。
  4.依據(jù)照明能很容易對(duì)以前觀察困難的樣品進(jìn)行觀察。
  5.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
  6.搭載了焦點(diǎn)切換功能，能夠?qū)τ懈叨鹊臉悠返牡筒糠诌M(jìn)行測(cè)定。
  7.利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動(dòng)平臺(tái)。
  8.運(yùn)用激光聚焦功能簡(jiǎn)單實(shí)現(xiàn)位置的調(diào)整。
 
產(chǎn)品規(guī)格：
     
 

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測(cè)厚規(guī) 測(cè)長(zhǎng)儀 數(shù)碼工程打印機(jī) 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗(yàn)機(jī) 除銹油 美國(guó)施泰力 東京精密 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x 電子天平、水分測(cè)試儀 色差、光澤計(jì) 齒輪測(cè)量?jī)x 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

日立儀器X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT-110華南區(qū)授權(quán)總代理報(bào)價(jià)

   產(chǎn) 品 說(shuō) 明

概述：

    即放即測(cè)；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量；

    可無(wú)標(biāo)樣測(cè)量；通過(guò)樣品整體圖像更方便選擇測(cè)量位置！

 

主要特點(diǎn)：

  1.通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí)，以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大

    提高樣品定位的操作性。    2.微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

    度提高膜厚測(cè)量的精度。    3.多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件，即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。    4.廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。    5.對(duì)應(yīng)大型印刷線路板（選配） 可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。    6.低價(jià)位 與以往機(jī)型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。

 

產(chǎn)品規(guī)格：

   

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測(cè)厚規(guī) 測(cè)長(zhǎng)儀 數(shù)碼工程打印機(jī) 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗(yàn)機(jī) 除銹油 美國(guó)施泰力 東京精密 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x 電子天平、水分測(cè)試儀 色差、光澤計(jì) 齒輪測(cè)量?jī)x 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

日立儀器X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xSFT-110，華南區(qū)總代理

  產(chǎn) 品 說(shuō) 明

概述：

    即放即測(cè)；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測(cè)量；

    可無(wú)標(biāo)樣測(cè)量；通過(guò)樣品整體圖像更方便選擇測(cè)量位置！

 

主要特點(diǎn)：

  1.通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí)，以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦，現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成，大大

    提高樣品定位的操作性。    2.微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

    度提高膜厚測(cè)量的精度。    3.多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件，即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。    4.廣域觀察系統(tǒng)（選配） 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。    5.對(duì)應(yīng)大型印刷線路板（選配） 可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。    6.低價(jià)位 與以往機(jī)型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。

 

產(chǎn)品規(guī)格：

   

 

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 尼康 卡規(guī)、角度尺、水平儀 步距規(guī)、 量塊、測(cè)厚規(guī) 測(cè)長(zhǎng)儀 數(shù)碼工程打印機(jī) 其他各種常用量具 數(shù)顯表、百分表、杠桿表 卡尺、千分尺、微分頭 材料試驗(yàn)機(jī) 除銹油 美國(guó)施泰力 東京精密 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x 電子天平、水分測(cè)試儀 色差、光澤計(jì) 齒輪測(cè)量?jī)x 顯微鏡、內(nèi)窺鏡

日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x

日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x

日立（EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT9500系列產(chǎn)品,搭載了高性能X射線管，實(shí)現(xiàn)了高精度的測(cè)定。FT110A極微小準(zhǔn)直管和可變焦距光學(xué)系統(tǒng)的組合，實(shí)現(xiàn)了對(duì)極微小部分的測(cè)定。對(duì)有段差的樣品也適用。

1．FT9500X搭載了50W高性能X射線管。2．FT9500X搭載毛細(xì)聚焦導(dǎo)管。3．容易對(duì)微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察，F(xiàn)T9500X搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。4．依據(jù)照明能很容易對(duì)以前觀察困難的樣品進(jìn)行觀察。5．FT9500X搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。6．搭載了焦點(diǎn)切換功能，F(xiàn)T9500X能夠?qū)τ懈叨鹊臉悠返牡筒糠诌M(jìn)行測(cè)定。7．FT9500X利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動(dòng)平臺(tái)。7．FT9500X運(yùn)用激光聚焦功能簡(jiǎn)單實(shí)現(xiàn)位置的調(diào)整。 

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 離子色譜儀 X熒光光譜儀

日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x

日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x

日立（主營(yíng)EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT110A系列產(chǎn)品,搭載了高性能X射線管，實(shí)現(xiàn)了高精度的測(cè)定。FT110A極微小準(zhǔn)直管和可變焦距光學(xué)系統(tǒng)的組合，實(shí)現(xiàn)了對(duì)極微小部分的測(cè)定。對(duì)有段差的樣品也適用。

1．FT110A搭載了50W高性能X射線管。2．FT110A搭載標(biāo)準(zhǔn)的Φ50μm微小準(zhǔn)直管（最小Φ15μm）。3．容易對(duì)微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察。FT110A搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。4．依據(jù)照明能很容易對(duì)以前觀察困難的樣品進(jìn)行觀察。5．FT110A搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。6．搭載了焦點(diǎn)切換功能，F(xiàn)T110A能夠?qū)τ懈叨鹊臉悠返牡筒糠诌M(jìn)行測(cè)定。7．FT110A利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動(dòng)平臺(tái)。7．FT110A運(yùn)用激光聚焦功能簡(jiǎn)單實(shí)現(xiàn)位置的調(diào)整。

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 離子色譜儀 X熒光光譜儀

FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)xFT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x

FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x

日立（主營(yíng)EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）,FT110A系列產(chǎn)品,搭載了性能X射線管，實(shí)現(xiàn)了高精度的測(cè)定。FT110A極微小準(zhǔn)直管和可變焦距光學(xué)系統(tǒng)的組合，實(shí)現(xiàn)了對(duì)極微小部分的測(cè)定。對(duì)有段差的樣品也適用。1. 高速測(cè)量：通過(guò)X射線檢測(cè)機(jī)的改良，對(duì)于極具代表性的Au／Pd／Ni／Cu（金／鈀／鎳／銅）多鍍層測(cè)量，相比以前機(jī)型，效率提高了2倍以上。2. 對(duì)應(yīng)超小型的芯片零部件的厚度測(cè)量（FT150h：FT150h通過(guò)最新開(kāi)發(fā)的聚光導(dǎo)管，可以測(cè)量超小型芯片零部件（電容、電阻等）的電極部的鍍層厚度測(cè)量。3. 兼顧安全性和簡(jiǎn)便性：采用防止X射線泄露的密集型框架和大開(kāi)口且可以方便開(kāi)啟和關(guān)閉的樣品門(mén)，兼顧安全性和簡(jiǎn)便性！窮T150L」可以對(duì)應(yīng)最大600×600mm的大型線路板。

X射線熒光鍍層厚度儀「FT150系列」（FT150／FT150h／FT150L）是采用聚光X射線的聚光導(dǎo)管，可對(duì)微小部的鍍層厚度進(jìn)行高速測(cè)量的高性能儀器。通過(guò)X射線檢測(cè)儀器的改良，在線路板和連接器等使用的Au／Pd／Ni／Cu（金／鈀／鎳／銅）多鍍層檢測(cè)中，其測(cè)量速度與本公司以往機(jī)型（FT9500X，以下相同）相比，提高了2倍以上。在「FT150h」里通過(guò)新開(kāi)發(fā)的聚光導(dǎo)管也可以測(cè)量超小型芯片零部件的端子鍍層厚度。而且跟以往機(jī)型相同，為操作員的安全和安心考慮，采用X射線泄露的可能性極小的密集型框架。新設(shè)計(jì)的樣品室門(mén)采用大開(kāi)口，同時(shí)保證了開(kāi)啟和關(guān)閉的便捷性。并且通過(guò)大型觀察窗口，可以方便地取放和定位樣品。另外，操作軟件通過(guò)圖標(biāo)和便捷畫(huà)面在提高了操作性的同時(shí)，可通過(guò)數(shù)據(jù)自動(dòng)保存功能減輕操作員的業(yè)務(wù)。通過(guò)這些改進(jìn)，「FT150系列」實(shí)現(xiàn)了高精度?迅速的鍍層厚度測(cè)量，為測(cè)量工作的效率化和成本削減做出了貢獻(xiàn)。     

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 離子色譜儀 X熒光光譜儀

SFT9400系列X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x

概述：

    SFT9000系列里最好的機(jī)型“SFT9455”，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗(yàn)裝置（半導(dǎo)體檢驗(yàn)裝置十比

    例計(jì)數(shù)管）。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測(cè)定”等所有鍍膜膜厚測(cè)定要求的高性能膜

    厚測(cè)量?jī)x器。而且 “SFT9455”在鍍膜厚度測(cè)量功能的基礎(chǔ)上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。

 

主要特點(diǎn)：

    搭載雙向分離工檢測(cè)器（半導(dǎo)體檢測(cè)器+比例計(jì)數(shù)管）：搭載在X射線能量分辨率上，優(yōu)秀的半導(dǎo)體檢測(cè)器
    （起作用液化氮）和計(jì)數(shù)率優(yōu)秀的比例計(jì)數(shù)管，能夠根據(jù)運(yùn)用需要對(duì)應(yīng)使用。特點(diǎn)是半導(dǎo)體檢測(cè)器，能夠
    區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點(diǎn)：
  1.能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過(guò)濾的情況下進(jìn)行測(cè)定。
  2.對(duì)于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進(jìn)行高精度的Au鍍膜厚度測(cè)定！　　
  3.能夠測(cè)定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。
  4.薄膜FP軟件：對(duì)應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運(yùn)用領(lǐng)域。
  5.適用測(cè)定極微小部分,15μmΦ的準(zhǔn)直管為標(biāo)準(zhǔn)裝備。能夠測(cè)定微小部分鍍膜厚度！　
  6.搭載75W高性能X射線管。
  7.容易對(duì)微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。
  8.能夠測(cè)定大型打印基板的大型平臺(tái)。
  9.依據(jù)照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。
 10.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
 11.利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動(dòng)平臺(tái)。
 12.正確的對(duì)焦,利用激光能夠正確得對(duì)焦測(cè)試樣品。
 13.報(bào)告制作軟件,運(yùn)用微軟的軟件能夠簡(jiǎn)單得把測(cè)定的數(shù)據(jù)制作成書(shū)面材料。
 
產(chǎn)品規(guī)格：
     

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