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WET-SPM系列可控氣氛掃描探針顯微鏡

→手套孔 2個(gè)（兩軸）→泵 旋轉(zhuǎn)泵 渦輪分子泵（選配）→減振機(jī)構(gòu) 內(nèi)裝空氣彈簧式減振臺(tái)

NanoFirst-3100型掃描探針顯微鏡

特點(diǎn) 激光反射式檢測(cè)工作模式輕敲式軟樣品成像能力，生物大分子及粉體納米材料檢測(cè)，超高分辨率輕敲模式、相位模式AFM接觸式形貌測(cè)量，原子力曲線采集顯示STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測(cè)量功能特殊設(shè)計(jì)液體池，具備液體中輕敲式AFM成像能力深度陡度測(cè)量，三維顯示納米材料粗糙度測(cè)量，顆粒粒徑度量及分布統(tǒng)計(jì)實(shí)時(shí)觀測(cè)比照的形貌圖、摩擦力圖、相位圖、靜電力圖、磁力圖實(shí)時(shí)多通道剖面圖顯示專為科研和工業(yè)應(yīng)用設(shè)計(jì)，結(jié)構(gòu)小巧美觀可 選配單分子操縱、局域電性能測(cè)量、納米刻蝕和加工功能DSP全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)潔直觀控制主機(jī)可以采用筆記本電腦，適合課堂現(xiàn)場(chǎng)演示XY二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索感興趣的樣品區(qū)域步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動(dòng)保護(hù)針尖)Windows全中文控制軟件，面 向?qū)ο笤O(shè)計(jì)提供實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)光柵、云母和HOPG樣品組合光學(xué)連續(xù)變倍顯微鏡，獨(dú)特的雙光路照明，樣品觀測(cè)范圍從1nm到20mm 360°彩色CCD成像系統(tǒng)，方便系統(tǒng)調(diào)整，可實(shí)時(shí)樣品錄像 RS232/USB接口，無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡，安裝簡(jiǎn)單迅速 　 技術(shù)指標(biāo) 探頭：樣品尺寸：≤Φ30mm樣品厚度：≤15mmXY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm，可選3μm×3μm， 10μm×10μm，20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μmXY向分辨力：0.4nm(輕敲式)，0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)Z向分辨力：0.05nm(輕敲式,DNA定標(biāo))，0.03nm(AFM,云母定標(biāo))，0.01nm(STM,HOPG定標(biāo))XY二維樣品移動(dòng)平臺(tái)范圍：0~5mm步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動(dòng)保護(hù)針尖)僅需更換探針架，即可切換STM、接觸式AFM、輕敲模式電化學(xué)針尖塊，液體池，液體輕敲式AFM成像功能(選配)44～283X連續(xù)變倍彩色CCD觀察顯微系統(tǒng)全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)精密隔震平臺(tái)(選配) 電子學(xué)控制器：XYZ控制：18-bit D/A數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D 、雙16-bit A/D多路同步采樣Z向反饋：DSP數(shù)字反饋反饋采樣速率：64.0kHz高壓放大器：集成高壓運(yùn)算放大器，最大電壓范圍±170V正弦波頻率掃描范圍：0~1000000Hz正弦波幅度范圍：0~10.0V最大掃描率：〉40000點(diǎn)/秒掃描角度：0~360° 掃描偏移：任意 圖像采樣點(diǎn)：256×256或512×512步進(jìn)馬達(dá)控制：手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退計(jì)算機(jī)接口：RS232/USB口 計(jì)算機(jī)軟件： 運(yùn)行于中文Windows 98/2000/XP操作系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)視窗工作界面AFM輕敲模式、相位模式AFM接觸模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能STM恒流模式、恒高模式功能(STM)多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖智能識(shí)別和控制系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)DSP全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集AFM激光檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能針尖共振峰自動(dòng)搜索功能頻率-RMS（f-RMS）曲線測(cè)量功能RMS-間隙（RMS-Z）曲線測(cè)量功能原子力-間距（F-Z）曲線測(cè)量功能(AFM)電流-電壓隧道譜（I-V曲線）測(cè)量功能(STM)隧道電流-間隙（I-Z曲線）測(cè)量功能(STM)靜電力成像模式功能（選配）磁力成像模式功能（選配）支持步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)驅(qū)進(jìn)到掃描器中心支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正樣品傾斜度線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能實(shí)時(shí)調(diào)整本底及比例定點(diǎn)實(shí)時(shí)測(cè)試I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)、RMS-Z功能鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能用戶任意定義調(diào)色板功能圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能圖像在線瀏覽，連續(xù)圖像獲取文件動(dòng)態(tài)重現(xiàn)，納米電影功能圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式（選配）完備的在線式智能提示及全程幫助樣品粒度、粗糙度分析標(biāo)準(zhǔn)離線分析和處理功能 增加第二顯示器（選配）

SPM-9600掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡 SPM-9600

 

  • 清晰的觀察圖像 SPM-9600在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能，具備了的信號(hào)處理功能，再加上研發(fā)的VBDF（Variable Bandwidth Digital Filter）功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率，更高質(zhì)量的觀察圖像。SPM-9600是一種的換代產(chǎn)品。
  • 豐富的檢測(cè)模式 標(biāo)準(zhǔn)配置模式包括接觸，動(dòng)態(tài)和位相三種模式。 擴(kuò)展模式包括：力調(diào)制、側(cè)向力，磁力（MFM）、電流、表面電勢(shì)（KFM）等檢測(cè)模式，并能和納米壓痕儀與Q調(diào)制系統(tǒng)聯(lián)用，可以輕松地升級(jí)到可控氣氛模式。無(wú)論是初學(xué)者還是專家都可輕松使用。
  • 簡(jiǎn)便快捷的操作 SPM-9600的操作界面簡(jiǎn)明易懂。軟件的自動(dòng)化功能幫助用戶都能輕松操作。并具備防振動(dòng)、噪聲的結(jié)構(gòu)，可不受外界干擾，快速地觀察各種樣品。 
  • 可擴(kuò)展到控制氣氛SPM 通過(guò)追加選配件控制氣氛腔，可升級(jí)到控制氣氛型掃描探針顯微鏡WET-SPM系列。 
    此照片表示一種組合例 >> SPM 2.gif

 

  • 主要技術(shù)規(guī)格
    測(cè)定模式 標(biāo)準(zhǔn)：接觸、動(dòng)態(tài)、相位
      選配模式：力調(diào)制模式、電流模式、磁力（MFM）模式、表面電位模式（KFM）、水平力模式（LFM）
    分辨率 水平0.2nm　垂直0.01nm
    最大掃描范圍（X/Y/Z） 30μm×30μm×5μm（標(biāo)準(zhǔn)）
      125μm×125μm×7μm（選配）
      55μm×55μm×13μm（選配）
    最大樣品形狀 24mm × 8mm
    樣品裝載方式 頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu)
    分束器滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 內(nèi)置在AFM頭內(nèi)
  ■ 設(shè)置室的環(huán)境 　   設(shè)置室理想的空調(diào)條件如下。 　   溫度　23°±5℃ 　  濕度　60%以下  ■ 電源  運(yùn)行本裝置需要如下電源。 　   單相 100V-120V　50/60Hz　10A　1路  接地　第3種地線  ■ 裝置的尺寸和重量  SPM單元 W180×D255×H260mm 5.5kg  控制單元 W250×D420×H454mm 18.5kg 

（SPM）- SPI 4000系列掃描探針顯微鏡

SPA-400多功能掃描探針顯微鏡主要特點(diǎn)：    ＊ 實(shí)現(xiàn)了更加小型化的系統(tǒng)，提高了耐用性，可穩(wěn)定地進(jìn)行高分辨測(cè)定；     ＊ 可以實(shí)現(xiàn)更高速度的掃描；     ＊ 精密的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和新技術(shù)的采用了儀器具有原子級(jí)高分辨率和高重復(fù)性；     ＊ 克服了傳統(tǒng)SPM操作中需進(jìn)行的繁鎖調(diào)節(jié)和設(shè)置，即使是對(duì)于初學(xué)者來(lái)說(shuō)儀器的操作都非常簡(jiǎn)便；     ＊ 具有優(yōu)良隔音性能的防音罩，在苛刻的環(huán)境中，也能進(jìn)行高分辨率的測(cè)定；     ＊ 使用光學(xué)顯微鏡從正上方觀察，且光學(xué)顯微鏡圖象被顯示在顯示器上，因此很容易進(jìn)行激光光軸的調(diào)整及使探頭與試樣位置相吻合。     ＊ 可進(jìn)行諸多標(biāo)準(zhǔn)功能和擴(kuò)展功能的測(cè)量（如AFM，MFM，SMM等）SPA-300HV多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡    SPA-300HV是在高真空或氣體環(huán)境等特殊環(huán)境中，為測(cè)定試樣的微細(xì)形狀和原子,分子的配列而開(kāi)發(fā)的SPM 單元。它具有下列特點(diǎn)：     ＊ 備有適合真空狀態(tài)下的樣品腔;可在高真空度或不同氣氛環(huán)境中進(jìn)行SPM測(cè)定; 還可以進(jìn)行低溫下和高溫下的SPM測(cè)定等；    ＊ 磁懸浮分子泵與標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)械泵一同使用，短時(shí)間內(nèi)就可達(dá)到高真空狀態(tài)，振動(dòng)極小，運(yùn)行中也可能進(jìn)行SPM測(cè)定；     ＊ 進(jìn)的電化學(xué)和液體中成像系統(tǒng)等；    ＊ 具有上述SPA-400所有的標(biāo)準(zhǔn)功能和擴(kuò)展功能。 若需詳細(xì)資料請(qǐng)向我們聯(lián)系

NanoFirst-3100掃描探針顯微鏡

儀器特點(diǎn) ：

計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀。 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖－－樣品逼近，實(shí)驗(yàn)圓滿成功。 深度陡度測(cè)量，三維顯示。 納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。 Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域． 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡 樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。 掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒 可選配納米刻蝕功能模塊。  技術(shù)指標(biāo) ：

SPM探頭 樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。 XY最大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米 XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式) Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式) XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米 步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近 44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配) 電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配） 全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)）  電子學(xué)控制器 ：

XTZ控制 18-Bit D/A 數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 Z向反饋 DSP數(shù)字反饋 反饋采樣速率 64.0KHz 高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器，最大電壓范圍+/-150V 頻率范圍 20K-1000KHz 幅度范圍 0-10.0V 掃描速率 >40000點(diǎn)/秒 掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào) 掃描偏移 任意 圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512 步進(jìn)馬達(dá)控制 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退 計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB

SPM-9700SPM-9700掃描探針顯微鏡

     掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡(jiǎn)單的新一代掃描探針顯微鏡。•頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 高穩(wěn)定性&高速分析處理•鼠標(biāo)操作即可實(shí)現(xiàn)豐富的3D圖像顯示•從觀察到分析實(shí)現(xiàn)無(wú)拘無(wú)束的可操作性•滿足所有要求的功能和擴(kuò)展性•粒度分析軟件（選配）•超微小硬度計(jì)復(fù)合型SPM系統(tǒng)SPM+TriboScope（TriboScope為美國(guó)Hysitron公司產(chǎn)品） 可以進(jìn)行極薄膜的硬度試驗(yàn)和壓痕試驗(yàn)。•微小部熱分析試驗(yàn)儀器復(fù)合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進(jìn)行樣品表面的三維形貌觀察和點(diǎn)的熱分析。 

該公司產(chǎn)品分類： 光譜儀 分析儀 顯微鏡

俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針顯微鏡原子力顯微鏡

NTEGRA Prima的標(biāo)準(zhǔn)配置包括在大氣環(huán)境甚至液體環(huán)境中得到原子分辨圖像的基本配置。NTEGRA Prima不僅提供了所有傳統(tǒng)技術(shù)，例如形貌、相位、磁力測(cè)量，它還包括許多NT-MDT的技術(shù)，例如，NT-MDT掃描電容顯微鏡，它以的精度（1aF）對(duì)樣品表面電荷載流子濃度的變化進(jìn)行成像，創(chuàng)造了電容測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。NT-MDT的另一項(xiàng)專有技術(shù)原子力聲學(xué)顯微鏡（AFAM），是對(duì)彈性進(jìn)行研究的工具，它只需附加一個(gè)簡(jiǎn)單易安裝的附件。AFAM利用局域彈性，可以對(duì)疇和結(jié)構(gòu)進(jìn)行直接的、非破壞性的成像，還可以對(duì)楊氏模量和其它如粘彈力、摩擦力在內(nèi)的表面參數(shù)進(jìn)行直接、定量地測(cè)量。

在原子尺度工作時(shí)，定位精度非常的關(guān)鍵。為了確保精度，所有NTEGRA 系列產(chǎn)品都特別的設(shè)計(jì)了內(nèi)置、閉環(huán)的電容傳感器。即使當(dāng)掃描區(qū)域小到50×50nm，因其超低的噪音水平（典型值小于0.1nm）仍然能在使用內(nèi)置傳感器的情況下對(duì)樣品表面進(jìn)行成像和修飾。的掃描反饋確？筛呔鹊亩繙y(cè)量針尖和樣品表面間的相互作用力。

對(duì)于NTEGRA而言，NTEGRA Prima 僅僅只是一個(gè)基礎(chǔ)、核心，它所創(chuàng)建的納米實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)了開(kāi)放的硬件、軟件和信號(hào)集成的結(jié)構(gòu)，為與其它儀器集成提供了接口和平臺(tái)。它可以和光譜儀、超薄切片機(jī)、大規(guī)模篩選（high-throughput screening）以及加熱附件等結(jié)合，形成新一代的集成分析儀器。無(wú)論你需要的是簡(jiǎn)單的還是更加的完善和復(fù)雜的SPM，NTEGRA Prima都能提供良好的平臺(tái)，你成功的成像和測(cè)量。

特色介紹

l       裝有一個(gè)帶集成電容傳感器的可更換掃描器，可獲得的掃描范圍：100x100x12 µm

l       雙掃描模式（DualScan）是NT-MDT獨(dú)有的技術(shù)，它采用一個(gè)可更換的底部掃描器（100x100x12µm）和一個(gè)頂部掃描器（100x100x10μm），使總的掃描范圍達(dá)到：200x200x22μm；

l       XY非線性：校正后，峰峰值0.05%，在整個(gè)掃描范圍內(nèi)，X-Y平面的定位精度保持在10-20納米內(nèi)；

l       NTEGRA的控制器和機(jī)械部件可以在高達(dá)5 MHz的高頻下工作，因此儀器可以使用高共振頻率的懸臂，從而得到更加的圖像；同樣這使得原子力聲學(xué)顯微鏡（AFAM）的應(yīng)用成為可能。該系統(tǒng)可以用于研究高電阻材料，例如半導(dǎo)體上的薄膜絕緣層、DLC和壓電薄膜、導(dǎo)電聚合物等。

l       低熱漂移和熱穩(wěn)定性（特殊材料：鈦）

l       友好的操作軟件和強(qiáng)大的腳本語(yǔ)言控制——NT-MDT獨(dú)有

l       光學(xué)垂直方向分辨可達(dá)0.4um （使用高數(shù)值孔徑的頭部）, 可倒置觀察樣品——NT-MDT獨(dú)有

l       整體設(shè)計(jì)的液體池，可選配加熱裝置和超小液體池（200微升）

l       納米刻蝕操作軟件

l       整體設(shè)計(jì)的防磁、防電、防聲屏蔽罩

l       低真空操作環(huán)境可選

l       內(nèi)置濕度、溫度傳感器，LCD液晶顯示

l       通氣孔設(shè)計(jì)可提供氣體控制

l       對(duì)樣品尺寸無(wú)限制

3．應(yīng)用介紹

生物學(xué)和生物技術(shù)蛋白質(zhì)、 DNA、病毒、細(xì)菌、組織等 材料科學(xué)表面形貌形態(tài)、壓電性質(zhì)、粘滯力分析、摩擦特性分析等 磁材料磁疇結(jié)構(gòu)成像、觀察因外部磁場(chǎng)引起的磁性的反轉(zhuǎn)、不同溫度下的磁結(jié)構(gòu)變化等 半導(dǎo)體和電學(xué)性質(zhì)測(cè)量硅片等材料的表面形貌、表面電勢(shì)和電容測(cè)量、表面電荷分布圖、摻雜濃度分析、失效分析（局域?qū)щ娦院徒^緣層漏電流） 聚合物和有機(jī)薄膜球狀或柱狀晶體、聚合物單晶材料、聚合物納米顆粒、LB 膜、有機(jī)薄膜等 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)CD, DVD 盤 納米材料納米粉體、納米復(fù)合材料、納米多孔材料、 納米結(jié)構(gòu)材料    富勒烯、碳納米管、納米絲、納米膠囊

納米電子學(xué)量子點(diǎn)、納米線、量子結(jié)構(gòu) 納米機(jī)械學(xué)AFM 納米刻蝕：力（直流電和交流電）、電流（局部陽(yáng)極氧化）、STM 納米刻蝕 納米操縱接觸力   1.      NTEGRA-Prima

NT-MDT獨(dú)有的雙掃描模式（DualScan）使總的掃描范圍達(dá)到：200x200x22μm，對(duì)樣品尺寸幾乎無(wú)限制

 這套系統(tǒng)可以用于研究高電阻的材料，例如在半導(dǎo)體基體上的絕緣薄膜，DLC和壓電薄膜，導(dǎo)電聚合物等

This system can be used in research of high-resistance materials such as thin dielectric layers on semiconductors, DLC ａnd piezo-films, conductive polymers etc.

2.      NTEGRA-Aura

NTEGRA Aura allows measurements in low vacuum environment,

Additional possibilities are provided by a temperature table with sample heating up to 300 oC degree Celsius ａnd the accuracy of temperature maintenance 0.05 oC.Measurements in a controlled gas atmosphere are possible as well.

3.      NTEGRA-Vita

可選用不同的液體槽：密封的化學(xué)穩(wěn)定的液體槽，可以進(jìn)行升溫控制；用于在培養(yǎng)皿中進(jìn)行操作的封閉式液體槽；可更換的加熱器。

Different liquid cells are available: hermetic chemically stable liquid flow cell with a possibility of the temperature control at elevated temperatures; closed liquid flow temperature controlled cell for operating with Petri dishes; replaceable heater

4.      NTEGRA-Maximus

NTEGRA Maximus 基座是一個(gè)帶有傳動(dòng)平臺(tái)的可更換的中央部件。樣品在50mm內(nèi)可在XY方向上自由移動(dòng)，且可以進(jìn)行0-360度旋轉(zhuǎn)。

NTEGRA Maximus basement is a changeable center unit with a motorized stage. Sample movement is possible within 50mm by X,Y ａnd within 0-360 degrees under rotation

許多小樣品也可以在 NTEGRA Maximus上進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，且提供高質(zhì)量的成像效果。

Automated measurements of many small samples are also possible with NTEGRA Maximus enabling high throughput screening.

5.      NTEGRA-Solaris

集成到中央基座上的倒置式顯微鏡使系統(tǒng)具有高的剛性，了系統(tǒng)的穩(wěn)定性，從而不僅可以獲得高質(zhì)量的成像效果，且可進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的研究。

The integrating of the inverted microscope objective into the central base because of high mechanical rigidity provides stability of the system making quality images ａnd long-term experiments possible

6.      NTEGRA-Spectra

通用的PNL平臺(tái)為將掃描共聚焦顯微鏡、常規(guī)的AFM和分光鏡聯(lián)用提供了可能性，從而可以探測(cè)拉曼散射光譜，進(jìn)而可以得到很多與樣品化學(xué)組成有關(guān)的復(fù)雜信息。

The universal PNL platform provides the possibility to integrate scanning confocal scheme in combination with regular AFM ａnd spectrometer to detect Raman scattering spectrum. This spectra may then be interpreted into complex information concerning chemical composition of the object.

7.      NTEGRA-Therma

專用的熱學(xué)頭部可提供非常低的熱漂移（小于10 nm/°C），了針尖-樣品系統(tǒng)的穩(wěn)定性。這樣可以對(duì)樣品表面選定的點(diǎn)進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的研究。

Special Thermo head provides extremely low thermal drift （less than 10 nm/癈） ensuring high stability of the tip-sample system. This allows long-term measurements to be done in pre-defined point on the specimen surface.

8.      NTEGRA-Tomo

超薄切片機(jī)可以制備用于原子力顯微鏡研究的納米片層和新鮮表面。因此，可以研究表面的物理性質(zhì)和重構(gòu)后的3維圖像經(jīng)過(guò)NTEGRA Tomo處理后的片狀樣品可以用于透射電鏡分析。

 Ultramicrotome makes nanoslices of a sample ａnd a freshly cut surface is then measured by AFM. Thus, many physical properties of a surface are studied ａnd 3D-volume imaging is available after the reconstruction.  After the NTEGRA Tomo operation sample slices stay available for TEM analysis

 

該公司產(chǎn)品分類： 顯微鏡 其它光學(xué)測(cè)量?jī)x 其他試驗(yàn)機(jī) 紅外光譜(IR、傅立葉) 活體成像系統(tǒng) 光鑷（光學(xué)鑷子） 白光干涉測(cè)厚儀 激光拉曼光譜(RAMAN) 激光共聚焦顯微鏡 X射線衍射儀(XRD) 紅外顯微鏡 其它常用設(shè)備 紫外臭氧清洗儀 掃描電鏡（SEM） 激光粒度儀、納米粒度儀 納米壓痕儀、劃痕儀 電子/半導(dǎo)體 電鏡附件及外設(shè) 透射電子顯微鏡（透射電鏡、TEM） 電子束刻蝕系統(tǒng)

SPM-9700島津掃描探針顯微鏡SPM-9700

產(chǎn)品信息

探知未來(lái) 掃描探針顯微鏡（SPM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過(guò)高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡(jiǎn)單的新一代掃描探針顯微鏡。
樣品交換時(shí)也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性，分析時(shí)間也大幅度縮短。

可從不同角度放大拉伸圖像進(jìn)行確認(rèn)。鼠標(biāo)操作簡(jiǎn)單，更可進(jìn)行3D斷面形狀分析。
   

按照操作指南指導(dǎo)操作順序，使用導(dǎo)航功能直接鎖定觀察位置，實(shí)現(xiàn)了SPM的快速簡(jiǎn)便的觀察

具備豐富的測(cè)定模式和的擴(kuò)展性，可對(duì)不同硬度、不同導(dǎo)電性能等各式樣品進(jìn)行觀察分析。
 控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM 可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進(jìn)行樣品處理，并直接進(jìn)行SPM觀察。 選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。
 粒度分析軟件 從圖像數(shù)據(jù)中選取復(fù)數(shù)顆粒，對(duì)每一顆粒進(jìn)行特征量的計(jì)算，并進(jìn)行分析、顯示，以及及進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。
 

 超微小硬度計(jì)復(fù)合型SPM系統(tǒng)SPM+TriboScope（TriboScope為美國(guó)Hysitron公司產(chǎn)品） 可以進(jìn)行極薄膜的硬度試驗(yàn)和壓痕試驗(yàn)。  微小部熱分析試驗(yàn)儀器復(fù)合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進(jìn)行樣品表面的三維形貌觀察和點(diǎn)的熱分析。

觀察模式 標(biāo)準(zhǔn)

接觸模式 動(dòng)態(tài)模式 相位模式 水平力模式（LFM） 力調(diào)制模式 矢量掃描模式
選購(gòu)件 磁力（MFM）模式） 電流模式 表面電位（KFM）模式
分辨率 XY 0.2 nm
Z 0.01 nm
AFM頭部 位移監(jiān)測(cè)系統(tǒng) 光源/光杠桿/檢測(cè)器
光源 激光二極管（On/Off均可） 更換樣品無(wú)需調(diào)整光路
檢測(cè)器 光敏二極管
掃描器 驅(qū)動(dòng)元件 管狀壓電元件
最大掃描范圍 （X*Y*Z） 30μm×30μm×5μm　（標(biāo)準(zhǔn)） 125μm×125μm×7μm。ㄟx購(gòu)） 55μm×55μm×13μm　（選購(gòu)） 2.5μm×2.5μm×0.3μm。ㄟx購(gòu)）
樣品臺(tái) 最大樣品形狀 φ24mm×8mm
樣品裝載方式 頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 懸臂安裝狀態(tài)下可直接裝載樣品
樣品固定方式 磁性固定
Z軸驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu) 驅(qū)近方式 全自動(dòng)驅(qū)近
最大可驅(qū)近范圍 10mm
信號(hào)顯示板 顯示量 檢測(cè)器的總?cè)肷涔饬浚〝?shù)字顯示）
減震機(jī)構(gòu) 減震臺(tái) SPM單元內(nèi)置
光學(xué)顯微鏡觀察 方式 分束器滑動(dòng)機(jī)構(gòu)
專用風(fēng)擋 方式 無(wú)需或者使用氣氛控制腔體
氣氛控制 方式 無(wú)需改造SPM單元可直接導(dǎo)入氣氛腔體

 

該公司產(chǎn)品分類： EO滅菌柜 環(huán)氧乙烷滅菌器 頂空氣相色譜 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì) 環(huán)氧乙烷殘留量檢測(cè)儀 環(huán)氧乙烷滅菌柜 環(huán)氧乙烷滅菌器 儀器租賃 泰斯肯掃描電鏡 萊伯泰科 電感銷售 海光儀器 二手儀器回收 二手儀器銷售 二手儀器銷售和回收 儀器維修保養(yǎng) 賽默飛世爾（熱電） 韓國(guó)賽可儀器 瑞士萬(wàn)通儀器 日本精工儀器

WET-SPM系列可控氣氛掃描探針顯微鏡

→手套孔 2個(gè)（兩軸）→泵 旋轉(zhuǎn)泵 渦輪分子泵（選配）→減振機(jī)構(gòu) 內(nèi)裝空氣彈簧式減振臺(tái)

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