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SPA-400多功能掃描探針顯微鏡主要特點：    ＊ 實現(xiàn)了更加小型化的系統(tǒng)，提高了耐用性，可穩(wěn)定地進行高分辨測定；     ＊ 可以實現(xiàn)更高速度的掃描；     ＊ 精密的結(jié)構(gòu)設計和新技術的采用了儀器具有原子級高分辨率和高重復性；     ＊ 克服了傳統(tǒng)SPM操作中需進行的繁鎖調(diào)節(jié)和設置，即使是對于初學者來說儀器的操作都非常簡便；     ＊ 具有優(yōu)良隔音性能的防音罩，在苛刻的環(huán)境中，也能進行高分辨率的測定；     ＊ 使用光學顯微鏡從正上方觀察，且光學顯微鏡圖象被顯示在顯示器上，因此很容易進行激光光軸的調(diào)整及使探頭與試樣位置相吻合。     ＊ 可進行諸多標準功能和擴展功能的測量（如AFM，MFM，SMM等）SPA-300HV多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡    SPA-300HV是在高真空或氣體環(huán)境等特殊環(huán)境中，為測定試樣的微細形狀和原子,分子的配列而開發(fā)的SPM 單元。它具有下列特點：     ＊ 備有適合真空狀態(tài)下的樣品腔;可在高真空度或不同氣氛環(huán)境中進行SPM測定; 還可以進行低溫下和高溫下的SPM測定等；    ＊ 磁懸浮分子泵與標準的機械泵一同使用，短時間內(nèi)就可達到高真空狀態(tài)，振動極小，運行中也可能進行SPM測定；     ＊ 進的電化學和液體中成像系統(tǒng)等；    ＊ 具有上述SPA-400所有的標準功能和擴展功能。 若需詳細資料請向我們聯(lián)系

OpenSys 系列掃描探針顯微鏡主要性能介紹 單一探頭的多功能平臺結(jié)構(gòu)，集成掃描隧道、原子力、摩擦力和靜電力顯微鏡功能，工作模式包括接觸、輕敲、相移成像等 獨特的探針類型和掃描器的編碼——解碼智能識別技術，全數(shù)字控制的參數(shù)設置和采集 數(shù)字控制反饋回路，16-bit分辨的A/D和D/A 采用單一的外觸發(fā)時基和高速緩存，實現(xiàn)多通道信號的高速同步采集 采用基于TCP/IP協(xié)議的高速通信接口，實現(xiàn)雙處理器——雙操作系統(tǒng)的 協(xié)同工作和大容量高速數(shù)據(jù)交換，使系統(tǒng)具有極大的開放性 系統(tǒng)內(nèi)部預留多個可供輸入/輸出信號的處理通道，具有方便的擴展能力 系統(tǒng)外部預留標準開放接口，滿足用戶對儀器進行二次開發(fā)的需求 具有I-V曲線和力曲線等測量分析功能 具有圖形刻蝕模式和矢量掃描模式的納米加工技術 具備超媒體用戶界面的納米操縱工具 用戶控制端軟件兼容Windows 9X/ME/NT/2000/XP操作系統(tǒng) 分析處理軟件在數(shù)據(jù)類型識別方面采用固定編碼和動態(tài)編碼兩種技術，實現(xiàn)系統(tǒng)的開放性和可擴展性 掃描區(qū)域多種分辨率選擇及高度、對比度的實時調(diào)整，可連續(xù)采集、存儲和重現(xiàn)動態(tài)過程 實時定點測試功能 方便的鼠標控制掃描區(qū)域平移、剪切功能，掃描角度連續(xù)可調(diào)，多種樣品傾斜度實時校正功能 樣品粒度和粗糙自動分析功能 　 性能指標 分辨率： STM：橫向 0.13nm 垂直 0.01nm（以石墨定標） AFM：橫向 0.26nm 垂直 0.1nm （以云母定標） 電流檢測靈敏度：≤10pA 力檢測靈敏度： ≤1nN 空間定位精度： ≤0.5nm 預留輸出信號通道數(shù)：6ch （1ch±200V，5ch±10V，16-bit DAC） 預留輸入信號通道數(shù)：16ch （100kHz采樣率，16-bit ADC，帶可控低通濾波器和可控增益放大器） 預留頻率合成輸出： 2ch （振幅為0～2V；頻率為DC～1000kHz，32-bit分辨） 　 OpenSys 系列掃描探針顯微鏡包括如下標配或選配件 集成STM、AFM和LFM等多種模式的掃描探頭 在線控制/后處理軟件 主流配置微機，預裝Windows操作系統(tǒng) 1μm × 1μm Scanner 20μm × 20μm Scanner 50μm × 50μm Scanner（選配） 70μm × 70μm Scanner（選配） 100μm×100μm Scanner（選配） 光學輔助顯微系統(tǒng)（選配） 可附加第二顯示器（選配）

• 技術參數(shù)

• 標準型掃描器 XY：20μm，Z：2μm 分辨能力 XY：0.2nm, Z： 0.01nm（可實現(xiàn)原子級分辨） 

• 主要特點

• 測試功能：

  ＊ 形貌測量：接觸式AFM、輕敲式Tapping、掃描隧道STM； ＊ 微摩擦力研究：FFM功能、切向調(diào)制摩擦力LM-FFM功能，摩擦力曲線；  ＊ 微觀磁力研究：高分辨磁力顯微鏡MFM功能；  ＊ 表面納米加工：Vector Scan和Raster Lithography功能，實現(xiàn)探針定向刻蝕和制作復雜圖像；  ＊ 高分子材料分析：Phase模式、力曲線、粘彈性模式、微區(qū)粘性模式；  ＊ 電性學能分析：表面電位勢測量模式、靜電力模式、壓電響應力模式、掃描電容成像模式、同時電流測量模式、電流隧道譜模式； ＊ 生物領域：液體中AFM/Tapping模式、力曲線、支持封閉液體樣品池； ＊ 電化學領域：EC-AFM/STM功能。

• 儀器介紹

• 世界原子力顯微鏡（掃描探針顯微鏡），客戶已遍及國內(nèi)眾多重點高校和科研機構(gòu)，依的品質(zhì)和的技術服務，受到客戶的好評！ 其他相關產(chǎn)品：

  1.多功能掃描探針顯微鏡：用于測量各種材料表面高精度成像外，還能表征多種材料如無機物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復合材料和生物材料的多種物性，包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢、靜電力、壓電響應、電流像、電流隧道譜、電容等等，還能進行納米尺度的加工及力學性質(zhì)的表征，能在大氣、液體及電化學條件下測量。

  2.新型多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡：目前全球商用的一款真正專業(yè)級高真空環(huán)境控制型SPM， 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)所有功能；而且掃描在封閉的Chamber中進行，可對測量的環(huán)境（高真空、高溫、低溫、液體、電化學等）進行控制； 可連續(xù)變溫，低溫達-120℃，高溫可達800度；

  3.大尺寸樣品掃描探針顯微鏡： 大尺寸φ200mm樣品的微區(qū)（微米至納米量級）形貌及其物理特性進行觀測分析。適用于測量各種光盤（DVD，CD，HD等）、磁盤、半導體、微電子及其他大尺寸的樣品。

  4.低溫掃描霍爾顯微鏡（LT-SHPM，低溫霍爾顯微鏡）：該系統(tǒng)可與多種低溫杜瓦聯(lián)用，實現(xiàn)低溫1K~300K溫度范圍內(nèi)樣品表面微區(qū)磁場分布定量化圖像化分析，樣品尺寸達15＊15＊5mm，微區(qū)磁化性能B-H曲線和M-H曲線測量，實時測量動態(tài)磁化現(xiàn)象，支持擴展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能，磁場高達16T； 5.多功能PPMS掃描探針顯微鏡（PPMS-SPM）：該系統(tǒng)可與現(xiàn)有的幾乎所有的PPMS系統(tǒng)（物性測量系統(tǒng)，如 Quantum Design,Inc. ）聯(lián)用，實現(xiàn)AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等測量功能，并且可在溫度范圍2K~300K和磁場高達16T條件下，高分辨成像；　 6.mK 超低溫掃描探針顯微鏡（mK-SPM，超低溫原子力顯微鏡）：該系統(tǒng)可與牛津儀器的Dilution低溫杜瓦和He3系統(tǒng)，或者其他mK系統(tǒng)聯(lián)用，實現(xiàn)mK~300K溫度范圍高分辨樣品表面成像；主要測量功能STM、接觸式AFM、非接觸式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等，磁場高達16T；

主要特點：

·    獨有的閉環(huán)掃描控制，在開環(huán)噪聲水平上提供三維精確測

·    高分辨光學系統(tǒng)輔助精確探針定位

·    快速更換探針, 開放的樣品臺設計使得使用更方便，更容易

·    擁有所有SPM操作模式，為科學研究提供更高的應用靈活性

·    卓越的信號讀錄與輸入功能便于用戶自己設計研究方法