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FT-330系列普通四探針電阻率測試儀

FT-330系列普通四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.

FT-330系列普通四探針電阻率測試儀本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

FT-330系列普通四探針電阻率測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等FT-330系列普通四探針電阻率測試儀

規(guī)格型號	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方塊電阻范圍	10^-5～2×10⁵Ω/□	10^-4～2×10³Ω/□	10^-3～2×10⁵Ω/□	10^-3～2×10³Ω/□	10^-2～2×10⁵Ω/□	10^-2～2×10³Ω/□
2.電阻率范圍	10^-6×10⁶Ω-cm	10^-5×10⁴Ω-cm	10^-4～2×10⁶Ω-cm	10^-4～2×10⁴-cm	10^-3～2×10⁶Ω-cm	10^-3～2×10⁴-cm
3.測試電流范圍	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	10μA，100µA，1mA，10mA， 100 mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度	±0.1%讀數(shù)	±0.2%讀數(shù)	±0.2%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)	±0.3%讀數(shù)
5.電阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數(shù)	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率
9.整機不確定性誤差	≤4%（標準樣片結果）
10.選購功能	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺
11.測試探頭	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

該公司產(chǎn)品分類：超高阻四探針電阻率測試儀超低阻四探針電阻率測試儀表面/體積電阻率測試儀電導率測試儀材料電阻率測試儀電線電纜電阻率測試儀雙電四探針電阻率測試儀電壓降測試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測試儀線束電壓降測試儀插頭電壓降測試儀高溫絕緣電阻率測試儀高溫導電材料電阻率測試儀高溫四探針電阻率測試儀高溫粉末電阻率測試儀電壓降測試儀四探針測試儀

FT-346雙電測四探針電阻率測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

FT-346雙電測四探針電阻率測試儀參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10^-2～2×10⁵Ω/□

2.電阻率范圍：10^-3～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺

11.測試探頭：探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

FT-346雙電測四探針電阻率測試儀

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原

該公司產(chǎn)品分類：粉體強度測試儀電絕緣性測試儀粒度儀比重計真密度儀密度儀密度計鹵素水分儀水分計水分儀水分儀壓實密度壓實密度測定儀壓實密度測試儀電壓降測試儀高溫電阻率測試儀高阻計絕緣材料電阻率測試儀絕緣材料電阻測試儀表面體積電阻測試儀

型號:CN61M251813 便攜式四探針電阻率測試儀

便攜式四探針電阻率測試儀型號:CN61M251813

概述便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到國家標準一級機的水平。測量范圍：可測量電阻率：0.01～199.9Ω•cm。可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口當被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片（3）直流數(shù)字電壓表測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個字）（4）供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5）使用環(huán)境：相對濕度≤80% （6）重量、體積重量：2.2 公斤體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC

型號:CN61M251813便攜式四探針電阻率測試儀型號:CN61M251813

便攜式四探針電阻率測試儀型號:CN61M251813

概述便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到國家標準一級機的水平。測量范圍：可測量電阻率：0.01～199.9Ω•cm。可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口當被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片（3）直流數(shù)字電壓表測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個字）（4）供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5）使用環(huán)境：相對濕度≤80% （6）重量、體積重量：2.2 公斤體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC 　

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M251813便攜式四探針電阻率測試儀型號:M251813

便攜式四探針電阻率測試儀型號:M251813

概述便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到國家標準一級機的水平。測量范圍：可測量電阻率：0.01～199.9Ω•cm。可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口當被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。（2）恒流源：輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片（3）直流數(shù)字電壓表測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個字）（4）供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5）使用環(huán)境：相對濕度≤80% （6）重量、體積重量：2.2 公斤體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC 　

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DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀，便攜式四探針電阻率檢測儀

便攜式四探針電阻率測試儀便攜式四探針電阻率檢測儀

型號:DL04-KDY-1A

概述

便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。

它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。

為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到國家標準級機的水平。

測量范圍：

可測量電阻率：0.01～199.9Ω•cm。

可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口

當被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。

（2）恒流源：

輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔

10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)

10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)

恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%

適合測量各種厚度的硅片

（3）直流數(shù)字電壓表

測量范圍：0～199.9mv

靈敏度：100μv

準確度：0.2%（±2個字）

（4）供電電源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

（5）使用環(huán)境：

相對濕度≤80%

（6）重量、體積

重量：2.2 公斤

體積：寬210×高100×深240（mm）

（7）KD探針頭

壓痕直徑：30/50μm

間距：1.00mm

探針合力：8±1N

針材：TC

該公司產(chǎn)品分類：教學儀器照度光譜系列邏輯棒/筆測氡儀氧氣檢測儀氫氣檢測報警儀氣體檢測報警儀熏蒸氣體檢測儀空氣質(zhì)量檢測儀垃圾場氣體檢測酒精測試儀有毒氣體檢測儀甲烷檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀復合氣體檢測儀苯檢測儀揮發(fā)性有機氣體臭氧檢測分析儀甲醛檢測/分析氧氣檢測報警儀

DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀, 便攜式四探針電阻率測量儀

便攜式四探針電阻率測試儀便攜式四探針電阻率測量儀便攜式四探針電阻率檢測

型號:DL04-KDY-1A

概述

便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規(guī)定設計。

它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。

為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達到國家標準級機的水平。

測量范圍：

可測量電阻率：0.01～199.9Ω•cm。

可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口

當被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。

（2）恒流源：

輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔

10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)

10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)

恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%

適合測量各種厚度的硅片

（3）直流數(shù)字電壓表

測量范圍：0～199.9mv

靈敏度：100μv

準確度：0.2%（±2個字）

（4）供電電源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

（5）使用環(huán)境：

相對濕度≤80%

（6）重量、體積

重量：2.2 公斤

體積：寬210×高100×深240（mm）

（7）KD探針頭

壓痕直徑：30/50μm

間距：1.00mm

探針合力：8±1N

針材：TC

該公司產(chǎn)品分類：教學儀器照度光譜系列邏輯棒/筆測氡儀氧氣檢測儀氫氣檢測報警儀氣體檢測報警儀熏蒸氣體檢測儀空氣質(zhì)量檢測儀垃圾場氣體檢測酒精測試儀有毒氣體檢測儀甲烷檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀復合氣體檢測儀苯檢測儀揮發(fā)性有機氣體臭氧檢測分析儀甲醛檢測/分析氧氣檢測報警儀

FT-336四點探針測試儀技術參數(shù)

四點探針測試儀技術參數(shù)產(chǎn)品簡介四點探針測試儀技術參數(shù)參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.

四點探針測試儀技術參數(shù)儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

四點探針測試儀技術參數(shù)技術參數(shù)

1.方塊電阻范圍：10^-2～2×10³Ω/□

2.電阻率范圍：10^-3～2×10⁴Ω-cm

3.測試電流范圍：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率

7.測試方式: 普通單電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺

11.測試探頭：探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原

FT-336四點探針測試儀

溫馨提示：半導體材料的電導性能和均勻性通過四探針法來測試，四探針測試儀根據(jù)量程可以劃分為，低阻四探針測試儀測到-6次方；高阻四探針測試儀測到7次方至9次方；，雙電測四探針測試儀測到-5次方到5次方，單電測四探針測試儀-5次方到5次方，

我們解決半導體材料電性能測量問題，上述都是我們產(chǎn)品，歡迎和我們交流—瑞柯儀器

該公司產(chǎn)品分類：粉體強度測試儀電絕緣性測試儀粒度儀比重計真密度儀密度儀密度計鹵素水分儀水分計水分儀水分儀壓實密度壓實密度測定儀壓實密度測試儀電壓降測試儀高溫電阻率測試儀高阻計絕緣材料電阻率測試儀絕緣材料電阻測試儀表面體積電阻測試儀

FT-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀

FT-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀。

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10^-5～2×10⁵Ω/□

2.電阻率范圍：10^-5～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺

11.測試探頭：探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原

FT-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀

FT-340系列雙電測電四探針方阻電阻率測試儀

FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester

一.應用說明：

覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，

二．描述：

采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

該公司產(chǎn)品分類：粉體強度測試儀電絕緣性測試儀粒度儀比重計真密度儀密度儀密度計鹵素水分儀水分計水分儀水分儀壓實密度壓實密度測定儀壓實密度測試儀電壓降測試儀高溫電阻率測試儀高阻計絕緣材料電阻率測試儀絕緣材料電阻測試儀表面體積電阻測試儀

HPS2561四探針電阻率測試儀

測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量。

測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量。

專用四端探針測試線！

該公司產(chǎn)品分類：線束通斷測試儀扭力測試儀變壓器綜合測試儀回路電阻測試儀絕緣電阻測試儀電解電容漏電流測試儀多路電阻測試儀熱敏電阻測試儀電感直流偏置電流源電感測試儀電容測試儀直流低電阻測試儀 LCR數(shù)字電橋多路溫度測試儀

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FT-330系列普通四探針電阻率測試儀

FT-346雙電測四探針電阻率測試儀

型號:CN61M251813 便攜式四探針電阻率測試儀

型號:CN61M251813便攜式四探針電阻率測試儀型號:CN61M251813

M251813便攜式四探針電阻率測試儀型號:M251813

DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀，便攜式四探針電阻率檢測儀

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FT-336四點探針測試儀技術參數(shù)

FT-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀

HPS2561四探針電阻率測試儀

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