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FT-330系列普通四探針電阻率測(cè)試儀

FT-330系列普通四探針電阻率測(cè)試儀     按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰?/span>GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.

FT-330系列普通四探針電阻率測(cè)試儀   本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

FT-330系列普通四探針電阻率測(cè)試儀   廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等FT-330系列普通四探針電阻率測(cè)試儀   

規(guī)格型號(hào)

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-5～2×105Ω/□

10-4～2×103Ω/□

10-3～2×105Ω/□

10-3～2×103Ω/□

10-2～2×105Ω/□

10-2～2×103Ω/□

2.電阻率范圍

10-6×106Ω-cm

10-5×104Ω-cm

10-4～2×106Ω-cm

10-4～2×104-cm

10-3～2×106Ω-cm

10-3～2×104-cm

3.測(cè)試電流范圍

0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

10μA，100µA，1mA，10mA，

100 mA

0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度

±0.1%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

9.整機(jī)不確定性誤差

≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購(gòu)功能

選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭

探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
該公司產(chǎn)品分類： 超高阻四探針電阻率測(cè)試儀 超低阻四探針電阻率測(cè)試儀 表面/體積電阻率測(cè)試儀 電導(dǎo)率測(cè)試儀 材料電阻率測(cè)試儀 電線電纜電阻率測(cè)試儀 雙電四探針電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀系統(tǒng) 多功能電壓降測(cè)試儀 線束電壓降測(cè)試儀 插頭電壓降測(cè)試儀 高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀 高溫四探針電阻率測(cè)試儀 高溫粉末電阻率測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀

FT-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀

FT-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

FT-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀  參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-2～2×105Ω/□

2.電阻率范圍：10-3～2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭： 探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

 FT-346雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀

ROOKO/瑞柯品牌，來(lái)自瑞柯儀器公司，一個(gè)專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 電絕緣性測(cè)試儀 粒度儀 比重計(jì) 真密度儀 密度儀 密度計(jì) 鹵素水分儀 水分計(jì) 水分儀 水分儀 壓實(shí)密度 壓實(shí)密度測(cè)定儀 壓實(shí)密度測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 高溫電阻率測(cè)試儀 高阻計(jì) 絕緣材料電阻率測(cè)試儀 絕緣材料電阻測(cè)試儀 表面體積電阻測(cè)試儀

型號(hào):CN61M251813 便攜式四探針電阻率測(cè)試儀

便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):CN61M251813  
概述 便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分先材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過(guò)±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)一級(jí)機(jī)的水平。 測(cè)量范圍： 可測(cè)量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測(cè)方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測(cè)量各種厚度的硅片 （3） 直流數(shù)字電壓表 測(cè)量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個(gè)字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用環(huán)境： 相對(duì)濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC  

型號(hào):CN61M251813便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):CN61M251813

便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):CN61M251813  
概述 便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分先材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過(guò)±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)一級(jí)機(jī)的水平。 測(cè)量范圍： 可測(cè)量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測(cè)方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測(cè)量各種厚度的硅片 （3） 直流數(shù)字電壓表 測(cè)量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個(gè)字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用環(huán)境： 相對(duì)濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC 　   產(chǎn)品圖片

M251813便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):M251813

便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):M251813  
概述 便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分先材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過(guò)±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)一級(jí)機(jī)的水平。 測(cè)量范圍： 可測(cè)量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測(cè)方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測(cè)量各種厚度的硅片 （3） 直流數(shù)字電壓表 測(cè)量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個(gè)字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用環(huán)境： 相對(duì)濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC 　   產(chǎn)品圖片
 

DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 ，便攜式四探針電阻率檢測(cè)儀

 便攜式四探針電阻率測(cè)試儀  便攜式四探針電阻率檢測(cè)儀     

型號(hào):DL04-KDY-1A

概述

便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。

它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。

為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分先材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過(guò)±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)級(jí)機(jī)的水平。

測(cè)量范圍：

可測(cè)量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。

可測(cè)方塊電阻：0.1～1999Ω/口

當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。

（2）恒流源：

輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔

10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)

10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)

恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%

適合測(cè)量各種厚度的硅片

（3） 直流數(shù)字電壓表

測(cè)量范圍：0～199.9mv

靈敏度：100μv

準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）

（4） 供電電源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

（5） 使用環(huán)境：

相對(duì)濕度≤80%

（6） 重量、體積

重量：2.2 公斤

體積：寬210×高100×深240（mm）

（7）KD探針頭

壓痕直徑：30/50μm

間距：1.00mm

探針合力：8±1N

針材：TC

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 教學(xué)儀器 照度光譜系列 邏輯棒/筆 測(cè)氡儀 氧氣檢測(cè)儀 氫氣檢測(cè)報(bào)警儀 氣體檢測(cè)報(bào)警儀 熏蒸氣體檢測(cè)儀 空氣質(zhì)量檢測(cè)儀 垃圾場(chǎng)氣體檢測(cè) 酒精測(cè)試儀 有毒氣體檢測(cè)儀 甲烷檢測(cè)儀 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀/探測(cè)儀 復(fù)合氣體檢測(cè)儀 苯檢測(cè)儀 揮發(fā)性有機(jī)氣體 臭氧檢測(cè)分析儀 甲醛檢測(cè)/分析 氧氣檢測(cè)報(bào)警儀

DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測(cè)試儀, 便攜式四探針電阻率測(cè)量?jī)x

 便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 便攜式四探針電阻率測(cè)量?jī)x 便攜式四探針電阻率檢測(cè)

型號(hào):DL04-KDY-1A

概述

便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。

它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測(cè)試架。

為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分先材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過(guò)±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)級(jí)機(jī)的水平。

測(cè)量范圍：

可測(cè)量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。

可測(cè)方塊電阻：0.1～1999Ω/口

當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。

（2）恒流源：

輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔

10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)

10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)

恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%

適合測(cè)量各種厚度的硅片

（3） 直流數(shù)字電壓表

測(cè)量范圍：0～199.9mv

靈敏度：100μv

準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）

（4） 供電電源：

AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W

（5） 使用環(huán)境：

相對(duì)濕度≤80%

（6） 重量、體積

重量：2.2 公斤

體積：寬210×高100×深240（mm）

（7）KD探針頭

壓痕直徑：30/50μm

間距：1.00mm

探針合力：8±1N

針材：TC

 

該公司產(chǎn)品分類： 教學(xué)儀器 照度光譜系列 邏輯棒/筆 測(cè)氡儀 氧氣檢測(cè)儀 氫氣檢測(cè)報(bào)警儀 氣體檢測(cè)報(bào)警儀 熏蒸氣體檢測(cè)儀 空氣質(zhì)量檢測(cè)儀 垃圾場(chǎng)氣體檢測(cè) 酒精測(cè)試儀 有毒氣體檢測(cè)儀 甲烷檢測(cè)儀 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀/探測(cè)儀 復(fù)合氣體檢測(cè)儀 苯檢測(cè)儀 揮發(fā)性有機(jī)氣體 臭氧檢測(cè)分析儀 甲醛檢測(cè)/分析 氧氣檢測(cè)報(bào)警儀

FT-336四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)產(chǎn)品簡(jiǎn)介四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量，更加準(zhǔn)確.

四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

四點(diǎn)探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)技術(shù)參數(shù)

1.方塊電阻范圍：10-2～2×103Ω/□

2.電阻率范圍：10-3～2×104Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.5%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭：   探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

 

ROOKO/瑞柯品牌，來(lái)自瑞柯儀器公司，一個(gè)專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原

 

 

 FT-336四點(diǎn)探針測(cè)試儀

溫馨提示：半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)性能和均勻性通過(guò)四探針?lè)▉?lái)測(cè)試，四探針測(cè)試儀根據(jù)量程可以劃分為，低阻四探針測(cè)試儀測(cè)到-6次方；高阻四探針測(cè)試儀測(cè)到7次方至9次方；，雙電測(cè)四探針測(cè)試儀測(cè)到-5次方到5次方，單電測(cè)四探針測(cè)試儀-5次方到5次方，

我們解決半導(dǎo)體材料電性能測(cè)量問(wèn)題，上述都是我們產(chǎn)品，歡迎和我們交流—瑞柯儀器

 

 

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 電絕緣性測(cè)試儀 粒度儀 比重計(jì) 真密度儀 密度儀 密度計(jì) 鹵素水分儀 水分計(jì) 水分儀 水分儀 壓實(shí)密度 壓實(shí)密度測(cè)定儀 壓實(shí)密度測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 高溫電阻率測(cè)試儀 高阻計(jì) 絕緣材料電阻率測(cè)試儀 絕緣材料電阻測(cè)試儀 表面體積電阻測(cè)試儀

FT-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀

FT-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀。

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□

2.電阻率范圍：10-5～2×106Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）

10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)

11.測(cè)試探頭： 探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌，來(lái)自瑞柯儀器公司，一個(gè)專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原

FT-341雙電四探針測(cè)試儀,雙電四探針電阻率測(cè)試儀 

FT-340系列雙電測(cè)電四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀

FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester

一.應(yīng)用說(shuō)明：

覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，

二．描述：

采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.

 

 

該公司產(chǎn)品分類： 粉體強(qiáng)度測(cè)試儀 電絕緣性測(cè)試儀 粒度儀 比重計(jì) 真密度儀 密度儀 密度計(jì) 鹵素水分儀 水分計(jì) 水分儀 水分儀 壓實(shí)密度 壓實(shí)密度測(cè)定儀 壓實(shí)密度測(cè)試儀 電壓降測(cè)試儀 高溫電阻率測(cè)試儀 高阻計(jì) 絕緣材料電阻率測(cè)試儀 絕緣材料電阻測(cè)試儀 表面體積電阻測(cè)試儀

HPS2561四探針電阻率測(cè)試儀

  測(cè)試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

    四探針電阻率測(cè)試儀，可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量。

 

 測(cè)試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻

    四探針電阻率測(cè)試儀，可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量。

 專用四端探針測(cè)試線！

 
該公司產(chǎn)品分類： 線束通斷測(cè)試儀 扭力測(cè)試儀 變壓器綜合測(cè)試儀 回路電阻測(cè)試儀 絕緣電阻測(cè)試儀 電解電容漏電流測(cè)試儀 多路電阻測(cè)試儀 熱敏電阻測(cè)試儀 電感直流偏置電流源 電感測(cè)試儀 電容測(cè)試儀 直流低電阻測(cè)試儀 LCR數(shù)字電橋 多路溫度測(cè)試儀

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