按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口,本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量,更加準(zhǔn)確.
本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀 參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍:10-3~2×103Ω/□
2.電阻率范圍:10-4~2×104Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍:10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.電流精度:±0.3%讀數(shù)
5.電阻精度:≤0.5%
6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測(cè)試方式: 普通單電測(cè)量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)
10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)
11.測(cè)試探頭: 探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
ROOKO/瑞柯品牌,來(lái)自瑞柯儀器公司,一個(gè)專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).
專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原
四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀四探針電阻率測(cè)試儀,方阻儀
本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測(cè)試儀適用范圍
二、廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等隔熱導(dǎo)電膜四探針電阻率測(cè)試儀參數(shù)規(guī)格
三、參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍:101~2×1010Ω/□
2.電阻率范圍:102~2×1011Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍:1mA ---1pA
4.電流精度:±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度:108Ω以下≤5% ;108Ω以上≤20%
6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率.
7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)
10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件; 2.方形探頭; 3.直線形探頭; 4.測(cè)試平臺(tái)
11.測(cè)試探頭: 探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針
ROOKO/瑞柯品牌,來(lái)自瑞柯儀器公司,一個(gè)專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).
專業(yè)與精致并重;優(yōu)秀與智慧之原
按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰?span>GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口,本機(jī)采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測(cè)量,更加準(zhǔn)確.瑞柯系列普通四探針電阻率測(cè)試儀2.產(chǎn)品簡(jiǎn)介
本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
廣泛用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等
瑞柯系列普通四探針電阻率測(cè)試儀3.技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號(hào) | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
1.方塊電阻范圍 | 10-5~2×105Ω/□ | 10-4~2×103Ω/□ | 10-3~2×105Ω/□ | 10-3~2×103Ω/□ | 10-2~2×105Ω/□ | 10-2~2×103Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10-6×106Ω-cm | 10-5×104Ω-cm | 10-4~2×106Ω-cm | 10-4~2×104-cm | 10-3~2×106Ω-cm | 10-3~2×104-cm |
3.測(cè)試電流范圍 | 0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 10μA,100µA,1mA,10mA, 100 mA | 0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA |
4.電流精度 | ±0.1%讀數(shù) | ±0.2%讀數(shù) | ±0.2%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) |
5.電阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.顯示讀數(shù) | 液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 | |||||
7.測(cè)試方式 | 普通單電測(cè)量 | |||||
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W | |||||
9.整機(jī)不確定性誤差 | ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果) | |||||
10.選購(gòu)功能 | 選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái) | |||||
11.測(cè)試探頭 | 探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針 |
四探針電阻率測(cè)試儀 方塊電阻測(cè)定儀
型號(hào):SN/KDY-1
北京SN/KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀工作原理是我公司嚴(yán)格按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造,并針對(duì)目前常用的四探針電阻率測(cè)試儀存在的問(wèn)題加以改進(jìn)。
整套儀器有如下特點(diǎn):
1、 北京SN/KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀工作原理配有雙數(shù)字表:一塊數(shù)字表在測(cè)量顯示硅片電阻率的同時(shí),另一塊數(shù)字表(以萬(wàn)分之幾的精度)適時(shí)監(jiān)測(cè)全過(guò)程中的電流變化,使操作更簡(jiǎn)便,測(cè)量更精確。 數(shù)字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ 0—9.999mV 靈敏度:1μV 輸入阻抗:10ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、 北京SN/KDY-1四探針電阻率測(cè)試儀工作原理可測(cè)電阻率范圍:0.001—6000Ω•cm。
3、 設(shè)有電壓表自動(dòng)復(fù)零功能,當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測(cè)量電流流過(guò)時(shí),電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測(cè)量電流渡過(guò)單晶時(shí),電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對(duì)測(cè)量的干擾。
4、 流經(jīng)硅片的測(cè)量電流由高度穩(wěn)定(萬(wàn)分之幾精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響。 電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、 儀器采用觸點(diǎn)電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換開(kāi)頭及繼電器(>10萬(wàn)次),在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),提高了測(cè)試儀的可靠性和使用壽命。
6、 可加配HQ-710E微處理機(jī)及打印機(jī),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)換向測(cè)量、求平均值,計(jì)算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。
7、 四探針頭采用國(guó)際上先進(jìn)的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu),使探針的游移率減小,測(cè)量重復(fù)性提高(國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局已于2005.02.02授予專利權(quán),專利號(hào):ZL03274755.1)。
KDY-1型四探針電阻率測(cè)試儀是我公司嚴(yán)格按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84)及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造,并針對(duì)目前常用的四探針電阻率測(cè)試儀存在的問(wèn)題加以改進(jìn)。
整套儀器有如下特點(diǎn):
1、 配有雙數(shù)字表:一塊數(shù)字表在測(cè)量顯示硅片電阻率的同時(shí),另一塊數(shù)字表(以萬(wàn)分之幾的精度)適時(shí)監(jiān)測(cè)全過(guò)程中的電流變化,使操作更簡(jiǎn)便,測(cè)量更精確。 數(shù)字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ 0—9.999mV 靈敏度:1μV 輸入阻抗:10ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、 可測(cè)電阻率范圍:0.001—6000Ω•cm。
3、 設(shè)有電壓表自動(dòng)復(fù)零功能,當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測(cè)量電流流過(guò)時(shí),電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測(cè)量電流渡過(guò)單晶時(shí),電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對(duì)測(cè)量的干擾。
4、 流經(jīng)硅片的測(cè)量電流由高度穩(wěn)定(萬(wàn)分之幾精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響。 電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、 儀器采用觸點(diǎn)電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換開(kāi)頭及繼電器(>10萬(wàn)次),在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),提高了測(cè)試儀的可靠性和使用壽命。
6、 可加配HQ-710E微處理機(jī)及打印機(jī),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)換向測(cè)量、求平均值,計(jì)算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。
7、 四探針頭采用國(guó)際上先進(jìn)的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu),使探針的游移率減小,測(cè)量重復(fù)性提高(國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局已于2005.02.02授予專利權(quán),專利號(hào):ZL03274755.1)。
型號(hào):SN/KDY-1A
1、北京SN/KDY-1A便攜式四探針電阻率測(cè)試儀哪家好概述
便攜式電阻測(cè)度儀是用來(lái)測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 北京SN/KDY-1A便攜式四探針電阻率測(cè)試儀哪家好本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國(guó)際及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
它主要由電器測(cè)量部份(主機(jī))及四探頭組成,需要時(shí)可加配測(cè)試架。 為減小體積,本儀器用同一塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供,隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn),以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來(lái)分先材料也可以用來(lái)作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1~100Ω#8226cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不超過(guò)±,在此范圍內(nèi)達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)一級(jí)機(jī)的水平。2、北京SN/KDY-1A便攜式四探針電阻率測(cè)試儀哪家好主要技術(shù)指標(biāo)(1)測(cè)量范圍:可測(cè)量 電阻率:0.01~199.9Ω#8226cm。可測(cè)方塊電阻:0.1~1999Ω/口 當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω#8226cm數(shù)字表顯示0.00。(2)恒流源: 輸出電流:DC 0.1mA~10mA分兩檔 10mA量程:0.1~1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程:1mA ~10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度:各檔均優(yōu)于±0.1(3) 直流數(shù)字電壓表測(cè)量范圍:0~199.9mv靈敏度:100μv準(zhǔn)確度:0.2(±2個(gè)字)(4) 供電電源:AC:220V ±10 50/60HZ 功率8W(5) 使用環(huán)境:相對(duì)濕度≤80(6) 重量、體積重量:2.2 公斤體積:寬210×高100×深240(mm)