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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:2024-11-21
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2024-11-21
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:2024-11-21
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時間:2024-11-21
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測時間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2024-11-21
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2024-11-21
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2024-11-21
韓國賽可臺式掃描電鏡4500主要功能
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2024-11-21
韓國SEC掃描電子顯微鏡采購價格
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2024-11-21
韓國賽可臺式掃描電鏡4500
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2024-11-21
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2024-11-20
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2024-11-20
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2024-11-19
供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點: 1. 新型
更新時間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強(qiáng)大的自動化功能,操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2024-11-19
供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾
更新時間:2024-11-19
萬能工具顯微鏡
本儀器具有較高的測量精度,適用于長度和角度的精密測量;同時由于配備有多種附件,使其使用范圍得到充分的擴(kuò)大。應(yīng)用計算機(jī)輔助測量,能解決各種復(fù)雜的二維測量問題,主要的測量對象有:刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時間:2024-11-14
 供應(yīng):  臺`CHUNG TA`宗大機(jī)器廠` PAPER CUTTING MACHINE裁切機(jī)
臺`chung ta`宗大機(jī)器廠` paper cutting machine裁切機(jī) 、裁紙機(jī)smc136配件micro computer high-speed paper-cutting-machine裁切刀 總長1117.6mm
更新時間:2024-11-14
經(jīng)濟(jì)型掃描電子顯微鏡 KYKY-EM3200系列
產(chǎn)品說明: kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統(tǒng)、計算機(jī)系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進(jìn)行了改進(jìn)。主要特點是穩(wěn)定可靠、結(jié)構(gòu)緊湊、操作方便、維護(hù)簡單,是一款性價比較高的經(jīng)濟(jì)型電鏡。
更新時間:2024-11-08
電子掃描顯微鏡KYKY-EM6900
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數(shù) n/a 物鏡放大倍數(shù) n/a 儀器放大倍數(shù) 1.5-300000x 加工定制 否
更新時間:2024-11-08
實用型掃描電子顯微鏡KYKY-2800
產(chǎn)品說明: kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學(xué)院在幾十年的掃描電鏡研究和生產(chǎn)基礎(chǔ)上,引用現(xiàn)代最新計算機(jī)及數(shù)字圖像技術(shù), 開發(fā)出的高性能產(chǎn)品。該產(chǎn)品除具有原kyky電鏡優(yōu)良工藝和穩(wěn)定可靠特性外,新增加了各種計算機(jī)自動控制及調(diào)節(jié)功能,尤其是采用了專用圖像處理器進(jìn)行圖像分析處理,使掃描電鏡與圖像分析得到完美結(jié)合。在window
更新時間:2024-11-08
轉(zhuǎn)盤式共聚焦掃描成像系統(tǒng)
cv1000采用了雙nipkow轉(zhuǎn)盤共聚焦掃描器,它可以將活細(xì)胞成像實驗中的光毒性和光漂白性降到低。在整個實驗期間,該系統(tǒng)的培養(yǎng)平臺可以保持實驗樣本(如柔弱的胚胎、ips/es細(xì)胞以及其它類型的細(xì)胞)的活性和溫度的恒定。
更新時間:2024-11-08
Phenom飛納臺式掃描電鏡(標(biāo)準(zhǔn)版)
phenom(飛納) g2 pure(飛納臺式掃描電鏡 標(biāo)準(zhǔn)版) 款性能和價格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟(jì)型臺式掃描電鏡,可用于測量亞微米尺寸的樣品。phenom g2 pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:2024-11-08
Phenom飛納臺式掃描電鏡(能譜版)
phenom prox (飛納臺式掃描電鏡 能譜版)是phenom第三代產(chǎn)品,結(jié)合了表面成像功能和元素分析能譜eds功能,能譜儀 eds的可以準(zhǔn)確的進(jìn)行樣品表面元素的定性和定量分析。
更新時間:2024-11-08
Mini-SEM臺式掃描電鏡
nanoanalysis系統(tǒng)由evex mini-sem,mini-sem,qdd先進(jìn)的探測器技術(shù)和nanoanalysis軟件組成。mini-sem是具有高清度,高放大率,高性能的臺式掃描電子顯微鏡。mini-sem結(jié)合了傳統(tǒng)sem的性能,但在大小,price和易操作方面超越了臺式顯微鏡。
更新時間:2024-11-08
EM科特(EmCrafts)CUBE系列臺式桌面式掃描電鏡
可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備,提供5軸共心樣品臺(電動或手動)的臺式sem,中心傾斜對于3d重構(gòu)功能至關(guān)重要。高分辨率,與傳統(tǒng)sem一樣優(yōu)異;高空間利用率和便攜性,易于移動,可安裝在任何地方;無需等待:抽氣90/排氣10;高度可靠的高壓組件;無需對準(zhǔn)電子槍。
更新時間:2024-11-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計(PH計) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑