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德國QuaNix4500膜厚儀代理

4500測厚儀，德國QuaNix4500膜厚儀

QuaNix4200/4500: 1.只需調(diào)零、無需校準 2.Fe/NFe兩用探頭 3.一體化設(shè)計 4.自動開關(guān)機

QuaNix技術(shù)參數(shù)
型號	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基體	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探頭形式	一體				一體、分體	無線分體
顯示	LCD數(shù)字顯示
測量范圍	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
測量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
顯示精度	1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作溫度	－10 －＋60℃
溫度補償	0－50℃
存儲	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900個測量值，999個數(shù)據(jù)組
數(shù)據(jù)傳輸	－			RS232打印、電腦
統(tǒng)計功能	－			平均值、最大值、最小值、標準偏差
超限報警	－					上下限
最小基體	10mm×10mm
最小曲率	凸、凹半徑：3mm/25mm		凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
最薄基體	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電源	5號電池2節(jié)		9V堿性電池1節(jié)			5號電池2節(jié)
重量	110g		130g		150g	130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm

該公司產(chǎn)品分類：其它工量具類實驗室耗材理化分析儀器光澤儀/色差計鉛筆硬度計/百格刀涂鍍層測厚儀 UV能量測試儀試驗機檢測類

菲希爾XDL系列膜厚儀，是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X－RAY光譜膜厚儀XDL-B系列，其非破壞式的測量，特別適合金屬鍍層厚度，如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量檢測。其采用了高次數(shù)率的比例接收器，可以在沒有標準片的情況下，對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量，另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下，可測量多至24元素，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL系列膜厚儀的長期穩(wěn)定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時間及次數(shù)，便于管理儀器，并提高生產(chǎn)效率.應(yīng)用范圍廣泛，包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導(dǎo)體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析。

該公司產(chǎn)品分類：涂層測厚儀鍍層測厚儀膜厚儀菲希爾

LZ-990膜厚儀

1.本儀器是KETT品牌最新款雙用一體機,,機型小巧,方便攜帶,性能穩(wěn)定,功能廣泛的實用型機.有較高的性價比.

2．對磁性和渦流的測定方式有自動識別轉(zhuǎn)換功能,無需人工調(diào)整.有4種語言顯示及儲存功能等.

3.探頭上配有曲面器可測圓型,管型及弧型工件,此曲面器也可輕松拔下,還可測量平面及小面積的工件.

技術(shù)參數(shù):

型號 LZ-990J

測定方法電磁和渦流兩用型

測定對象磁性金屬上的非磁性涂鍍層和非磁性金屬上的絕緣層

測量范圍 0~3000μm或0~120.0mils

測量精度 ﹤50μm時，±1μm ＞50μm﹤1000μm時，±2% ＞1000μm≦3000μm時，±3%

分辨率＜100μm時，0.1μm ＞100μm時,1μm

最小測試面積 ≥5*5mm

數(shù)據(jù)輸出接口 USB接口或連接打印機（可選）

顯示方式數(shù)顯式LCD

統(tǒng)計功能測試數(shù)/最大值/最小值/平均值/標準偏差,可存儲數(shù)據(jù) 存儲數(shù)據(jù) 有成組儲存（電磁式和渦流式各8組）,共計16組

功能設(shè)定各種設(shè)定共15種

測量單位 um和mils互換

測量方式單次測量/連續(xù)測量

語言顯示中文/英文/日文/韓語

工作方式直接方式/成組方式統(tǒng)計功能

測試次數(shù)/最大值/最小值/平均值/標準偏差

存儲數(shù)據(jù) 1000個

其它可連接VZ-330型打印機,可與PC機通訊上下限界數(shù)據(jù),

外形尺寸:82（W）*99.5（D）*32（H）mm

重量:160g

可選配件工作臺,打印機,打印機連接線,電腦通訊線

該公司產(chǎn)品分類：不導(dǎo)電測試儀

膜厚儀

為了實現(xiàn)產(chǎn)品的高品質(zhì)要求，在我們的企業(yè)內(nèi)部擁有極為高效的縱向生產(chǎn)機制。在我們的生產(chǎn)車間內(nèi)，高素質(zhì)的員工使用最現(xiàn)代化的機器認真、敬業(yè)地完成每一道生產(chǎn)步驟。我們非常希望客戶能從我們的產(chǎn)品中獲得最大的收益，因此我們樂于將我們知道的應(yīng)用技巧和專業(yè)知識進行推廣宣傳。我們會按客戶的使用程度舉辦“測量基礎(chǔ)技術(shù)培訓(xùn)班”、 “設(shè)備最佳使用研討會”和“針對特別應(yīng)用的座談會”。特點：配備了半導(dǎo)體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量使用微聚焦管可以測量較小的測量點，但因為其信號量較低，不適合測量十分細小的結(jié)構(gòu) 底部C型開槽的大容量測量艙有彈出功能的快速、可編程XY平臺典型應(yīng)用領(lǐng)域鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控研究和開發(fā)電子工業(yè)接插件和觸點黃金、珠寶和鐘表工業(yè)可以測量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層痕量元素分析在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量硬質(zhì)鍍層分析

技術(shù)指標：

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。一次可同時分析最多24個元素，五層鍍層。分析檢出限可達2ppm，最薄可測試0.005μm。分析含量一般為2ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序多次測量重復(fù)性可達0.1%長期工作穩(wěn)定性可達0.1%度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

該公司產(chǎn)品分類： x熒光光譜儀

PIG多用途干膜儀（破壞式膜厚儀）

一、產(chǎn)品簡介

Ø漆膜多用檢測儀是根據(jù)GB/T13452.2方法4B（ISO.2808-4B法）GB/T9286（ISO.2409）、GB/T9275（ISO.2815）標準設(shè)計制造的。它不僅適用于有機涂料漆膜厚度（亦多層膜總厚度、單層膜厚度及膜層數(shù)）、劃格法附著力、巴克霍爾茲壓痕硬度的測定，還可以用來研究針孔、坑洼、裂紋、汽泡、剝落、底材處理的質(zhì)量及膜層間的其它現(xiàn)象，并可以在不同的底材（鋼、非磁性金屬、塑料、木材等）上測量厚度，范圍從2um到2000um。

Ø漆膜多用檢測儀可以在一種儀器上完成對有機涂料多種性能的試驗及檢測，且試驗方法簡捷、直觀，測量分辯率高（±0.001mm），是實驗室和施工現(xiàn)場理想的測試儀器。

二、結(jié)構(gòu)和工作原理

Ø漆膜多用檢測儀由機體、輪夾、支承柱、顯微鏡及照明裝置構(gòu)成。

Ø該儀器以不同規(guī)格的工具，根據(jù)不同試驗的需要，分別將涂層做V形切口、格陣圖形割劃或壓痕。其涂層厚度值、涂膜剝離現(xiàn)象及壓痕產(chǎn)生的影象，可用顯微鏡直接觀察。儀器標尺的分度已通過校準系數(shù)換算成相應(yīng)的微米數(shù)，因此可從顯微鏡中直接讀出被測漆膜的實際厚度和壓痕長度值。

三、枝術(shù)指標

1.漆膜測厚切割刀

a. 1號切刀：厚度范圍20―2000um　每一格20um

b. 2號切刀：厚度范圍10―1000um 每一格10um

c.3號切刀：厚度范圍　2―200μm　　每一格2μm

2.劃格附著力多刃切割刀

a.間距分別為：1mm、2mm

3.巴克霍爾茲壓痕刀半徑：R15mm有效負荷：500±5g

四、試驗用具

1．軟毛刷自備

2.粘膠帶自備

3.記號筆隨儀器提供

該公司產(chǎn)品分類：潘通色卡色差檢測儀對色燈箱耐磨試驗機 UV能量計粘度計涂層測厚儀光澤度儀鉛筆硬度計百格刀

德國BYK PG-3432 破壞式涂層測厚儀破壞式膜厚儀

BYK3432 破壞式膜厚儀用途:1、在各種底材上（鐵，非磁性金屬，塑料，木材等）測量涂層厚度（測量范圍2-2000 µm）；2、通過顯微鏡可觀察，陷坑，裂痕，氣泡，鱗片，層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制；3、可用十字劃格刀進行附著力的測試符合標準ASTM D 3359，DIN 53 151，以及壓痕硬度測試符合標準DIN EN ISO 2815；訂購信息：型號名稱燈泡電池顯微鏡尺寸PG-3430 多用途干膜檢驗儀帶刀頭白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mmPG-3432 多用途干膜檢驗儀不帶刀頭白色LED 1.5V 50倍 110×80×75mm基本配置如下：多用途干膜檢驗儀；旋轉(zhuǎn)頭附3個膜厚刀頭（#1－3）；內(nèi)置式顯微鏡（標尺0－2mm）；發(fā)光二極管（LED）；電池；操作說明書；注意：1、訂購PG-3432時，膜厚刀頭必須另外訂購；2、附著力刀頭和壓痕硬度刀頭必須另外訂購；

刀頭選件:編號名稱漆膜厚度A3419 特殊刀頭 0-100umA3420 特殊刀頭 0-3000umA3421 1號刀頭 20-2000umA3422 2號刀頭 10-1000umA3423 3號刀頭 2-200um

該公司產(chǎn)品分類：露點儀雷達測速儀扭力計電子天平推拉力計熱像儀轉(zhuǎn)速表頻閃儀粗糙度儀電火花檢測儀磁粉探傷儀甲烷檢測儀電導(dǎo)率儀壁厚測厚儀電磁場頻譜分析儀輻射儀密度計濃度計在線和過程檢測傳感與測控

膜厚儀，哪家磁性渦流兩用型膜厚儀好用，首選DR280鐵基鋁基雙功能涂層測厚儀

分體兩用型膜厚儀，鐵基鋁基涂膜測厚儀-DR280磁性渦流兩用涂層測厚儀。 . 雙功能技術(shù)的測厚儀，完成磁感應(yīng)和電渦流測量自動轉(zhuǎn)換應(yīng)用雙功能測量技術(shù)，能夠自動識別磁性或非磁性底材，然后采用相應(yīng)的測試方法，適用于各種測量環(huán)

境�？蓽y量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。

東儒DR280兩用型膜厚儀應(yīng)用了磁性和渦流兩種測量方法，測量金屬表面的覆層厚度。磁性測厚方法，可以快速無損檢測磁性金屬鋼、鐵材料的涂層，鍍層，鋅層，鉻層，油漆，塑料，粉末，干膜，搪瓷等覆層的厚度。渦流測厚方法，可以快速無損檢測非磁性金屬鋁，銅，不銹鋼材料表面上的涂料，油漆，塑料，粉末，干膜，塑料等覆層厚度的都可以測量。涂層測厚儀DR280型號是一款兩用型涂層測厚儀，中國廣東出產(chǎn)的涂層測厚儀，最好用，涂層測厚儀首選東儒測厚儀280涂層測厚儀；涂層測厚儀也叫覆層測厚儀，油漆測厚儀，磁性渦流兩用測厚儀，專業(yè)檢測金屬表面涂層厚度由中國。廣州東儒儀器公司制造提供。

***操作簡單，測試速度快，靈敏度好，測量精度高***具有兩種測試方式：連續(xù)（CONT INUE）和單次（SINGLE）測量方式***連接電腦進行通信,讀出存貯數(shù)據(jù)進行保存或打�。ㄟm用U型主機）***公英制轉(zhuǎn)換μm/Mil***設(shè)有四個統(tǒng)計功能：最大值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEA）、測量次數(shù)（No）***大容量存儲，可存貯800多個測量數(shù)據(jù)*** 背光顯示模式，低電壓指示***手動/自動關(guān)機功能l 可采用兩種校準方式：零點校準和兩點校準***操作過程有蜂鳴聲標示（單次測量方式）***自動識別鐵基和非鐵基底材

二、DR280涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)A、測量范圍：0-1250/3000μm（超過1250μm要提前告知廠家另行定制）B、使用環(huán)境：溫度：0℃-50℃,濕度：20%RH—90%RH,無強磁場環(huán)境下使用C、最薄基體：0.4mmD、測量精度：±（1%-3%）+1.5μmE、分辨率：0.1μm /1μm（100μm以下為0.1μm,100μ以上為1μm）F、最小基體面積10*10mmG、最小曲率：凸5mm;凹5mmH、基體臨界厚度：0.5mmI、外形尺寸：130mm*70mm*24mmJ、重量：100gK、電源：三節(jié)（7號）堿性電池

三、DR280涂層測厚儀儀器標配：儀器箱：一個主機：一臺;標準片：4片基體：2塊（鐵基、鋁基）電池：2節(jié)清潔布：1塊說明書：1份（內(nèi)附保修卡）合格證：1份

選配：U型主機，數(shù)據(jù)連接線、光盤軟件

東儒DR280涂層測厚儀廣泛用于在防腐施工，制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

四、儀器免費保修一年，七天包換；

廣州東儒科技公司是一家專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)測厚儀的廠家，采用進口工業(yè)級元件，穩(wěn)定性好，可靠性高，測量誤差小，操作簡單，外觀精美，功能強大，本公司全國誠征代理商，歡迎來電合作。

該公司產(chǎn)品分類：超聲波測厚儀透光率儀涂底層測厚儀涂層測厚儀

SurfixProS專業(yè)級測厚儀膜厚儀德國菲尼克斯Surfix Pro S

專業(yè)級測厚儀膜厚儀德國菲尼克斯Surfix Pro S

德國菲尼克斯Surfix Pro S，專業(yè)級測厚儀膜厚儀的詳細介紹

1.強大數(shù)據(jù)處理功能.分500組存儲1萬個測值,特快反應(yīng)速度

2.同屏顯示各統(tǒng)計值，配合7種測頭

UHZ-111 UHZ-111/D UHZ-111/C UHZ-111/S UGD UHZ-58 UHZ-58/W UHZ-58/F UHZ-58/D UHZ-58/C UHZ-58/S UHZ UGD/HG5 KEY FYKG FYK RF-3001 UQZ-71LX UHZ-111/S UHZ-111/C UHZ-111/D UHZ-111 UHZ-111/F UHZ-58

3.可測鐵基體和有色金屬基體上的鍍層和絕緣涂層

4.量程：0~10mm 精度：0.1μm，見測頭參數(shù)

5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機 6.探頭需另選購

該公司產(chǎn)品分類：電磁閥調(diào)壓閥電壓表記錄儀調(diào)節(jié)儀溫度變送器分析天平精密天平濁度計電動調(diào)節(jié)閥電動執(zhí)行機構(gòu) 電火花檢漏儀消化爐定氮儀磁力攪拌器可燃氣體探測器熱電阻氣體檢測儀過濾器電磁流量計差壓變送器壓力變送器

LZ-990日本KETTlz-990膜厚計

デュアルタイプ膜厚計LZ-990「エスカル」

デュアルタイプ膜厚計LZ-990「エスカル」はシンプルな小型膜厚計です。しかしながら膜厚管理に必要な機能は充実し、アプリケーション・メモリ（検量線メモリ）機能、測定データ・メモリ、膜厚管理の上下限設(shè)定、簡単な統(tǒng)計処理、データ出力など15種の機能を裝備しています。磁性金屬に施された被膜厚測定と、非磁性金屬に施された被膜厚等の測定が可能です。しかも、素材を判別しその測定モードへ自動的に切り替わります。プリンタや測定スタンド、外部出力ケーブルなどのオプションも充実しています。

●仕様	LZ-990「エスカル」
測定方式	電磁・渦電流式兼用（自動判別機能付き）
測定対象	磁性金屬上の非磁性被膜、および非磁性金屬上の絶縁被膜
測定範囲	0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils
測定精度	50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2％ 1000μm以上2000μm未満±3％
適合規(guī)格	電磁誘導(dǎo)式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
分解能	100μm未満0.1μm100μm以上1μm
表示方法	デジタル（バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm）
データメモリ	約1000點
アプリケーションメモリ	電磁式・渦電流式各8種　計16本の検量線を記憶
電源	電池1.5V （単4 アルカリ）× 2
消費電力	40mW（バックライト非點燈時）
使用溫度範囲	0 ～ 40℃
機能	検量線メモリ（アプリケーション・メモリ）、測定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット區(qū)分、自動電源ON/OFF、機能、時計機能、上下限設(shè)定、統(tǒng)計計算、バックライト機能、単位設(shè)定、等の各種機能15 種
外部出力	パソコン（USB）、プリンタ（RS-232C）に出力可能
寸法・質(zhì)量	82（W）× 99.5（D）× 32（H）mm、約160g
付屬品	ゼロ板ホルダ（鉄素地、アルミ素地）、標準板（50、100、1000μm）、キャリングポーチ、電池1.5V（単4アルカリ）×2、リストストラップ
オプション	標準板（付屬品以外の厚さ）、測定スタンドLW-990、プリンタVZ-330、プリンタケーブル、USBパソコンケーブル、透明保護カバー、データ管理ソフト：「データロガー LDL-01」

該公司產(chǎn)品分類：國產(chǎn) 色差儀測厚儀

XRF-2000韓國MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀

韓國MicroPioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀

產(chǎn)品介紹

X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。

XRF-2000 系列分為以下三種： 1. H-Type :密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測量樣品較小，高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。應(yīng)用 : 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）。行業(yè) : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。特色 : 非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。可測量高達六層的鍍層（五層厚度 + 底材）并可同時分析多種元素。相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告。全系列獨特設(shè)計樣品與光徑自動對準系統(tǒng)。標準配備: 溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。準直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差。獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。雷射對焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

標準ROI軟體搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告。

光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對位。

單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。優(yōu)於美製儀器的設(shè)計與零件可靠度以及擁有價格與零件的最佳優(yōu)勢。儀器正常使用保固期一年，強大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號

Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀

是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，

其物點為：高分辨率，固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品

分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;

可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；

電鍍?nèi)芤悍治觯?/span>

定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；

貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；

自動過濾器，多準直儀（五個準直器，從0.1mm-3.0mm）和全自動XYZ移動樣品臺；

性價比超強的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg （net）

可測量樣器大�。篧550mm D550mm H30mm

該公司產(chǎn)品分類：其他儀器水質(zhì)檢測控制器及配件金相耗材測厚儀

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