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一、TT110超聲波測厚儀（專測鋼）概述

原理：超聲波測量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。時代超聲波測量厚儀系列是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測量技術(shù)于一體的、的無損檢測儀器，采用微電腦對數(shù)據(jù)時行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測量電路，具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩(wěn)定等特點。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領(lǐng)域。 TT110超聲波測厚儀聲速固定為5900m/s（鋼材聲速），可以對各種鋼鐵類板材和加工零件作精確測量。

二、TT110超聲波測厚儀（專測鋼）功能特點

1、自動校對零點：可對系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；2、耦合提示、低電壓提示；3、關(guān)機方式：自動關(guān)機（無操作三分鐘后）；4、數(shù)據(jù)存儲：可以存儲10個厚度值；5、聲速固定：

5900m/s適合測量鋼鐵材料厚度。

三、TT110超聲波測厚儀（專測鋼）技術(shù)參數(shù)

四、TT110超聲波測厚儀（專測鋼）基本配置

五、TT110超聲波測厚儀（專測鋼）可選附件

1、TT100/TT100A/TT110/TT120/TT130系列超聲波測厚儀可選探頭

2、耦合劑

 英國牛津CMI233膜厚儀產(chǎn)品介紹：  訂購編號：20706 CMI233（單探頭） / 20707 CMI233（雙探頭）  用途：廣泛應(yīng)用于噴涂電鍍、涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業(yè)中的表面涂層及各種薄膜厚度的測量  CMI 233測厚儀是高科技電子技術(shù)和軟件的組合，多功能、耐用的設(shè)計，專為適應(yīng)最惡劣的工作環(huán)境而制造，典型應(yīng)用于表面處理工業(yè)。  CMI 233測厚儀以經(jīng)濟的價格為您提供對涂鍍層厚度的、的監(jiān)控。  英國牛津CMI233膜厚儀應(yīng)用范圍：  •磁性基材上的非磁性涂層，例如鋼或鐵上的鋅、鉻、鎘、錫、銅、聚四氟乙烯、環(huán)氧樹脂、油漆、粉末涂料等涂層  •導(dǎo)電基材上的非導(dǎo)電性涂層，例如銅或鋁上的陽極電鍍、油漆、琺瑯/瓷釉、粉末涂料、環(huán)氧化物等涂層。  ●測量方法：磁感應(yīng)或渦流式  ●測量精度：1%±0.1μm依照參考標(biāo)準(zhǔn)片  ●測量范圍：磁感應(yīng)0-120mils（0-3.05mm）；渦流0-60mils（0-1.52mm）  ●分辨率：0.1μm  ●最小曲率半徑 5mm（凸）；25mm（凹）  ●最小測量面積 φ20mm  ●最小基體厚度 0.35mm  ●適用標(biāo)準(zhǔn)：磁感應(yīng)遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 ａnd BS 5411 PART9&11有關(guān)規(guī)定。渦流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 ａnd BS 5411 PART3有關(guān)規(guī)定  ●存儲量：12，400條讀數(shù)  ●低鐵和無鐵層厚度：12 mils（305μm）  ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含電池）  ●單位：英制和公制，可轉(zhuǎn)換  ●電池：9伏干電池或充電電池  ●統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，值，值，由打印機或連續(xù)輸出支持的直方圖和CPK圖  ●接口：RS-232串行輸出端口  ●顯示：1/2英寸背光液晶顯示屏  ●鍵區(qū)：密封膜。基本-9鍵；增強-16鍵  ●掃描特征：在掃描時間內(nèi)自動平均讀數(shù)（或可提供實際高低值）  ●品牌及產(chǎn)地：英國牛津儀器；產(chǎn)地：美國  

涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

涂層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。

涂鍍層測厚儀故障排除方法編輯

無損檢測之涂鍍層測厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測工件的，還有就是來自自然環(huán)境的影響，下面我們介紹一下排除這些故障的方法。

示值顯示不穩(wěn)定。

導(dǎo)致涂鍍測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍層測厚儀，還有工件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不溫度的原因，工件表面粗糙度過大、表面附著物太多。排除故障的要點就是要將粗糙度比較大的工件打磨平整，出去附著物即可，再有就是選擇適合的涂鍍層測厚儀。

測量結(jié)果誤差太多

引起涂鍍層測厚儀測量誤差大的原因我們在以前的文章中已經(jīng)介紹很清楚了，這里我們在簡單介紹一下引起測量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾探頭的放置方法等，新來的朋友可以參考儀器的文章熟悉一下我們就不一一做介紹了。

不顯示數(shù)字

造成涂鍍層測厚儀不顯示數(shù)字的最簡單原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測量還是不顯示數(shù)值。

 濟南興拓檢測儀器有限公司(www.xingtuo1718.com)是“科電”產(chǎn)品駐山東辦事處。借鑒國內(nèi)外儀器行業(yè)的先進(jìn)經(jīng)驗和技術(shù),追求人有我優(yōu)、人無我有的市場競爭理念;經(jīng)過多年的發(fā)展已陸續(xù)推廣多種儀器。檢測儀器產(chǎn)品包含:里氏硬度計、洛氏硬度計、地下管道尋線儀,埋地管道防腐層探測檢漏儀、粗糙度儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀等近百種產(chǎn)品;公司代理英國易高、英國雷迪、美國華瑞等十多余大類三百多種國內(nèi)外知名品牌儀器儀表產(chǎn)品。

銷售區(qū)域：

北京，天津，重慶，四川，成都，山西，太原，遼寧，沈陽，吉林，長春，黑龍江，哈爾濱，江蘇，南京，浙江，杭州，安徽，合肥，福建，福州，江西，南昌，山東，河南，鄭州，湖北，武漢，十堰，湖南，長沙，廣東，廣州，深圳，廣西，南寧，海南，海口，貴州，貴陽，云南，昆明，西藏，拉薩，陜西，西安，甘肅，蘭州，青海，西寧，寧夏，銀川，新疆，烏魯木齊，濟南，青島，淄博，棗莊，東營，煙臺，濰坊，濟寧，泰安，威海，日照，萊蕪，臨沂，德州，聊城,濱州，菏澤

德國菲希爾FMP10高精度膜厚儀德國菲希爾FMP10高精度膜厚儀在訂貨是一定要注明一種是電渦流型的FMP10涂層測厚儀（ISOSCOPE^® FMP10），一種磁感應(yīng)的FMP10涂層測厚儀（DELTASCOPEF^®MP10）；ISOSCOPE® FMP10高精度膜厚儀根據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上鋁的陽極氧化層（非鐵基材）

涂層測厚儀又稱膜厚儀、漆膜測厚儀、薄膜測厚儀、膜厚規(guī)等。

一、QNix4200/4500涂層測厚儀簡介：

    QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化設(shè)計，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、鋅、鉻、鋁、錫等；；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

 二、QNix4200/4500涂層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)點：

    只需調(diào)零，無需校準(zhǔn) 

    體積小巧，操作方便 

    一機雙用，F(xiàn)e/NFe兩用探頭 自動識別基體 

    精度高 反應(yīng)快

    自動開關(guān)機 自動調(diào)零

    價格優(yōu)惠 

    三、QNix4200/4500涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：

    技術(shù)參數(shù) 

    磁性基體（Fe模式） QNix4200/4500均有此功能 

    非磁性基體（NFe模式） QNix4500有此功能 

    測量范圍 Fe:0-3000um/NFe:0-2000um 

    顯示精度 0.1um 

    精度 0-50um:≤±1um

    50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)

    1000-3000um≤±3%讀數(shù) 

    最小接觸面 10×10mm 

    最小曲率半徑 凸面：3mm

    凹面：25mm 

    最小基體厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05mm 

    溫度補償范圍 0-60℃ 

    顯示 LCD液晶（帶背光） 

    探頭 紅寶石固定式 

    電源 2×1.5V干電池 

    尺寸 100×60×27mm 

    重量 110g 

如果您想進(jìn)一步了解，請聯(lián)系我們，我們會根據(jù)您的具體情況給予推薦適合您使用的規(guī)格型號。東莞膜厚儀價格-顏小云 0769-2338 1495 / 153 2290 4332

德國菲尼克斯PHYNIX Surfix SX-N1.5 分體涂層測厚儀

N型渦流原理：測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。

這款德國PHYNIX涂層測厚儀配有彩色顯示屏，更好的內(nèi)容顯示，并包含多種語言。目前的版本含有英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，土耳其語，捷克語以及中文。

相對于Surfix系列，此系列的內(nèi)存也提高了很多，可以存儲多達(dá)2.000的測量值。與電腦的鏈接非常簡單，是通過 USB2.0. PHYNIX.connect 實現(xiàn)的。這是一個數(shù)據(jù)傳輸程序，和所有Windows系統(tǒng)兼容, 可以使數(shù)據(jù)方便地輸進(jìn)Excel。此系列有兩種產(chǎn)品: Surfix® SX 可以連接所有PHYNIX探頭，使得儀器可以滿足很多測量任務(wù)。Surfix® EX 帶有固定標(biāo)準(zhǔn)探頭，適合任務(wù)明確的測量。和Surfix® SX 配有可拔插探頭相比，它易操作，更經(jīng)濟。

我們的Surfix®X測量儀用于以下領(lǐng)域：

電鍍行業(yè)，噴涂行業(yè)，汽車行業(yè)，化學(xué)工業(yè)，航空航天工程，造船業(yè)，研究實驗室和大學(xué)，車間，顧問和評估員

我們的所有測量探頭均配備碳化鎢硬質(zhì)合金耐磨測芯，提高了探頭耐磨性和使用壽命。

產(chǎn)品特點：

適合用戶友好的測量技術(shù)

高分辨率彩色顯示

USB接口

自動識別基材

數(shù)據(jù)存儲器：2,000個測量值

在線統(tǒng)計

直觀的菜單指導(dǎo)

在高達(dá)150°C或300°C的高溫表面上進(jìn)行測量（選購）

制造商的測試證書

規(guī)格參數(shù)

包裝清單

 膜厚儀，膜厚測試儀，膜厚測量儀，鍍層測厚儀，CMI900，無損測厚儀，金屬多鍍層測厚儀

用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 涂鍍層的無損檢測方法和測厚儀無損檢測技術(shù)是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面。在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實現(xiàn)對各類材料的保護(hù)或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測必備的最重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。目前，國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的國際標(biāo)準(zhǔn)測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸而更加至關(guān)重要。有關(guān)覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，裝置復(fù)雜，測量范圍廣。一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。

    采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。以下分別介紹幾款常規(guī)測厚儀器。在電鍍原料價格飛漲的 無損金屬鍍層測厚儀  是提高產(chǎn)品品質(zhì)，降低產(chǎn)品成本的理想選擇。   

牛津儀器 電鍍 膜厚測試儀 CMI900 膜厚儀，專業(yè)測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速 無損，業(yè)內(nèi)廣受好評，客戶應(yīng)

用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 本公司經(jīng)營多年工

程師經(jīng)驗豐

富，商業(yè)合作個方式靈活。同時經(jīng)營原裝OXFORD X光射線管 ETP SRP-4探頭等配件，以及ROHS檢測設(shè)備國產(chǎn)ROHS分析檢測儀，臺式元素分

析儀。無論您是購買 還是想了解產(chǎn)品的詳細(xì)介紹 請隨意聯(lián)絡(luò) 158 1865 3509  唐生   電郵：369823789@qq.com同時希望廣大銷售朋友在生意上多多關(guān)照

儀器介紹CMI 900  系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層  厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域

，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900主機的自動化控制， PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)技術(shù)參數(shù)：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)A  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B ：精確度領(lǐng)先于世界，精確到0。025um  （相對與標(biāo)準(zhǔn)片）C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X

-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E ：可測量任一測量點，最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀

艾先生  134--5334  0755--3150   Q   -6154

推出配備自動定位功能的[X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110]，使操作性進(jìn)一步提高。 　　對半導(dǎo)體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進(jìn)行測量管理，可產(chǎn)品的功能及品質(zhì)，降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內(nèi)可進(jìn)行高精度測量的X射線熒光鍍層厚度測量儀以來，已經(jīng)累計銷售6000多臺，得到了國內(nèi)外鍍層厚度、金屬薄膜測量領(lǐng)域的高度關(guān)注和支持。 　　為了適應(yīng)日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發(fā)了配備有自動定位功能的X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數(shù)秒內(nèi)對樣品進(jìn)行自動對焦。由此，無需進(jìn)行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。 　　近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。

測量元素:原子序號22（Ti）～83（Bi） X射線源:空冷式小型X射線管 檢測器:比例計數(shù)管 準(zhǔn)直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2種 樣品觀察:CCD攝像頭（可進(jìn)行廣域觀察） 對焦:激光點（自動） 濾波器：一次濾波器： 自動切換 樣品臺（臺式尺寸）: 500（W） x400（D） x 150（H）mm （移動量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:電腦、19寸液晶 測量軟件:薄膜FP法 （最多5層膜、10種元素）、標(biāo)準(zhǔn)曲線法 數(shù)據(jù)處理:配備有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全機構(gòu):樣品門連鎖、樣品的防沖撞功能、儀器診斷功能

特點 即放即測！ 通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準(zhǔn)觀察樣品焦點。 　 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 以的設(shè)計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度，即使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。 無標(biāo)樣測量！ 將薄膜FP軟件進(jìn)一步擴充，即使沒有厚度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)也能進(jìn)行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。 通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置！ 通過廣域觀察系統(tǒng)，能夠從畫面上的樣品整體圖（最大250×200mm）中方便地指定測量位置