技術(shù)參數(shù)
測(cè)量方式 | 電磁式 | 渦流式 |
探頭名稱 | 磁性探頭 | 渦流探頭 |
測(cè)量對(duì)象 | 磁性金屬(鐵、鋼)上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬(非鐵)上的絕緣層 |
測(cè)量范圍 | 0~2500um(99mils) | 0~1200um(47mils) |
測(cè)量精度 | <50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3% | |
分辨率 | <100um:0.1um; >1000um:±1um | |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù) | 約3000個(gè) | |
預(yù)存通道 | 電磁式和渦流式各50個(gè),共計(jì)100個(gè) | |
顯示方式 | LCD數(shù)顯 | |
數(shù)據(jù)輸出 | 連接電腦或打印機(jī) | |
電源 | 5#電池×4個(gè) | |
消費(fèi)電量 | 80mW(不使用背光狀態(tài)下) | |
電池壽命 | 100小時(shí)(不使用背光狀態(tài)下連續(xù)使用的情況下) | |
室溫要求 | 0~40℃ | |
外形尺寸 | 主機(jī):75(W)×145(D)×31(H), 340g | |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 鐵基體,鋁基體,標(biāo)準(zhǔn)片,V型塊,主機(jī)皮套,電池×4個(gè),使用說明書 | |
可選附件 | 標(biāo)準(zhǔn)片,專用臺(tái)架,軟件,數(shù)據(jù)線,探頭 |
國(guó)牛津儀器CMI900用于:Tyco膜厚儀,Molex膜厚儀,Amphenol膜厚儀技術(shù)規(guī)格和介紹可測(cè)量元素范圍:Ti22–U92;可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素較正;也可進(jìn)行鍍層的單層測(cè)量。 測(cè)量精度:被測(cè)元素厚度﹤20μin(0.5μm)時(shí),第1層元素測(cè)量誤差±1μin,第2層元素測(cè)量誤差±2μin,第3層元素測(cè)量誤差±3μin,被測(cè)元素厚度>20μin(0.5μm)時(shí),第1層元素測(cè)量誤差±5%,第2層元素測(cè)量誤差±10%,第3層元素測(cè)量誤差±15%, 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸:在12.7mm聚焦距離時(shí),最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時(shí),最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準(zhǔn)直器) 測(cè)厚范圍:取決于您的具體應(yīng)用 X射線管采用垂直下照式,空冷式微聚焦型,W靶(可選用Rh、Mo、Ag等)、50W,且裝備有安全防射線光閘。 準(zhǔn)直器:可配置單準(zhǔn)直器或多準(zhǔn)直器,配多準(zhǔn)直器時(shí)最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器;又分為圓形、矩形準(zhǔn)直器;圓形準(zhǔn)直器規(guī)格:4、6、8、12、13、20mil(即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm)等矩形準(zhǔn)直器規(guī)格:1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil(即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm)等 觀察系統(tǒng)選用30倍(可選用50倍和100倍)高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),具有激光自動(dòng)對(duì)焦功能、變焦距控制功能和固定焦距控制功能 樣品臺(tái):最大尺寸610mm x 610mm,為開槽式樣品室;分固定臺(tái)、程控臺(tái)、自動(dòng)臺(tái),其Z軸為自動(dòng)控制,移動(dòng)高度43.18mm;固定臺(tái)、程控臺(tái)的X、Y軸為手動(dòng)控制;自動(dòng)臺(tái)的X、Y軸為自動(dòng)控制,移動(dòng)范圍152.4 x 177.8mm。 分析應(yīng)用軟件:Windows XP中文平臺(tái)、SmartLink FP分析軟件包
OSPRey 800膜厚量測(cè)儀詳細(xì)參數(shù):
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可測(cè)元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92 。
準(zhǔn)直器:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動(dòng)種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng):DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機(jī)
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無需購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì)一體磁性金屬涂層測(cè)厚儀 鍍層測(cè)厚儀 膜厚儀GT810F GT810F是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術(shù)參數(shù)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。 本儀器是磁性便攜式一體磁性金屬涂層測(cè)厚儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。Fe質(zhì)探針可檢測(cè)所有非磁性涂層厚度,例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。 功能:
深圳市速德瑞科技有限公司主營(yíng)水分儀、涂層測(cè)厚儀、光澤度儀、顯微鏡、透光率儀、UV能量計(jì)、硬度計(jì)、張力計(jì)、萬用表等各類儀器儀表歡迎有需要的廠家及經(jīng)銷商來電聯(lián)系聯(lián)系電話: QQ:1612436831登錄www.speedre.com 了解更多詳情
型號(hào):PIG455品牌:ERICHSEN(德國(guó)儀力信)品質(zhì)優(yōu)勢(shì):同類產(chǎn)品中具有的品質(zhì)
測(cè)量步驟:1、 標(biāo)記:用標(biāo)記筆在所測(cè)量的涂層表面上作一小的比色標(biāo)記。2、 劃痕:按刀頭朝下,放大鏡視孔朝前的姿勢(shì)抓緊儀器,將刀頭放在標(biāo)記正前方 不遠(yuǎn)的地方,此時(shí)兩個(gè)導(dǎo)位螺栓和刀頭貼緊涂層表面,輕施壓力讓刀頭保持直線劃過標(biāo)記,且劃透涂層接觸到底材即可。3、 數(shù)格:打開放大鏡視孔旁邊的燈泡開關(guān),將放大鏡聚焦在標(biāo)記上的劃痕上,調(diào) 節(jié)底部的調(diào)焦旋鈕找到的焦距;旋轉(zhuǎn)上部的視孔筒和稍微調(diào)整儀器的位置使任意一長(zhǎng)刻度線和面漆標(biāo)記劃痕線直線重疊, 然后從左至右數(shù)小刻度格數(shù),直到第二層漆層或底材,此為單層或多層的小格總數(shù)。4、取數(shù):依不同的型號(hào)將小格總數(shù)乘上相應(yīng)的系數(shù)即為涂層的各自單層或多層的總厚度。校正:儀器出廠時(shí)已經(jīng)校正。使用一段時(shí)間后,如需精確的測(cè)量,可使用標(biāo)準(zhǔn)厚度進(jìn)行定期的驗(yàn)證。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍:2-200μm精 度:1%尺 寸:110mm×85mm×25mm
透鏡燈: 3.7V/0.3A/base P13.5 s
用 途:廣泛應(yīng)用于塑膠、木材、混凝土和其他非金屬材料表面漆層和類似的涂層的測(cè)量用于劃格法測(cè)定,可作多種涂層的組分分析
電池:2個(gè)AA電池
測(cè)量范圍:2~200 μm(標(biāo)配為6號(hào)碳化物刀頭)
放大倍數(shù):50倍
刻 度:2 mm(1/100 格)
凈重:0.4kg
配9V電池以及皮套
可選配件:
910924741 特殊 1號(hào) 刀頭 用于最大 2000 um 厚的涂層910927441 特殊 4號(hào) 刀頭 用于最大 1000 um 厚的涂層910927641 特殊 5號(hào) 刀頭 用于最大 500 um 厚的涂層910927541 特殊 6號(hào) 刀頭 用于最大 200 um 厚的涂層
測(cè)試原理455測(cè)量基于標(biāo)準(zhǔn)楔形切割程序:涂層以一個(gè)定義的角度被劃破到基材,涂層的厚度(s)根據(jù)切割面的三角形投影(b)計(jì)算出來,這由一個(gè)顯微鏡和切割角(а)決定。依據(jù)相同的原理,多層涂層系統(tǒng)的每層涂層厚度也可計(jì)算出來,對(duì)于符合AS 1580 Meth 408.1標(biāo)準(zhǔn)的附著力測(cè)試,在切割操作中涂層卷起的區(qū)域?qū)挾扰c投影b有關(guān)。設(shè)計(jì)和功能PIG 455由1個(gè)黑色的氧化鋁部件構(gòu)成,它包含以下功能元件:—可更換的碳化物刀頭,具有精確的角度切割刀。—一個(gè)50倍的測(cè)量顯微鏡和一個(gè)刻度(2mm分為100格),它也適用于檢查任務(wù)。—兩對(duì)支腳用于支持測(cè)量顯微鏡和導(dǎo)向碳化物刀頭。—電池槽可放兩個(gè)AA電池—透鏡燈可更好的照明樣品—雙位開關(guān)設(shè)置(點(diǎn)亮/)
產(chǎn)品名稱:SQ-GT8102一體兩用涂層測(cè)厚儀/涂膜厚儀 |
產(chǎn)品編號(hào):906 |
產(chǎn)品型號(hào):SQ-GT8102 |
應(yīng)用雙功能測(cè)量技術(shù),能夠自動(dòng)識(shí)別磁性或非磁性底材,然后采用相應(yīng)的測(cè)試方法,適用于各種測(cè)量環(huán)境。可測(cè)量非磁性底材上的非導(dǎo)電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
SQ-GT8102是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術(shù)參數(shù)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。
本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀,它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。Fe質(zhì)探針可檢測(cè)所有非磁性涂層厚度,例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。NFe質(zhì)探針檢測(cè)所有絕緣涂層厚度,例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。
(一體化傳感器涂層測(cè)厚儀)
機(jī)身尺寸:102mm×66mm×24mm
附件:
標(biāo)準(zhǔn)片4片: 50um 、100um、 250um 、500um(選配:12um、25um)基體2塊(GT810 2塊基體)
電池2塊
清潔布1塊
說明書1份
保修卡1張
華南國(guó)家計(jì)量中心校準(zhǔn)證書
產(chǎn) 品 說 明 | ||||
| ||||
產(chǎn)品資料:國(guó)產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測(cè)儀X射線熒光技術(shù)測(cè)厚儀涂層膜厚儀
UX-700 鍍層厚度檢測(cè)儀 華唯
配置型號(hào) | 探測(cè)器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?祁U維(國(guó)產(chǎn)) | 咸陽威思曼(國(guó)產(chǎn)) |
Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口) | 上?祁U維(國(guó)產(chǎn)) | spellman(進(jìn)口) |
Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口) | 上海科頤維(國(guó)產(chǎn)) | spellman(進(jìn)口 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:國(guó)產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測(cè)儀X射線熒光技術(shù)測(cè)厚儀涂層膜厚儀
本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量,Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測(cè)系統(tǒng),眾多條件的選擇,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái),可以通過鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作,選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試,特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備,測(cè)試樣品的部位清楚明了,同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片,和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試報(bào)告中。
Ux-700鍍層測(cè)厚儀采用了華唯新專利技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度。
參數(shù)規(guī)格:國(guó)產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測(cè)儀X射線熒光技術(shù)測(cè)厚儀涂層膜厚儀
測(cè)厚技術(shù):X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測(cè)量下限:0.003um
測(cè)量上限:30-50um(以材料元素判定)
測(cè)量層數(shù):10層
測(cè)量用時(shí):30-120秒
探測(cè)器類型:Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率:149eV
高壓范圍:5-50Kv,50W
X光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:專用鍍層濾光片
CCD觀察:260萬像素
微移動(dòng)范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測(cè)試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:Ø0.5mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
樣品腔:70*20mm
整機(jī)重量:38kg
鍍層測(cè)厚方法:
1.磁性涂層測(cè)厚法
使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測(cè)厚法
可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試,同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位:
微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
1um=39.4邁, 1um=0.04mil
國(guó)產(chǎn)華唯鍍層厚度檢測(cè)儀,X射線熒光技術(shù)測(cè)厚儀,涂層膜厚儀國(guó)產(chǎn)廠家直銷