Innova SPM 掃描探針顯微鏡原子力顯微鏡
· 的信號(hào)讀錄與輸入功能便于用戶自己設(shè)計(jì)研究方法
SPM-9600掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡 SPM-9600
- 清晰的觀察圖像 SPM-9600在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能，具備了的信號(hào)處理功能，再加上研發(fā)的VBDF（Variable Bandwidth Digital Filter）功能，數(shù)字處理能力比同類(lèi)產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率，更高質(zhì)量的觀察圖像。SPM-9600是一種的換代產(chǎn)品。
- 豐富的檢測(cè)模式 標(biāo)準(zhǔn)配置模式包括接觸，動(dòng)態(tài)和位相三種模式。 擴(kuò)展模式包括：力調(diào)制、側(cè)向力，磁力（MFM）、電流、表面電勢(shì)（KFM）等檢測(cè)模式，并能和納米壓痕儀與Q調(diào)制系統(tǒng)聯(lián)用，可以輕松地升級(jí)到可控氣氛模式。無(wú)論是初學(xué)者還是專(zhuān)家都可輕松使用。
- 簡(jiǎn)便快捷的操作 SPM-9600的操作界面簡(jiǎn)明易懂。軟件的自動(dòng)化功能幫助用戶都能輕松操作。并具備防振動(dòng)、噪聲的結(jié)構(gòu)，可不受外界干擾，快速地觀察各種樣品。
- 可擴(kuò)展到控制氣氛SPM 通過(guò)追加選配件控制氣氛腔，可升級(jí)到控制氣氛型掃描探針顯微鏡WET-SPM系列。
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- 主要技術(shù)規(guī)格
測(cè)定模式 標(biāo)準(zhǔn)：接觸、動(dòng)態(tài)、相位 選配模式：力調(diào)制模式、電流模式、磁力（MFM）模式、表面電位模式（KFM）、水平力模式（LFM） 分辨率 水平0.2nm 垂直0.01nm 最大掃描范圍（X/Y/Z） 30μm×30μm×5μm（標(biāo)準(zhǔn)） 125μm×125μm×7μm（選配） 55μm×55μm×13μm（選配） 最大樣品形狀 24mm × 8mm 樣品裝載方式 頭部滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 分束器滑動(dòng)機(jī)構(gòu) 內(nèi)置在AFM頭內(nèi)
德國(guó)Nano analytik原子力顯微鏡
基于對(duì)納米先進(jìn)技術(shù)的理解，Nano analytik公司研制出獨(dú)特的AFM系統(tǒng)。通用，緊湊，操作非常簡(jiǎn)單，并適合很多種類(lèi)的應(yīng)用。這種新型的初級(jí)AFM系統(tǒng)研制的目的是提供一種快速的納 米尺寸的成像，它使用的是“Rangelow”型的懸臂梁，而非光學(xué)。這些懸臂上集成有傳感器和執(zhí)行器，不必象其他人工操作AFM那樣，有著復(fù)雜著激光調(diào) 節(jié)的步驟。
特別是，這個(gè)系統(tǒng)非常適合化學(xué)和生物檢測(cè)/識(shí)別，可應(yīng)用于材料和生命科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域。這個(gè)獨(dú)特且高精度的測(cè)量?jī)x器設(shè)計(jì)得非常靈活，可以非常容易地用于如化學(xué) 和生物傳感器，可以作為這些傳感器的第一臺(tái)表征系統(tǒng)，它可以研究和校準(zhǔn)不同的壓阻式或電容式懸臂梁。Nano analytik系統(tǒng)是一臺(tái)用戶友好的納米技術(shù)工具，它開(kāi)放的模塊化構(gòu)架，使得這臺(tái)卓越的儀器可以很容易地按照用戶需求被擴(kuò)展或修改。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
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小設(shè)計(jì)，大理念
我們的AFM的解決方案由獲獎(jiǎng)團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)和制造。主導(dǎo)思想是偏轉(zhuǎn)/信號(hào)直接從懸臂梁上產(chǎn)生，我們直接從那里讀取數(shù)據(jù)，從而避免了環(huán)境的影響。
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直觀實(shí)用
我們遵循簡(jiǎn)單實(shí)用的設(shè)計(jì)理念。
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模塊化設(shè)計(jì)
我們的創(chuàng)新解決方案可以很容易地適應(yīng)您的個(gè)人需求；谀K化的系統(tǒng)，部件如減震、腔室環(huán)境、位置工作臺(tái)、掃描和探針可以被預(yù)先設(shè)置，或?qū)?lái)實(shí)現(xiàn)您標(biāo)準(zhǔn)配置的再升級(jí)。
功能指標(biāo)：
| 操作模式 | 交流模式 / 直流模式 |
| 三維形貌 | YES |
| 振幅/相位圖像 | YES |
| 力曲線圖 | YES |
| 樣品/探針接近 | 自動(dòng) |
| 探針調(diào)諧 | 自動(dòng) |
| 檢測(cè)原理 | 壓阻 |
| 掃描范圍 | Pales掃描器*: 20 μm × 20 μm × 5 μm Adeona 掃描器: 15 μm × 15 μm × 4 μm |
| *本底噪聲 | 0.01 nm rms 垂直方向 |
| *橫向精度 | 99.7% 閉環(huán)掃描 |
| *掃描速度 | 0.01 to 40Hz |
| 同步圖像 | 相位、頻率、振幅、不平度 |
| 可選功能 | MFM - EFM - PFM - C-AFM –SThM 磁力顯微鏡－靜電力顯微鏡－ 壓電力顯微鏡－導(dǎo)電原子力顯微鏡－掃描熱顯微鏡 |
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AFM+多功能原子力顯微鏡
AJ-III原子力顯微鏡
AJ-III原子力顯微鏡
原子力顯微鏡
Nano-R2、Nano-DST原子力顯微鏡
主要特點(diǎn)
＊ 閉環(huán)式掃描器, 定位, 誤差小于1nm ＊ 具有兩種掃描器可選用, 種是Light-Level掃描器, 第二種是Crystal Force 掃描器 ＊ Crystal Force掃描器為太平洋納米科技公司的專(zhuān)利, 具有不須校正激光光路, 快速掃描與操作容易等優(yōu)點(diǎn). 對(duì)于公用實(shí)驗(yàn)室與需要量測(cè)大量樣品的客戶, Crystal Force掃描器是選擇 ＊ 可配置環(huán)境控制箱, 可控制環(huán)境的溫度, 濕度與通氣氛等強(qiáng)大功能 ＊ 可選配電學(xué)模式, 導(dǎo)電模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 納米刻蝕 Dip-Pen Nanolithography, 探針加熱模式(探針溫度可達(dá)700攝氏度), 加熱樣品臺(tái), 液體池. ＊ Nano-Rp是美國(guó)太平洋納米科技公司專(zhuān)門(mén)為分析納米顆粒粒徑分析的原子力顯微鏡, 包括: NanoRule+顆粒粒徑分析軟件, 能夠直接分析納米等級(jí)的顆粒并繪制出 二維或三維納米顆粒的圖像 Nanoflat Substrates可以將納米顆粒沉淀并固定在基底.
AFM新型原子力顯微鏡
| 技術(shù)參數(shù) | ||
| 分辨率：XY方向0.5nm,Z方向0.1nm； 掃描范圍：XY方向最大掃描范圍200㎛ x 200㎛,Z方向10㎛； | ||
| 主要特點(diǎn) | ||
| 1、XY方向采用進(jìn)的音圈馬達(dá)驅(qū)動(dòng)技術(shù)，不但了更大的掃描范圍，而且大大提供的分辨率； 2、開(kāi)放平臺(tái)，支持更大的樣品； 3、采用進(jìn)的自感應(yīng)探針，自動(dòng)樣品逼近，免去了調(diào)節(jié)光路的麻煩； 4、更高的分辨率； 5、快速樣品加載、卸載； 6、價(jià)格極為優(yōu)惠； | ||
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| 又名：掃描探針顯微鏡、原子力形貌儀；采用目前近的音圈馬達(dá)驅(qū)動(dòng)技術(shù)和自感應(yīng)探針技術(shù)，使得測(cè)試、操作更加便捷，而且大大的提高了三維形貌的分辨率；而且高性能低價(jià)位； |
其他相關(guān)產(chǎn)品：
世界原子力顯微鏡（掃描探針顯微鏡），客戶已遍及國(guó)內(nèi)眾多重點(diǎn)高校和科研機(jī)構(gòu)，依的品質(zhì)和的技術(shù)服務(wù)，受到客戶的好評(píng)！1.多功能掃描探針顯微鏡：用于測(cè)量各種材料表面高精度成像外，還能表征多種材料如無(wú)機(jī)物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復(fù)合材料和生物材料的多種物性，包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢(shì)、靜電力、壓電響應(yīng)、電流像、電流隧道譜、電容等等，還能進(jìn)行納米尺度的加工及力學(xué)性質(zhì)的表征，能在大氣、液體及電化學(xué)條件下測(cè)量。
2.新型多功能可控環(huán)境掃描探針顯微鏡：目前全球商用的一款真正專(zhuān)業(yè)級(jí)高真空環(huán)境控制型SPM， 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)所有功能；而且掃描在封閉的Chamber中進(jìn)行，可對(duì)測(cè)量的環(huán)境（高真空、高溫、低溫、液體、電化學(xué)等）進(jìn)行控制； 可連續(xù)變溫，低溫達(dá)-120℃，高溫可達(dá)800度；
3.大尺寸樣品掃描探針顯微鏡： 大尺寸φ200mm樣品的微區(qū)（微米至納米量級(jí)）形貌及其物理特性進(jìn)行觀測(cè)分析。適用于測(cè)量各種光盤(pán)（DVD，CD，HD等）、磁盤(pán)、半導(dǎo)體、微電子及其他大尺寸的樣品。
4.低溫掃描霍爾顯微鏡（LT-SHPM，低溫霍爾顯微鏡）：該系統(tǒng)可與多種低溫杜瓦聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)低溫1K~300K溫度范圍內(nèi)樣品表面微區(qū)磁場(chǎng)分布定量化圖像化分析，樣品尺寸達(dá)15＊15＊5mm，微區(qū)磁化性能B-H曲線和M-H曲線測(cè)量，實(shí)時(shí)測(cè)量動(dòng)態(tài)磁化現(xiàn)象，支持?jǐn)U展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能，磁場(chǎng)高達(dá)16T； 5.多功能PPMS掃描探針顯微鏡（PPMS-SPM）：該系統(tǒng)可與現(xiàn)有的幾乎所有的PPMS系統(tǒng)（物性測(cè)量系統(tǒng)，如 Quantum Design,Inc. ）聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等測(cè)量功能，并且可在溫度范圍2K~300K和磁場(chǎng)高達(dá)16T條件下，高分辨成像； 6.mK 超低溫掃描探針顯微鏡（mK-SPM，超低溫原子力顯微鏡）：該系統(tǒng)可與牛津儀器的Dilution低溫杜瓦和He3系統(tǒng)，或者其他mK系統(tǒng)聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)mK~300K溫度范圍高分辨樣品表面成像；主要測(cè)量功能STM、接觸式AFM、非接觸式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等，磁場(chǎng)高達(dá)16T；