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光學(xué)平臺產(chǎn)品及廠家

德國 KSI  單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡
ksi v400e 單探頭多用途超聲波掃描顯微鏡,是實驗室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機(jī)型。
更新時間:2024-11-21
德國 KSI 單探頭超聲波掃描顯微鏡
ksi v300e 單探頭超聲波掃描顯微鏡,掃描機(jī)械機(jī)構(gòu)
更新時間:2024-11-21
百及納米PancanNano電子束光刻機(jī)
新一代超高精度電子束光刻機(jī) p21,樣品尺寸覆蓋 2/4/6 英寸晶圓,超高寫場拼接精度,電子束閉環(huán)控制系統(tǒng),束流的時間及空間穩(wěn)定性高,高性能 30 kv 電子束光刻機(jī)。
更新時間:2024-11-21
OptiCool超精準(zhǔn)全開放強(qiáng)磁場低溫光學(xué)研究平臺
opticool超精準(zhǔn)全開放強(qiáng)磁場低溫光學(xué)研究平臺,系統(tǒng)擁有3.8英寸超大樣品腔、雙錐型劈裂磁體,可在超大空間為您提供高達(dá)±7t的磁場。多達(dá)7個側(cè)面窗口、1個頂部超大窗口方便光線由各個方向引入樣品腔,高度集成式的設(shè)計讓您的樣品在擁有低溫磁場的同時擺脫大型低溫系統(tǒng)的各種束縛。
更新時間:2024-11-21
低溫強(qiáng)磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡
attoafm/attomfm/attoshpm 低溫強(qiáng)磁場原子力/磁力/掃描霍爾顯微鏡,采用模塊化的設(shè)計。利用標(biāo)配的控制器和樣品掃描臺,用戶僅需要更換掃描頭和對應(yīng)的光學(xué)部件即可實現(xiàn)不同功能之間的切換。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f,它繼承了上一代廣獲好評的性能如高的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時,操作性能大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其佳性能。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f,它繼承了上一代廣獲好評的性能如高的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時,操作性能大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其佳性能。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL能譜儀
日本jeol能譜儀jed-2300/2300f analysis station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的tem/eds集成系統(tǒng)。通過與sem的馬達(dá)驅(qū)動樣品臺聯(lián)動使用,可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。 eds通過檢測被電子束激發(fā)出的樣品特征x射線,確定樣品含有的元素及成分比,可以進(jìn)行微區(qū)的點分析、線分析及面分析。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500,是jeol intouchscope系列的新機(jī)型。 從設(shè)定視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡。
更新時間:2024-11-21
日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7200f,jsm-7200f的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機(jī)-jsm-7800f prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù),標(biāo)配了ttls系統(tǒng)(through-the-lens system),因此無論是在高/低加速電壓下,空間分辨率都比傳統(tǒng)機(jī)型有了很大的提升。
更新時間:2024-11-21
日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器:kc-22a ( 光散射法),大粒子數(shù)濃度:10000顆/l (誤差值低于5%),可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。
更新時間:2024-11-21
日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器:kc-22b ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。
更新時間:2024-11-21
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器kc-31 ( 光散射法),測試粒徑(6個通道),大粒子數(shù)濃度:28000000 顆/l
更新時間:2024-11-21
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kc-32 ( 光散射法)測試粒徑(6個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm, ≥10μm
更新時間:2024-11-21
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kc-20a ( 光散射法),測試粒徑(5個通道):≥10μm, ≥20μm , ≥30μm , ≥50μm, ≥100μm
更新時間:2024-11-21
日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器:ka-05( 光散射方式),多點監(jiān)視用粒子計數(shù)器,測試粒徑(2個通道):≥0.5μm , ≥5.0μm
更新時間:2024-11-21
日本RIO液體粒子計數(shù)器
日本rio液體粒子計數(shù)器ke-18fx ( 光散射法),測試粒徑(4個通道):≥0.04μm, ≥0.08μm , ≥0.1μm , ≥0.15μm,
更新時間:2024-11-21
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀 ks-42d ( 光散射法),大粒子數(shù)濃度:10 000 顆/l (誤差值低于10%),粒徑范圍(8個通道,出廠默認(rèn)):≥2μm, ≥3μm , ≥5μm , ≥7μm, ≥10μm, ≥25μm , ≥50μm , ≥100μm(可選 ≥150μm)
更新時間:2024-11-21
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器:kl-30ax ( 光散射法),大粒子數(shù)濃度:15 000 顆/l (誤差值低于10%), 粒徑范圍(4個通道,工廠標(biāo)配):≥0.04μm, ≥0.08μm , ≥0.1μm , ≥0.15μm
更新時間:2024-11-21
日本理音RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kl-30a ( 光散射法), 測純水,可打印。大粒子數(shù)濃度:15 000 顆/l (誤差值低于10%), 粒徑范圍(4個通道,出廠設(shè)置):≥0.05μm, ≥0.1μm , ≥0.15μm , ≥0.2μm
更新時間:2024-11-21
日本理音RION 氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kl-30b ( 光散射法), 測純水,可打印。大粒子數(shù)濃度:200 000 顆/l (誤差值低于10%),粒徑范圍(4個通道,出廠設(shè)置):≥0.05μm, ≥0.1μm , ≥0.15μm , ≥0.2μm
更新時間:2024-11-21
日本理音RION 手持式粒子計數(shù)器
日本rion 手持式粒子計數(shù)器:kc-51( 光散射方式),大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/m³ (誤差值低于10%)
更新時間:2024-11-21
日本理音RION 手持式粒子計數(shù)器
日本rion 手持式粒子計數(shù)器:kc-52( 光散射方式),粒徑范圍:5個通道: 0.3μm , 0.5μm , 1.0μm , 2.0μm, 5.0μm, 大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/m³ (誤差值低于10%)
更新時間:2024-11-21
日本理音RION 氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:ka-02( 光散射方式),多點監(jiān)視用粒子計數(shù)器,測試粒徑(2個通道):≥0.3μm , ≥0.5μm,大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/l (誤差值低于10%)
更新時間:2024-11-21
日本理音RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:ka-03( 光散射方式),多點監(jiān)視用粒子計數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.3μm , ≥0.5μm ,≥1μm , ≥2μm ,≥5μm ,大粒子數(shù)濃度:140 000 000顆/l (誤差值低于10%)
更新時間:2024-11-21
日本理音RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:ka-82( 光散射方式),多點監(jiān)視用粒子計數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.1μm , ≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm ,大粒子數(shù)濃度:10 000顆/l (誤差值低于5%)
更新時間:2024-11-21
綠光納鉆孔設(shè)備
玻璃去油墨設(shè)備,采用訂制紫外納激光器對玻璃表面進(jìn)行去油墨以及油墨微加工, 將產(chǎn)品損傷降至低。
更新時間:2024-11-21
美國OAI光刻機(jī)
oai 800型光學(xué)正面和背面光刻機(jī)系統(tǒng), 是半自動,four-camera、光學(xué)正面和背面光刻機(jī)。它提供其精確的(1碌m - 2 m碌)對準(zhǔn)精度,旨在大大超過任何紅外背后對準(zhǔn)器性能的一個非常有競爭力的價格。通用模型800光刻機(jī)是理想的用于低產(chǎn)量、研發(fā)實驗室和大學(xué)。
更新時間:2024-11-21
瑞士納米結(jié)構(gòu)高速直寫機(jī)機(jī)
瑞士nanofrazor 3d納米結(jié)構(gòu)高速直寫機(jī),源于發(fā)明stm和afm的ibm蘇黎世研發(fā)中心,是其在納米加工技術(shù)的新研究成果。nanofrazor納米3d結(jié)構(gòu)直寫機(jī)第 一次將納米尺度下的3d結(jié)構(gòu)直寫工藝快速化、穩(wěn)定化。
更新時間:2024-11-21
中國nanoArch科研3D打印機(jī)
nanoarch科研3d打印機(jī)m160 ,本套系統(tǒng)創(chuàng)新地使用了自動化的多材料送料系統(tǒng),兼顧高精度和多材料打印,可支持同時打印4種樹脂基復(fù)合材料進(jìn)行層間或?qū)觾?nèi)多材料3d打印,適用于基礎(chǔ)理論驗證及原理創(chuàng)新研究,非常適合高校和研究機(jī)構(gòu)用于科學(xué)研究及應(yīng)用創(chuàng)新。其主要應(yīng)用在點陣結(jié)構(gòu)材料、功能梯度材料、超材料、復(fù)合材料、復(fù)雜微流控,多材料4d打印等方面。
更新時間:2024-11-21
中國nanoArch科研3D打印機(jī)
nanoarch微納3d打印機(jī) p130/s130 ,科研3d打印系統(tǒng),擁有2μm的超高打印精度和5μm的超低打印層厚,從而實現(xiàn)超高精度的樣件制作,非常適合高校和研究機(jī)構(gòu)用于科學(xué)研究及應(yīng)用創(chuàng)新。
更新時間:2024-11-21
中國nanoArch科研3D打印機(jī)
nanoarch 3d打印機(jī)p140/s140 ,科研3d打印系統(tǒng),擁有10μm的超高打印精度和10μm的超低打印層厚,從而實現(xiàn)超高精度的樣件制作,非常適合高校和研究機(jī)構(gòu)用于科學(xué)研究及應(yīng)用創(chuàng)新。
更新時間:2024-11-21
理音RION 采樣器統(tǒng)
理音rion kz-30uk采樣器,易于操作的室內(nèi)化學(xué)采樣器,當(dāng)腔體壓力過高的時候, 可以排凈空氣,防止發(fā)生故障 ,設(shè)計簡單的化學(xué)防爆采樣器,kz-30uk的設(shè)計是可以為 離線測試的液體粒子計數(shù)器提供加壓。
更新時間:2024-11-21
美Nano-master熱蒸鍍系統(tǒng)
美nano-master熱蒸鍍系統(tǒng):nte-4000 獨立式電子束蒸鍍,nte-3500 緊湊型獨立式熱蒸鍍,nte-3000 雙蒸源臺式熱蒸鍍系統(tǒng),nte-1000 簡便型熱蒸鍍。熱蒸鍍系統(tǒng)可以跟nano-master那諾-馬斯特的其它任意真空系統(tǒng)組成雙系統(tǒng)。
更新時間:2024-11-21
美Nano-master磁控濺射系統(tǒng)
美nano-master磁控濺射系統(tǒng):nsc-4000獨立式磁控濺射系統(tǒng),可支持共濺射等能力的擴(kuò)展nsc-3500緊湊型獨立式熱蒸鍍,可以支持金屬材料的dc濺射,介質(zhì)材料的rf濺射,以及脈沖dc濺射等應(yīng)用。nsc-3000可支持多4個靶的dc濺射或rf濺射nsc-1000單金靶靶材的臺式濺射系統(tǒng),不但可用于電鏡制備,也可以用于常規(guī)的金屬濺射
更新時間:2024-11-21
NANO-MASTER的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)PECVD系統(tǒng)
nano-master的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)pecvd系統(tǒng)npe-4000,可以制造高質(zhì)量的氧化硅、氮化硅、碳納米管、金剛石和碳化硅等薄膜。基板可以容納8英寸晶圓,可通過射頻、脈沖直流或者直流電源提供偏壓,可通過熱電阻或者紅外燈加熱到800°c。ns
更新時間:2024-11-21
美NANO-MASTER電子束蒸鍍系統(tǒng)
nano-master電子束蒸鍍系統(tǒng) nee-4000,可通過樣片掩膜實現(xiàn)組合蒸鍍,并可通過電腦控制單個電子束蒸鍍的蒸鍍速率。系統(tǒng)可支持共蒸鍍功能。能夠升支持自動上下片,以及手動或自動翻轉(zhuǎn)樣片實現(xiàn)雙面鍍膜。該系列的e-beam電子束蒸鍍系統(tǒng),也可以跟磁控濺射
更新時間:2024-11-21
美NANO-MASTER  IBM離子銑/IBE離子束刻蝕系統(tǒng)
ibm離子銑/ibe離子束刻蝕系統(tǒng):nie-4000 獨立式 ibe 刻蝕系統(tǒng)nie-3500 緊湊型獨立式 ibe 刻蝕系統(tǒng)nir-4000 獨立式 ibe / rie 雙刻蝕系統(tǒng)nie-3000 臺式 ibe 刻蝕系統(tǒng)nsc-3000可支持多4個靶的dc濺射或rf濺射
更新時間:2024-11-21
美Nano-master等離子清洗/灰化系統(tǒng)
nano-master等離子清洗和灰化系統(tǒng)設(shè)計用于廣泛的需求,從批處理和單晶圓的光刻膠剝離到晶圓表面改性都可以涵蓋。這些系統(tǒng)通過計算機(jī)控制,可以配套不同的等離子源,加熱和不加熱的基片夾具,以及獨一無二的從等離子刻蝕切換到rie刻蝕模式的能力。$r
更新時間:2024-11-21
美Nano-master  ALD/PEALD原子層沉積系統(tǒng)
美nano-master ald/peald原子層沉積:nld-4000 獨立式ald系統(tǒng)nld-3500 緊湊型獨立式ald系統(tǒng)nld-3000 臺式ald系統(tǒng)
更新時間:2024-11-21
美國Trion批量生產(chǎn)用設(shè)備去膠系統(tǒng)
jbx-8100fs 圓形電子束光刻系統(tǒng)· 最新高精密jbx-8100fs圓形電子束光刻系統(tǒng),通過全方位的設(shè)計優(yōu)化,實現(xiàn)更簡便的操作,更快的刻寫速度,更小的占地面積和安裝空間,并且更加綠色節(jié)能。
更新時間:2024-11-21
英國Nanobean 電子束光刻機(jī)
美coherent excistarxs準(zhǔn)分子激光器超緊湊、輕型、高度可靠的紫外線光源
更新時間:2024-11-21
美Coherent 準(zhǔn)分子激光器
美coherent excistarxs準(zhǔn)分子激光器超緊湊、輕型、高度可靠的紫外線光源
更新時間:2024-11-21
英國 Durham 無掩膜光刻機(jī)
nanoarch p130是科研3d打印系統(tǒng),擁有2μm的超高打印精度和5μm的超低打印層厚,從而實現(xiàn)超高精度的樣件制作,非常適合高校和研究機(jī)構(gòu)用于科學(xué)研究及應(yīng)用創(chuàng)新。
更新時間:2024-11-21
美國 OAI 光功率計
the oai solar energy meter measures solar simulator irradiance in "sun" units, for example, with one sun equaling 1000 w/m2 at 25 °c at airmass 1.5 global conditions.
更新時間:2024-11-21
美國 OAI 型UV光源
30型uv光源是高效的,可用于各種應(yīng)用。光由橢圓形反射器收集并聚焦在積分/聚光透鏡陣列上,以在曝光平面產(chǎn)生均勻的照明。這種紫外光源提供多種光束尺寸,最大24英寸平方,輸出光譜范圍從220 nm到450 nm,使用適當(dāng)?shù)臒簦òǎ]敵龉β史秶鷱?00瓦到5千瓦。所有oai uv光源都易于配備快速更換過濾器組件,使用戶能夠輕松定制輸出光譜。可選配遠(yuǎn)程排氣風(fēng)扇。
更新時間:2024-11-21
美國 OAI 實驗室用手動曝光機(jī)
oai 200型光刻機(jī)是一種具有成本效益的高性能掩模對準(zhǔn)器,采用經(jīng)過行業(yè)驗證的組件,使oai成為光刻設(shè)備行業(yè)的導(dǎo)者。 200型是臺式面罩對準(zhǔn)器,需要小的潔凈室空間。它為研發(fā),或有限規(guī)模,試點生產(chǎn)提供了經(jīng)濟(jì)的替代方案。利用創(chuàng)新的空氣軸承/真空吸盤調(diào)平系統(tǒng),襯底快速平穩(wěn)地平整,用于平行光掩模對準(zhǔn)和在接觸曝光期間在晶片上的均勻接觸。該系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)一微米分辨率和對準(zhǔn)精度。
更新時間:2024-11-21
美國 OAI 型光學(xué)正面和背面光刻機(jī)系統(tǒng)
2012sm型自動邊緣曝光系統(tǒng)為使用標(biāo)準(zhǔn)陰影掩模技術(shù)的邊緣珠去除提供了一種經(jīng)濟(jì)高效的方法。 設(shè)計用于容納8“到300mm的晶片,該工具具有自動foup裝載。 掩模和基材切換可以快速且容易地實現(xiàn),從而增加該生產(chǎn)工具的通用性和高產(chǎn)量。
更新時間:2024-11-21
美國 OAI 自動化邊緣曝光系統(tǒng)
2012sm型自動邊緣曝光系統(tǒng)為使用標(biāo)準(zhǔn)陰影掩模技術(shù)的邊緣珠去除提供了一種經(jīng)濟(jì)高效的方法。 設(shè)計用于容納8“到300mm的晶片,該工具具有自動foup裝載。 掩模和基材切換可以快速且容易地實現(xiàn),從而增加該生產(chǎn)工具的通用性和高產(chǎn)量。
更新時間:2024-11-21
美國 OAI 邊緣曝光系統(tǒng)
兩種型號的2000型曝光系統(tǒng)包括uv光源,強(qiáng)度控制電源和機(jī)器人襯底處理子系統(tǒng)。 uv光源提供發(fā)散半角<2.0%的可調(diào)強(qiáng)度光束。電源從200w到2,000w。強(qiáng)度控制器傳感器直接連接到光源,用于精確的強(qiáng)度監(jiān)控。機(jī)器人襯底處理系統(tǒng)是微處理器控制的,并且可以被編程以適應(yīng)各種各樣的襯底尺寸。
更新時間:2024-11-21

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