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膜厚儀

分析0.1-50微米的單層或多層膜厚 可分析CVD、PVD等離子濺射鍍膜等樣品 采用球形磨損測試方法 可伸縮的測量臂用于大樣品測試 采用磁力樣品固定裝置 符合VDI 3198方法

XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

可測元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細對焦

高壓：0-50KV(程控)

準直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質.

 

我們的經營理念是:

1．我們以公平的價格提供質量的儀器。

2．對顧客提供的服務和極好的最適合的設備。

3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來的事務。

4．我們的目標和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。

 

 

 

ETA-083F/NF/2膜厚儀

主要技術參數(shù)

型號    ETA-083F/NF/2

工作原理      電磁感應/電渦流

測量范圍    0~1250um

測量精度    ±（3%H±1.5）

顯示精度    0~99.9um：0.1um/100um以上：1um

最小基體    10*10 mm

最小曲率    凸5mm；凹25mm

最薄基體    0.5mm

環(huán)境溫度    0℃~40℃

相對濕度    不超過85%

電源    5號電池2節(jié)

機身尺寸    91*55*23mm

自動關機

附件： 標準片 5片

基體 2塊（ETA-0832  2塊基體） 電池2塊 清潔布1塊 說明書1份 保修卡1張

該公司產品分類： 電子天平 無鉛數(shù)顯焊錫爐 洛氏硬度計 白度計 透光率儀，光電霧度計 熱變形維卡軟化點測試儀 Q-LAB紫外光耐氣候試驗機 標準光源箱 涂層/鍍層測厚儀 光澤度計 色差儀 塑料水份儀 影像量測儀 二次元 破裂強度試驗機 跌落試驗機 包裝壓縮試驗機 鹽霧試驗機/鹽水噴霧試驗機 精密烘/箱干燥箱 恒溫恒濕試驗機 高溫灰化爐/馬弗爐/電阻爐

一體磁性金屬涂層測厚儀/鍍層測厚儀/膜厚儀GT810F

 GT810F是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術參數(shù)完全符合國家標準。

本儀器是磁性便攜式一體磁性金屬涂層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。是材料保護專業(yè)必備的儀器。Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。功能： 

采用了磁感應測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正； 操作過程有蜂鳴聲提示；

電池電壓指示：低電壓提示

自動關機測量方法：F 磁感應 

技術參數(shù)：測量范圍：0~1250um （其他量程可定制） 

分辨率：0.1/1

最小曲率半徑: 凸 5mm/ 凹 5mm

最小測量面積：10X10mm

最薄基底：0.4mm

使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-85%RH

準確度：±（1.5~3%h）或±2um

公制/英制：可轉換

機身尺寸：102mmx66mmx24mm

電源：2節(jié)5號電池

重量：99g（含電池）

 

附件： 

標準片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（選配：12um、25um）

該公司產品分類： 真空度計 日本理音 日本小野 欣銳儀器 德國Novi 德國百瑞高 臺灣泰仕TES 德國德圖testo 美國雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希瑪SMART 德國QBL 意大利哈納HANNA 美國聯(lián)合系統(tǒng) 美國ESC 美國斯德克 韓國卡利安株式會社 德國喜利得HILTI

XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

可測元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細對焦

高壓：0-50KV(程控)

準直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質.

 

我們的經營理念是:

1．我們以公平的價格提供質量的儀器。

2．對顧客提供的服務和極好的最適合的設備。

3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來的事務。

4．我們的目標和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。

 

 

 

膜厚儀

分析0.1-50微米的單層或多層膜厚 可分析CVD、PVD等離子濺射鍍膜等樣品 采用球形磨損測試方法 可伸縮的測量臂用于大樣品測試 采用磁力樣品固定裝置 符合VDI 3198方法

DCF-900測可賴膜厚儀900系列

測可賴Check-line測厚儀900系列：

概　　述：　　測可賴 Check.line 涂層、鍍層測厚儀可精確快速測量所有金屬底材的涂層、鍍層的厚度。其吸收了的科技為相關的領域提供了一致、高精度的測量結果。

經濟型900系列： 　　為快速測定金屬底材上的涂層、鍍層的經濟型測厚儀。900系列分DCF-900（鐵基）和DCN-900（非鐵基）二種型號。

主要特點：　。 持久、不漂移的校正結果；設定的校正結果可延續(xù)很長時間，不受工件的改變而影響測定結果！　。 的測量結果：具有高度的一致性和重復性！　。 公英制單位轉換！　。 可應付薄的底材：最薄的底材可達127μm！　。 操作不受外磁場的干擾。　。 測定軟涂層時，連續(xù)的讀數(shù)可彌補因探頭陷入涂層所產生的誤差！　。 分辨率為1μm。當數(shù)值為小數(shù)點的后一位數(shù)時，儀器會自動取最接近的整數(shù)！　。 標準板符合NIST標準！　√筋^的技術參數(shù)：探頭的直徑Φ10mm。樣板最小直徑Φ17.8mm（0.7”）量    程：0-999μm精    度：±1μm （0-250μm）；±1% （250-999μm）            分 辨 率：1μm           最薄基材（鐵）： 375μm  最薄基材（非鐵）： 127μm 樣板溫度：-10~60℃ 環(huán)境溫度： 0~50℃  電    池： 9伏堿性電池 電池壽命： 半年（90秒自動關機，每天平均取數(shù)80個） 接    口： 無 外型尺寸： 145×79×38mm重    量： 250g保 修 期： 一年

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